03.02.03.00.00: Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Федеральный каталог высокотехнологичного оборудования и объектов научного потенциала России

Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий

 1.  Стилусный профилометр XP-200 (AMBIOS)
Позволяет проводить сканирование поверхности образца в двух направлениях для анализа высоты ступени или шероховатости поверхности. Зонд сканирует поверхность образца с заданной скоростью, при этом фиксируется его положение на маленьких и одинаковых интервалах. Профилометр оснащен цветной камерой с диапазоном увеличений от 40 до 160 крат и полностью моторизованным и программируемым перемещением рабочего стола.
 2.  Лазерный профилометр колесных пар ИКП 20. 40 (RIFTEK)
Предназначен для измерения высоты гребня, толщины гребня, крутизны гребня, снятия полного профиля гребня, поддержки электронной базы данных по износу колесных пар, проведения допускового контроля и разбраковки при техническом осмотре, освидетельствовании, ремонте и формировании железнодорожных колесных пар. Замеры производятся непосредственно на подвижном составе, без выкатки колесных пар.
 3.  Оптический профилометр NewView 6000 (Zygo Corporation)
Предназначен для исследования трехмерной структуры поверхности материалов в микро- и наномасштабе. Метод измерения: бесконтактный трехмерный, сканирующий белым светом интерферометр. Глубина сканирования: до 150 мкм при помощи пьезодвигателя, возможно увеличение глубины до 15 мм при подключении основного двигателя. Горизонтальное разрешение: от 0. 43 до 11. 6 мкм в зависимости от объектива. Максимальная область сканирования: 89 x 203 x 203 мм (высота х ширина х глубина).
 4.  Наноиндентор Nanotest 600 (Micro Materials)
Прибор предназначен для тестирования, определения характеристик, исследования и разработки материалов в нано- и микромасштабах. Данная установка позволяет проводить измерения в трех режимах: индентирование, удар, царапание при температуре до 500° С. NanoTest оснащен антивибрационным столом, набором индентеров, устройством, позволяющим соблюдать точную температуру в камере. Модуль индентации NanoTestа это идеальный инструмент для исследования структуры и однородности многослойных тонких покрытий и пленок благодаря высокой поверхностной чувствительности, что повышает эффективность определения механических свойств такого рода материалов.
 5.  Стилусный профилометр Alpha-Step IQ (KLA-Tencor)
Предназначен для экспериментальных линий производств и изучения новых материалов. Используется для исследования топографии широкого спектра поверхностей в том числе слоистых материалов, микроэлектромеханических систем, керамических материалов, миниатюрных линз, жестких дисков и дисплеев. Профилометры представленного поколения имеют в своем арсенале значительно более быстрый и производительный процессор, чем устройства предыдущего поколения, что позволяет применять Alpha-Step IQ для сетевой работы и подключать его через интерфейс USB. Основные области применения: Исследование толщины поверхностных пленок; Определение глубины травления; Микроэлектромеханические системы; Оптоэлектроника; Исследование керамических материалов; Промышленная обработка материалов; Хранение данных.
 6.  Профилометр-профилограф Talysurf Model 120 (Taylor Hobson)
Предназначен для исследования шероховатости поверхности. Вертикальный диапазон 2, 2 мм при использовании сканера по оси Z с замкнутым циклом, без пьезоэлемента. Разрешение 0, 1 ангстрема на всем диапазоне измерений. Массив до 2048× 2048 пикселей, обеспечивающий широкое поле обзора с высоким разрешением. Применим к поверхностям с отражательной способностью от 0, 3% до 100%. Повторяемость (СКО) < 0, 2 ангстрема, повторяемость измерения высоты ступеньки < 0, 1%. Оптимизированная для FEA механическая конструкция с отличной повторяемостью и воспроизводимостью. Калибровка системы по стандартам ISO, гарантирующая достоверность результатов. Функции автоматической настройки, обеспечивающие невозможную при ручной настройке стабильность.
 7.  Портативный измеритель шероховатости TR100 (Time Group)
Предназначен для исследований различных поверхностей: плоских, наклонных, а также наружных поверхностей цилиндров. Существует возможность проводить внешнюю калибровку устройства посредством клавиатуры; аппарат полностью отвечает стандартам ISO и DIN; наличие съемных аккумуляторных батарей делает возможным выполнить перезарядку устройства непосредственно во время проведения измерений профилометр обладает третьим классом точности измерений; не теряет своей работоспособности при температуре от 0 до 40 градусов; имеет контрастный цветной сенсорный TFT ЖК-дисплей
 8.  3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений S mart (Sensofar)
Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества в процессе или после обработки материалов. Может поставляться как решеие для интеграции оптической головы в станок или установку или как переносное портативное настольное решение. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
 9.  3D оптический профилометр для сферических поверхностей PLu apex (Sensofar)
Предназначен для измерения любых оптических поверхностей - от асферических до плоских, а так же поверхности произвольной формы. Способен удовлетворить самые высокие метрологические требования при измерении больших образцов – диапазон измерений в горизонтальной плоскости – до 100 мм (500 мм - опционально) и до 50 мм в вертикальной, а так же угловые измерения до 65 градусов. Используется для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
 10.  3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп S neox (Sensofar)
Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества. Позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10 секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S neox является отличным аналитическим инструментом. Может быть оснащен спектроскопическим рефлектометром для обеспечения возможности измерения тонких пленок. Возможно измерение до 10-ти слоев пленок в диапазоне от 50 до нескольких микрон. (измерение SiO2, Фоторезиста).
 11.  Компактный 3D оптический профилометр S lynx (Sensofar)
Предназначен для проведения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10 секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S lynx является отличным аналитическим инструментом.
 12.  Измеритель шероховатости поверхности/ профилометр TIME 3221 (TIME Group)
Предназначен для выполнения точного измерения шероховатости поверхности с выводом результатов на большой яркий сенсорный экран. Прибор отличается прочностью корпуса, качеством сборки и удобством в эксплуатации. Измеряемые параметры: Ra, Rp, Rv, Rt, Rz, Rq, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmr(c), tp, Rmr, Rpm, Rz1max, RzJIS, Rmax, Htp, Pa, Pp, Pv, Pt, Pz, Pq, Psk, Pku, Pc, PSm, Pmr(c), Pmr, Pz1max, PzJIS, R, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2; четкий ЖК-дисплей позволяет быстро считывать график профиля и контролируемые параметры; выполнение неразрушающего контроля разнообразных материалов; вывод результатов тестирования через порт RS232 и USB.
 13.  Портативный профилометр - измеритель шероховатости TR200 (TIME Group)
Предназначен для расчета параметров шероховатости поверхности в строгом соответствии с выбранной методикой и установленными стандартами. Прибор отображает на жидкокристаллическом экране график профиля и все измеренные параметры. Удобное в работе программное меню управления прибором; Большой и четкий графический ЖКИ; Измерение шероховатости по 13 различным параметрам; Дополнительно комплектуется датчиком для измерения бороздок/ каналов и отверстий.
 14.  Профилометр модели 130 (Протон-МИЭТ)
Предназначен для профессиональной работы в цеховых и других лабораториях и проведения лабораторных практикумов студентам ВУЗ-ов. Подключается к любому компьютеру.
 15.  Цифровой профилемер E223-2 (ELCOMETER)
Предназначен для измерения высоты неровностей поверхности с дополнительной функцией прямого вывода данных и цифровым дисплеем. Вывод данных через порт RS232 для передачи показаний на ПК, регистратор данных, для вывода на принтер и т. д. , что обеспечивает сохранение копии отчета о результатах измерений. Увеличенное разрешение дисплея. Мгновенное получение значений для построения профиля поверхности.
Боброва Юлия Викторовна, e-mail: JuliaBob@tpu.ru
 16.  Трехмерный оптический бесконтактный интерферометр New View 5000 (ZYGO)
Предназначен для получения трехмерного цифрового образа поверхности.
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 17.  Интерференционный профилометр Maxim-GP 200 (Zygo Corporation)
Предназначен для трёхмерного анализа геометрической структуры поверхности различных объектов, изготовленных из разного материала: металла, керамики, стекла и т. д. . Он создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. На основе данных об относительной высоте микроскоп позволяет определять: параметры шероховатости поверхности, нормируемые в отечественных и международных стандартах; радиус кривизны поверхности, в том числе радиус сферы; относительную высоту. Проведенные экспериментальные исследования модернизированных интерференционных микроскопов на наборе мер нанометрового диапазона показали, что они обеспечивают измерения параметров шероховатости и рельефа с неопределенностью λ / 800 мкм.
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 18.  Профилометр model 130 (Протон-МИЭТ)
Предназначен для измерений параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии (ГОСТ 25142-82), с разделением волнистости и шероховатости по ГОСТ 2789-73. Прибор внесен в Государственный реестр средств измерения, регистрационный № 33319-06. Область применения — метрологические центры, лаборатории научно-исследовательских и учебных институтов, лаборатории и центры экспертизы и контроля, предприятия машиностроительной, автомобильной, подшипниковой и других отраслей промышленности.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 19.  Сканирующий оже-электронный профилометр МР-2000 (Riber)
Предназначен для анализа электронной структуры образца и, в некоторых случаях, элементный анализ, и неразрушающее исследование приповерхностной области на глубины до нескольких десятков нанометров. СХПЭЭ применяется для исследования разнообразных металлических, полупроводниковых гетероструктур
Черняков Антон Евгеньевич, тел. : (812) 292-7922, e-mail: chernyakov. anton@yandex.ru
 20.  Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М (ВНИИОФИ)
Предназначен для оптических измерений и исследований
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 21.  Бесконтактный 3D профилометр NV-1800 (Nanosystem)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Родионов Владимир Владимирович, lRodionov@kantiana.ru Контактный телефон: 7 4012 59 55 95, доб. 9013
 22.  USB Профилограф-профилометр БВ-7669М
Предназначен для регистрации, анализа профиля и измерения параметров шероховатости наружных и внутренних поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию.
 23.  Профилометр бесконтактный оптический S3P (Perthen Mahr)
Предназначен для распознавания профиля: волнистость и шероховатость
Сухоруков Рафаэль Юрьевич, тел. : (495) 624-68-68, e-mail: sakhvadze@mail.ru
 24.  Профилометр Wyko NT9080 (Bruker AXS)
Позволяет исследовать шероховатость и рельеф поверхности наноструктурированных слоев и тонкопленочных покрытий в нанометровом масштабе.
 25.  Нанотрибоиндентометр TI950 TriboIndenter (Hysitron)
Предназначен для полного спектра наномеханических испытаний материалов посредством динамического индентирования. Позволяет определять микро- и нанотвердость, модуль Юнга, коэффициент трения, исследовать ползучесть, адгезию пленок и покрытий, а также детально изучить механизмы деформации и разрушения материалов на различных иерархических уровнях.
 26.  Наноиндентометр G200 (MTS NanoInstruments)
Предназначен для прецизионного измерения механических характеристик материалов в наношкале методом наноиндентирования. Разрешающая способность: 0, 01 нм; диапазон нагрузок: 1 мкН – 10 Н; разрешение по нагрузке: 50 нН.
 27.  Контактный профилометр MarSurf XR20 with XT20 (Mahr)
Предназначен для мобильных измерений параметров шероховатости поверхностей в заводских условиях, позволяет проводить измерения на поверхности изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (на цилиндрических поверхностях; в отверстиях; на плоских поверхностях).
Тел. : (3519) 20-92-00, E-mail: belovalkon@mail.ru
 28.  Модуль оптической профилометрии MicroXAM-100 (KLA-Tencor Corp. )
Предназначен для измерения неровностей поверхности оптическим методом. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель - шероховатость поверхности. Содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 29.  Профилометр Протон-МИЭТ, модель 130
Профилометр измеряет 28 параметров шероховатости и 4 параметра волнистости наружных и внутренних (пазы, отверстия) поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет, как прямую, так и изогнутую по радиусу линию (шарики, валы и т. д. ), с измерением этого радиуса. Рабочая температура в диапазоне 25 - 1600° C Точность 5% полной шкалы Разрешение 1, 25 нм/ разряд Воспроизводимость 150 нм Диапазон измерений 100 – 5000 мкм Точность измерения 0, 1 – 0, 5 мкм Скорость измерения 0, 5 – 2 мм/ с Чувствительность индуктивного датчика 0. 002 мкм Усилие зонда 4 мН Диаметр индукционного датчика 10 мкм
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 30.  Профилометр Talystep (Taylor-Hobson)
Прибор для измерения параметров шероховатости, при перемещении алмазного зонда малого радиуса кривизны 0, 1 мкм по исследуемой поверхности. В качествеобразца измерений на рис. 1. приведен профиль поверхности ситалловой подложки, записанный на длине 0, 32 мм.
Химический факультет МГУ имени М. В. Ломоносова, кафедра неорганической химии, Москва, Ленинские горы, д. 1 корп. 3, ответственный: Казаков С. М. , тел. (495)-939-2074, e-mail: root@inorg. chem. msu.ru
 31.  Регистратор магнитных наночастиц БиоМаг
Сверхчувствительный прибор для регистрации магнитных наночастиц, основанный на нелинейном намагничивании МЧ на двух частотах и регистрации отклика на комбинаторных частотах.
 32.  Оптический асферический профилометр PLu APEX для инспекции поверхности (SENSOFAR)
Оптический профилометр, способный измерять любые оптические поверхности – от асферических до плоских, а так же поверхности произвольной формы. Это особенно полезно при измерении оптики. Позволяет производить очень быстрые и точные измерения со скоростью до 1 мм/ сек. Оснащен высокоточным предметным столиком на пневмо подшипниках и поставляется с мощным программным обеспечением, позволяющим быстро получать точные результаты измерений.
 33.  Оптический профилометр NEOX для инспекции поверхности (SENSOFAR)
Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества.
 34.  Механический профилометр Dektak 150 (Veeco Instruments)
Анализа формы плоских поверхностей в различных областях промышленности, исследование шероховатости поверхности. Физика конденсированного состояния вещества (физика тонких пленок, физика поверхности), лазерная физика и лазерная технология, микроэлектроника, физика плазмы, контроль качества поверхности.
Иванов Андрей Анатольевич, тел. 8 (495) 788-56-99 доб. 8194, e-mail: AAIvanov@mephi.ru
 35.  Стилусный профилометр Dektak XT (Bruker AXS)
В микро- и наноэлеткронике для получения и анализа данных о профиле поверхности образца. Сканирование поверхности с помощью стилуса (контактный метод), измерение шероховатости поверхности. 2D-измерение профиля поверхности; возможность 3D-измерения / анализа.
Каргин Николай Иванович, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru
 36.  Профилограф-профилометр ПМ7 (Абрис)
Предназначен для измерения шероховатостей поверхности
Суржиков Анатолий Петрович, e-mail: surzhikov@tpu.ru
 37.  Трехмерный профилометр MICRO MEASURE 3D station (STIL)
Трехмерная бесконтактная профилометрия. Исследование морфологии поверхности и толщины тонких пленок.
Степанов Игорь Борисович, тел. : 3822 701613, e-mail: stepanovib@tpu.ru
 38.  Интерференционный микроскоп-нанопрофилометр МНП
Предназначен для измерения высоты рельефа поверхностей высокого класса чистоты с разрешением менее 0. 1 нм в диапазоне от 0 до 50 мкм.
 39.  Оптико-электронная система контроля основных геометрических параметров дистанционирующих решеток РЕШЕТКА-М
Автоматические бесконтактные измерения и контроль геометрических параметров дистанционирующих решеток (ДР) тепловыделяющих сборок реакторов (количество ячеек > 300 шт. ).
 40.  Оптико-электронное устройство контроля геометрических параметров ТВЭЛ КОНТРОЛЬ-1
Автоматические бесконтактные измерения с высокой точностью и производительностью наружных диаметров длинномерных цилиндрических изделий (проволок, кабелей, труб), а также длин и отклонений от прямолинейности трубочных изделий (например, ТВЭЛ ядерных реакторов).
 41.  Оптико-электронная система ПРОФИЛЬ
Автоматические бесконтактное измерение глубины и профиля дефектов на поверхности оболочки тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) атомных электростанций.
 42.  Профилометр-профилограф Абрис ПМ7. 2
Измерения шероховатости и запись профиля поверхностей деталей
Майоров Максим Валерьевич, тел. : 961 6236886, e-mail: ckp@ostu.ru
 43.  Профилометр, модель 130 (ПРОТОН-МИЭТ)
Предназначен для измерения неровностей поверхности
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 44.  Измеритель шероховатости TR-200 (Time Group)
Прибор предназначен для измерения шероховатости твердых поверхностей изделий
Башков Олег Викторович, тел. : 4217 241148, e-mail: ckp@knastu.ru
 45.  Сканирующий оптический профилометр CHR-150-XY (Реверс)
Сканирующий профилометр CHR-150-XY (далее – профилометр) предназначен для измерения микрорельефа поверхности зеркальных и матовых образцов в диапазоне до 20 мкм. Параметры: минимальный шаг сканирования по осям X, Y -50нм, точность позиционирования -200 нм, измерительный диапазон по Z -20 мкм, вертикальное разрешение -2 нм, диаметр измерительного пучка -3 мкм.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 46.  Модернизированный микроинтерферометр измерительный МНП-1 (КТИ НП СО РАН)
Предназначен для измерения высоты рельефа поверхностей высокого класса чистоты с разрешением менее 0. 1 нм в диапазоне от 0 до 50 мкм.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 47.  Профилометр Alpha-Step D120 (KLA-Tencor)
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 48.  Профилограф-профилометр MarSurfPS1 (Mahr)
Измерение параметров шероховатости
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 49.  Измерительно-калибровочная система Alpha‐Step D‐200 (KLA-Tencor)
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 50.  Профилометр модели 130 модель 301
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Стрельцов Владимир Васильевич, тел. : (499) 976-12-65, e-mail: streltsov@msau.ru
 51.  Профилограф-нанопрофилометр Профи-130 (МИЭТ)
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 52.  Сканирующий нанотвердомер СуперНаноСкан (тм)
Предназначен для исследования свойств поверхности и измерения твердости и упругих модулей сверхтвердых материалов и тонких пленок на базе сканирующего нанотвердомера. Прибор обеспечивает измерения твердости и модуля упругости методом склерометрии, построение изображений рельефа поверхности образца путём построчного сканирования поверхности острым алмазным наконечником (индентором). Исследование свойств поверхности и измерение твердости и упругих модулей сверхтвердых материалов и тонких пленок.
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 53.  Комплекс измерения плоскостности поверхности на основе оптического интерферометра ФИЗО Прецизионный лазерный интерферометр Физо
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Кононогов Сергей Алексеевич, тел. : (495) 437-55-77, e-mail: office@vniims.ru
 54.  Профилограф аккустический Доплеровский Workhorse Sentinel WHS 600 кГЦ (RDI)
Применяется для анализа тонкой структуры течений. Частота: 614, 4 кГц; минимальный размер ячейки: 10; максимальная глубина: 70м; максимальное количество ячеек: 128; разрешение: 0, 1 см/ с; точность измерения скорости: 0, 3%
Савицкий Олег Анатольевич, тел. : 8634 371741, e-mail: osav66@mail.ru
 55.  Микроинтерферометр МИИ-4М (ЛОМО)
Предназначен для исследования рельефа поверхности и покрытий
Хосаев Хазби Сахамович, тел. : 8672 407166, e-mail: uni207@mail.ru
 56.  Установка исследования механических свойств поверхности на наноуровне (Установка Nanotest 600)
Определение упругих характеристик и твердости твердых материалов методом наномеханических измерений, прчности на разрыв пленочных покрытий, однородности пленочных покрытий
Безуглова Екатерина Александровна, тел. : 495 7390314, e-mail: BezuglovaEA@mgsu.ru
 57.  3D профилометр-конфоканальный микроскоп Pku Neox (SENSOFAR-TECH) 43018852
Проведение анализа коррорзионных поражений
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 58.  Лазерный интерферометр VISAR
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Дудин Сергей Васильевич, тел. : (496) 522-51-68, e-mail: dudinsv@ficp. ac.ru
 59.  Система анализа текстуры поверхности ASIQ (LOT-Oriel)
Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 60.  Установка исследования механических свойств материалов на наноуровне NANOTEST 600 (Micro)
Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 61.  Комплекс исследования структуры поверхности Nanopics 2100 (KLA-Tencor)
Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 62.  Автоматизированный интерферометр белого света WLI-DMR Институт Фраунгофера
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 63.  Профилометр 170662
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Полуэктов Николай Павлович, тел. : 498 6874094, e-mail: poluekt@mgul. ac.ru
 64.  Многофункциональный комплекс для наноиспытаний Hysitron TriboIndenter TI 900 (Hysitron)
Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 65.  Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 66.  Спектрополяриметр Jasco 815 (Shimadzu)
Предназначен для измерения кругового дихроизма в УФ -видимом диапазоне. Имеется возможность варьировать режимы измерения.
Акатов Владимир Семенович, тел. : (4967) 73-94-52, e-mail: v-akatoff@rambler.ru
 67.  Профилометр SURTRONIC 25 (Taylor)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 68.  Контурограф MarSurfXC 20
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 69.  Интерферометр ПИУ-2, Т-2
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 70.  Профилометр-контурограф
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 71.  Лазерная интерферометрическая измерительная система XL-80 (Renishawplc)
Предназначена для исследования рельефа поверхности и покрытий
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 72.  Автоматизированный интерференционный микропрофилометр АИМ (ВНИИОФИ)
Измерение микрорельефа поверхности отражающих объектов, толщины тонких пленок, параметров шероховатости. Применяется в материаловедении, микроэлектронике.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 73.  Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30 (ФГУП ВНИИОФИ)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 74.  Оптический интерференционный профилометр New View 6200 (Zyga)
Изучение и анализ структуры поверхности материалов
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 75.  Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor)
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 76.  Измеритель краевого угла смачивания CAM 101 (RSV)
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 77.  Профилограф-профилометр Perthometer M1 (Mahr)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 78.  Профилометр модель 130
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 79.  Профилометр Surflest SJ-210
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 80.  Прибор контроля шероховатости поверхности Perthometr 2M (Mahr)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Стерхов Михаил Юрьевич, тел. : (3412) 50-82-00, e-mail: mister@udman.ru
 81.  Комплексная система измерений и исследований в наномасштабе Nanotest 600 (LOT-Oriel)
Оборудование для исследования рельефа поверхности и покрытий
Стерхов Михаил Юрьевич, тел. : (3412) 50-82-00, e-mail: mister@udman.ru
 82.  Бесконтактный трехмерный оптический профилометр NewView 6300 (Zygo)
Бесконтактные измерения различных глубин с использованием набора компактных оптических датчиков
Стерхов Михаил Юрьевич, тел. : (3412) 50-82-00, e-mail: mister@udman.ru
 83.  Интерферометр Intellium Z100 (ESDI)
Метрологическое оборудование. Интерферометр Физо для измерения плоских и сферических поверхностей.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 84.  Профилометр Surfest SJ 201 (Miyutoyo)
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Голиков Николай Иннокентьевич, тел. : (4112) 35-88-69, e-mail: golikov@iptpn. ysn.ru
 85.  Микроинтерферометр МИИ-4М ФОМ-2-16х
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Панченко Евгений Михайлович. , тел. : 863 2433676, e-mail: eugen@ip. rsu.ru
 86.  Измерительный комплекс на базе двухлучевого интерферометра и анализатора сигналов TF Double Beam Laser Interferometer (Aixacct)
Приборы для исследования рельефа поверхности и покрытий
Панченко Евгений Михайлович. , тел. : 863 2433676, e-mail: eugen@ip. rsu.ru
 87.  Универсальный программно-управляемый комплекс д/ метрол. поверхностей
Для обеспечения работы профилометра модели 130
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 88.  Профилометр модели 130 модель 301
Измерение шероховатости по ГОСТУ 25142-82
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 89.  Профилограф-профилометр М252
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 90.  Микроинтерферометр МИИ-4М
Предназначен для измерения ше-роховатости поверхностей, в ча-стности гальванических покры-тий. Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax и Rz и тол-щины пленок – 0, 1-0, 8 мкм; уве-личение при визуальном наблю-дении, крат – 500; Линейное поле зрения в пространстве предмета – 0, 3 мм.
Меметов Нариман Рустемович, тел. : 4752 639293, e-mail: nanotam@yandex.ru
 91.  Интерферометр МИИ-4
Предел измерения шероховатости Rz 0, 1 мкм Увеличение при визуальном наблюдении 530 При фотографировании 260 Длина волны 538 нм (зеленый) 585 нм (желтый)
Громков Николай Валентинович, тел. : 8412 368422, e-mail: ngrom@bk.ru
 92.  Интерферометр белого света (интерференционный микроскоп) ZYGO NewView 5000
Прибор позволяет получать трехмерные изображения рельефа поверхности образца с разрешением по верти-кали до 0. 1 нм. Латеральное разрешение зависит от использующегося сменного объектива и достигает 0. 45 мкм (объектив x100). Имеются объективы x1, x10, x20 и x100. Благодаря наличию автоматизированного трех-координатного столика и возможности программной сшивки изображений, получаемых в одиночном сканировании, имеется возможность исследовать площадки размерами в десятки см2.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 93.  Фемтосекундный интерферометр с цифровой регистрацией
Предназначен для измерительных методик
Агранат Михаил Борисович, тел. : (495) 362-51-36, e-mail: agranat2004@mail.ru
 94.  Установка исследования текстуры поверхности New View 6300 (Zygo)
Дефектоскопия
Чепрасов Александр Иванович, тел. : 3822 41-86-97, e-mail: mail@introscopy. tpu.ru
 95.  Профилометр модель 130
Измер. шерохов. поверхности
Морозов Александр Викторович, тел. : (8422) 55-95-97, e-mail: ugsha. mitm@yandex.ru
 96.  Оптический профилометр Wyko NT 9080 (Bruker AXS)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области исследования шероховатости поверхности
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 97.  Профилометр Hommel-Etamic T1000 wave
Прибор предназначен для определения шероховатости поверхности, как на плоских, так и на волнистых образцах в соответствии с DIN, ISO, ГОСТ и т. д. Основные технические характеристики: Дисплей Подсвеченный графический дисплей, 240 x 160 точек Питание Ni-металлгидридный аккумулятор Сетевой блок питания 24В/ 2, 5A; автоматическое переключение 90-240В Емкость аккумулятора Около 1000 измерений Рабочая температура 0-50° C, макс. 85% относит. влажн. Интерфейсы V24/ RS232 и IRDA (инфракрасный) Память для хранения данных 200 профилей / 999 измерений Программы измерения 5 программ измерения Габариты Ш x Г x В [мм] 253 x 193 x 80 Вес [г] 1600 Способ измерения опорный щуп Общее отклонение lt. DIN 4772 Класс 1 Диапазоны измерения / разрешение ± 80 μ м / 0, 01 μ м Регулировка прибора Автоматическая или ручная Фильтр DIN EN ISO 11562, часть 1 (50% Гаусс) DIN EN ISO 13565-1 Гауссов фильтр (M1) цифровой фильтр [мм] ➜ 0, 025 / 0, 08 / 0, 8 / 2, 8 / 8 Двойной гауссов (M2) параметр Rk Длина трассирования Lt [мм] DIN EN ISO 4288 / DIN EN ISO 12085 (MOTIF) 0, 48 / 1, 5 / 4, 8 / 15 / макс. 16 Длина оценки ln DIN EN ISO 4287 0, 4 / 1, 25 / 4, 0 / 12, 5 Отдельных отрезков lr, lw, lp по DIN EN ISO 4287 1 - 5 - по выбору Скорость щупа [мм/ с] 0, 15 / 0, 5 / 1, 0 Отсечка шага λ [мм] 0, 08 / 0, 25 / 0, 8 / 2, 5 / 8, 0 Полосовой фильтр Lc/ Ls DIN EN ISO 3274 100 / 300 Параметры шероховатости DIN EN ISO 4287 Ra, Rz (Rz4, Rz3, Rz2, Rz1), Rmax, Rt, Rq, RPc, RSm, Rmr© , Rp, Rpm, R3z, Rz-ISO Основные параметры шероховатости DIN EN ISO 13565 Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 MOTIF-параметры DIN EN ISO 12085 R, Rx, AR, P δ c (CR, CL, CF) Параметры шероховатости JIS - B 0601 Rz-JIS, Rmax-JIS Статистика 999 измерений, диапазон, Xпопереч, Max. , Min. , стандартное отклонение Система единиц μ м / μ дюйм (переключается) Применяемый щуп опорный Длина трассирования [мм] 16 Вес [г] 250 Орган управления Встроенная кнопка Start Контактный щуп T1E Диапазон измерения [μ м] 80
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 98.  Установка изучения структуры поверхности Alpha-Step 200 (профилометр) Tencor
Предназначен для измерения толщины тонких и толстых пленок, а также для измерения шероховатости пленок и подложек
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 99.  Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете NanoMap 1000WLI (электронно-оптический комплекс для анализа морфологии кристаллов)
Интерферометр высокого разрешения сканирующий в белом свете, использующийся для бесконтактной профилометрии.
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 100.  Профилометр Surftest SJ-210 Mitutoyo
Состоит из двух блоков: блока индикации и блока измерения (drive unit). Блок измерения может быть установлен непосредственно в блок индикации или соединяться с ним кабелем длиной 1 м, что позволяет контролировать шероховатость поверхности в труднодоступных местах, таких как внутренняя поверхность трубы; а также устанавливать профилометр непосредственно на деталь при изготовлении. Простой в использовании, легко устанавливается, позиционируется на контролируемой детали. По статистическим данным проводившейся поверки приборов, погрешность не превышала 5%.
 101.  Профилемер ELCOMETER 224
Сочетает в себе новейшие технологии измерения профиля поверхности и удобную систему управления
 102.  Электрохимический профилометр Серия CV92 (ртутный зонд)
Профилирование с помощью метода ртутного зонда является уникальным способом измерения электрических характеристик материалов и изделий в ходе производства полупроводниковых устройств. Метод основан на анализе зависимости емкости МДП-структур от напряжения на затворе и является незаменимым в случае, когда нежелательным является нанесение металлизации на поверхность для проведения электрических измерений и позволяет значительно экономить время при изготовлении.
 103.  Профилометр стилусный Alpha-Step D-500
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1. 2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
 104.  Стилусный профилометр KLA-Tencor P-7
Предназначен для: Измерение толщины и шероховатости тонких пленкок и покрытий; Исследование структуры пластичных материалов (возможно за счет приложения переменного усилия к стилусу, использования емкостного датчика положения, а так же сменных стилусов); Измерение глубины травления; Вычисление более чем 40 различных параметров поверхности, в том числе шероховатость, плоскопараллельность, макрорельеф с помощью программного обеспечения для анализа пиков; Расчет параметров топологии поверхности по данным измерений и преобразование результата в 3D модель. В качестве опции предлагается офлайн анализ данных, позволяющий производить анализ без влияния на производительность; Измерение напряжений в тонких пленках (позволяет оптимизировать процессы для предотвращения появления трещин или нарушений адгезии); Выявление дефектов поверхности. Продвинутые характеристики системы выявления дефектов позволяют добавлять модели дефектов, созданные пользователем. Даже самые маленькие дефекты в случае их обнаружения могут быть перемещены в центр сканируемой области, оптимизируя тем самым процесс обследования и анализа дефектов.
 105.  Механический профилометр Dektak 150 (Veeco Instruments Inc)
Контактный метод измерения профиля поверхности твердых тел, в том числе толщины тонких пленок, с нанометрическим разрешением
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 106.  Оптический профилометр Wyko NT 1100 (Veeco Instruments Inc)
Бесконтактный метод быстрого получения трехмерного изображения рельефа поверхности
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 107.  Трехмерный бесконтактный профилометр (Micro Measure 3D Station)
Микроскопия, свойства поверхности. Зона сканирования, мм X=100, Y=100, Z=50 Минимальный размер шага (X и Y), мкм 0, 1 Диапазон измеряемых глубин по оси Z, мкм (0, 001-300)
Сивин Денис Олегович, sivin@tpu.ru
 108.  Оптический профилометр KLAТеnсогMicroXAM- 100 с предметным столом с сервоприводом
Предназначен для контроля шероховатости и качества поверхности
 109.  Профилометр Mitutoyo Surftest SJ-210
Прибор для измерения шероховатости поверхностей
Кафедра деревообрабатывающих производств (ДОП), зав. каф. Чемоданов Александр Николаевич, тел (8362) 68-68-02, 68-28-50.
 110.  Профилометр Сейтроник ПШ8-1 С. С.
Измерение шероховатости
Мансур Замалеев, mansur_zamaleev@mail.ru, 903-3361103
 111.  Профилограф-215
Прибор для измерения неровностей поверхности и представления результатов в виде кривой
 112.  Профилометр модели 130
Измерение параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии.
125993, Россия, г. Москва, Волоколамское шоссе, д. 4, A-80, ГСП-3 (499) 158-48-49, 158-45-51, 158-58-70, 158-00-02 ads@mai.ru
 113.  Профилометр Сейтроник ПШ8-1 С. С.
Измерение шероховатости
Мансур Замалеев, mansur_zamaleev@mail.ru, 903-3361103
 114.  ПрофилометрАбрис ПМ7
Предназначен для измерения неровностей поверхности
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 115.  Профилограф-253
Измерение микрорельефа поверхности
 116.  Профилограф-253
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 117.  Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м.
Оборудование для исследования вертикального прфиля
 118.  Система гидрологического зонда профилографа SBE 19 Plus
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 119.  Профилометр модели 130
Профилометр модели 130 предназначен для измерений параметров профиля и параметров шероховатости поверхности по системе средней линии (ГОСТ 25142-82), с разделением волнистости и шероховатости по ГОСТ 2789-73. Прибор внесен в Государственный реестр средств измерения, регистрационный № 33319-06. Область применения — метрологические центры, лаборатории научно-исследовательских и учебных институтов, лаборатории и центры экспертизы и контроля, предприятия машиностроительной, автомобильной, подшипниковой и других отраслей промышленности.
360004, Кабардино-Балкарская Республика, г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173 Контактные телефоны: 88662722093, 88662425296 Электронная почта: kvm@kbsu.ru
 120.  Профилометр ТR-200
Измерение шераховатости поверхности изделий.
665709 Иркутская область, г. Братск, ул. Макаренко, 40, Братский государственный университет, кафедра воспроизводства и переработки лесных ресурсов Тел. : 8(3953)33-17-29
 121.  Установка Сорптаматик
Измерение удельной поверхности вещества.
150023, г. Ярославль, Московский проспект, д. 88. Кафедра Физика. Телефон: (4852) 44-06-79.
 122.  АПК на базе профилометра НОММеL TESTER T500
Проведение лабораторных работ по: 4137, 4126, 4101, 4110 и НИР
107996, г. Москва, ул. Стромынка, д. 20 8 (499) 268-00-01 konsultant@mgupi.ru
 123.  Профилограф-профилометр АБРИС-ПМ7
Измерение шероховатости и записи профиля поверхностей изделий.
665709 Иркутская область, г. Братск, ул. Макаренко, 40, Братский государственный университет, кафедра машиноведения и деталей машин Тел. : (8-3953)-32-53-88; (8-3953)-32-54-38
 124.  Профилограф - профилометр АБРИС - ПМ7
Предназначен для измерений в лабораторных и цеховых условиях машиностроительных, приборостроительных и других предприятий, а также в полевых условиях, шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию.
308012, Белгород, ул. Костюкова, д. 46, Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 125.  Профилограф-профилометр 201
Определение шероховатости и волнистости поверхности изделий из металлических и неметаллических материалов, а также всевозможных покрытий без повреждения их поверхности.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 126.  Профилометр 201, 1-86
Прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности.
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 127.  Профилограф, 1-87
Предназначены для исследования слоистой структуры дна, поиска объектов в толще осадков за счет получения сонограммы.
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 128.  Профилометр оптический WYKO NT 1100 (Veeco Instruments Inc)
Оптический профилометр позволяет визуализировать поверхность, восстанавливать трехмерный рельеф поверхности, проводить измерение толщины покрытий, шероховатости поверхности.
 129.  Профилограф-профилометр Mahr Perthometer S2
Профилограф-профилометр предназначен для измерения различных параметров шероховатости
Гашев Евгений Анатольевич (342)2-198-165 unpl_mtf@pstu.ru
 130.  Профилометр
Предназначен для измерения неровностей поверхности
675027, Амурская обл. , г. Благовещенск, Игнатьевское шоссе, 21
 131.  Лазерный 2D-профилометр
Предназначен для контроля профиля объектов бесконтактным способом и передачи размерных координат профиля в управляющий компьютер.
300012, г. Тула, пр. Ленина, 92. тел. / факс (4872) 35-35-50 Анцев Виталий Юрьевич - Начальник УРИХОПД
 132.  Профилограф-профилометр Сейтроник ПШ8-3
Проведение исследований и лабораторных работ
Пачевский Владимир Морицович, тел. : (473)246-19-77
 133.  Профилограф – профилометр MarSurf PS1
Измерение шероховатости поверхностей. Основные характеристики: мобильность, диапазон измерения - 350 / 90 мкм, радиус щупового наконечника - 2 мкм, измерительное усилие - 0, 7 мН, фильтры в соответствии с ISO/ JISпараметры измерений: Ra, Rq, Rz, Ry (JIS), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm (ASME), Rpk, Rk, Rsk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (JIS, ASME), RSm, R, Ar, Rx, память: max. 15 профилей, max. 20000 результатов, адаптирован к ПЭВМ, формирование и печать протоколов измерений.
ООО Базис-Инстурмент. Директор Анохин Андрей Викторович тел. 7 (3522) 41-42-93
 134.  Профилометр Si-301
Применяется для измерения шероховатости поверхности
НИИ-204; Ответственный исполнитель - Богданович Валерий Иосифович; 7 корп. - 525 комн. ; тел. 8(846) 267-46-31; bogdanovich@ssau.ru
 135.  Профилометр
Для измерения параметров шероховатости в лабораторных и цеховых условиях
7 499-973-17-92
 136.  Профилограф-профилометр БВ-7669
Измерение параметров шероховатости
7 499-973-17-92
 137.  Профилограф-профилометр 201, 1-66
Предназначен для измерение микронеровностей основано на интерференции света, для получения которой необходимо наличие двух когерентных пучков лучей, имеющих волны одной частоты. Измерения микронеровностей поверхности возможны в пределах 5 - 14-го классов шероховатости, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм. , Измерения микронеровностей поверхности возможно в пределах 5 - 14-го классов чистоты, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 138.  Класс мультимикроскопов и профилометров СМ-2000, 130
Получение изображений в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно-силовой микроскопией. Получение изображений в режиме фазового контраста. Получение изображений в режиме туннельного микроскопа
 139.  USB ПРОФИЛОГРАФ-ПРОФИЛОМЕТР БВ-7669М
Предназначен для регистрации, анализа профиля и измерения параметров шероховатости наружных и внутренних поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию
8(4832) 510-356 Сканцев Виталий Михайлович
 140.  Профилометр TR-200 с программным обеспечением
Портативный измеритель шероховатости поверхности. Пределы измерения: Ra, Rq: 0. 01 – 40 mm, Rz, Ry, Rp, Rt, R3z: 0, 02 – 160 mm, Sm, S: – 2 – 4000 mm, tp: 1 – 100% (%Ry).
160000, Россия, г. Вологда, ул. Ленина, д. 15 (8172) 72-46-45 kanz@mh. vstu. edu.ru
 141.  Профилометр 130 Протон-НИЭТ
Профилометр измеряет 28 параметров шероховатости и 4 параметра волнистости наружных и внутренних (пазы, отверстия) поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет как прямую, так и изогнутую по радиусу линию (шарики, валы и т. д. ), с измерением этого радиуса
ЦКП, prorectnir@rgata.ru, т. 4855222688
 142.  Профилометр Surflest SJ-210
Мобильный измерительный прибор для быстрого измерения шероховатости в процессе производства
ЦКП, prorectnir@rgata.ru, т. 4855222688
 143.  Профилометр 170 G22
Измерение шероховатости по параметрам Ra, Rz, Rmax, Sm, Tp в цеховых, полевых и лабораторных условиях
ЦКП, prorectnir@rgata.ru, т. 4855222688