03.09.00.00.00: Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами
Федеральный каталог высокотехнологичного оборудования и объектов научного потенциала России

Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами

 1.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Предназначен для проведения широкого спектра анализов в области рентгеновской дифрактометрии. Оснащен прецизионным вертикальным гониометром с установкой угла поворота ± 0, 001° , позволяющим проводить анализ порошков, тонких пленок, труднорастворимых и легкоплавких образцов. Диапазон углов сканирования – от − 6° до 163° (2θ ). Скорость сканирования – от 0, 1 до 50 град/ мин (2θ ). Возможность пошагового сканирования. Возможность работать в режимах постоянной скорости вращения, осцилляции, простого вращения образца (непрерывного или пошагового). Максимальная толщина образца – 10 мм, максимальная масса образца – 300 г.
 2.  Монокристальный дифрактометр AXS P4 (Bruker)
Предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Является стандартным дифрактометром. В качестве источника излучения используется Mo рентгеновская керамическая трубка мощностью 2000Вт, для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором. Четырехкружный гониометр, CuKa-излучение с графитовым монохроматором, сцинциляционный детектор, диапазон измерений до 2Q (два тета) < 160 град
 3.  Дифрактометр Дрон-3. 0 (Буревестник) с аппаратно-программным комплексом для управления гониометром
Предназначен для проведения рентгеноструктурных и рентгенофазовых исследований структурно-фазового состояния детонационного наноалмаза, тонких бинарных и мультислойных металлических пленок, тонких углеродных пленок.
Мирзабекян Нателла Нисоновна, тел. : (385) 229-12-09, e-mail: ckp@email. asu.ru
 4.  Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker)
Предназначен для решения большинства задач порошковой рентгенографии: качественного и количественного фазового анализа, определения параметров элементарной ячейки, определения размеров кристаллитов, степени кристалличности, микронапряжений. Комбинация инновационных технологий позволила создать настольный дифрактометр, по аналитическим возможностям аналогичный стационарным лабораторным системам, который легко транспортируется и позволяет получить все преимущества порошковой дифрактометрии в отсутствие каких-либо дополнительных устройств. Диапазон определяемых элементов от Na до U. Позволяет изучать элементный состав широкого круга материалов, проводить локальные исследования объектов крайне малого размера, изучать степень неоднородности вещества, а также тонких срастаний различных фаз и количественного распределения элементов в них. Во время анализа происходит визуальное наблюдение исследуемого участка с помощью высокоразрешающего оптического микроскопа.
 5.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker) с высокотемпературной HIK16 и реакционной камерами XRK-900
Позволяет решать практически весь комплекс существующих задач в области порошковой дифрактометрии. В приборе реализована принципиально новая концепция построения модульных систем DAVINCI. DESIGN, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брегг-Брентано к параллельно-лучевой оптике происходит максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гёбеля, переключение между которыми происходит автоматически. Рентгеновская TWIST-трубка позволяет осуществлять переключение между точечным и линейным фокусом. Дает возможность проводить исследования материалов в различных условиях: охлаждть до температуры 10 К, нагревать до 2000оС, создавать условия с повышенной влажностью. При анализе в комнатных условиях специальные загрузчики образцов позволяют автоматизировать процесс измерения.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 6.  Рентгеновский дифрактометр SmartLab (Rigaku Corporation)
Предназначен для структурного анализа пленок и образцов керамики. Система включает: вертикальный q-q гониметр с высоким разрешением, оптику параллельного пучка (Cross Beam Optics), модуль поворота плеча гониометра для анализа в плоскости образца. Дифрактометр оснащен: современной рентгеновской трубкой с вращающимся анодом и максимальной мощностью 9 кВт (излучение CuKa), полностью автоматизированной оптической системой, которая позволяет производить сложные исследования как экспертам, так и малоопытным пользователям. Дифрактометр позволяет проводить весь спектр измерений текстурных показателей (определение ширины кривых качания, степени разориентации кристаллитов в плоскости, осевой ориентации кристаллитов, остроты текстуры и другие параметры). Дифрактометр идеально подходит для прецизионного фазового анализа и сверхточного определения параметров элементарных ячеек составляющих фаз.
Каменев Антон, тел. (962) 926-04-91, e-mail: a. kamenev@superox.ru
 7.  Монокристальный дифрактометр IPDS II (STOE)
Предназначен для порошковой съемки малых количеств вещества в геометрии Дебая-Шеррера. Материал анода: отпаянная рентгеновская трубка: MoKα ; Номинальный режим работы источников рентгеновского излучения: 50 кВ/ 30 мА; Настраиваемый графитовый кристалл - монохроматор выделяет только Kα line (l = 0. 71073Å ), от рентгеновского источника (Мо); Рентгеновская капиллярная оптика; Детектор отраженных рентгеновских лучей - Image Plate: диаметр активной области - 340mm, (max 2theta = 77° ); высокая чувствительность, низкий внутренний шум; линейный динамический диапазон > 1*105; размер пикселя: 150 х 150 µ m2.
 8.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью. Использует систему управления и регистрации на базе IBM PC, низкотемпературной приставкой (гелиевый рефрижератор замкнутого цикла, область температур 12. . . 300 К).
 9.  Электроразведочная станция СКАЛА (ПО Север)
Используется в качестве периметрового противоподкопного средства обнаружения с глубиной сканирования более 50 м. Подключив два 24-х электродных кабеля с шагом 5 метров между электродами, можно менее чем за 10 минут получить данные для построения геоэлектрического разреза по профилю длиной до 235 метров. Генератор, измеритель и управляемый коммутатор в одном компактном корпусе.
 10.  Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов. Возможности: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристаллов; исследование текстуры. Мощность рентгеновской трубки: 2 кВт; Ускоряющее напряжение: 20-50 кВ.
Таскаев Сергей Валерьевич, тел. (351) 799-71-17, e-mail: taskaevsv@susu.ru
 11.  Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker)
Предназначен для решения большинства задач порошковой рентгенографии: качественного и количественного фазового анализа, определения параметров элементарной ячейки, определения размеров кристаллитов, степени кристалличности, микронапряжений. Комбинация инновационных технологий позволила создать настольный дифрактометр, по аналитическим возможностям аналогичный стационарным лабораторным системам, который легко транспортируется и позволяет получить все преимущества порошковой дифрактометрии в отсутствие каких-либо дополнительных устройств.
 12.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker) с приставкой для определения фазового состава зерен
Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа. Для качественного анализа используется банк данных порошковых рентгенограмм PDF-2 органических и неорганических соединений. Количественное соотношение фаз определяется в программе TOPAS 4. 2 в результате уточнения методом Ритвельда. Измеряет зависимость интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных порошкообразными образцами, плёнками, стёклами, ориентированными монокристаллами и т. д. , от угла дифракции 2θ при температурах от 130 до 720 K. Неизвестные соединения, порошковые рентгенограммы которых отсутствуют в базах данных, могут быть проиндицированы и параметры ячеек определены в программах ITO, WTREOR, TOPAS 4. 2, DASH 3. 3. Рентгенограмма однофазного соединения после успешного индицирования позволяет определить симметрию и структуру соединения (типы ионов/ атомов и их взаимное расположение), а также провести её уточнение методом Ритвельда, построить модель электронной плотности кристалла с целью выявления беспорядка в структуре. Полуширины измеренных рефлексов используются для определения размеров кристаллитов и микронапряжений в образце, а отношение интегральной интенсивности рефлексов к полной интенсивности рентгенограммы дает степень кристалличности образца.
 13.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник)
Предназначен для решения широкого круга задач порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2 θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов. Режимы сканирования: пошаговый и/ или непрерывный. Тип детектора: сцинтилляционный NaI (Tl). Рентгеновская трубка (базовая): 2, 5БСВ-27Cu. Методы сканирования: θ -2θ , 2θ , θ , 2θ -Ω .
 14.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Предназначен для качественного и количественного фазового анализа проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки. Диаметр гониометра 435 мм (диаметр может варьироваться от 435 до 600 мм). Щели переменной ширины. Позволяют сохранять неизменной облучаемую поверхность образца. Диапазон углов сканирования 2: от -110° до 168° . Температурная приставка TTK 450 (- 190 ° C. . . . 450 ° C). Программное обеспечение: качественный и количественный фазовый анализ; база данных дифрактограмм PDF-2; полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду.
Сергей Валерьевич Таскаев, тел. (351) 799-71-17, e-mail: taskaevsv@susu.ru
 15.  Настольный рентгеновский дифрактометр ДИФРЕЙ 403 (АО НП)
Предназначен для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения. Основное назначение прибора – качественное и количественное определение фазового состава порошковых проб, проволок, пластин, монокристаллов и т. д. Область применения рентгеновского дифрактометра Дифрей 403 – криминалистика, минералогия, металлургия, машиностроение, геология, горнодобывающая промышленность, неорганическая и органическая химия, электроника, строительство, керамическая промышленность, экология, фармацевтика. Конструкционной особенностью дифрактометров Дифрей является применение двух координатно-чувствительных детекторов для регистрации дифракционной картины и возможность реализации рентгенооптических схем Брегга-Брентано для анализа порошков, пластин и Дебая – Шеррера для анализа микрообъектов.
 16.  Настольный рентгеновский дифрактометр ДИФРЕЙ 402 (АО НП)
Предназначен для количественного рентгенофазового анализа кристаллических веществ в автоматическом режиме. Может быть использован для эффективного заводского экспресс– контроля технологических процессов и неразрушающего контроля готовой продукции, исходного сырья и полуфабрикатов. Дифрактометр включает в себя корпус, с закреплённой внутри него плитой. В центре плиты установлен двухосевой гониометр вертикального исполнения. На внешнем диске гониометра закреплена штанга с изогнутым координатно-чувствительным детектором, на внутреннем диске – штанга с блоком рентгеновской трубки. Перемещения детектора и трубки производятся вручную , с шагом 2, 5 градуса. Режимы работы рентгеновской трубки, детектора, систем автоматики (работа приставок) задаются и управляются программой управления. В состав прибора так же входят компьютер и система охлаждения.
 17.  Настольный рентгеновский дифрактометр ДИФРЕЙ 405 (АО НП)
Предназначен для контроля ориентации поверхности пластин и буль монокристаллов из сапфира, кремния, германия, арсенида галлия и др. относительно заданных атомных плоскостей. Расходящийся пучок излучения от рентгеновской трубки фокусируется изогнутым кристалл-монохроматором на поверхность среза монокристалла, установленного на поворотном столике. Дифракционный максимум, соответствующий анализируемой кристаллографической плоскости, регистрируется позиционно-чувствительным детектором. Ориентация поверхности монокристалла определяется как угол между поверхностью пластины или срезом були и ее кристаллографической плоскостью.
 18.  Настольный рентгеновский дифрактометр ДИФРЕЙ 401 (АО НП)
Предназначен для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения. Основное назначение прибора – качественное и количественное определение фазового состава порошковых проб, проволок, пластин, монокристаллов и т. д. Область применения - минералогия, металлургия, машиностроение, геология, горнодобывающая промышленность, неорганическая и органическая химия, электроника, строительство, керамическая промышленность, экология, фармацевтика. Конструктивной особенностью дифрактометров Дифрей является применение координатно-чувствительных детекторов для регистрации дифракционной картины и возможность реализации рентгенооптических схем Брегга-Брентано для анализа порошков и пластин и Дебая – Шеррера для анализа микрообъектов.
 19.  Рентгеновский дифрактометр HA-1001 (Shimadzu)
Предназначен для анализа фазового состава, расшифровки минералогического состава веществ, отходов, всех кристаллических полупродуктов и продуктов, антикоррозионных покрытий и т. д. Использование данного прибора позволяет определить вид минералов, кристаллическое строение
 20.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2 (Буревестник)
Предназначен для рентгеновской дифракции в стационарном магнитном поле до 50 кЭ в области температур 10 – 300 К. Оснащен низкотемпературной приставкой с криостатами оригинальной конструкции.
 21.  Настольный рентгеновский дифрактометр Дифрей 401 (Научные приборы)
Предназначен для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения. Основное назначение прибора – качественное и количественное определение фазового состава порошковых проб, проволок, пластин, монокристаллов и поликристаллов. Конструктивной особенностью дифрактометров Дифрей является применение координатно-чувствительных детекторов для регистрации дифракционной картины и возможность реализации рентгенооптических схем Брегга-Брентано для анализа порошков и пластин и Дебая– Шеррера для анализа микрообъектов.
 22.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения фазового состава твердых тел. Многоцелевой рентгеновский дифрактометр с системой управления и регистрации на базе IBM PC, низкотемпературной приставкой (гелиевый рефрижератор замкнутого цикла, область температур 12. . . 300 К). Дифрактометр используется для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью.
 23.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-4 (Буревестник)
Предназначен для исследования мозаичных монокристаллических образцов с шириной кривой качания более 0, 2° , а также текстурированных и поликристаллических образцов. В качестве анализатора здесь использован пиролитический графит. Техника рентгеновской дифракции обладает широкими возможностям неразрушающего контроля многослойных эпитаксиальных структур. К достоинствам метода относятся: простота реализации, неразрушающий характер анализа по глубине и высокая информативность. Основные виды выполняемых анализов: Определение кристаллографической ориентации кристаллических срезов и взаимной ориентации слой - подложка. Определение состава, концентрации твердого раствора и толщин слоев в нерелаксированных гетероструктурах методом подгонки вычисленного по динамической теории рассеяния спектра к экспериментальному. Определение состава, концентрации твердого раствора, оценка толщины слоев и остаточных упругих напряжений в частично релаксированных гетероструктурах по положению пиков двух отражений.
 24.  Настольный рентгеновский дифрактометр D2 PHASER (Bruker)
Обеспечивает быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора LYNXEYE. Является полностью автономным прибором, для его работы не требуется дополнительный компьютер или система внешнего водяного охлаждения, необходимо только подключение к сети переменного тока. Прибор может быть установлен вне лаборатории на обычном столе, управляется мощным встроенным компьютером, который служит не только для получения дифракционных данных, но и для их обработки и интерпретации. Построен по схеме вертикальной геометрии Брэгга-Брентано и состоит из ультракомпактного гониометра, рентгеновской трубки, высоковольтного генератора, систем формирования рентгеновского пучка и высокоскоростного полупроводникового детектора LYNXEYE. Стандартная рентгеновская трубка работает на 1/ 6 номинальной мощности, охлаждается встроенной системой водяного охлаждения и поэтому имеет практически неограниченный срок службы.
 25.  Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности D8 FABLINE (Bruker)
Предназначен для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности. Исследование пластин размером от 6 до 300 мм. Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца. Интерфейс SECS/ GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом. Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов. Оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин. Сенсорный экран делает работу с системой более удобной.
 26.  Лабораторный рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Позволяет решать практически весь комплекс существующих задач в области порошковой дифрактометрии. В приборе реализована принципиально новая концепция построения модульных систем DAVINCI. DESIGN, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брегг-Брентано к параллельно-лучевой оптике происходит максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гёбеля, переключение между которыми происходит автоматически. Новая рентгеновская TWIST-трубка позволяет осуществлять переключение между точечным и линейным фокусом. Дифрактометр дает возможность проводить исследования материалов в различных условиях: охлаждть до температуры 10 К, нагревать до 2000оС, создавать условия с повышенной влажностью. При анализе в комнатных условиях специальные загрузчики образцов позволяют автоматизировать процесс измерения. Важной составляющей частью современного дифрактометра является детектор. Решения от Bruker AXS включают в себя полный спектр точечных и позиционно-чувствительных детекторов, в том числе динамические сцинтилляционные детекторы и линейные детекторы LynxEye и LynxEye XE.
 27.  Рентгеновский дифрактометр для нанотехнологий D8 DISCOVER (Bruker)
Предназначен для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники. Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок. Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки. Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов. Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение. Анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований. Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев. Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства. Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения.
 28.  Компактный автоматический порошковый дифрактометр D8 ENDEAVOR (Bruker)
Предназначен для решения аналитических задач в цементной, алюминиевой, химической, горнодобывающей, фармацевтической промышленности. Особенности: эффективно решает проблемы рентгеновской дифрактометрии на производстве; в комбинации с рентгенофлуоресцентным спектрометром S8 TIGER может быть включен в автоматизированный лабораторный комплекс; работает с разнообразными пробами в рамках одного измерительного цикла; оборудован большим и быстродействующим накопителем проб; может удаленно управляться по компьютерной сети; обладает большим выбором конфигураций для решения разнообразных задач: регистрация по схеме Брэгга-Брентано; высокоскоростной позиционно-чувствительный детектор LYNXEYE XE; пакет программного обеспечения DIFFRACplus и программа TOPAS основанная на методе Ритфельда, для безэталонного количественного фазового анализа.
 29.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для одновременного изучения процессов кислородного обмена и структуры оксидных материалов. Используется для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью; исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое) получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристаллов; исследование текстуры.
 30.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu)
Обеспечивает рентгенофазовый анализ порошковых и твердых поликристаллических материалов. Генератор рентгеновского излучения 60 кВ, мощностью 3 кВт. Рентгеновская трубка Cu-анод, длинный тонкий фокус, 2. 2 кВт. Вертикальный гониометр с минимальным шагом 0. 0001 град; независимым и связанным перемещением трубки и детектора; сцинтилляционный детектор с кристаллом NaI. Программное обеспечение для проведения измерений, обработки, сбору и хранению данных, графический пакет представления и интерпретации полученных данных. База данных порошковых дифрактограмм ICDD PDF-2. Поисковая программа для работы с базой данных PDF-2 (DDView).
 31.  Рентгеновский минидифрактометр МД-10 ЭФА (ИТЦ Радикон) с базой данных для фазового анализа ICDD PDF-2 2008
Предназначен для регистрации спектра образцов по схеме Дебая-Шеррера при фиксированных положениях источника излучения и ПЧД. Источником излучения является рентгеновская трубка с воздушным охлаждением мощностью 10 ВА. Напряжение на трубке 25 кВ. Излучение трубки монохроматизировано. Дифракционный спектр одновременно регистрируется детектором в диапазоне углов от 16 до 70 градусов или от 65 до 120 градусов по 2q. Спектры двух диапазонов автоматически сшиваются.
 32.  Рентгеновский дифрактометр SEIFERT XRD-3003 TT (General Electric Company)
Предназначен для структурного анализа с IBM PC совместимым интерфейсом и программным комплексом RAYFLEX для обработки результатов измерений. Двухкруговой гониометр MZ VI E с возможностью работы в симметричной или ассиметричной Theta/ Theta конфигурации со сцинтилляционным счетчиком импульсов. Мин. шаг сканирования: 0. 0005° . Макс. диапазон углов сканирования: ω (со стороны трубки) = 0° - θ (со стороны счетчика) = 165° , ω (со стороны трубки) = 165° - θ (со стороны счетчика). Стабилизированный источник питания ISO-DEBYEFLEX 3003. U = 2 - 60 kV, I = 2 - 80 mA, макс. W = 3. 5 kW, точность ± 0. 01% при ± 10% флуктуациях напряжения питающей сети.
 33.  Рентгеновский модифицированный дифрактометр ДРОН-4 (Буревестник)
Предназначен для исследования мозаичных монокристаллических образцов с шириной кривой качания более 0, 2° , а также текстурированных и поликристаллических образцов. В качестве анализатора здесь использован пиролитический графит. Имеет монохроматор Ge(004) и может работать либо по 2-х кристальной схеме со щелью перед детектором без кристалла-анализатора, либо по 3-х кристальной схеме с анализатором Ge(400) в геометрии скользящего отражения с коэффициентом асимметрии b = 1/ 20. Щель вырезает линию α 1 (λ = 0, 154059 нм) из дублета CuKα 1 — CuKα 2, без чего в большинстве случаев невозможен режим высокого углового разрешения.
 34.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-13 (Буревестник)
Предназначен для исследования мозаичных монокристаллических образцов с шириной кривой качания более 0, 2° , а также текстурированных и поликристаллических образцов. В качестве анализатора здесь использован пиролитический графит. Имеет монохроматор Ge(004) и может работать либо по 2-х кристальной схеме со щелью перед детектором без кристалла-анализатора, либо по 3-х кристальной схеме с анализатором Ge(400) в геометрии скользящего отражения с коэффициентом асимметрии b = 1/ 20. Щель вырезает линию α 1 (λ = 0, 154059 нм) из дублета CuKα 1 - CuKα 2, без чего в большинстве случаев невозможен режим высокого углового разрешения.
 35.  Дифрактометр медленных электронов Er LEED 100/ 150 (SPECS)
Реализует метод исследования структуры поверхности твердых тел, основанный на анализе картин дифракции низко-энергетических электронов с энергией 30-200 эВ, упруго рассеянных от исследуемой поверхности. Позволяет изучать реконструкцию поверхности. Высокопроизводительная оптическая система. Миниатюрная электронная пушка со световым экраном. Встроенный много-сегментный затвор (опция). Цифровое или аналоговое управление. Программное обеспечение для сбора данных I(V).
 36.  Рентгеновский дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius)
Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов.
 37.  Порошковый рентгеновский дифрактометр SmartLab-3 (RIGAKU)
Позволяет проводить In-plane сканирование, при котором детектор вращается в плоскости параллельной поверхности образца. Данная конфигурация позволяет осуществлять сбор уникальной информации о тонкопленочных материалах. Например, можно определять параметры решетки в плоскости образца, а также ориентационные соотношения в системе пленка/ подложка. Если Вы заинтересованы в исследовании тонких пленок. То данная конфигурация позволит получить уникальные данные, которые недоступны при использовании стандартной геометрии.
 38.  Многофункциональный рентгеновский дифрактометр SmartLab (RIGAKU)
Объединил в себе самые передовые разработки в области рентгеновской дифракции, высокий уровень автоматизации, а так же полностью модульную конструкцию. Система оснащена вертикальным θ / θ гониометром высокого разрешения с горизонтально расположенным столом, оптикой перекрестных лучей (CBO оптика), In-plane геометрией, и 9 кВт источником излучения с вращающимся анодом (опция). Приставка СВО-f на основе поликапиллярной оптики позволяет формировать точку фокусировки высокой интенсивности 100 мкм для микро-дифракционных экспериментов. Приставка In-Plane предоставляет дополнительную ось сканирования, ортогональную к плоскости θ / 2θ , что позволяет проводить измерения плоскостей кристаллической решетки перпендикулярных к поверхности образца.
 39.  Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex-600 (RIGAKU)
Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex – 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований. Благодаря малой мощности не нуждается в использовании внешней системы охлаждения. Новые возможности MiniFlex обеспечат вам максимум гибкости при проведении анализа.
 40.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-6 (Буревестник)
Предназначен для исследования структуры кристаллических и аморфных материалов (прецизионное определение параметров решетки кристаллических веществ, определение размеров кристаллитов, напряженного состояния вещества (напряжения I и II рода), исследование текстур, качественный и количественный фазовый анализ и др. )
 41.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Предназначен для рентгеновских дифракционных исследований поликристаллических веществ, материалов и изделий (неорганических и органических веществ, металлов и сплавов, композитов, и толстых покрытий). Технические данные: Максимальная мощность, потребляемая аппаратом 5 кВт, напряжение на трубке до 50 кВ, ток трубки – до 50 мА, материал анода Сu, диапазон углов сканирования 2θ : 5-165, минимальный шаг 0, 01, детектор сцинтилляционный. Дифрактометр автоматизирован. Работа прибора основана на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллических решетках, что позволяет определять кристаллическую структуру исследуемых веществ, фазовый состав и их микроструктурные характеристики.
Лубман Г. У. , тел. (499) 135-96-19, е-mail: Gul37@imet. ac.ru
 42.  Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (Буревестник)
Позволяет проводить рентгено-дифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера. В число опций, которые возможны для аппарата, добавлен четырехосный держатель больших образцов (xy-сканирование, z-перемещение, φ -поворот), что позволит исследовать крупногабаритные объекты различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.
 43.  Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М (Буревестник)
Предназначен для решения широкого круга задач в области порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов. Режимы сканирования: пошаговый / непрерывный. Тип детектора: сцинтилляционный NaI (Tl). Методы сканирования: θ -2θ , 2θ , θ , 2θ -Ω
 44.  Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник)
Предназначен для решения широкого круга задач в области порошковой дифрактометрии. Независимое управление 2 θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов. Рентгенооптическая схема: Брэгга-Брентано / Дебая-Шеррера / параллельно-лучевая.
 45.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Предназначен для определения одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры
Михайлова Анжела Ивановна, тел. : (814) 278-27-53, e-mail: angela@krc. karelia.ru
 46.  Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (Буревестник)
Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. Диапазон углов перемещения блока детектирования: от 5 до 90° C. Шаг углового перемещения блока детектирования в автоматическом режиме: от 0, 02 до 30° C. Время накопления сигнала для каждого угла перемещения блока детектирования: от 2 до 3000° C. Исследование хлороформных кристаллосольватов фуллерена: C60 (CHCl3)2, (C60)0. 83(C70)0. 17 (CHCl3)2 и C70(CHCl3)2, образующих непрерывный ряд твердых растворов с примитивной гексагональной упаковкой молекул фуллерена.
 47.  Дифрактометр рентгеновский двухкристальный ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью.
 48.  Рентгеновский дифрактометр Geigerflex D/ max-RC (Rigaku)
Предназначен для проведения фазового анализа поликристаллических материалов; определения размеров областей когерентного рассеяния и дисторсий в порошковых образцах и монокристаллах; анализа структуры тонких пленок.
 49.  Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН-УМ2 (Буревестник)
Позволяет получать дифрактограммы порошковых материалов с высоким угловым разрешением (0. 003 градуса). Для управления дифрактометром, накопления данных и фазового анализа порошков используются персональные компьютеры и несколько баз данных, включающих в себя полную базу JCPDS до 1999 года включительно. Имеющееся программное обеспечение позволяет выводить данные в стандарте, принятом для ICDD, а также уточнять параметры элементарной ячейки, рассчитывать теоретические дифрактограммы, определять величину области когерентного рассеяния. Для рентгенофазового анализа, как правило, достаточно 10 мг вещества.
 50.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для проведения широкого круга структурных исследований различных природных или полученных экспериментально материалов, горных пород, в т. ч. глинистых минералов.
Иванов Алексей Викторович, тел. : (395) 242-71-17, e-mail: aivanov@crust. irk.ru
 51.  Рентгеновский порошковый дифрактометр УРС-55 (Буревестник) с дуговым координатным детектором
Исследование молекулярной и кристаллической структуры пространственно организованных полициклических соединений, а также их супрамолекулярной структуры и молекулярных комплексов
Финкельштейн Александр Львович, тел. (3952) 42-95-79
 52.  Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Предназначен для исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ; исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристаллов; исследование текстуры
 53.  Рентгеновский дифрактометр XRD 6100 (Shimadzu)
Предназначен для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических образцов . Объектами исследования являются порошковые и монолитные образцы минералов, металлов и сплавов, керамики, огнеупоров и других материалов, имеющих кристаллическую структуру.
Иванов Вячеслав Семенович, тел. (495) 437-56-33
 54.  Дифрактометр ДРОН-3 (НПП Буревестник)
Рентгеноструктурные исследования исследования общего характера: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры.
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 55.  Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (НПП БУревестник)
Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры и другое.
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 56.  Дифрактометр ДРОН-4-07 (НПП Буревестник)
Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: качественный и количественный фазовый анализ, определение макро- и микронапряжений, исследование текстуры и другое.
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 57.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки.
 58.  Рентгеновский дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific)
Предназначен для определения одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Кристаллография: определение (решение) структуры кристаллических материалов. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры.
Рудый А. С. , тел. / факс. : (4852) 24-65-52, e-mail: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 59.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью.
Великов Анатолий Алексеевич, тел. : (3822) 492551, e-mail: vel2@ipc. tsc.ru
 60.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Electron SA)
Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ материалов. Определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Количественное определение известных фаз в смеси. Кристаллография: определение (решение) структуры. кристаллических материалов. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы. Анализ поверхности и тонких пленок. Анализ текстуры.
Батаев Владимир Андреевич, тел. : (383) 346-06-12, e-mail: vabataev@yandex.ru
 61.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4 (Буревестник)
Предназначен для исследования структуры, фазового состава твердых тел. Используется для исследования мозаичных монокристаллических образцов с шириной кривой качания более 0, 2° , а также текстурированных и поликристаллических образцов. В качестве анализатора здесь использован пиролитический графит.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 62.  Рентгеновский дифрактометр D2 PHASER (Bruker)
Поиск фаз в природных объектах, анализ поликристаллических материалов и контроль качества химических, фармацевтических, геологических и других образцов.
 63.  Рентгеновский дифрактометр D8 VENTURE (Bruker)
Расчёт параметров кристаллических решёток, поиск фаз, деформационных напряжений, величины кристаллитов в порошке вещества, атомного строения вещества, структурных распределённых деформаций.
 64.  Автоматический рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Single-Crystal System KAPPA APEX II (Bruker)
Предназначен для исследования неорганических структур при температурах от 80 до 500 K. Пакет программ APEX II позволяет выполнять автоматический поиск дифракционных пиков с заданными параметрами, автоматически определять и уточнять параметры элементарной ячейки, проводить интегрирование массива дифракционных данных, проводить анализ и обработку данных диффузного рассеяния, профильный анализ с возможностью реконструкции обратного пространства, имеет полную совместимость с форматом комплекса программ SHELXTL.
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 65.  Автоматический рентгеновский дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния NanoSTAR SAXS (Bruker)
Малоугловое рентгеновское рассеяние. Определение размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц (от 1 до 100 нм) в кристаллических, аморфных, полимерных материалах, в растворах и расплавах.
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 66.  Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое); получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов; определение ориентации срезов монокристалловисследование текстуры
Дудин Сергей Васильевич, тел. : (496) 522-51-68, e-mail: dudinsv@ficp. ac.ru
 67.  Рентгеновский дифрактометр SmartLab (Rigaku)
Анализ фазового состава сырья и продуктов синтеза наноматериалов, в том числе при изменении температур в диапазоне от -100 до 350 ° С; Определение размеров частиц, структурных элементов, фазовых флуктуаций; Контроль остаточных напряжений в различных материалах и готовых изделиях; Исследование углеродных наноструктур различного типа.
 68.  Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Предназначен для качественного и количественного фазового анализа кристаллических образцов. Оснащен интегрированным ПК и монитором с плоским экраном. Новое и очень простое в использовании программное обеспечение DIFFRAC. SUITE позволяет быстро и просто проводить измерения и получать результаты.
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 69.  Рентгеновский дифрактометр XTRA (ARL)
Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз
 70.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Предназначен для проведения рентгеноструктурного анализа. Технические данные: Материал и тип анода Cu, трубка тип А-40-Cu. Размеры фокуса и максимальная мощность1, 0 x 10 мм, максимальная мощность 3 кВт. Максимальные параметры работы 60 кВ – 80 мА. Минимальный шаг сканирования 0, 0010. Режимы работы Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, позиционирование, осцилляция по оси.
Шворнева Л. И. , тел 7(916) 655-64-91, е-mail: lshvorneva@mail.ru
 71.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-2 (Буревестник)
Позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 72.  Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (Буревестник)
Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. В комплектацию входят: устройство угловое сканирующее ГУР-9, трубка рентгеновская БСВ28, источник рентгеновского излучения ИРИС-М7, программный комплекс для управления.
Чуприкова Т. А. (к. 205(П), 332-56-45, 147(вн))
 73.  Рентгеновский дифрактометр D8 Discover (Bruker) c GADDS
Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения. Bruker D8 Discover идеально подходит для применений в области нанотехнологий. Благодаря ультрасовременной и весьма совершенной оптической системе он позволяет получать подробную и точную информацию о структуре аморфных, моно- и поликристаллических тонких пленок толщиной всего несколько нанометров, изучать структуру поверхности и прослеживать структурные изменения вглубь образца, проводить неразрушающий контроль качества (совершенства) массивных промышленных монокристаллов для электроники и оптики, а также обнаруживать дефекты в наноразмерных кристаллах катализаторов.
Болдырева Е. В. (к. 104-108, 123, 125 (НГУ), 363-42-72)
 74.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2 (Буревестник)
Рентгеновский дифрактометр с высокотемпературной камерой УВД-2000 град
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 75.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4 (Буревестник)
Анализ размера частиц с помощью рентгеновского дифрактометра
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 76.  Рентгеновский дифрактометр LabX XRD-600 (Shimadzu)
Рентгеноструктурные исследования материалов: качественный анализ, количественный, эталонный, прецизионный расчет параметров решетки, определение остаточного аустенита, степени кристаллитов, и искажений решетки, высокотемпературные рентгеновские исследования до 2300 град.
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 77.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Предназначен для исследования структуры порошкообразных материалов. С помощью дифрактометра можно: проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз; определять размеры кристаллитов; исследовать изменение структуры кристаллических фаз в зависимости от температуры, влажности и атмосферы.
 78.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревесник)
Предназначен для решения научных и прикладных задач в области рентгенодифракционного анализа поликристаллов и ряда задач монокристальной дифрактометрии. Управление дифрактометром, сбор данных и обработка результатов измерений осуществляется с помощью ПЭВМ с OS Windows XP.
 79.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker-AXS)
Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки.
Непомнящих Александр Иосифович, тел. : (3952) 51-14-66, e-mail: ainep@igc. irk.ru
 80.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3М (НПП Буревестник)
Предназначен для прецизионного определения параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью.
Зубков Владимир Георгиевич, тел. : (343) 362-35-21, e-mail: zubkov@ihim. uran.ru
 81.  Рентгеновский порошковый дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Предназначен для исследования структуры порошкообразных материалов. С помощью дифрактометра D8 Advance можно: проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз; определять размеры кристаллитов; исследовать изменение структуры кристаллических фаз в зависимости от температуры, влажности и атмосферы
Зубков Владимир Георгиевич, тел. : (343) 362-35-21, e-mail: zubkov@ihim. uran.ru
 82.  Высокотемпературная камера НТК-1200N (Anton Paar) для рентгеновского дифрактометра
Обеспечение регулируемого нагрева в камере рентгеновского дифрактометра общего назначения для проведения измерений рентгеновской дифракции при температурах до 1200 град. С
Вотяков Сергей Леонидович, тел. : (343) 371-19-97, e-mail: director@igg. uran.ru; Щапова Юлия Владимировна, e-mail: shchapova@igg. uran.ru
 83.  Система анализа дифракции обратно-рассеянных электронов EBSD NordlysNano (Oxford Instruments) для работы с электронным сканирующим микроскопом
Структурный, текстурный, фазовый анализ микрообъектов на основе исследования дифракции обратно-рассеянных электронов
Вотяков Сергей Леонидович, тел. : (343) 371-19-97, e-mail: director@igg. uran.ru; Щапова Юлия Владимировна, e-mail: shchapova@igg. uran.ru
 84.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7 (Буревестник)
Предназначен для качественного анализа фазового состава материалов, продукции, сырья и промышленных отходов; исследование фазовых превращений и реакций; анализ изменений структурных характеристик кристаллических материалов.
Титова Ирина Ивановна, тел. : 3012 412611, e-mail: progress-esstu@mail.ru
 85.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр D8 Venture (Bruker)
Определение кристаллической структуры, определение симметрии, параметров элементарных ячеек, координат атомов, тепловых параметров, длин связей и углов между атомами, структурного мотива, расшифровка структуры, уточнение таких кристаллических особенностей, анализ сверхструктур соединений.
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 86.  Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu)
Предназначен для определения фазового состава горных пород, руд техногенного минерального сырья
Бобин Вячеслав Александрович, тел. : 495 3601339, e-mail: bobin_va@mail.ru
 87.  Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker)
Предназначен для исследования структуры вещества методом рентгеновской дифрактометрии
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 88.  Дифрактометр рентгеновский Miniflex 600
Предназначен для исследования структурно-фазового состояния материалов
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 89.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. В Институте химии прибор в основном используется для рутинного определения фазового состава и кристаллической структуры веществ.
Рубцова Светлана Альбертовна, тел. : (8212) 24-02-00, e-mail: rubtsova-sa@chemi. komisc.ru
 90.  Дифрактометр порошковый рентгеновский XRD 7000S (Shimadzu)
Рентгенофазовый анализ и рентгеноструктурные исследования поликристаллических материалов
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 91.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 MAXIMA (Shimadzu)
Предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов и позволяет: анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера; работать с электронными базами данных рентгеновских спектров.
Магкоев Тамерлан Таймуразович, тел. : 918 8224595, e-mail: t_magkoev@mail.ru
 92.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М (Буревестник)
Предназначен для определения фазового состава материалов
Смелягин Анатолий Игоревич, тел. : 861 2518705, e-mail: asmelyagin@yandex.ru
 93.  Порошковый прецизионный рентгеновский дифрактометр DMax-2200 (Rigaku)
Позволяет получать порошковую рентгенограмму в интервале углов 2q от 6-8° до 140-160° с минимальным шагом 0. 01-0. 005° . Для рентгенографической съёмки в дифрактометре обычно используют плоский препарат.
Коваленко Дмитрий Вячеславович, e-mail: dmitry@igem.ru
 94.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Качественный и количественный анализ кристаллических фаз, структурный анализ, определение размеров кристаллитов, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления
Кецко Валерий Алекванрович, тел. : (495) 955-48-71, e-mail: ketsko@igic. ras.ru
 95.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Область применения: Фазовый анализ проб. Количественный анализ. Определение размеров частиц и пор. Анализ Ритвельда. Анализ кристалличности. Анализ остаточного аустенита. Анализ остаточных напряжений. Построение прямых и обратных полюсных фигур.
Александров Игорь Васильевич, тел. : 347 2737977, e-mail: iva@mail. rb.ru
 96.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6100 (Shimadzu)
Предназначен для структурного анализа, в котором регистрация дифрагированного рентгеновского излучения осуществляется с помощью дискретных детекторов рентгеновского излучения
Межидов Вахид Хумаидович, тел. : 8712 295840, e-mail: NIZKP@mail.ru
 97.  Рентгеновский порошковый дифрактометр Maxima-X XRD-7000S (Shimadzu)
Предназначен для решения широкого круга исследовательских и промышленных задач, среди них: качественный и количественный фазовый анализ, рентгеноструктурный анализ, определение остаточного аустенита, степени кристалличности и размеров кристаллитов, исследование тонких пленок, анализ напряжений и их картирование и др.
Блесман Александр Иосифович, тел. : 3812 217703, e-mail: blesm@mail.ru
 98.  Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss)
Позволяет проводить комплексные исследования морфологии, элементного состава, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм.
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 99.  Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновского излучения S3-MICROpix
Определение размеров и форм частиц в ультрадисперсных системах (жидких и твердых) в диапозоне от 2 нм до 80 нм. Определение параметров кристалитов с нижним пределом детектирования 500 нм.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 100.  Рентгеновский дифрактометр SmartLab (Rigaku)
Предназначен для проведения измерений по определению структурных параметров, качественного и количественного фазового состава кристаллических и поликристаллических тонких пленок, дисперсных систем и структур на их основе.
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 101.  Дифрактометр высокого разрешения STADI-P (STOE)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области дифрактометрии высокого разрешения. Может использоваться для порошковой съемки малых количеств вещества в геометрии Дебая-Шеррера.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 102.  Комплекс рентгеновский диагностический ДИАКОМ (Севкаврентген-Д)
Предназначен для рентгеновской диагностики
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 103.  Рентгеновский дифрактометр XDR-7000S (Shimadzu)
Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов
Тарбоков Владислав Александрович, тел. : 3822 606258, e-mail: sanc@tpu.ru
 104.  Дифрактометр модульной конструкции порошковый рентгеновский D8 ADVANCE (Bruker AXS)
Дифрактометр модульной конструкции порошковыйрентгеновский с системой для проведения рентгенодифракционных измерений в широкомдиапазоне температур и комплектомдополнительного оборудования для определения фазового состава неоднородных образцов
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 105.  Дифрактометр рентгеновский Panalytical X Pert Powder (Nalkho Techno)
Предназначен для рентгеновской дифракции
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 106.  Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadzu) в комплекте с монохроматором, низкотемпературной камерой и азотной низкотемпературной системой
Предназначен для общенаучных исследований методом рентгеновской дифракции
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 107.  Приставка к дифрактометру ARL XTRA - высокотемпературная камера HTK 2000 (Thermo Scientific)
Рентгенографическое исследование материалов при высоких температурах
Сычев Александр Евгеньевич, тел. : (496) 524 6384, e-mail: sytschev@ism. ac.ru, web-site: www. ism. ac.ru
 108.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Scientific)
Определение фазового состава поликристаллических материалов
Сычев Александр Евгеньевич, тел. : (496) 524 6384, e-mail: sytschev@ism. ac.ru, web-site: www. ism. ac.ru
 109.  Монокристальный рентгеновский дифрактометр SMART APEX II (Bruker), оборудованный CCD детектором
Позволяет проводить на самом высоком экспериментальном и расчетном уровне рентгендифракционные исследования атомного строения неорганических, органических и гибридных органо-неорганических соединений на монокристаллах
Лапшин Андрей Евгеньевич зам. зав. лаб. , д. х. н. , тел (812) 328-02-22, e-mail: andrey. e. lapshin@gmail.com
 110.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревесник)
Рентгеновские дифракционные исследования поликристаллических веществ, материалов и изделий (неорганических и органических веществ, металлов и сплавов, композитов, пленок и покрытий). Укомплектован гониометрической приставкой ПГТМ, позволяющей производить съемку прямых полюсных фигур в автоматическом режиме.
А. С. Гордеев, тел. (499) 135-94-47, e-mail: shamray@imet. ac.ru
 111.  Дифрактометр многофункциональный рентгеновский Ultima IV (Rigaku)
Фазовый анализ проб, Количественный фазовый анализ проб, Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений, Текстурный анализ и анализ макронапряжений, Малоугловое рентгеновское рассеяние.
тел. (495) 638-4478, (926) 247-6538, email: info@misis-engineering.ru
 112.  Рентгеновский дифрактометр Дрон-2. 0 (НПП Буревесник)
Рентгенодифракционные исследования эпитаксиальных пленок и квантовых ям полупроводниковых материалов, выросших на разориентированных подложках. Измерения кривых качания для оценки структурного совершенства эпитаксиальных слоев и ям.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 113.  Рентгеновский дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius)
Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов.
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 114.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu)
Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок высокой интенсивности и принципиальное улучшение соотношения пик/ фон. Приставки для анализа напряжений, тонких плёнок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур.
Насыров Ильгиз Кутдусович, (843) 238-84-22, (917) 299-19-01, nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 115.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu), с системой поликапиллярной оптики PCL-1001
Установка для анализа фазового состава, расшифровки минералогического состава веществ, отходов, всех кристаллических полупродуктов и продуктов, антикоррозионных покрытий и т. д. Использование данного прибора позволяет определить вид минералов, кристаллическое строение
Пойлов Владимир Зотович, тел. : (342) 239-16-08, e-mail: poilov@cpl. pstu. ac.ru
 116.  Монокристалльный рентгеновский дифрактометр XCalibur (Agilent Technologies)
Анализ молекулярной структуры веществ в твердом состоянии
Джемилев Усеин Меметович, тел. : (347) 284-27-50, e-mail: ink@anrb.ru
 117.  Дифрактометр D2 Phaser (Bruker AXS)
Предназначен для проведения качественного и количественного анализа фазового состава, структурных характеристик, анализа степени чистоты и кристалличности порошков, включая системы, содержащие наноразмерные объекты.
 118.  Рентгеновский дифрактометр общего назначения MiniFlex II (Toshiba)
Предназначен для определения типов кристаллических структур, качественного и количественного фазового анализа материалов, исследований фазовых превращений, структурных состояний в объеме и приповерхностных областях материалов.
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 119.  Рентгеновский дифрактометр Дрон-3. 0 (НПП Буревестник)
Предназначен для определения типов кристаллических структур, качественного и количественного фазового анализа материалов, исследований фазовых превращений, структурных состояний в объеме и приповерхностных областях материалов.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 120.  Порошковый дифрактометр PW1800 (Philips)
Предназначен для анализа размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц в диапазоне 1 – 100 нм, в кристаллических, поликристаллических и аморфных твёрдых телах, а также в расплавах и растворах, методом малоуглового рентгеновского рассеяния
 121.  Монокристальный дифрактометр Xcalibur Gemini (Oxford diffraction)
Предназначен для современного исследования малых молекул в рамках кристаллографической лаборатории. Она была сконструирована ведущими производителями систем с двумя рентгеновскими трубками максимально просто и компактно.
 122.  Порошковый дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Предназначен для проведения фазового и структурного анализа порошковых или поликристаллических материалов
Карпов Евгений Викторович, тел. : (383) 333-20-51, E-mail: evkarpov@mail.ru
 123.  Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07 (ЛНПО Буревесник)
Предназначен для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов. В комплектацию входят: устройство угловое сканирующее ГУР-9, трубка рентгеновская БСВ28, источник рентгеновского излучения ИРИС-М7, программный комплекс для управления.
 124.  Порошковый дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа, индицирования и определения параметров ячейки, определения размеров кристаллитов, определения микронапряжений в образце, определения степени кристалличности, определение структур и их уточнение методом Ритвельда.
 125.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр SMART APEX II (Bruker)
Предназначен для определения кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах с последующим построением детального распределения электронной плотности.
 126.  Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Предназначен для рентгеновского фазового и рентгеновского структурного анализов. Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов. Полная автоматизация прибора и высокая защищенность персонала от воздействия рентгеновского излучения позволяет использовать его как в научных, так и в учебных целях. Прибор отличает высокая надежность и точность измерений.
kerimov@ncstu.ru, тел. 8(8652) 94-25-16
 127.  Настольный дифрактометр D2 PHASER (BRUKER)
Предназначен для анализа поликристаллических материалов. Настольный дифрактометр D2 PHASER оснащен интегрированным ПК и монитором с плоским экраном. Новое и очень простое в использовании программное обеспечение DIFFRAC. SUITE позволяет быстро и просто проводить измерения и получать результаты. D2 PHASER – это самый компактный и самый быстрый дифрактометр типа все-в-одном для фазового анализа кристаллических образцов, который только можно приобрести. Прибор мобилен и прост в установке – требуется только стандартная электрическая розетка. Таким образом, D2 PHASER – это идеальное решение для использования в лаборатории или в полевых условиях. Другими словами, это настоящая система типа подключи и работай. Простота в использовании, высокая производительность и низкая стоимость обслуживания – вот основные достоинства настольного дифрактометра D2 PHASER. По соотношению цена/ производительность D2 PHASER – лидер в области порошковой рентгеновской дифракции для исследований в лаборатории и контроля качества, например, в геологии, цементной, горнодобывающей, химической и фармацевтической промышленности, а также для использования в образовательных целях.
Удальцов Сергей Николаевич, тел. : (4967) 31-81-59, e-mail: udaltsov@issp. serpukhov. su
 128.  Рентгеновский многофункциональный дифрактометр XMD-300 (UNISANTIS)
Предназначен для качественного и количественного фазового анализа, анализа профиля пиков и структурной идентификации. Благодаря применению патентованной поликапиллярной оптики Кумахова этот дифрактометр не нуждается в применении коллиматоров для линейного проецирования рентгеновского излучения.
Гаврилов Сергей Александрович, тел. : 7 (499) 731-22-79, e-mail: rnd@miee.ru
 129.  Портативный рентгеновский дифрактометр РИКОР-5 рентгеновского измерительного комплекса РИКОР
Позволяет последовательно определять напряжения в заданных направлениях (метод синус квадрат пси), а также сумму главных напряжений в поверхностном слое металла деталей и конструкций.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 130.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр CAD4 (Enraf-Nonius), излучение MoK
Предназначен для определения кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах с последующим построением детального распределения электронной плотности.
Химический факультет МГУ имени М. В. Ломоносова, кафедра неорганической химии, Москва, Ленинские горы, д. 1 корп. 3, ответственный: Казаков С. М. , тел. (495)-939-2074, e-mail: root@inorg. chem. msu.ru
 131.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Область применения: Качественный и количественный фазовый анализ проб; Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений; Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду Определение степени кристалличности полимеров; Определение и уточнение параметров кристаллической решетки.
Химический факультет МГУ имени М. В. Ломоносова, кафедра неорганической химии, Москва, Ленинские горы, д. 1 корп. 3, ответственный: Казаков С. М. , тел. (495)-939-2074, e-mail: root@inorg. chem. msu.ru
 132.  Рентгеновский дифрактометр CAD-4 (Enraf-Nonius)
Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов.
Антипин Игорь Сергеевич, тел. 7 (843) 272-73-94, e-mail: igor. antipin@ksu.ru
 133.  Система дифракции быстрых электронов RHEED15 (Staib Instruments)
Система дифракции быстрых электронов предназначена для оценки качества структур, путем наблюдения дифракции отраженных от поверхности образца электронов.
 134.  Рентгеновский дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVER (Bruker)
Предназначен для решения широкого круга задач рентгеновской дифракции при изучении, как поликристаллов, так и монокристаллов; как микроскопических, так и полноразмерных промышленных образцов. Он обладает модульной архитектурой и способен функционировать в широком диапазоне различных конфигураций с быстрым переключением между ними, что делает его весьма универсальным инструментом для материаловедения.
 135.  Порошковый дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu)
Рентгеноструктурный анализ поликристаллов, в том числе: проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси); определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений; определение типа и состава твердого раствора; определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики).
 136.  Автоматический рентгеновский монокристальный дифрактометр Oxford Diffraction Gemini S
Предназначен для монокристальных и порошковых рентгеновских исследований кристаллических материалов; исследования атомных структур металлорганических кристаллов на основе комплексов переходных и поливалентных химических элементов; прецизионные рентгеновские исследования разупорядоченных неорганических кристаллов применяемых в лазерной технике.
 137.  Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Теперь MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 138.  Рентгеновский дифрактометр Empyrean B. V. (PANalytical)
Порошковая дифрактометрия, дифрактометрия высокого разрешения, малоугловое рассеяние, рефлектометрия и рентгеновская топография
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 139.  Дифрактометр многофункциональный Rigaku SmartLab
Предназначен для фазового и структурного анализа кристаллических тонких пленок
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 140.  Установка для рентгеноструктурного анализа Rigaku Miniflex 600
Предназначена для рентгеноструктурного анализа материалов
Пудалов Владимир Моисеевич, тел. : (499) 135-42-78, e-mail: pudalov@sci. lebedev.ru
 141.  Автоматический рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник)
Основные возможности: исследования общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и другое)получение полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристалловопределение ориентации срезов монокристалловисследование текстуры
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 142.  Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex 600 (Rigaku)
Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов; оценка размеров блоков когерентного рассеяния, методов рентгеновской дифрактометрии.
Каргин Николай Иванович, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru; Грехов Максим Михайлович, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9047, e-mail: MMGrekhov@mephi.ru
 143.  Дифрактометр рентгеновский Bruker D8 Advance Davinci (Bruker)
Порошковая дифрактометрия - фазовый анализ, оценка степени кристалличности, размер кристаллитов / анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, анализ по методу Ритфельда. Программное обеспечение - качественный и количественный анализ; база данных дифрактограмм ICDD PDF-2; кристалличность; анализ остаточных напряжений; построение прямых и обратных полюсных фигур; расчет параметров кристаллической решетки.
Перлович Юрий Анатольевич, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9638; Исаенкова Маргарита Геннадьевна, тел. (495) 788-56-99, доб. 9639, e-mail: isamarg@mail.ru
 144.  Станция Дифрактометрия с использованием жесткого рентгеновского излучения
Предназначена для дифракционных исследований поликристаллических веществ при высоких давлениях и температурах в ячейке с алмазными наковальнями с использованием жесткого рентгеновского излучения.
 145.  Дифрактометр рентгеновский URD-63 (Carl Zeiss)
Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 146.  Рентгеновский дифрактометр Empyrean (PANalytical B. V. )
Предназначен для фазовых и структурных исследований материалов в интервале температур от -100 до 1100 градусов Цельсия с высоким пространственным разрешением с помощью рассеяния рентгеновского излучения . Данный прибор используется в проекте для характеризации получаемых и исследуемых наноматериалов и микро(нано-)структур при различных внешних условиях: качественный и количественный фазовый анализ пленочных объектов и исследование текстур, шероховатости пленок, определение степени кристалличности и ориентировка монокристальных блоков, определение атомной структуры вещества, включающее в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также группу симметрии кристалла, уточнение параметров решетки.
 147.  Рентгеновский дифрактометр с генератором Ризон 50/ 50
Предназначен для исследования белков на базе интегральной линзы Кумахова. Детектирование производится с помощью системы Imaging Plate Detector System Mar 345, которая хорошо себя зарекомендовала и широко используется на рабочих станциях в синхротронных центрах.
 148.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Структурные исследования неорганических материалов, порошков, полимеров: качественный и количественный анализы, расчёт параметров решётки, определение размеров кристаллитов и искажений решётки.
Лебедев Юрий Анатольевич, тел. : (347) 235-72-42, e-mail: lebedev@anrb.ru
 149.  Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance (BRUKER AXS)
Параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов
Макаров Владимир Сергеевич, тел. : 343 3754408, e-mail: v. s. makarov@urfu.ru
 150.  Рентгеновский дифрактометр XRD 7000 (Shimadzu)
Рентгено-фазовый анализ любых поликристаллических материалов, неорганических порошков, сплавов, минерального сырья, руд, горных пород, некоторых органических материалов; рентгеноструктурный анализ; анализ керамики, огнеупоров, объектов окружающей среды, катализаторов, металлов, сплавов, фармацевтических препаратов
Первухин Сергей Васильевич, тел. : 391 2912848, e-mail: spervukhin@sfu-kras.ru
 151.  Рентгеновский дифрактометр Advance D8 (Bruker)
Качественный и количественный анализ кристаллических фаз; структурный анализ; определение размеров кристаллов; анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления с использованием соответствующих камер; быстрая съемка с применением позиционно-чувствительного детектора
Первухин Сергей Васильевич, тел. : 391 2912848, e-mail: spervukhin@sfu-kras.ru
 152.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН 7
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных институтов в различных отраслях науки и производства (материаловедение, черная и цветная металлургия, машиностроение, минералогия, кристаллография, химия, фармакология, криминалистика и другие). Схема Брэгг-Брентано, Диапазон углов сканирования, 2Θ о- 100 165, Минимальный шаг сканирования, 2Θ о = 0. 001, Точность позиционирования, 2Θ и Θ о =± 0. 005
Бадикова Альбина Дарисовна, тел. : 917 464-0110, e-mail: grantbsu@mail.ru
 153.  Комплекс дифрактометрический рентгеноструктурного анализа ДРОН-6 (Буревестник)
Предназначен для проведения исследований структуры и состава веществ
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 154.  Текстурный дифрактометр со структурным гониометром, модель 4020 (Philips Analytical Systems)
Предназначен для решения широкого круга задач в исследовании конденсированного состояния. Среди них: - определение магнитной и кристаллической структур (т. е. положение атомов и направление их магнитных моментов); - определение магнитных фазовых диаграмм; - изучение анизотропии смещения атомов при изменении температуры.
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 155.  Низкотемпературная дифрактометрическая камера Cobra (BRUKER)
Предназначена для проведения исследований в области низкотемпературной рентгеновской дифрактометрии
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 156.  Малоугловая установка РМУ-2 с высокотемпературной приставкой до 1200оС
Предназначена для проведения исследований в области рентгеновской дифрактометрии
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 157.  Дифрактометр высокого разрешения Ultima IV-285 (Rigaku)
Предназначен для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 158.  Рентгеновский дифрактометр Empyrean
Качественный и количественный рентгенофазовый анализ поликристаллических тел и порошков.
СКФУ, пр. Кулакова 2, корпус 17, ауд. 201. тел. 88652944071
 159.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Предназначен для количественного и качественного рентгенофазового анализа
Исхакова Людмила Дмитриевна, тел. : (499) 503-83-09, e-mail: ldisk@fo. gpi.ru
 160.  Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Дифрактометр для количественного и качественного рентгенофазового анализа и расшифровки структур методом Ритвельда
Исхакова Людмила Дмитриевна, тел. : (499) 503-83-09, e-mail: ldisk@fo. gpi.ru
 161.  Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Дифрактометр рентгеновский для микроанализа
Исхакова Людмила Дмитриевна, тел. : (499) 503-83-09, e-mail: ldisk@fo. gpi.ru
 162.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-13
Рентгеноструктурный анализ
Салтыков Сергей Николаевич, тел. : 4742 328155, e-mail: saltsn@mail.ru
 163.  Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6100
Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т. д. ).
Сулейманов Евгений Владимирович, тел. : 831 4623535, e-mail: suev@mail.ru
 164.  Рентгеновский порошковый дифрактометр LabX XRD-6000
Рентгеновский порошковый дифрактометр позволяет недеструктивно анализировать кристаллические объекты. Прибор позволяет проводить качественный и количественный анализы широкого круга объектов (стали, цветные металлы, керамики, цементы, минералы, промышленные образцы и т. д. ).
Сулейманов Евгений Владимирович, тел. : 831 4623535, e-mail: suev@mail.ru
 165.  Автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2В2 (DSO-2V2).
Автоматическое уточнение ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового среза.
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 166.  Рентгеновский дифрактометр ARL`XTRA (Thermo Scientific)
Фундаментальны исследования: кристаллография, химия твердого тела, твердотельная кинетика… . Прикладные исследования: материаловедение, геология, авиация, исследования керамики… Контроль технологических процессов: цементная отрасль, металлургия, керамическая промышленность
Николаев Анатолий Николаевич, тел. : 4112 496612, e-mail: aic-svfu@mail.ru
 167.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Смирнов Николай Николаевич, тел. : 4932 327410, e-mail: ckp@isuct.ru
 168.  Дифрактометр Xcalibur E (Agilent)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Абакумов Глеб Арсентьевич, тел. : (831) 462-77-09, e-mail: gleb@iomc. ras.ru
 169.  Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical
Рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения модульной конструкции для научных исследований и для аналитического контроля в промышленности .
Ризаханов Ражудин Насрединович, тел. : (495) 456-80-83, e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 170.  Порошковый рентгеновский дифрактометр ДРОН-7
Для решения широкого круга аналитических, технологических и научно-исследовательских задач химии, физики, материаловедения, геологии. Ренгенофазовый анализ поли-кристаллических материалов. Исследование нано (микро-структуры) поликристаллических материалов (металлов, катализаторов, полупроводников и др. ). Исследование влияния различных технологических обработок на микро-структуру и свойства материалов. Полиморфизм.
Лобанов Николай Николаевич, тел. : 495 9550970, e-mail: nlobanov@sci. pfu. edu.ru
 171.  Дифрактометр с вращающимся анодом SLS SRL (Bruker)
Генератор рентгеновского. излучения
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 172.  Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр с вращающимся анодом D8 Discover (Bruker)
Исследования методом рентгеновской дифракции высокого разрешения
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 173.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Оборудование для рентгеновской дифракции. Анализ тонких пленок. Фазовый анализ, степень кристалличности, размер кристаллитов, анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, оценка толщины пленки (рефлектометрия), текстурный анализ (ориентация зерен, подложки), качество интерфейса.
Каргин Николай Иванович, тел. : 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru; Грехов Максим Михайлович. Тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9047, e-mail: mmgrekhov@mephi.ru
 174.  Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima Rigaku Ultima IV
Оборудование для рентгеновской дифракции
Абрамович Римма Александровна, тел. : 495 7873803, e-mail: abr-rimma@yandex.ru
 175.  Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 ADVANCE Bruker D8 ADVANCE
Оборудование для рентгеновской дифракции
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 176.  Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Баранников Владимир Петрович, тел. : (4932) 33-62-72, e-mail: vpb@isc-ras.ru
 177.  Программно-аппаратный комплекс для обеспечения рентгенофазовых исследований ARL Xtra (Thermo Scientific)
Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 178.  Рентгеновский комплекс исследования топографии XRT-100 (RIGAKU/ Fuji-Film)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 179.  Порошковый дифрактометр с детектором Пельтье TETA ARL (Thermo)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 180.  Дифрактометр порошковый рентгеновский ARL XTRA (Thermo Fisher Scietific)
Анализ поверхности и тонких пленок, определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе, количественное определение известных фаз в смеси
Кравченко Олег Александрович, тел. : 8635 255974, e-mail: savost@hotmail.ru
 181.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Предназначен для решения широкого круга научно-исследовательских и технологических задач, возникающих при изучении кристаллических и аморфных твердых тел, пленок
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 182.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-3М
Оборудование для рентгеновской дифракции
Ерёмкин Алексей Владимирович, тел. : 8352 452403, e-mail: eremkin80@mail.ru
 183.  Автоматический рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-7
Оборудование для рентгеновской дифракции
Ильин Александр Анатольевич, тел. : 499 1419588, e-mail: ilinaa@mati.ru
 184.  Рентгеновский порошковый дифрактометр ARLXTRA (Thermo Electron)
Предназначен для проведения порошковых исследований. При использовании тета: тета гониометра проба остается неподвижной в горизонтальном положении, в то время как перемещаются рентгеновская трубка и детектор. Такая геометрия особенно рекомендуется для трудно устанавливаемых проб (порошки, жидкости, и т. д. ).
Домашнев Игорь Анатольевич, тел. : (496) 522-13-75, e-mail: dia@icp. ac.ru
 185.  Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4 (BRUKER)
Предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Р4 является стандартным дифрактометром. В качестве источника излучения используется Mo рентгеновская керамическая трубка мощностью 2000Вт, для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором.
Домашнев Игорь Анатольевич, тел. : (496) 522-13-75, e-mail: dia@icp. ac.ru
 186.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Предназначен для рентгеновской дифракции
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 187.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения XRD 7000 (Shimadzu)
Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ
Вотяков Сергей Леонидович, тел. : (343) 371-19-97, e-mail: director@igg. uran.ru; Щапова Юлия Владимировна, e-mail: shchapova@igg. uran.ru
 188.  Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2
Предназначена для определения дисперсного состава наноразмерных объектов методом рентгеновской дифрактометрии
Безуглова Екатерина Александровна, тел. : 495 7390314, e-mail: BezuglovaEA@mgsu.ru
 189.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД)
Безуглова Екатерина Александровна, тел. : 495 7390314, e-mail: BezuglovaEA@mgsu.ru
 190.  Установка для исследования поверхности твердых тел LAS-600 (RIBER)
Оборудование для дифракции электронов
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 191.  Установка для исследования поверхности твердых тел ADES-2 (VARIAN)
Оборудование для дифракции электронов
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 192.  Двухмодульная рентгеновская система для исследования твердотельных материалов STOE STADI P
Исследование поликристаллических твердотельных материалов рентгенодифракционными методами. Модульная система позволяет использовать одновременно два независимых гониометра – в геометрии на пропускание и отражение.
Гнеденков Сергей Васильевич, тел. : (423) 231-25-90, e-mail: referent@ich. dvo.ru
 193.  Рентгеновский дифрактометр Kappa APEX2 (BRUKER)
Исследование молекулярного и кристаллического строения монокристаллов
Гнеденков Сергей Васильевич, тел. : (423) 231-25-90, e-mail: referent@ich. dvo.ru
 194.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (BRUKER)
Исследование поликристаллических твердотельных материалов рентгенодифракционными методами. Проведениекачественного и количественного рентгенофазового анализа. Исследование фазовых переходов в широком диапазоне температур.
Гнеденков Сергей Васильевич, тел. : (423) 231-25-90, e-mail: referent@ich. dvo.ru
 195.  Рентгеновский дифрактометр SMART AREX2 CCD (BRUKER)
Исследование молекулярного и кристаллического строения монокристаллов
Гнеденков Сергей Васильевич, тел. : (423) 231-25-90, e-mail: referent@ich. dvo.ru
 196.  Автоматизированный рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник)
Предназначен для исследования структуры, текстуры и фазового состава моно- и поликристаллических образцов. Дифрактометр оснащен высокотемпературной и низкотемпературной вакуумными камерами для изучения фазовых переходов.
Ринкевич Анатолий Брониславович, тел. : (343) 374-43-31, e-mail: rinkevich@imp. uran.ru
 197.  Дифрактометрический комплекс (НПО)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Эпштейн Светлана Абрамовна, тел. : 499 2302449, e-mail: apshtein@yandex.ru
 198.  Компьютеризированный комплекс рентгеновской дифрактометрии ADP-2
Оборудование для рентгеновской дифракции
Эпштейн Светлана Абрамовна, тел. : 499 2302449, e-mail: apshtein@yandex.ru
 199.  Дифрактометр ренгеновский Bruker D8 ADVANCE
Оборудование для рентгеновской дифракции
Созинов Сергей Анатольевич, тел. : (3842) 28-14-76, e-mail: sozinov71@mail.ru
 200.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревестник) 10009431
Исследование структуры материалов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 201.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 инв. 10007012
Исследование структуры материалов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 202.  Рентгеновский порошковый дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 203.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр SMART APEX II (Bruker)
Предназначен для поиска кристаллических и молекулярных структур неорганических, органических и металлоорганических соединений при различных температурах, построения детального распределения электронной плотности
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 204.  Рентгеновская система малоуглового и широкоуглового рассеяния Hecus S3-MICRO
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кульчин Юрий Николаевич, тел. : (423) 231-04-39, e-mail: director@iacp. dvo.ru
 205.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7
Оборудование для рентгеновской дифракции
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 206.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Позволяет решать практически весь комплекс существующих задач в области порошковой дифрактометрии. В приборе реализована принципиально новая концепция построения модульных систем, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брегг-Брентано к параллельно-лучевой оптике происходит максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гёбеля, переключение между которыми происходит автоматически. Новая рентгеновская TWIST-трубка позволяет осуществлять переключение между точечным и линейным фокусом.
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 207.  Рентгеновский дифрактометр (малоуглового рассеяния S3-MICRO HECUS или его аналоги) SAXSess mc²
Предназначен для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты).
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 208.  Порошковый рентгеновский дифрактометр D2 Phaser (Bruker)
Предназначен для проведения качественного и количественного анализа фазового состава, структурных характеристик, анализа степени чистоты и кристалличности порошков, включая системы, содержащие наноразмерные объекты
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 209.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2
Оборудование для рентгеновской дифракции
Полуэктов Николай Павлович, тел. : 498 6874094, e-mail: poluekt@mgul. ac.ru
 210.  Рентгеновский дифрактометр SHIMADZU XRD-7000
Предназначен для рентгеновской дифракции
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 211.  Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker Corporation)
Рентгено-фазовый анализ порошков и мелкокристаллических объектов в области размером до 0, 05 мм
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 212.  Дифрактометр рентгеновский с высоко- и низкотемпературными камерами и зеркалом Гебеля D8 Advance (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Титова Светлана Геннадьевна, тел. : (343) 232-90-75, e-mail: ckp-ural-m@mail.ru
 213.  Монокристальный рентгеновский дифрактометр XCALIBUR (Agilent)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Лебедев Юрий Анатольевич, тел. : (347) 235-72-42, e-mail: lebedev@anrb.ru
 214.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Лебедев Юрий Анатольевич, тел. : (347) 235-72-42, e-mail: lebedev@anrb.ru
 215.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 216.  Станция Космос на ВЭПП-4
Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 217.  Станция Прецизионная дифрактометрия-2
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 218.  Станция Малоугловое рассеяние
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 219.  Станция Дифракционное кино (дифрактометрия с временным разрешением)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 220.  Станция Дифрактометрия при высоких давлениях
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 221.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр Xcalibur 3 (Oxford Diffraction)
Предназначен для рентгеновской дифракции
Кодесс Михаил Исаакович, тел. : (343) 341-57-55, e-mail: nmr@ios. uran.ru
 222.  Дифрактометр Д8 Discover c с температурными приставками D8DISCOVER (BRUKER)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Андреев Юрий Анатольевич, тел. : (3822) 49-19-00, e-mail: andreev@lhfe. hcei. tsc.ru
 223.  Рентгено-фазовый спектрометр Miniflex II (Rigaku)
Рентгено-фазовый анализ порошков
Бердников Николай Викторович, тел. : (4212) 22-77-32, e-mail: nick@itig. as. khb.ru
 224.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-6 (НПО Буревестник)
Предназначен для рентгеновской дифракции, качественный и количественный структурный и фазовый анализ, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 225.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Предназначен для рентгеновской дифракции, анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления, пакет ПО для обработки дифрактограмм, фазовой идентификации, количественного анализа многофазных образцов по методу Ритвельда, определения размеров кристаллитов и микронапряжений по профилю линий.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 226.  Дифрактометр рентгеновский D8 Discover (Bruker)
Прибор обеспечивает возможность рентгено-дифракционного исследования следующих видов материалов: эпитаксиальные многослойные структуры; текстурированные материалы; поликристаллические материалы; покрытия и приповерхностные слои.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 227.  Дифрактометр рентгеновский PANalitical XPert PRO MRD (Philips)
Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей, в том числе - малоугловой. Источником рентгеновского излучения с длиной волны Cu Kα 0, 154 нм служит рентгеновская трубка (напряжение 60 кВ, ток 60 мА). Спектральная и угловая монохроматизация зондового пучка осуществляется с помощью четырехкристального асимметричного монохроматора Ge (220). Образец устанавливается на стол с 6-ю степенями свободы, что позволяет изучать локально по всей поверхности как плоские, так и изогнутые образцы. (Коллиматор Соллера, ограничивающий вертикальную расходимость, установлен за щелями детектора и на рисунке не показан).
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 228.  Дифрактометр рентгеновский XPert PRO MRD (Philips)
Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 229.  Дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVERY (Bruker)
Исследование кристаллической структуры твердотельных материалов. Определение качественного и количественного фазового состава и структуры твердых тел, параметров элементарной ячейки, микронапряжений в кристаллах. Рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков. Возможность работы в режиме рефлектометра.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 230.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 231.  Дифрактометр ARL XtrA (Thermo Fisher Scientific)
Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы
Климочкин Юрий Николаевич, тел. : 846 3322122, e-mail: orgchem@samgtu.ru
 232.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник)
Предназначен для проведения рентгено-структурных исследований. Проведение количественного и качественного фазового анализа металлов и сплавов
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 233.  Компактный настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER (Bruker)
Компактный настольный порошковый дифрактометр
Кушхов Хасби Билялович, тел. : 928 7196727, e-mail: hasbikushchov@yahoo.com
 234.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник)
Предназначен для проведения рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа с обработкой дифрактограмм в программном пакете PDWin 4. 0
Кушхов Хасби Билялович, тел. : 928 7196727, e-mail: hasbikushchov@yahoo.com
 235.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-УМ-2
Оборудование для рентгеновской дифракции
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 236.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДАРТ-УМ-1
Оборудование для рентгеновской дифракции
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 237.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV Тип II (Rigaku)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 238.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-6
Оборудование для рентгеновской дифракции
Андреев Олег Валерьевич, тел. : 3452 453797, e-mail: andreev@utmn.ru
 239.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-3
Оборудование для рентгеновской дифракции
Андреев Олег Валерьевич, тел. : 3452 453797, e-mail: andreev@utmn.ru
 240.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-7
Оборудование для рентгеновской дифракции
Андреев Олег Валерьевич, тел. : 3452 453797, e-mail: andreev@utmn.ru
 241.  Комплекс рентгеновских дифрактометров и двухкристального спектрометра ДРОН-2. 0, ДРОН-3
Дифрактометры ДРОН– 2. 0, ДРОН– 3. 0 и двухкристальный спектрометр ДТС– 1 настроены на работу с медным излучением (l=1. 54056 Å ) с мощностью до 2 кВт каждая
Пудалов Владимир Моисеевич, тел. : (499) 135-42-78, e-mail: pudalov@sci. lebedev.ru
 242.  Рентгеновский дифрактометр XPert PRO MRD (PANAlytical)
Исследование тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок
Пудалов Владимир Моисеевич, тел. : (499) 135-42-78, e-mail: pudalov@sci. lebedev.ru
 243.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М (Буревесник)
Предназначен для исследования структуры материалов методом рентгеновской дифракции
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 244.  Дифрактометр рентгеновский URD-63 (Carl Zeiss)
Предназначен для рентгеноструктурного анализа материалов
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 245.  Автоматический рентгеновский поликристаллический дифрактометр D8 ADV (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 246.  Автоматический рентгеновский монокристалльный дифрактометр с низко- и высокотемпературными приставками CAD4 (Enraf)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 247.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по Ритфельду. Определение степени кристалличности полимеров. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки.
Маслов Анатолий Александрович, тел. : (383) 330-38-80, e-mail: maslov@itam. nsc.ru
 248.  Рентгеновский дифрактометр c вращающимся анодом ultraX D/ MAX-2500V/ PC (Rigaku)
Проведение рентгенофазового и рентгенографического анализа веществ и материалов, в т. ч. наноструктурированных, в т. ч. при повышенных темп. до 1500С. Мощность излучения 18 kW, шаг сканирования 0, 01о; интервал 2Θ 1-120 о; координатный детектор, температуры образца во время съемки - от 25 оС до 1500 оС и комплексом приставок, обеспечивающих полный набор рентгенографических методов исследования материалов при различных температурах.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 249.  Порошковый дифрактометр системы STOE STADI P (STOE & Cie GmbH)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 250.  Дифрактометр STADI/ P CuK (STOE)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 251.  Порошковый дифрактометр ARL-XTRA (Thermo)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Реутский Вадим Николаевич, тел. : (383) 330-65-31, e-mail: reutsky@igm. nsc.ru
 252.  Универсальный порошковый дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений.
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 253.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7. 0
Оборудование для рентгеновской дифракции
Попов Павел Аркадьевич, тел. : 84832 666953, e-mail: tfbgubry@mail.ru
 254.  Рентгеновский дифрактометр ARL X-TRA (Thermo Fisher Scientifics)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 255.  Дифрактометр ренгеновский ARL XTRA (Thermo)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Карацупа Сергей Викторович, тел. : 4722 553615, e-mail: cupik@yandex.ru
 256.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 257.  Дифрактометр ренгеновский DSO-2V2
Оборудование для рентгеновской дифракции
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 258.  Установка для исследования проникающей способности низкоэнергетических электронов УПРТ-25КУ
Оборудование для дифракции электронов
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 259.  Дифрактометр (Phazer)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Стерхов Михаил Юрьевич, тел. : (3412) 50-82-00, e-mail: mister@udman.ru
 260.  Рентгеновский дифрактометр ДР-02 РАДИАН
Оборудование для рентгеновской дифракции
Владимиров Александр Александрович, тел. : 3842 587971, e-mail: fizickemsu@mail.ru
 261.  Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Позволяет анализировать широкий спектр материалов. Возможные исследования: определение фазового состава пробы; количественное определение известных фаз в смеси; кристаллография — уточнение структуры кристаллов; проведение анализа в различных условиях — изменение температуры, давления или газовой атмосферы; анализ поверхности и тонких пленок; анализ текстуры.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 262.  Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO (Hecus)
Рентгеновский малоугловой дифрактометр S3-MICRO фирмы Hecus, позволяет измерять интенсивность рентгеновского рассеяния от исследуемых твердых и жидких образцов в виде пленок, пластин, покрытий, порошков, растворов, золей и гелей в области от самых малых углов до 8° . Для измерения дифрактограмм предусмотрено использование координатных (1D и 2D) детекторов. В качестве источника излучения используется рентгеновская трубка с медным анодом (λ CuKα = 0. 154 нм). Имеется возможность термостабилизации образцов в диапазоне от -30 до 300 С.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 263.  Автоматический рентгеновский дифрактометр D/ MAX-2200VL/ PC (Rigaku)
Позволяет осуществлять широкий спектр структурных исследований порошковых, тонкоплёночных и компактных образцов в широком диапазоне температур с высокой степенью точности. С помощью измерительного комплекса можно определить фазовый состав исследуемых проб. Высокотемпературная приставка позволяет исследовать структуру при нагревании образцов до 1500° С. Дополнительный малоугловой гониометр позволяет исследовать субмикронные плёнки.
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 264.  Дифрактометр D2 PHASER (Bruker )
Оборудование для рентгеновской дифракции
Козлов Дмитрий Владимирович, e-mail: KozlovDV@ulsu.ru
 265.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Рентгеновская дифрактометрия и рефлектометрия. Определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе. Кристаллография: определение (решение) структуры кристаллических материалов.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 266.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker-AXS)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Семенов Александр Петрович, тел. : (3012) 43-31-84, e-mail: semenov@ipms. bscnet.ru
 267.  Дифрактометр рентгеновский Smart Apex II (Bruker)
Предназначен для исследований методом рентгеновской дифракции
Кецко Валерий Алекванрович, тел. : (495) 955-48-71, e-mail: ketsko@igic. ras.ru
 268.  Дифрактометр рентгеновский P-4 (Bruker)
Предназначен для исследований методом рентгеновской дифракции
Кецко Валерий Алекванрович, тел. : (495) 955-48-71, e-mail: ketsko@igic. ras.ru
 269.  Рентгеновский дифрактометр малоуглового рассеяния SAXSess (Anton)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Цивадзе Аслан Юсупович, тел. : (495) 955-46-30, e-mail: tsiv@phyche. ac.ru
 270.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр KAPPA APЕХ (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Цивадзе Аслан Юсупович, тел. : (495) 955-46-30, e-mail: tsiv@phyche. ac.ru
 271.  Рентгеновский порошковый дифрактометр Empyrean (PANalytical)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Цивадзе Аслан Юсупович, тел. : (495) 955-46-30, e-mail: tsiv@phyche. ac.ru
 272.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-7
Оборудование для рентгеновской дифракции
Левченко Сергей Васильевич, тел. : 863 2225701, e-mail: levchenko@sfedu.ru
 273.  Сдвоенный рентгеновский автодифрактометр для съемок образцов в геометриях на прохождение и отражение STADI-P (STOE)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Зубков Владимир Георгиевич, тел. : (343) 362-35-21, e-mail: zubkov@ihim. uran.ru
 274.  Дифрактометр ARL XTRA (THERMO)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Олишевский Даниил Петрович, тел. : 863 2220903, e-mail: info@ckpvt.ru
 275.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Голиков Николай Иннокентьевич, тел. : (4112) 35-88-69, e-mail: golikov@iptpn. ysn.ru
 276.  Рентгеновский монокристалический дифрактометр P-4 (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 277.  Аппарат рентгеновский ДРОН-4-07
Оборудование для рентгеновской дифракции
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 278.  Аппарат рентгеновский ДРОН-3
Оборудование для рентгеновской дифракции
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 279.  Рентгеновский дифрактометр с высокотемпературной камерой и приставкой для измерения микрообъектов XRD-6000 (Shimadzu)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 280.  Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER GADDS (Bruker)
Оборудование для рентгеновской дифракции
Иванов Максим Геннадьевич, тел. : (343) 267-87-96, e-mail: max@iep. uran.ru
 281.  Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Исследование надатомной структуры твердого тела, полимеров, жидкостей, мицелл, биологических макромолекул в растворе, полидисперсных материалов, сплавов, фрактальных систем и других наноматериалов.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 282.  Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Изучение планарных тонкоплёночных систем, поликристаллов, монокристаллов с использованием методов стоячих рентгеновских волн, рефлектометрии, двух и многоволновой дифрактометрии, рентгенофазового и рентгенофлуоресцентного анализа.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 283.  Порошковый рентгеновский дифрактометр XPERT PRO MPD (PANalytical)
Исследование атомной структуры кристаллов белков, поликристаллов, жидких кристаллов образцов малого объема и др.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 284.  Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford Diffraction)
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 285.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-УМ2
Предназначен для рентгеновской дифракции
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 286.  Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-УМ1
Оборудование для рентгеновской дифракции
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 287.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-2. 0
Дифрактометр рентгеновский. Рентгенофазовый анализ. Определение фазового состава неорганических соединений
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 288.  Установка для исследования оптической однородности монокристаллов
Исследование однородности по точкам рассеяния
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 289.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2
Исследования кристаллической структуры вещества на поликри-сталлических образцах
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 290.  Малоугловой дифрактометр поляризованных нейтронов с 3-х мерным анализатором поляризации (Канал 14)
Исследования магнитных неод-нородностей (магнитные домены ферроманетиках, магнитные кла-стеры в спиновых стеклах и ма-нитных жидкостях, магнитная текстура магнетиков, вихревая структура в сверхпроводниках). Длина волны нейтронов 2. 3Å ; Поляризация пучка 0. 95; Поток поляр. нейтронов на об-разце 3• 103 н см-2 сек-1; Максимальное сечение пучка 25x3 мм2; Апертура детектора 1• 10-5 сте-рад;
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 291.  Четырехкружный нейтронный дифрактометр (Канал 13а)
Исследования магнитной и кри-сталлической структуры моно-кристаллов. Монохроматоры CU, GE, PG; Длины волн: 0. 72Å , 0. 89Å , 1. 02Å , 1. 1Å , 1. 66Å , 1. 73Å ; Поток нейтронов на образце 2• 105 н см-2 сек-1; Сечение пучка на месте образца 10x40 мм2 ;
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 292.  Дифрактометр поляризованных нейтронов c трехмерным анализом поляризации (Канал 6)
Исследования магнитной струк-туры вещества на монокристал-лах Максимальный размер пучка на образце 8• 50 мм2; Максимальный поток поляризо-ванных нейтронов на образце - 106 н/ см2сек (< λ > = 2. 0 Å ); Поляризация падающих на обра-зец нейтронов 95%; Монохроматор с кристаллом сплава Гейслера MnAlCu2: Δ λ / λ = 0. 3;
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 293.  Установка малоуглового рассеяния нейтронов Мембрана 2 (Канал 5)
Изучение надатомной структуры коденсированных сред на мас-штабах 1-100 нм Диапазон переданных импульсов 0. 04 - 2. 0 нм-1; Спектры падающего на образец пучка: интегральный спектр: < λ > = 0. 3 нм, Δ λ / λ = 0. 3; монохроматический спектр: 2. 2< λ < 5Å , Δ λ / λ = 0. 1; Интенсивность потока тепловых нейтронов на образце: интегральный спектр 1• 104 н см-2 сек-1; монохр. спектр 1• 103 н см-2 сек-1 (λ = 2. З Å ); Максимальное сечение пучка на месте образца 8x60 мм2.
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 294.  Установка малоуглового рассеяния поляризованных нейтронов Тензор (Канал 4)
Исследования надатомных ядер-ных и магнитых структур мас-штаба 100-5000Ǻ. Длина волны нейтронов (7-12)Ǻ, Δ λ / λ = 10-30%; Lиапазон переданных импульсов (5• 10-3-10-1) Ǻ -1; Cредний поток тепловых нейтро-нов на образце 1. 7• 104 н/ см2/ сек (при λ = 8Ǻ, Δ λ / λ = 25%); Максимальный размер пучка на образце - 8• 40 мм2; Поляризация падающих на обра-зец нейтронов - 95%;
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 295.  Многосчетчиковый порошковый дифрактометр (Канал 1)
Исследования кристаллической и магнитной структуры вещества на поликристаллических образ-цах Длины волн нейтронов: 1. 38Ǻ, 1. 64Ǻ, 2. 16Ǻ, 2. 52 Ǻ; Минимальная FWHM - 24 Разрешение Δ d/ d=0. 01; Размер пучка на месте образца 8x40 мм2; 48 счетчиков
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 296.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3
Рентгеноструктурный анализ
Корнеев Алексей Евгеньевич, тел. : (495) 675-85-16, e-mail: korneev@cniitmash.ru
 297.  Монокристальный дифрактометр CAPPA-APEX (Bruker)
Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов
Маматюк Виктор Ильич, тел. : (383) 330-69-60, e-mail: vim@nioch. nsc.ru
 298.  Рентгеновский дифрактометр многоцелевого назначения Ultima IV (Rigaku)
Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ Полнопрофильный анализ порошковых материалов Анализ размеров мелких частиц и пор (наноразмерный масштаб) Анализ текстур Анализ структурытонких пленок как в плоскости образца, так и в других направлениях Исследования порошковых материалов могут проводиться в температурном интервале -180 + 300 С и в высокотемпературной приставке при температурах до 1500С.
 299.  Универсальный порошковый дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Дифрактометр с полностью автоматической юстировкой всей системы. Благодаря возможности автоматической юстировки системы в сочетании с СВО оптикой и in-plane геометрией этот дифрактометр является наиболее гибкой системой доступной для широкого круга прикладных задач.
 300.  Рентгеновский дифрактометр Дрон-4-13
Рентгеноструктурный анализ материала
Салтыков Сергей Николаевич, тел. : 4742 328155, e-mail: saltsn@mail.ru
 301.  Автоматический рентгеновский дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния NanoSTAR SAXS (Bruker)
Малоугловое рентгеновское рассеяние. Определение размеров, формы, молекулярно-массового распределения наноразмерных частиц (от 1 до 100 нм) в кристаллических, аморфных, полимерных материалах, в растворах и расплавах.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 302.  Aвтоматический порошковый рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE (Bruker)
Рентгеноструктурный анализ порошков, рентгенофазовый анализ смесей порошков, исследование структуры поликристаллических веществ и материалов
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 303.  Автоматический рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Single-Crystal System KAPPA APEX II (Bruker)
Рентгеноструктурный анализ монокристаллов, исследование молекулярной и кристаллической структуры органических, металлоорганических и металлокомплексных соединений. Установление абсолютной конфигурации хиральных молекул. Для исследования больших молекул, в том числе наноразмерных.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 304.  Трехкружный автоматический монокристальный рентгеновский дифрактометр с координатным детектором Smart Apex II (Bruker)
Рентгеноструктурный анализ монокристаллов, исследование молекулярной и кристаллической структуры элементоорганических, металлоорганических и металлокомплексных соединений.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 305.  4-х кружный дифрактометр Syntex P21 (Синтекс)
Для рентгеноструктурного анализа монокристаллов
Локшин Борис Вениаминович, Доктор химических наук, профессор, заведующий лабораторией, 499-135-65-01, bloksh@ineos. ac.ru
 306.  4-х кружный дифрактометр P3/ PC; CAD (Siemens)
Рентгеноструктурный анализ монокристаллов.
Локшин Борис Вениаминович, Доктор химических наук, профессор, заведующий лабораторией, 499-135-65-01, bloksh@ineos. ac.ru
 307.  4-х кружный дифрактометр Siemens P3/ PC
Рентгеноструктурный анализ монокристаллов.
Локшин Борис Вениаминович, Доктор химических наук, профессор, заведующий лабораторией, 499-135-65-01, bloksh@ineos. ac.ru
 308.  Дифрактометр монокристальный Smart 1000 CCD (Bruker)
Рентгшеноструктурный анализ монокристаллов.
Локшин Борис Вениаминович, Доктор химических наук, профессор, заведующий лабораторией, 499-135-65-01, bloksh@ineos. ac.ru
 309.  Дифрактометр порошковый Advance D8 (Bruker)
Изучение кристаллической структуры твердых тел.
Локшин Борис Вениаминович, Доктор химических наук, профессор, заведующий лабораторией, 499-135-65-01, bloksh@ineos. ac.ru
 310.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3
РФА
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 311.  Рентгеновский порошковый дифрактометр D-500 (Siemens)
РФА
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 312.  Дифрактометр рентгеновский, порошковый D8-ADVANCE (BRUKER)
РФА, РСА
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 313.  Дифрактометр рентгеновский монокристальный SMART APEX II (BRUKER)
Позволяет проводить на самом высоком экспериментальном и расчетном уровне рентген-дифракционные исследования атомного строения неорганических, органических и гибридных органо-неорганических соединений на монокристаллах и мелкокристаллических порошках.
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 314.  Рентреновский дифрактометр Bruker AXS Smart Apex
Рентгеноструктурный анализ
Абакумов Глеб Арсентьевич, тел. : (831) 462-77-09, e-mail: gleb@iomc. ras.ru
 315.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Проведение рентгеновских исследований
Солнцев Константин Александрович , тел. : (499) 135-20-60, e-mail: imet@imet. ac.ru
 316.  Рентгеновский порошковый дифрактометр с позиционно-чувствительным детектором и спервичным монохроматором для CuKα 1 SIEMENS D-500
Рентгендифракционный спектр материалов, метод полнопрофильного анализа спектров для структурной характеризации материалов
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 317.  Рентгеновский монокристальный дифрактометр с двухкоординатным CCD детектором. Oxford diffraction - Gemini R
Полный набор интенсивностей дифракционных отражений монокристалла, исследование атомно-кристаллической структуры материалов. Двумерная картина рентгеновской дифракции, дифракционный анализ структурно-неупорядоченных состояний. Исследования в широком интервале температур
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 318.  Рентгеновский дифрактометр
Измерение интенсивности и направления рентгеновского излучения на кристаллическом объекте
Дерканосова Анна Александровна, тел. : 473 2553716, e-mail: aa-derk@yandex.ru
 319.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревестник)
Предназначен для рентгеновской дифракции
Сигов Александр Сергеевич, тел. : 495 4330044, e-mail: sigov@mirea.ru
 320.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Определение фазового состава пробы, количественное определение известных фаз в смеси, кристаллографический анализ, анализ тонких плёнок.
Суржиков Анатолий Петрович, e-mail: surzhikov@tpu.ru
 321.  Рентгеновский дифрактор ДРОН-3М
Гранулометрический экспресс-анализ материалов
Кобылин Виталий Петрович, тел. : (4112) 39-05-02, e-mail: v. p. kobylin@prez. ysn.ru
 322.  Дифрактометр ДРОН-2
Идентификация минералов
Кобылин Виталий Петрович, тел. : (4112) 39-05-02, e-mail: v. p. kobylin@prez. ysn.ru
 323.  Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Фазовый и структурный анализ материалов. Определение размера кристаллов и напряженно-деформированного состояния.
Поджарая Ксения Сергеевна, тел. : (499) 174-83-93, e-mail: gosniti8@mail.ru
 324.  Рентгеновский дифрактометр в дистанционном исполнении ДАРД-5
Изучение фазового состава и структуры прежде всего высоко радиоактивных материалов
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 325.  Дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific)
Рентгеновский дифрактометр предназначен для качественного и количественного рентгенофазового анализа образцов различной морфологии, изучения толщин и фазового состава тонких плёнок, сбора данных для решения и уточнения кристаллических структур, исследования текстурирования образцов методом порошка.
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 326.  Рентгеновский дифрактометр EQUINOX 3000 (Enel)
Исследование кинетики структурных фазовых переходов в твердых телах, рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 327.  Монокристальный дифрактометр D8 Quest (Bruker)
Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST представляет собой стационарный многоцелевой автоматизированный прибор, обеспечивающий измерение, обработку и регистрацию выходной информации. Рентгеновские лучи рассеиваются на кристаллической пробе, регистрация дифракционной картины осуществляется с помощью детектора, позволяющего обеспечить высокую производительность измерений. Конструктивно дифрактометр выполнен в виде отдельных модулей, функционально связанных между собой и управляемых по заданной программе от компьютера В состав дифрактометров входят источник рентгеновского излучения с рентгеновским генератором, прецизионный гониометр, высокочувствительный быстродействующий CMOS-детектор (Complementary m etal-oxidesemiconductor) (КМОП – комплементарный металл-оксид-полупроводниковый детектор), электронный модуль для сбора и обработки данных, система управления-компьютер и пакет прикладных программ. В качестве источника рентгеновского излучения применяется рентгеновская трубка с молибденовым, медным или серебряным анодами, питание которой осуществляется рентгеновским генератором высокого напряжения. Гониометр дифрактометра обеспечивает большую гибкость в выборе взаимного расположения источника излучения, пробы и детектора. Высокую точность отсчёта угла обеспечивают специальные оптические кодовые датчики. Для точной установки пробы дифрактометр комплектуется блоком видео-юстировки. Программное обеспечение Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST управляются с помощью программы Apex2. Программа Apex2 предназначена для работы с низкомолекулярными соединениями (молекулярная масса менее 1000 а. е. ). Данная программа обеспечивает следующие возможности: – установка режимов измерения: параметров источника рентгеновского излучения, времени измерения и т. д. ; – отображение и обработка дифракционных данных включает автоматическое индицирование дифрактограмм, автоопределение типа элементарной ячейки, разрешение пиков, масштабирование; – прецизионное определение параметров элементарной ячейки; – редактор отчётов о проделанных измерениях, включая условия проведения экспериментов и параметры элементарной ячейки с указанием погрешности. Для определения параметров элементарной ячейки анализируемого образца используется следующая последовательность действий: позиционирование образца с визуальным наблюдением через видеокамеру, измерение, определение параметров элементарной ячейки на основе полученных дифрактограмм. Дифрактометр рентгеновский монокристальный D8 QUEST имеет защиту программного обеспечения от преднамеренных или непреднамеренных изменений. Уровень защиты С по МИ 3286-2010. Основные технические характеристики: Диапазон углового перемещения образца по оси , ° 360 Диапазон углового перемещения образца по оси , ° – 270… 270 Диапазон углового перемещения блока детектирования (2), ° – 148… 159 Точность позиционирования осей 2 и , ° 0, 005 Воспроизводимость положения осей 2 и , ° 0, 0002 Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности измерения параметров элементарной ячейки, Å ± 0, 01
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351) 267-94-67
 328.  Дифрактометр рентгеновский порошковый Rigaku Ultima IV
Дифрактометр RIGAKU Ultima IV имеет функцию полностью автоматической юстировки гониометра. В дифрактометре Rigaku Ultima IV реализованы все возможные на сегодняшний день опции и приставки для дифрактометров для решения широкого круга задач. Дифрактометр имеет возможность проводить анализ методом малоуглового рентгеновского рассеяния (SAXS) и анализ в плоскости (In-plane). Опция SAXS необходима для исследования наноструктурных материалов. Для лучшего понимания всей морфологии наноструктурной системы необходим анализ и малоуглового и большеуглового диапазона углов кривой рассеивания. Малоугловое рассеивание применяется для определения дальнего порядка, включая определение взаимодействия между частицами и их размер. Большеугловой диапазон открывает фазовый состав анализируемого материала, размер кристаллитов, степень кристаллизации и др. Оба эти метода, также как и другое аналитическое оборудование, помогает охарактеризовать физические размеры наночастиц. SAXS-опция также расширена и для режима отражения при исследовании размера частиц и пор в тонких пленках на подложках, в том числе и в поверхности жидкостей. Приставка In-plane с вращением детектора параллельно поверхности анализируемого образца также расширяют возможности анализа тонких пленок. Такие исследования могут помочь в построении функции фазового состава по глубине анализируемого слоя, в определении преимущественных ориентировок, внутренних напряжений и пр. Ultima IV имеет возможность быстрого изменения схемы фокусировки: расходящегося / параллельного пучка. Новая перекрестная оптика (комбинированная оптическая система) позволяет использовать либо одну, либо другую схему фокусировки в одном оптическом модуле. А изменение схем происходит одним быстрым поворотом фокусирующего зеркала с изогнутой поверхности на плоскую без какой-либо другой дополнительной перестройки оборудования. Основные технические характеристики: Рентгеновская трубка Cu, Fe, Cr, Mo, мощность 1, 5-2, 5 кВт Мощность генератора 3 кВт Геометрия гониометра Вертикальный, Тета -Тета Радиус гониометра 185 – 285 мм Минимальный шаг (2) 0, 0001° Щели расходимости Автоматические до 20 мм Юстировка рентгеновской оптики Автоматическая
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 329.  Рентгеновский дифрактометр ARL Xtra (Thermo Fisher Scientific)
Предназначен для качественного и количественного рентгенофазового анализа образцов различной морфологии, изучения толщин и фазового состава тонких плёнок, исследования твердофазных реакций и реакций твёрдое тело – газ, сбора данных для решения и уточнения кристаллических структур, исследования текстурирования образцов, проведения низко- и высокотемпературных исследований (от температуры жидкого гелия до 2300 0C).
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : (8652) 33-06-84, сот. : (962)-449-50-38, Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 330.  Дифрактометр рентгеновский порошковый с опциями ARL X TRA
Предназначен для общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 331.  Специализированный комплекс оборудования для анализа структуры строительных материалов (анализатор гранулометрический FRITISCH; порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X, TRA)
• определение одной или нескольких фаз в неизвестной пробе; • количественное определение известных фаз в смеси; • определение структуры кристаллов и параметров элементарной ячейки; • анализ поведения вещества в различных газовых средах, если структура кристаллов изменяется при изменении температуры, давления или газовой фазы; • анализ поверхности и тонких пленок; • анализ текстуры, возникающей в условиях прокатки, волочения
Хорохордин Алексей Митрофанович, тел. : 473 2926664, e-mail: a_horohordin@mail.ru
 332.  Дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Определение фазового состава пробы; Количественное определение известных фаз в смеси; Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов
Гороховский Александр Владиленович, тел. : 8452 998700, e-mail: ftf@sstu.ru
 333.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 (Буревесник)
Структурный анализ порошковых материалов
Тюменцев Василий Александрович, тел. : 351 7997117, e-mail: tyum@csu.ru
 334.  Дифрактометр малоуглового рентгеновского рассеяния SAXSess mc2 (Anton Paar)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области дифрактометрии
Кузьменко Александр Павлович, тел. : 4712 504445, e-mail: apk3527@mail.ru
 335.  Рентгеновский порошковый дифрактометр GBC EMMA с высокотемпературной камерой (до 1600 С)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области порошковой дифрактометрии
Кузьменко Александр Павлович, тел. : 4712 504445, e-mail: apk3527@mail.ru
 336.  Дифрактометр высокого разрешения Bruker D8 Discover
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области классической дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 337.  Монокристальный дифрактометр высокого разрешения R-AXIS RAPID II (Rigaku Corporation)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 338.  Монокристальный дифрактометр KAPPA APEX II (Bruker)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 339.  Дифрактометр высокого разрешения с температурными приставками Ultima IV (Rigaku)
Предназначен для прецизионного определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических и керамических, материалов, в том числе, с высоким содержанием железа. Пакет программ PDXL – предоставляет возможность проведения различного анализа, например, автоматический качественный фазовый анализ, количественный фазовый анализ, уточнение параметра решетки.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 340.  Монокристальный дифрактометр общего назначения Xcalibur Е
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области монокристальной дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 341.  Настольный дифрактометр D2 Phaser (Bruker)
Предназначен для проведения экспериментов в области дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 342.  Настольный дифрактометр MiniFlex II (RIGAKU)
Предназначен для определения качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов. В комплекс входит также учебный класс из шести компьютеров с профильным программным обеспечением
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 343.  Монокристальный дифрактометр SuperNova
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 344.  Дифрактометр рентгеновский монокристальный Smart Apex II (Bruker)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 345.  Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000
Проведение исследований структуры и состава веществ
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 346.  Рентгеновский дифрактометр XStress3000 (Stresstech)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии
Замащиков Юрий Иванович, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 347.  Рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE BRUKER
Рентгеноструктурный анализ многофазных материалов
 348.  Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV
Качественный и количественный анализ кристаллических фаз. Структурный анализ. Определение размеров нанокристаллитов. Анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления с использованием соответствующих камер Быстрый анализ с примнением позиционно-чувствительного детектора Автоматический режим сбора данных
Голубок Александр Олегович, тел. (812) 498-10-65, email: aogolubok@mail.ru
 349.  Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker Corporation)
Измерение дифрактограмм порошковых образцов в широком диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 350.  Рентгеновский порошковый дифрактометр STADI P (STOE), излучение CoK
Порошковый дифрактометр оборудован рентгеновской трубкой с медным анодом, монохроматором из германия, изогнутым по Иоганну, держателем образцов с вращением, линейным детектором. Съемка образцов может осуществляться в интервале углов 2тета от 0 до 130 градусов с шагом от 0. 005.
Аналитический центр Химического факультета МГУ
 351.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S с вертикальным высокоточным гониометром
Изучение фазового состава, гониометр с шагом 0. 00010 с размером образца до 400 мм х 550 мм х 400 мм - Переменный радиус от 200 до 275 мм
Сыртанов Максим Сергеевич, вн. тел. 1542 E-mail: mss12@tpu.ru
 352.  Дифрактометр рентгеновский GBC eMMA
Дифрактометры рентгеновские EMMA предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
ЦКП Исследовательский научно-аналитический центр ФГУП ИРЕА 107076, г. Москва, Богородский вал, д. 3. office-irea@mail.ru, тел. 7 (495) 963-70-70
 353.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4
Научно-исследовательское/ технологическое (рентгеноструктурный анализ материалов)
 354.  Дифрактометр Гейгерфлекс D-maх (рентгеновский)
Лабораторное (для выполнения НИР и ОТР)
 355.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA ThermoScientific
Функциональные особенности. Определение фазового состава пробы; Количественное определение известных фаз в смеси; Кристаллография, определение и уточнение структуры кристаллов; Определение микроструктуры.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 356.  Аппаратно-программный комплекс для управления дифрактометром Дрон-ЗМ
Предназначен для управления дифрактометром Дрон-ЗМ
 357.  Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD 7000
Предназначен для проведения измерений дифрактометрическим методом
Пак Александр Яковлевич, ayapak@tpu.ru
 358.  Рентгеновский порошковый дифрактометр ARLXTRA
Предназначен для проведения дифрактометрических исследований
Власов Виталий Анатольевич, vlvitan@tpu.ru
 359.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М
Проведение рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов, прецизионное определение параметров решетки, изучения решеточных свойств и коэффициентов температурного расширения интерметаллических соединений на основе редкоземельных элементов с нестабильной валентностью.
 360.  Рентгеновский дифрактометр порошковый ARL XTRA (Thermo Scientific)
Предназначен для рентгеновского фазового и рентгеновского структурного анализов. Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов. Полная автоматизация прибора и высокая защищенность персонала от воздействия рентгеновского излучения позволяет использовать его как в научных, так и в учебных целях. Прибор отличает высокая надежность и точность измерений.
 361.  Монохроматор к рентгеновскому порошковому дифрактометру XRD-6000 (Shimadzu)
Исследование фазового состава порошков, пленочных покрытий, компактных материалов, изучение напряженно-деформированного состояния материалов и другое.
 362.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-2
Предназначен для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте.
 363.  Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean
Определение структурных характеристик твердых материалов, исследования химического и фазового состава тонких пленок и наноматериалов, исследования их кристаллической структуры.
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 364.  Рентгеновский дифрактометр в комплекте с монохроматором, низкотемпературной камерой и азотной низкотемпературной системой
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 365.  Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRD
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 366.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 (Буревестник)
Рентгеноструктурный анализ, возможно определение остаточных напряжений
Михаленко Евгений Сергеевич, тел. (3452) 399-622, mihalenkoes@mail.ru
 367.  Дифрактометр монокристальный рентгеновский KAPPA APЕХ (Bruker)
Проведение фундаментальных и прикладных исследований.
420008, г. Казань, ул. Кремлевская, 29, Химический институт им. А. М. Бутлерова, кафедра высокомолекулярных и элементоорганических соединений проф. Галкин В. И. (843)2337416, vig54@mail.ru
 368.  Дифрактометр рентгеновский Дрон-4-13, 101040001281
Рентгеноструктурный анализ
8(4742)307932 зав. кафедрой Шкатов В. В.
 369.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7 для поликристаллических материалов
Ренгенофазовый анализ поликристаллических материалов. Исследование нано(микроструктуры) поликристаллических материалов (металлов, катализаторов, полупроводников и др. ), влияния различных технологических обработок на микроструктуру и свойства материалов. Полиморфизм.
Тел. 8(495)955-09-70 e-mail nlobanov@sci. pfu. edu.ru nnlobanov@mail.ru Директор Лобанов Николай Николаевич
 370.  Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-7
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 371.  Настольный рентгеновский дифрактометр
Многофункциональный дифрактометр широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов
E-mail: olukina@ugtu. net, тел. : (8216) 700-640
 372.  Дифрактометр компактный настольный порошковый для фазового анализа D2 PHASER
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 373.  Рентгеновский порошковый дифрактометр D2 Phaser Bruker AXS
Для проведения фазового анализа материалов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 374.  Порошковый рентгеновский дифрактометр EMMA
Высоковольтный генератор типа IGBT, среднечастотный, мощность 3кВт (60кВ / 80 мА), стабильность Ѓ}0, 005% при изменении внешнего напряжения на10%. Рентгеновская трубка керамическая или стеклянная трубкаматериал анода по умолчанию: Cu, размер фокального пятна – 0. 4´ 12 мм возможные опции: Co, Cr, Fe, мощность: 2. 2 кВт Гониометр Twin co-axial Harmonic gearbox, независимые оси, минимальный шаг по каждой оси – 0, 002° воспроизводимость: менее 0, 0001° отсутствует гистерезис положения, радиус гониометра: 180-250мм диапазон 2q: -30-160° (зависит от конфигурации) Применение для качественного и количественного фазового анализа Качественный и количественный фазовый анализ проводится в фокусирующей геометрии Брэгга- Брентано, с использованием Xe-газонаполненного детектора и графитового вторичного монохроматора, или твердотельного детектора. Представлен пример рентгенофазового анализа минеральных соединений на примере месторождений курской области.
 375.  Рентгеновский дифрактометр
Рентгеноструктурный анализ
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 376.  Портативный рентгеновский дифрактометр
Портативный рентгеновский дифрактометр Промконтроль предназначен для проведения рентгеносруктурного анализа материалов. Дифрактометр позволяет проводить анализ образцов произвольной формы с одной плоской поверхностью, материалов с различным размером зерна, сыпучих проб; проволочных образцов или столбиков (диаметром не более 6 мм); микрообразцов (по методу Гондольфи).
Зилова Ольга Сергеевна, тел. : (495) 362-78-03, ZilovaOS@mpei.ru
 377.  Настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER BRUKER
Для проведения фазового анализа материалов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 378.  Дифрактометр рентгеновсий ДРОН-7 c высокотемпературной камерой Anton Paar HTK-1200
Рентгеновский дифрактометр предназначен для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного кристаллическим объектом, при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов. Управление прибором осуществляется от персонального ПК. Прибор оборудован съёмной высокотемпературной камерой Anton Paar HTK-1200, позволяющей проводить измерения в вакууме при температурах до 12000С.
 379.  Комплект рентгеновского дифрактометра Х^Pert Pro
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 380.  Рентгеновский дифрактометр исследовательского типа Еmруrеаn
Для исследования кристалографической структуры материалов
зав. кафедрой Фомин Николай Егорович тел (834) 2-29-07-57
 381.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6
Для рентгеновского исследования материалов
зав. кафедрой Фомин Николай Егорович тел. (834) 2-29-07-57
 382.  Дифрактометр ARL XTRA
Универсальный неразрушающий метод анализа, предоставляющий информацию о структуре и фазовом составе материалов.
344090, г. Ростов-на-Дону, ул. Мильчакова, 10 тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 383.  Дифрактометр ДРОН-7
Рентгенодифракционные исследования любых поликристаллических материалов.
344090, г. Ростов-на-Дону, пр. Стачки 194 тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 384.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000
Количественный и качественный рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ
79147475876 garafutdinova_ma@mail.ru
 385.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН 4-28
Широкий круг рентгеноструктурных исследований в условиях лаборатории
 386.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 387.  Дифрактометр быстрых электронов
Составная часть установки МЛЭ
Величко Александр Андреевич, 7-383-346-08-77 (75); vel6049@yandex.ru
 388.  Модернизированный Рентгеновский дифрактометр ДРОН-4-07 с заменой штатной автоматики микропроцессорной системой автоматизации на базе IBM PC
Установка предназначена для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов.
 389.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Качественный и количественный рентгенофазовый анализ многокомпонентных сплавов, сложных солевых и оксидных систем, керамических материалов, графитовых материалов. Исследование областей твердых растворов в различных системах путем индицирования рентгенограмм и прецизионного определения параметров элементарных ячеек. Изучение толщины покрытий (3. . . 50 мкм) по поглощению рентгеновских лучей, включая измерения на анодных оксидных пленках, покрытиях графита, металлов и др. Анализ внутренних микронапряжений в образцах металлов и сплавов с применением современных методов профильного анализа. Измерение размеров блоков когерентного рассеяния материалов, размеров частиц высокодисперсных порошков (10. . . 100 нм).
тел. (499) 158-48-49, 158-45-51, 158-58-70, 158-00-02 ads@mai.ru
 390.  Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр с горизонтальным расположением исследуемого образца и функцией автоматической юстировки предназначен для фазового и количественного анализа структуры, анализа тонких пленок, малоуглового рентгеновского рассеяния (SAXS) и др. Оснащен специальной функцией SAXS предназначенной для исследования наноструктурных материалов.
450000, г. Уфа, ул. К. Маркса, 12, ЦКП научно-образовательный центр Наноструктурные материалы и высокие технологии, 7(347)273-06-76.
 391.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 392.  Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 393.  Дифрактометр рентгеновский настольный в комплекте со стендами (3шт) и трубкой рентгеновской
Исследование микро- и наноструктур и контроль над их получением. Исследование различных твердых материалов, веществ и изделий, имеющих кристаллическую структуру с целью определения их параметров; Изучения профиля дифракционных пиков; Измерение остаточных напряжений в материале; Исследование тонких пленок; Кристаллографические исследования.
 394.  Система автоматизации измерений и сбора информации САРДОН
Система автоматизации измерений и сбора информации САРДОН предназначена для модернизации рентгеновского дифрактометра общего назначения ДРОН-3 и перевода его на цифровую форму управления и сбора результатов измерений. Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3 используется при сьемке порошковых рентгенограмм широкого круга неорганических кристаллических веществ с целью определения фазового состава материалов и измерения величины постоянной кристаллической решетки.
Д. т. н. , проф. Балбашов А. М. , тел. 495 362 7470, balbashovAM@mpei.ru
 395.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientifics)
Проводение качественного и количественного фазового анализа сплавов, порошков, кристаллов с автоматическим поиском по дифрактометрической базе данных ICDD по элементам и существующим соединениям. Исследование кинетики фазовых превращений сплавов, порошков, кристаллов при изменении температуры до 1000 0С в вакууме. Проведение фазового анализа с возможностью вращения образцов (для образцов с текстурой). Проведение фазового анализа тонких пленок на подложке с исключением влияния подложки.
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 396.  Рентгеновский дифрактометр Дрон
Рентгеноструктурный анализ фазового состава вещества.
150023, г. Ярославль, Московский проспект, д. 88. Кафедра Физика. Телефон: (4852) 44-06-79.
 397.  ДИФРАКТОМЕТР ИФ-124
Исследование спектра пространственных частот электронно - микроскопических идругих изображений, зарегистрированных на негативных фотоматериалах, а также для преобразования и улучшения качества изображения путем фильтрации пространственных частот
Курганский государственный университет. Главный бухгалтер Приходкина Светлана Александровна 7 (3522) 43-23-25
 398.  Система анализа дифракции отраженных электронов HKL Premium EBSD System
Для получения кристаллографической информации одновременно с получением изображений в реальном времени с разрешением 0. 5мкм.
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 399.  Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker AXS)
Предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме, с целью обеспечить: XRDфазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы); исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев; изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра); изучение структурных превращений в твердых растворах.
e-mail: AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 400.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Исследование рентгено-фазового состава образцов материалов в том, числе при нагревании.
тел. (4722) 553615, e-mail: cupik@eandex.ru
 401.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3
Исследование рентгено-фазового состава образцов.
308012, Белгород, ул. Костюкова, д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 402.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-4
Исследование рентгено-фазового состава образцов.
308012, Белгород, ул. Костюкова, д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 403.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3М
Исследование ренгено-фазового состава образцов.
308012, Белгород, ул. Костюкова, д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 404.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-3
Для исследования рентгеновского спектра различных материалов.
390000, г. Рязань, ул. Свободы, 46 Пастухова Елена Викторовна (4912) 28-19-35 e-mail: e. pastuhova@rsu. edu.ru
 405.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Предназначен для пределения размеров нанокристаллитов, анализа структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления. Быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора Автоматический режим сбора данных и дальнейшая обработка результатов программным пакетом
Голубок А. О. , тел. (812) 498-10-65
 406.  Дифрактометр рентгеновский Shimadzu XRD-7000S
Обнаружение и идентификация кристаллических фаз в твердых образцах. Область применения - геология, анализ строительных материалов, металлургия.
ЦКП НО Арктика, 163002, г. Архангельск, ул. Северодвинская, д. 14, тел. (8182) 21-61-00 (доб. 17-22), web: http: / / www. narfu.ru/ science/ ccu/
 407.  Дифрактометр рентгеновский Дрон-3
Измерение интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Решение различных задач рентгеновского структурного анализа.
Узбек Дзанакоевич Кудаков, тел. (8672)500993, (8672)451214
 408.  Рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Проведение качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз
тел. : (495) 656-14-66, e-mail: nsm. mgsu@mail.ru
 409.  Дифрактометр рентгеновский МД-10
Обеспечивает неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ
 410.  Рентгенофазовый дифрактометр ДРОН-4-07
Установка предназначена для проведения рентгеноструктурных исследований поликристаллических материалов
Коршунов Алексей Евгеньевич 8(831) 430-54-90, 430-54-93, k_sm@nngasu.ru
 411.  Система для анализа кристаллографических текстур в составе.
Анализ кристаллографических текстур
 412.  Дифрактометр рентгеновский X`Pert PRO MPD
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 413.  Дифрактометр порошковый ARL X TRA (Thermo Electron Corporation)
Для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД)
 414.  Дифрактометр многофункциональный рентгеновский Ultima IV (Rigaku)
Проведение качественного и количественного фазового анализа (в том числе база данных дифрактограмм);
 415.  Ренгеновский дифрактометр с вертикальным гониометром
Многоцелевое назначение: малоугловое рентгеновское рассеивание, анализ в плоскости
Анциферов Владимир Никитович, академик РАН, д. т. н. , профессор, тел. (342) 239-11-19, факс (342) 319-11-22
 416.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-3
Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.
Елышев А. В. 89044631144
 417.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-6
Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.
Елышев А. В. 89044631144
 418.  Дифрактометр общего назначения ДРОН-7
Исследование крупногабаритных объектов различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.
Елышев А. В. 89044631144
 419.  Дифрактометр рентгеновский малоугловой КРМ-1 с линейным координатным детектором РКД-1.
Предназначен для дифракционных исследований в малоугловом диапазоне наноструктурированных материалов различной природы. Пригоден для рефлектометрии слоистых систем с малым числом слоев.
8(4932)371252 Александров Анатолий Иванович
 420.  Порошковый рентгеновский дифрактометр D8 Advance
• Проведение качественного и количественного анализа кристаллических фаз, • Установление кристаллической структуры неорганических, органических, элементоорганических и металлокомплексных соединений в поликристаллической форме, состава поликристаллических материалов, степени кристалличности полимеров. • Анализ веществ в порошковом виде Возможные исследования: • исследования состава ЭОС, • исследования физико-химических характеристик ЭОС и материалов на их основе.
690600, г. Владивосток, ул. Суханова, 8 e-mail ognev. av@dvfu.ru 89242302008 Огнев Алексей Вячеславович e-mail pustovalov. ev@dvfu.ru 84232457719 Пустовалов Евгений Владиславович Щипунов Юрий Анатольевич 4232-448557, Факс: 4232- 448257, Е-mail: YAS@ich. dvo.ru
 421.  Рентгеновский дифрактометр Rigaku Ultima IV
Инструмент общего применения, предназначенный преимущественно для исследований в материаловедении, разработках в области полупроводников, нанотехнологий, а также для обеспечения качества в производстве. Фазовый анализ проб, количественный фазовый анализ проб, определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений, текстурный анализ и анализ макронапряжений, малоугловое рентгеновское рассеяние.
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 422.  Настольный анализатор качественного и количественного фазового состава поликристаллических материалов MiniFlex 600
Эта новая установка пятого поколения представляет собой рентгеновский дифрактометр общего назначения, позволяющий проводить качественный и количественный анализ поликристаллических материалов. Модель MiniFlex 600 позволяет быстрее проводить анализ и повышает общую производительность за счет большей мощности рентгеновской трубки. Настольный дифрактометр MiniFlex 600 состоит из двух частей ‒ сам дифрактометр и автономная система охлаждения. С помощью установки возможно решение, например, следующих задач: -контроль исходного сырья для получения катализаторов, анализ фазового состава алюмосиликатов, силикатов, цеолитов, а также катализаторов на их основе; -изучение влияния условий синтеза катализаторов, природы и количества допирующих компонентов на степень кристалличности и аморфности, качественный и количественный фазовый состав конечных продуктов; -изучение влияния количественного и качественного фазового состава катализаторов на их эффективность: выход целевых продуктов, селективность и т. д.
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1(499) 135-87-64, (499) 233-93-30chens_nauka@mail.ru
 423.  Многофункциональный стационарный дифрактометр SmartLab
Многофункциональный стационарный дифрактометр SmartLa предназначен для изучения структуры и свойств глинистых минералов, а также иных кристаллических веществ в порошковых пробах
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1 (499) 135-87-64, (499) 233-93-30 chens_nauka@mail.ru
 424.  Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD-6000
Прибор предназначен для стандартного рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов. Позволяет анализировать параметры структуры и фазовый состав объемных материалов и тонких пленок; управлять процессом рентгеновской съемки и обрабатывать полученные рентгенограммы с помощью компьютера. Применяется для исследования керамик, огнеупоров, строительных материалов, объектов окружающей среды, отходов, черных, цветных, благородных металлов, химикатов, катализаторов, фармацевтических препаратов, природных ресурсов (угля, торфа, руды, минералов).
Директор ЦКП Старовацкая С. Н. , тел. 7 9059131868, (3843)78-43-96
 425.  Дифрактометр рентгеновский порошковый EQUINOX 3000
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 426.  Дифрактометр рентгеновский D8 Advance (Bruker)
Измерение дифрактограмм порошковых образцов в широком температурном диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений.
 427.  Дифрактометр рентгеновский D8 ADVANCE (Bruker)
Предназначен для измерения дифрактограмм порошковых образцов в широком температурном диапазоне, фазовый и структурный анализ, изучение структурных фазовых превращений.
 428.  Узлы и приставки к порошковому многофункциональному дифрактометру
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 429.  Монокристальный дифрактометр со сменными детекторами
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 430.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7
Точное измерение и обработка результатов дифрактометрии, количественный фазовый анализ
Адрес: 191186, Санкт-Петербург, набережная реки Мойки, д. 48, Телефон: 7 (812) 571-55-40, доб. 20-63, http: / / ckpo. herzen. spb.ru, ckpo@herzen. spb.ru
 431.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7 (Буревестник)
Рентгеновский дифрактометр применяется при решении аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения: создание новых кристаллических материалов; определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов; разработка технологии получения материалов с заданными свойствами; определение ориентировки монокристаллических заготовок; исследование степени текстурированности и анализ дефектности тонких пленок; анализ фазового состава сырья, продукции и промышленных отходов; исследование фазовых превращений и химических реакций; анализ термических деформаций и изменение структурных характеристик кристаллических материалов
АМОСОВ Александр Петрович; тел. (846) 267-46-40; egundor@yandex.ru
 432.  Аппаратно - программный комплекс для управления дифрактометром Дрон - ЗМ
Выполнение всех штатных функций управления дифрактометром Дрон – 3М. Обеспечение возможности ручного и автоматического управления гониометром. Обеспечение всех режимов съёмки в соответствии со штатными возможностями дифрактометра, регистрация и обработка результатов съемки. Обеспечение всех функций аппаратно-программного комплекса.
Андреев О. В. тел. : (3452) 29-75-74 Email: dgn87@inbox.ru
 433.  Дифрактометр рентгеновский порошковый ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы. Анализ в контролируемой атмосфере – изучение изменений структуры материалов при изменении температуры, давления или состава газовой фазы.
 434.  Малоугловой ренгеновский дифрактометр
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 435.  Компактный настольный порошковый дифрактометр D2 PHASER
Предназначен для проведения струкурных и фазовых исследований порошков.
360004, Кабардино - Балкарская Республика г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173. факс 84953379955 конт. телефон 88662722093; электронный адрес kvm@kbsu.ru, hasbikushchov@yahoo.com
 436.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-6 (Буревестник)
Предназначен для проведения рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа с обработкой дифрактограмм в программном пакете PDWin 4. 0
360004, Кабардино - Балкарская Республика г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173. факс 84953379955 конт. телефон 88662722093электронный адрес kvm@kbsu.ru, hasbikushchov@yahoo.com
 437.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М
Рентгеноструктурный анализ кристаллических материалов. Проведение качественного и количественного анализа, определение периода решетки, определение размера ОКР и микродеформаций, другие виды анализов
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 438.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7. 0
Применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа, рентгенографии материалов, исследования реальной структуры монокристаллов.
Официальный почтовый адрес: 241036, г. Брянск, ул. Бежицкая, д. 14 Контактные телефоны: (84832) 666442, 666953 Факс: (84832) 666442 Адрес электронной почты (email): bryanskgu@mail.ru Официальный web-сайт: http: / / www. brgu.ru/
 439.  Электронограф ЭГ-100М
Предназначен для исследования атомной структуры веществ. Он позволяет исследовать структуру: - твердых веществ методом дифракции электронов в проходящих и отраженных лучах; - молекул газов и легколетучих веществ в проходящих лучах; веществ при охлаждении и нагреве.
Кущев Сергей Борисович, (473)246-76-33, e-mail: kushev_sb@mail.ru
 440.  Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4-07
Дифрактометр позволяет: - проводить исследования общего характера (фа-зовый анализ, исследование твердых растворов, оп-ределение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и др. ); - получать полный набор интегральных значений скоростей счета импульсов рентгеновского излучения при отражениях от монокристаллов; - определять ориентацию срезов монокристаллов; - исследовать текстуры.
Кущев Сергей Борисович, (473)246-76-33, e-mail: kushev_sb@mail.ru
 441.  Рентгеновский дифрактометр EMPYREAN (PANALYTICAL)
Предназначен для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте
тел. (499) 973-17-92
 442.  Дифрактометр порошковый D2 Phaser, Bruker
Прибор предназначен для измерения интенсивности и направления излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Объектом исследования является порошок.
Проректор по научной работе Абдуллин Ильдар Шаукатович, тел. приемной 231-89-47, E-mail: abdullin_i@kstu.ru; Научно-исследовательское отделение E-mail: nich140@mail.ru
 443.  Дифрактометр рентгеновский ARL XTRA
Обеспечивает исследование металлических сплавов, керамик, органических и полимерных материалов в различных формах. Возможно исследование порошков, массивных образцов и пленок (толщиной не менее 10 мкм) любых материалов.
Институт строительства, транспорта и машиностроения г. Ставрополь, проспект Кулакова, 2 (корпус 11), аудитории 211, 204 Телефон: (8652) 94-41-45, 94-40-52 Факс: 94-40-52 E-mail: fmtb@stv.runnet.ru
 444.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000
Предназначен для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа
Магкоев Тамерлан Таймуразович - научный руководитель ЦКП Физика и технологии наноструктур, тел. (8672)451214; моб. 89188224595, e-mail: t_magkoev@mail.ru
 445.  Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu)
Предназначен для прецизионного определения параметров кристаллической решетки порошковых проб; определение соотношения аморфной и кристаллической фаз. Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.
Сырков Андрей Гордианович, (812) 328-90-19, syrkovandrey@mail.ru
 446.  Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu) с высокотемпературной камерой НА1001
Предназначен для высокотемпературной дифрактометрии в вакууме, инертном газе, воздухе до 1300º С; прецизионное определение параметров кристаллической решетки порошковых проб; определение соотношения аморфной и кристаллической фаз. Область применения: Минералогия, металлургия, разработка новых материалов.
Сырков Андрей Гордианович, (812) 328-90-19, syrkovandrey@mail.ru
 447.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance (Bruker)
Обеспечивает возможность проведения рентгеноструктурного анализа в широком диапазоне углов отражения в автоматическом режиме.
620002, Екатеринбург, ул. Мира, 28, ауд. Мт-247 Контактное лицо: Доц. , к. т. н. Беликов Сергей Владимирович, телефон: (343) 375-46-95 e-mail: structure_lab@mail.ru
 448.  Рентгеновский дифрактометр Дрон-3
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смирнов А. М. (8512) 549097
 449.  Дифрактометр рентгеновский DSO-2V2
Дифрактометр рентгеновский
РГАТУ имени П. А. Соловьева ул. Пушкина, д. 53 г. Рыбинск, Ярославской области, 152934
 450.  Дифрактометр для фазового и структурного анализа
Фазовый и структурный анализ исходных материалов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 451.  Настольный порошковый рентгеновский дифрактометр D2Phazer
Качественный, количественный фазовый анализы
89219037773 Головченко Игорь, igolovchenko@lan. spbgasu.ru
 452.  Дифрактометр порошковый рентгеновский ARL XTRA (Thermo Fisher Scientific)
Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз
тел. (8635) 255-220, e-mail: unridnpi@gmail.com
 453.  Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser
Рентгеноструктурный анализ состава материалов
 454.  Рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-3
Рентгеноструктурные исследования в области физики твердого тела, химии, геологии
ЦКП, prorectnir@rgata.ru, т. 4855222688
 455.  Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X, TRA
Проведение рентгенофазового и рентгеноструктурного анализов в области химии, минералогии, материаловедении, черной и цветной металлургии, машиностроении, фармакалогии.
Усачев Александр Михайлович, тел. (473) 271-52-35, usachevam@vgasu. vrn.ru
 456.  Рентгеновский дифрактометр Emperyan (PANanalytical B. V. )
Выполнение качественного и количественного фазового и морфологического анализа порошковых и кристаллических наноструктурированных материалов искусственного и природного происхождения.
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. / факс: (8722)67-58-17, nashurb@mail.ru
 457.  Дифрактометр рентгеновский ДРОН-7
Качественный анализ фазового состава материалов, продукции, сырья и промышленных отходов
e-mail: progress-esstu@mail.ru