03.02.01.00.00: Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Федеральный каталог высокотехнологичного оборудования и объектов научного потенциала России

Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности

 1.  Мобильный спектрометр Минилаб СЛ (НПП СЛ)
Прибор определяет марку цветного или чёрного металла непосредственно в металлургическом цехе, на строительном складе, энергетической станции и любой другой рабочей площадке без отрезания пробы. Основное его предназначение – совершение входного контроля и оперативное разделение по маркам. Обеспечивает пересортировку металлов по маркам на складе, в результате чего, на объекте будет образцовый порядок; оперативная оценка стоимости вторичного металла сразу на месте ещё до оплаты; сведение вероятности ошибки при определении марки даже при обширном количестве однотипных изделий; мгновенное определение любого марочного и сертифицированного металла, сплава и т. п. ; обустройство шихты перед расплавкой для экономии дополнительных легирующих элементов и, в то же время, попадание в марку.
 2.  Высокопроизводительный гибридный масс-спектрометр на базе тройного квадруполя/ линейной ионной ловушки 3200 QTrap (AB SCIEX)
Предназначен для идентификации и количественного анализа органических соединений; проведение токсикологических и криминалистических исследований, в том числе, наличие наркотических средств и их метаболитов; фармакокинетика и фармакодинамика лекарственных препаратов (DMPK); экологический мониторинг; контроль качества продуктов питания и напитков; неонатальный скрининг; всасывание, распределение, метаболизм, выделение (ADME); изучение посттрансляционной модификации; допинг - контроль; проведение клинических исследований.
 3.  Спектрометр кругового дихроизма J-1500 (JASCO)
Предназначен для описания свойств биомолекул, определения абсолютной конфигурации и стереохимического анализа. Широкий спектральный диапазон: от вакуумного ультрафиолета до ближнего ИК (до 1600 нм, только J-1500). Стандартная встроенная ртутная лампа и дополнительный отслеживаемый стандартный образец NIST для автоматической валидации системы. Высокоэффективный продув всей оптической схемы для работы в вакуумном УФ диапазоне. Исключительно низкий рассеянный свет и высокое значение отношения сигнал/ шум на всем диапазоне. Высокая скорость сканирования (до 10000 нм/ мин). Одновременная регистрация до четырех различных сигналов. Гибкая, настраиваемая конфигурация обеспечивающая достройку системы под задачи пользователя непосредственно в лаборатории. Кроссплатформенное 64-битное программное обеспечение Spectra Manager II или Spectra Manager CFR (по регламентации FDA). Высокая чувствительность, совмещенная с максимальной скоростью сканирования 10000 нм/ мин, позволяет J-1500 быстро измерять образцы, что поднимает производительность лаборатории. Дополнительным преимуществом является короткое время облучения биологических образцов высокоинтенсивным ультрафиолетовым излучением, что минимизирует риск разложения образца.
 4.  Спектрометр колебательного кругового дихроизма FVS-6000 (JASCO)
Предназначен для научных исследований в колебательной спектроскопии кругового дихроизма (VCD). Цифровая обработка сигналов (DSP) для улучшения чувствительности. Термически стабилизированный модулятор для устранения дрейфа базовой линии. Большой дьюар охлаждения для непрерывной работы без перезаполнения до 15 часов. Новая система автоюстировки для устранения артефактов линейной анизотропии вместо дополнительной коррекции. Высокоинтенсивный керамический источник излучения с временем гарантированной эксплуатации до 10 лет. Дополнительные приставки для автоматического ввода пробы. Прибор способен вместе с колебательным круговым дихроизмом измерять традиционное ИК поглощение и управляется кроссплатформенным программным обеспечением Spectra Manager II. Режим узких диапазонов позволяет проводить измерения малых пиков интересующих полос поглощения с высокой чувствительностью с помощью дополнительных диапазонных фильтров.
 5.  Анализатор газов атмосферного давления QMS 200 (Stanford)
Прибор можно разделить на две части: система подвода газа и масс-спектрометр. Эти системы работают независимо друг от друга. Система подвода газа втягивает исследуемый газ и при пониженном давлении подводит его к спектрометру. Спектрометр анализирует подводимый к нему газ. Длина и внутренний диаметр капилляра таковы, что давление на выходе составляет 1÷ 4 мбар. Стандартный капилляр имеет внутренний диаметр 125 мкм и длину 0. 9 м. Большая часть потока не поступает в RGA, а направляется обходным каналом прямо в диафрагмовый насос.
 6.  Быстродействующий эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН)
Предназначен для измерения состояния поляризации светового пучка, которое определяется по результатам сравнения углов поворота поляризатора, компенсатора и анализатора. Решаемые задачи: определение показателя преломления и поглощения (оптических постоянных) материалов (в твердом и жидком состояниях), исследование пленок и пористых объектов, включая, шероховатости поверхностей, а также профили распределения компонентов в многослойных структурах.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 7.  Автоматический эллипсометр АСЭБ-10М (ИФП СО РАН)
Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных, анизотропных и пористых материалов, а также слоистых и многослойных наноструктур методом полной эллипсометрии в лабораторных условиях. Спектральный диапазон: 350-1050 нм. Спектральное разрешение 2 нм. Время измерения 1 спектра 30 сек. Гониометр с набором углов падения света.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 8.  Газовый хромато-масс-спектрометр 5973N/ 6890N (Agilent Technologies)
Предназначен для хроматографического разделения лабораторного материала в целях идентификации искомых соединений. Диапазон измеряемых масс: 1, 6-900 а. е. м. Скорость сканирования 10000 а. е. м. / сек. Ионизация - электронный удар, 70 эВ. Отношение сигнал-шум 70: 1. Динамический линейный интервал 4-6 порядков.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 9.  Жидкостный квадрупольный хромато-масс-спектрометр 6130 LC/ MS (Agilent Technologies)
Предназначен для высокоточных исследований по стандартизированным методикам и массового анализа большого количества образцов. Целевой группой для данной серии приборов являются низкобюджетные производства и лаборатории малого масштаба. Относительно небольшие габариты и вес устройства позволят ему компактно расположиться даже при ограниченных размерах помещения. Позволяет проводить эффективные исследования в широко распространенном в наше время режиме ультра-ВЭЖХ (ВЭЖХ сверхвысокого давления). Скорость сканирования до 10 тыс. а. е. м. / сек. обеспечивает быстрое разделение на современных хроматографических колонках с размером частиц менее 2 мкм. Интегрированная программа Agilent LC/ MS ChemStation дает возможность оператору проводить анализ максимально продуктивно, обеспечивая контроль над рабочими параметрами, обработкой результатов и облуживанием устройства.
Калачева Галина Сергеевна, тел. (391) 249-44-61, e-mail: kalach@ibp.ru
 10.  Тандемный хромато-масс-спектрометр 7000 GC/ MS/ MS (Agilent Technologies) с тройным квадруполем
Сочетает автономный масс-спектрометр с тройным квадруполем (QQQ) и современный газовый хроматограф. Высокая эффективность системы обеспечивается оригинальными конструкционными решениями. Тройной кварцевый квадруполь повышает производительность анализа и гарантирует стабильную работу. Обеспечивают оригинальные конструкционные решения: инертный ионный источник, предназначенный для ионизации электронным ударом и имеющий опцию химической ионизации, тройной кварцевый квадруполь с золотым покрытием, трехосевой детектор и турбомолекулярный вакуумный насос.
Калачева Галина Сергеевна, тел. (391) 249-44-61, e-mail: kalach@ibp.ru
 11.  Сканер флуоресцентный Ettan DIGE imager (GE Healthcare)
Предназначен для визуализации гелей методом флуоресцентного анализа. Имеет мощный пакет программного обеспечения. Применяется в лабораториях ведущих исследования в области наук о жизни.
 12.  Хромато-масс-спектрометр QCMS-QP2010 Plus (Shimadzu)
Позволяет проводить сканирование с максимальной скоростью 20 000 а. е. м. / с без потери чувствительности или искажения спектра. Увеличенная скорость сбора данных делает прибор идеальным инструментом для проведения быстрой хроматографии или комплексной многомерной хромато-масс-спектрометрии (GCxGCMSq), автоматически увеличивается производительность лаборатории. Экологический режим сохраняет потребление электроэнергии и расход газа-носителя, позволяя снизить стоимость анализа, а также сократить вредное влияние на окружающую среду. Низкий предел детектирования целевых компонентов достигается за счет запатентованной системы ионной оптики, обеспечивающей эффективный транспорт ионов, и гомогенной температуры внутри камеры ионизации. Новая функция ASSP, позволяющая проводить высокоскоростное получение и обработку данных, улучшает чувствительность при высоких скоростях анализа (выше 10 000 а. е. м. / с). Функция FASST (Fast Automated Scan/ SIM Type) — техника получения данных, позволяющая одновременно работать в режимах регистрации полного ионного тока Scan и регистрации отдельных ионов SIM. Функция ASSP позволила улучшить данный процесс благодаря уменьшению в пять раз времени задержки режима SIM без ухудшения чувствительности, тем самым позволяя контролировать больше каналов в режиме SIM.
 13.  Оже-микроанализатор JAMP-9510 (Jeol)
Позволяет получать изображение поверхности образца, используя высокоразрешающий режим вторичных электронов, оценивать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи энергодисперсионного спектрометра или оже-анализатора, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов. Обладает самой высокой пространственной разрешающей способностью в мире. Его совершенная электронно-оптическая система позволяет достигать разрешения 3 нм в режиме изображения во вторичных электронах и 8 нм в режиме оже-анализа.
 14.  Квадрупольный масс-спектрометр HPR-60 (HIDEN)
Предназначен для анализа состава газов, до 1000 а. е. Дополнительными возможностями прибора являются зонд осцилляций плазмы, измерения на основе микроволн, а Hiden EQP энергомасс-анализатор обеспечивает наиболее достоверные измерения с зондом Ленгмюра. Производит измерение масс-спектров, энергетических распределений и спектров кажущихся потенциалов, позволяет проводить измерения нейтралей и радикалов, положительных и отрицательных ионов. Отображаются тренды Интенсивности. Пригоден для анализа потоков от ионных источников и дрейфовых промежутков.
 15.  Рентгенофлюоресцентный микроанализатор VRA-30 (Carl Zeiss)
Предназначен для качественного и количественного анализа элементов от натрия до урана в твердых, жидких и сыпучих образцах. Спектрометр представляет собой стационарную аналитическую установку, состоящую из следующих основных блоков: блок возбуждения; блок спектрометра; электронный блок индикации. Используется для качественного и количественного анализа элементов от натрия до урана в твердых, жидких и сыпучих образцах. Спектрометр представляет собой стационарную аналитическую установку, состоящую из следующих основных блоков: блок возбуждения; блок спектрометра; электронный блок индикации.
 16.  Хромато-масс-спектрометр Agilent 5975С (Agilent Technologies)
Предназначен для изучения молекулярного состава ОВ нефтематеринских пород. Позволяет полностью устранить возможность разложения и деградации термолабильных соединений и получать в процессе масс-спектрометрического анализа данные пригодные для идентификации по библиотекам масс-спектрометров.
 17.  Спектрометр рентгеновский S8 TIGER (Bruker)
Позволяет определять элементы от бериллия до урана в образцах различного типа: твердые вещества, жидкости или порошки. Разработано несколько конфигураций устройства с готовыми калибровками: с программой GEO-QUANT для анализа геологических объектов; с программой CEMENT-QUANT для анализа цемента; с программой METAL-QUANT для анализа металлов и сплавов; с программой PETRO-QUANT для анализа продуктов нефтехимии. Высокоточный гониометр с минимальным шагом сканирования 0, 0005° и воспроизводимостью положения осей 0, 0001° ; термостабилизация спектрометрической камеры со всеми измерительными компонентами ± 0, 05° ; стабильность и воспроизводимость результатов в течение длительного периода; возбуждение мощностью 4 кВт и током до 170 мА, позволяющее сократить время измерения и повысить производительность; простое управление спектрометром при помощи сенсорного экрана; надежная защита трубки и спектрометрической камеры от просыпания и прорыва пробы.
 18.  Спектрометр рентгеновский S8 LION (Bruker)
Предназначен для быстрого контроля качества в промышленности, позволяющий существенно ускорить процесс измерения. Аппарат оборудован уникальным рентгено-дифракционным каналом для контроля свободной извести в цементном производстве. Контроль свободной извести очень важен в процессе обжига, т. к. определяет его стабильность и эффективность, а также позволяет существенно сократить энергозатраты и получить на выходе качественную продукцию. Обеспечивает: минимальное время до получения результата благодаря параллельному выполнению измерений; оптимальный анализ с высокой точностью и воспроизводимостью; максимальная надежность и срок службы благодаря небольшому количеству движущихся деталей и верхнего расположения трубки; минимальная занимаемая площадь в лаборатории; простое управление спектрометром при помощи сенсорного экрана; аппарат может быть интегрирован в автоматизированную лабораторию.
 19.  Тройной квадрупольный ВЭЖХ‐ масс‐спектрометр TSQ VANTAGE AM (Thermo Scientific)
Обеспечивает высокую точность определения масс. Технология детектирования и атмосферной ионизации в сочетании с высокопрецезионными гиперболическими квадруполями, обеспечивающими лучшую трансмиссию ионов и форму пиков, обеспечивают максимальную точность измерения масс и самую высокую чувствительность. Разрешение: 7500 на полувысоте (FWHM) по m/ z 508 а. е. м. политирозина. Чувствительность: 5 мкл раствора резерпина с концентрацией 200 фг/ мкл при скорости потока 300 мкл/ мин при ионизации в HESI дает соотношение сигнал шум 6000: 1 при переходе от молекулярного протонированного иона с m/ z 609. 3 а. е. м. к фрагментному иону с m/ z 195. 1 а. е. м при режиме SRM с установками разрешения на Q1 0. 2 а. е. м. и Q3 0. 7 а. е. м. на полувысоте (FWHM). Камера соударений выполнена из квадруполя со стержнями квадратного сечения, изогнутого под углом 90 гр, для гарантированного снижения шумов. Столкновительная энергия и давление газа в камере соударений контролируется и автоматически оптимизируется программным обеспечением. Программное обеспечение простое и удобное Xcalibur™ плюс широкий спектр дополнительных программных пакетов для качественного и количественного анализа гарантируют комфортную работу при решении любых поставленных задач (LCQUANTM, Watson LIMSTM, Galileo LIMSTM, QuickQuan™ , QuickCalc™ , MetWorks™ , Mass Frontier™ , TraceFinder™ , TSQ ModuleTM).
 20.  Тройной квадрупольный масс‐спектрометр TSQ Quantum Access MAX (Thermo Scientific)
Предназначен для жестких аналитических требований лабораторий, занятых анализом объектов окружающей среды и безопасности продуктов питания и лекарственных средств. Возможные режимы сканирования: полное сканирование Q1 или Q3, мониторинг выбранных ионов (SIM) Q1 или Q3, мониторинг выбранных реакций (SRM), высокоселективный мониторинг реакций H‐SRM, сканирование дочерних ионов, сканирование родительских ионов, определение спектра нейтральных потерь, коррекция времени удерживания в реальном времени с учетом среднеквадратичных отклонений, интеллектуальное сканирование DataDependentTM, RER (Reversed Energy Ramp) – линейный градиент энергии соударений для получения полной информации для идентификации высокостабильных веществ.
 21.  Тройной квадрупольный масс‐спектрометр TSQ Quantum Ultra EMR (Thermo Scientific)
Предлагает пользователю высокое разрешение и расширенный диапазон масс для различных применений в анализе биополимеров, включая пептиды, олигосахаридов иодигонуклеотидов. Диапазон масс: 10 ‐ 3000 а. е. м. Разрешение: 7500 на полувысоте (FWHM) по m/ z 508 политирозина; ширина пика меньше, чем 0. 1 а. е. м. Чувствительность: при ионизации в HESI. 5 мкл раствора резерпина с концентрацией 200 фг/ мкл на колонке Hypersil GOLD aQ 20x2. 1 мм; 1. 9 мкм при скорости потока 300 мкл/ мин дает отношение сигнал/ шум не менее 6000: 1 при переходе от молекулярного протонированного иона с m/ z 609. 3 а. е. м. к фрагментному иону с m/ z195. 1 а. е. м при режиме SRM с разрешением на Q10. 2 а. е. м. и Q3 0. 7 а. е. м. на полувысоте (FWHM). Стабильность масс в течение 24 часов: ± 0. 050 а. е. м. Скорость сканирования: 5000 a. e. м/ сек.
 22.  Квадрупольный одностадийный масс‐спектрометр MSQ Plus (Thermo Scientific)
Самый чувствительный, компактный (его ширина всего 30 см), исключительно надежный, простой и легкий в применении и обслуживании, обладает потрясающими для своего размера аналитическими характеристикам. Режимы ионизации: ESI – электроспрей, APCI ‐ химическая ионизация при атмосферном давлении. Быстрый (менее чем за 1 минуту) переход от ESI к APCI, FastLocTM – обеспечивает ввод газа и высокого напряжения, позволяет моментальное переключение режимов ионизации(между химической ионизацией при атмосферном давлении электроспреем); Источник ионизации M‐RATHTM – самоочищающийся с патентованной системой промывки конуса, с тройным ортогональным отбором ионов, обеспечивает предельную чувствительность и воспроизводимость спектров и надежность, позволяет работать с труднолетучими буферами. Квадрупольная RF линза с высочайшей эффективностью трансмиссии ионов. Управление всеми потенциалами в источнике при помощи компьютера. IonBrightTM – патентованный детектор с низким шумом и сверхвысокой чувствительностью. Префильтр для меньшего шума и надежного предохранения источника от загрязнений. Система двойного напуска DSP для сверхвысокой записи информации. Автоматическая настройка и калибровка шкалы масс. Quick Release – тип сборки прибора для простого и быстрого обслуживания. Гексапольная ионная оптика для высоко эффективной транспортировки ионов в высоковакуумную область.
 23.  Флуоресцентный спектрофотометр (спектрофлуориметр) RF-5301 PC (Shimadzu)
Предназначен для научных исследований и рутинных анализов. Обеспечивает регистрацию спектров возбуждения и испускания, автоматический поиск спектральных максимумов, выбор уровня усиления сигнала, автоматические измерения (в том числе кинетические) с усреднением данных, операции со спектрами (арифметические, сглаживание, дифференцирование, логарифмирование и др. ), калибровки, количественные измерения, сохранение, распечатку и воспроизведение методик и результатов анализа. Имеет функциональные всплывающие меню, различные прикладные программы для специфических приложений и широкий набор принадлежностей.
 24.  Хромато-масс-спектрометр Agilent 5973N​ (Agilent Technologies)
Используется для изучения УВ-биомаркеров в нафтидах. Область применения: качественный и количественный анализ следовых количеств органических примесей, в т. ч. токсичных, в сложных органических соединениях: нефтепродуктах, воздушных средах, растворителях для химических, биохимических и экологических целей. Диапазон измеряемых масс: 1, 6-900 а. е. м. Скорость сканирования 10000 а. е. м. / сек. Ионизация - электронный удар, 70 эВ. Отношение сигнал-шум 70: 1. Динамический линейный интервал 4-6 порядков.
Фомин Александр Николаевич, тел. (383) 330-93-26, e-mail: FominAN@ipgg. sbras.ru
 25.  Микрорентгеноспектральный анализатор CAMEBAX-MICROBEAM (Cameca)
Предназначен для микрорентгеноспектрального анализа диэлектриков, полупроводников и структур на их основе, металлов и сплавов, геологических объектов. Используется в составе опционных приставок к электронному микроскопу.
 26.  Комбинированный лазерный сканирующий эллипсометр-рефлектометр SE500adv (Sentech)
Предназначен для проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Обладает высокой стабильностью и точностью при измерении с источником света (HeNe лазер, 632, 8 нм. ), термостабилизированным компенсатором, управлением поляризатором, детектором сверхнизких шумов.
 27.  Спектральный эллипсометр Эллипс-1891-М (ИФП РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов. Спектроэллипсометр отличается однозначностью вычисления эллипсометрических параметров: они измеряются в полном диапазоне их значений (Ψ - от 0 до 90 градусов; Δ - от 0 до 360 градусов) с одинаковой точностью и чувствительностью, что обеспечивает однозначную интерпретацию результатов измерений.
 28.  Рентгеновский спектрометр Theta Probe (Thermo Scientific) с фокусированным пучком рентгеновского излучения и параллельным анализатором ARXPS
Предназначен для проведения сложных измерений тонкопленочных структур простыми и интуитивно понятными методами. Спектрометр предоставляет возможность сбора рентгеновских фотоэлектронных спектров в большом угловом диапазоне 60° без наклона образца, что позволяет проводить неразрушающий анализ тонкопленочных структур. Анализатор сферическое зеркало оснащен детектором, поддерживающим мультиканальное детектирование: с угловым разрешением (96 каналов) и разрешением по энергии (112 каналов). Размер пучка рентгеновского излучения варьируется от 100 до 400 мкм.
 29.  Станция зондового контроля TS150 (MPI)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/ CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надёжности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности. Особенности: эргономичный дизайн позволяет быстро позиционировать образец при помощи ручного пантографа; устойчивая плита, допускающая установку до 10 DC или 4 RF-позиционеров; воспроизводимый дизайн подъёмника плиты с 3 отдельными режимами: для загрузки образца, контакта с образцом и промежуточный; антивибрационная платформа в комплекте; русскоязычное калибровочное ПО qAlibria; возможность использования дополнительного навешиваемого на микроскоп оборудования при помощи жёсткого моста для микроскопа.
Дежурный специалист, тел. (495) 980-08-19, info@global-smt.ru
 30.  Тройной квадрупольный жидкостный масс-спектрометр LCMS-8040 (Shimadzu)
Существенное развитие в новой модели масс-спектрометра получили технология ускорения ионов в соударительной ячейке UFsweeper™ II, система дифференциального вакуумированияи конструкция ионной оптики UF-Lens™ , за счет чего достигнуто существенное увеличение чувствительности анализа по сравнению с моделью LCMS-8030 (S/ N > 1000: 1, 1 пг резерпина, ESI , MRM, m/ z 609, 3 > 195). Новый прибор демонстрирует возможность определения соединений на уровне единиц фемтограмм даже в образцах со сложной матрицей, таких как, например, экстракты из пищевых продуктов или плазма крови. Благодаря сверхбыстрым квадрупольным масс-анализаторам и соударительным ячейкам UFsweeper™ и UFsweeper™ II хроматомасс-спектрометры LCMS-8030/ 8040 позволяют проводить анализ с использованием комбинированных режимов измерения, например, в режиме Synchronized Survey Scanning™ , представляющем собой комбинацию режимов MRM и сканирования продуктов фрагментации. При этом в ходе одного анализа пользователь получает как количественные результаты MRM, так и подтверждающие данные о структуре определяемого соединения.
 31.  Хромато-масс-спектрометр LCMS-IT-TOF (Shimadzu)
Представляет собой комбинацию жидкостного хромато масс спектрометра, ионной ловушки и времяпролетного масс-спектрометра. Обеспечивает высокое разрешение, чувствительность, точность, производительность. Новая система фокусировки и фрагментации ионов в ионной ловушке. Ионизация при атмосферном давлении. Трехступенчатая система вакуумирования. Температурный контроль пролетной трубки. Встроенный ESI интерфейс. Двухступенчатый рефлектрон. MСn анализ до МС10.
 32.  Спектроскопический (спетральный) рефлектометр RM 2000 (SENTECH)
Предназначен для измерения прозрачных, плохо абсорбирующих пленок на отражающих, прозрачных и абсорбирующих образцах спектроскопическим методом, основанном на преломлении белого света. Измерение показателя преломления и толщины пленок и абсорбции на различных типах поверхностей. В том числе рутинные измерения в изготовлении изделий микроэлектроники (измерения толщины резистов, окислов и т. д. )
 33.  Система рентгеноструктурного анализа X8 PROTEUM (Bruker AXS)
Предназначена для получения дифракционных данных высокого разрешения с единичных кристаллов макромолекул (белков). Область применения: рентгеноструктурный анализ макромолекул. Комплекс позволяет регистрировать рассеянные с кристаллов рентгеновские лучи, что позволяет определять структуры как макромолекул (белки, РНК, ДНК, их комплексы), так и небольших органических веществ (лекарств, комплексов металлов с органическими молекулами и т. д. ). Может быть также использован для получения рентгенограмм с упорядоченных волокон и т. п. Позволяет получать рентгенограммы с кристаллов макромолекул с разрешением до 1. 6 Å при размере кристалла около 0. 2 мм в поперечнике и размере молекулы около 50 кДа. Время получения полного набора данных зависит от размера кристалла, размера белка, параметров ячейки кристалла и составляет от 3 до 24 часов. Параметры системы практически эквивалентны или превосходят уровень синхротронных источников рентгеновских лучей 1-2 поколений без дополнительных устройств.
 34.  Рентгеновский аналитический микрозонд-микроскоп РАМ 30-μ (АО НП)
Предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального ренгенофлуоресцентного элементного микроанализа с возможностью элементного картирования. Особенности: микрофокусная рентгеновская трубка; поликапиллярная линза для формирования рентгеновского зонда с изменяемым размером; набор фильтров первичного излучения; обзорная видеокамера для выбора области анализа; оптический цифровой микроскоп для исследования области анализа; оптический микроскоп, совмещенный с осью рентгеновского зонда; автоматизированная система выбора рабочего расстояния; автоматизированный двухкоординатный предметный стол для позиционирования объекта и сканирования по заданной области образца (X, Y); перемещение аналитического узла по Z – координате; детектор прошедшего через образец излучения для рентгенографических исследований; энергодисперсионный полупроводниковый детектор для локального элементного анализа; вакуумируемая измерительная камера для анализа легких элементов; встроенная автономная система водяного охлаждения рентгеновской трубки; специализированное программное обеспечение для рентгенографических исследований, локального элементного анализа и элементного картирования.
 35.  Аналитический исследовательский комплекс ARL 9900 X-Ray WorkStation (Thermo Scientific)
Предназначен для определения физико-химического состава и свойств веществ. Комплексная лаборатория в одном приборе: XRF XRD. Анализ элементов от B до U (от ppm до 100%). Высокая степень автоматизации и цифрового контроля. Возможность как рутинного, так и бесстандартного анализа. Выбор параметров генератора в зависимости от поставленной задачи: 1200 Вт, 2500 Вт, 3600 Вт, 4200 Вт. Rh анод трубки.
Марьина Г. Е. , тел. : (495) 955-00-91, факс: (495) 638-46-86
 36.  Жидкостный хромато-масс-спектрометр LCMS-8050 (Shimadzu)
Позволяет проводить количественный и качественный анализ в режимах быстрой и сверхбыстрой хроматомасс-спектрометрии на уровне единиц аттограмм вещества. Благодаря системе ионизации, повышающей эффективность ионизации за счет использования нагреваемого газа (Heated-ESI), соударительной ячейке UFsweeper® III и специальной конструкции источника напряжения, прибор демонстрирует очень хорошие аналитические характеристики: соотношение сигнал/ шум при анализе 1 пг резерпина - более 60000: 1 (MRM)(условия анализа: Reserpine 1 pg/ uL x 1 uL, 3/ 7=Water/ Acetonitrile, 0. 4 mL/ min, Filtering); максимальная скорость сканирования - 30000 а. е. м. / с; минимальное время переключения полярностей - 5 мс; максимальная скорость работы в режиме регистрации MRM-переходов - 555 MRM/ c.
 37.  Рентгеновский аналитический зондовый микроскоп PAM 30-μ (Научные приборы)
Предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального ренгено-флуоресцентного элементного микроанализа с возможностью элементного картирования. Области применения: Рентгенофлуоресцентный микроанализ с элементным картированием идентификационной карты. Рентгено-флуоресцентный микроанализ с элементным картированием печатной платы. Рентгено-флуоресцентный микроанализ скрытых объектов. Рентгено-флуоресцентный микроанализ скрытых текстов.
 38.  Квадрупольный масс-спектрометр МС-7303-02 (ИАП РАН)
Предназначен для исследований, связанных с изучением кинетики таких гомогенных и гетерогенных процессов, как элементарные химические реакции с учетом атомов, радикалов и возбужденных частиц: плазмохимия, лазеро- и фотохимия, катализ, химия горения; при фундаментальных исследованиях в области термодинамики; в прикладных исследованиях, связанных с совершенствованием технологии в области современной микроэлектроники, изучением молекулярной эпитаксии и т. п.
 39.  Система лазерной абляции LSX-500 (CETAC)
Позволяет проводить анализ отдельных участков образца. Встроенный микроскоп с видеокамерой и моторизованный предметный столик позволяет проводить детальное изучение геологических объектов и сплавов, определять состав микровключений в образцах.
 40.  Масс-спектрометр MALDI-TOF 7090 (Shimadzu)
Предназначен для идентификации биомолекул и исследования их структуры с высочайшей производительностью и эффективностью. Широкоапертурная ионная оптика: Сфокусированный поток ионов; Минимальный риск загрязнения источника ионизации; Минимальная потребность в очистке и обслуживании источника ионизации. Запатентованный сверхбыстрый лазер: 2кГц сверхбыстрый твердотельный УФ лазер 355 нм, совместимый с различными матрицами и образцами; Варьируемая фокусировка пучка от 10 мкм до более чем 100 мкм; Длительный срок непрерывной работы. Визуализация образца в HD качестве: Ультрасовременная оптика для визуализации образцов с высоким разрешением и кристально чистым изображением; Цветное изображение в формате FullHD (1080р); Управляемый переменный фокус для просмотра различных поверхностей.
 41.  Рентгеновский спектрометр S4 PIONEER (Bruker)
Предназначен для анализа легких элементов. Возбуждение мощностью до 1000 кВт/ до 50кВ или 50 мА; близко расположенная керамическая рентгеновская трубка со сверхтонким бериллиевым окном толщиной 75µ m; до 10 фильтров первичного излучения; вакуум-затвор для надежной работы с жидкостями или сыпучими порошками; до 4 коллиматоров; до 8 кристаллов-анализаторов; гониометр с раздельным управлением по углам Theta и 2Theta; скорость сканирования до 200° / мин; Pro4 Super High Transmission отпаянный пропорциональный счетчик для легких элементов; высокоэффективный сцинтилляцион-ный счетчик для тяжелых элементов; работа при постоянном вакууме для оптимальной чувствительности и воспроизводимости; минимальное время откачки, основанное на индивидуальном контроле вакуума в камере проб; стабилизация температуры до ± 0, 01 ° С.
 42.  Спектрофлуориметр FluoroLog 3 (Horiba Scientific)
Представляет собой уникальную модульную систему, которая позволяет использовать широкий ассортимент дополнительных аксессуаров для проведения анализа флуоресценции веществ и её динамики в различных исследовательских задачах. В автоматическом режиме для спектрофлуориметра FluoroLog 3 доступны калибровка спектрометра, измерение анизотропии, титрование, автоматическая подача проб, поддержание заданной температуры образца и многое другое. Сверхвысокая чувствительность и разрешение являются визитной карточкой системы FluoroLog 3, а соотношение сигнал/ шум только для базового прибора начинается от значения 20 000: 1.
 43.  Спектрометр iHR 550 (Horiba Scientific)
Обеспечивает превосходное качество изображения для спектральных измерений. Спектрометр позволяет выполнять многоканальные эксперименты с использованием вплоть до 20 входов волокна. Неправильные и повторно дифрагированные спектры устраняются с помощью асимметричного дизайна Черни-Тернера в сочетании с запатентованной системой привода на оси решетки. В приборе доступны два порта входа и два порта выхода. Каждый выходной порт может быть сконфигурирован для использования как матричного детектора, например, ПЗС, так и щелью для использования ФЭУ.
 44.  Комбинированный спектрофлюориметр FSL 920 (Edinburgh Instruments)
Предназначен для регистрации спектров люминесценции в области 200-900 нм. Имеется набор пикосекундных лазеров и лазерных диодов, излучающих в УФ области спектра, и позволяющих снимать кинетику люминесценции с временным разрешением 10 пс. Обеспечивает регистрацию спектров возбуждения и флюоресценции, автоматический поиск спектральных максимумов, выбор уровня усиления сигнала автоматические измерения с усреднением данных, операции со спектрами, калибровки, количественные измерения, сохранение, распечатку и воспроизведение методик и результатов анализа.
 45.  Эллипсометр M-2000 RCE (J. A. Woollam)
Предназначен для измерения толщины и показателя преломления (RI) независимо и одновременно без ссылки на однослойную пленку. Используется для определения характеристик таких типов материалов, как диэлектрики, полупроводники, органики, а также типов пленок: OLED пленки, антибликовые покрытия, солнечные ячейки и пленки с низкими и высокими значениями оптических констант и т. д.
 46.  Анализатор стабильных изотопов 13C-D (PICARRO)
Предназначен для измерения D/ H и расширяет возможности одновременного анализа на изотопы углерода и дейтерия, обладая уникальной простотой использования. Анализатор управляется программным обеспечением, которое позволяет подключаться удаленно и контролировать блок сжигания и спектрометр через стандартное подключение удаленного рабочего стола или аналогичные программы. Не требует импульсной подачи CO2 и H2 с известными изотопными соотношениями в качестве газов сравнения для каждого анализируемого образца.
 47.  Портативный масс-спектрометр МС-100 (Спектромасс)
Предназначен для решения задач исследования углеводородных и фторорганических соединений и технологического контроля состава микропримесей в инертных газах, состоящий из масс-анализатора, системы дифференциальной откачки, шлюзового интерфейса, портативного компьютера, программного обеспечения, комплектующих изделий, запасных частей, расходных материалов и стандартных образцов, должен обеспечивать анализ в режиме реального времени: Углеводородных и фторуглеродных соединений и продуктов их распада, содержащих фторорганические фрагменты; газов (водород, гелий, ксенон, кислород, азот, аргон и др. ). Принцип работы масс-спектрометра основан на проведении масс-спектрального анализа газовой смеси, подаваемой на вход масс-спектрометра, с измерением массового состава газовой смеси и построением графиков.
 48.  Колориметр фотоэлектрический КФК-2МП (ЗОМЗ)
Предназначен для определения концентрации веществ в растворах, скорости измерения оптической плотности вещества, длины волн, выделяемых светофильтрами. Колориметр с микропроцессорной системой, расширенным диапазоном измерения пропускания (диапазон от 1 до 100 %) и рабочим спектральным диапазоном измерения от 315 до 980 нм. Измерения производятся по 11 точкам спектра от 315 до 980 нм, результаты измерения обрабатываются микро-ЭВМ и выводятся на световое табло.
 49.  Зондовая станция для тестирования печатных плат 2210-LS (Micromanipulator)
Предназначена для тестирования устройств (чипов) и схем на печатных платах, прошедших стадию производства. Применение станции позволяет значительно ускорить проведение анализа отказов на уровне системы - в режиме работы устройства (чипа). Станция позволяет решать задачи, исследование которых возможно только на стадии готового устройства: Тестирование цепей питания устройства (чипа); Исследование влияния и взаимодействия устройств (чипов) друг с другом внутри цепи; Исследование взаимодействия различных блоков друг с другом; Исследование синхронизации работы устройств (чипов). Стабильная и большая платформа 2210-LS имеет защиту от вибраций и позволяет проводить зондирование с высоким разрешением. Станция может оснащаться различными аксессуарами, как для проведения тестирования на постоянном токе, так и в E и K диапазоне частот.
 50.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон)
Предназначен для исследования поверхности вещества на атомарном уровне. Размер поля сканирования: до 60× 60 мкм по латерали; Разрешение: атомарное (с использованием встроенной виброподвески); Температурный дрейф по X и Y: не более 1 нм/ гр; Частота основного механического резонанса: 8 кГц.
 51.  Ультрафиолетовый эллипсометр VUV-VASE (J. A. Woollam)
Эллипсометр имеет уникальные характеристики по определению качества, состава и политипа тонких плёнок и гетероструктур широкозонных полупроводников. Используется для оптической характеристики тонких пленок литографии. Он измеряет длины волн от вакуумного ультрафиолета (ВУФ) до ближнего инфракрасного (NIR). Это обеспечивает невероятную универсальность для характеристики многих материалов: полупроводников, диэлектриков, полимеров, металлов, многослойных материалов и жидкостей, таких как иммерсионные жидкости.
 52.  Сканирующий спектральный фазово-модуляционный эллипсометр UVISEL 2 (Horiba)
Предназначен для исследования свойств тонких пленок. Уникальное программное обеспечение DeltaPsi2 позволяет полностью управлять прибором и проводить моделирование широкого круга образцов: анализировать многослойные, анизотропные, градиентные структуры, определять композиционный состав пленок, пористость и шероховатость. В базу данных DeltaPsi2 входит более 100 материалов и более 30 дисперсионных формул, а также алгоритмы анализа композиционных материалов. Все это позволяет исследовать образцы различной природы: полупроводники, диэлектрики и металлы, например, такие, как полимерные пленки, просветляющие покрытия, солнечные батареи, оптоэлектронные устройства и другие.
 53.  Спектральный эллипсометр Auto SE (Horiba)
Объединяет максимальную эффективность анализа тонких пленок и простоту работы на приборе. Позволяет проводить исследования в полностью автоматическом режиме, путем нажатия одной кнопки. Измерение образца занимает всего несколько секунд, и результирующий отчет полностью описывает тонкопленочную структуру – толщины слоев, оптические константы, шероховатость поверхности и неоднородность слоев. Прибор оснащен богатым пакетом опций: XYZ столик, наблюдение образца в видеокамеру в реальном времени, автоматический выбор размера аналитического пятна, диагностические датчики для автоматического контроля неисправностей. Широкий набор аксессуаров доступен для большого круга приложений.
 54.  Фотометрический спектроэллипсометр ЭЛЬФ (Наноиндустрия)
Предназначен для измерения толщин тонких пленок и многослойных пленочных структур; определения спектров оптических постоянных и диэлектрических свойств материалов; анализа состояния поверхности и структуры тонких поверхностных слоев. Используется для контроля параметров в процессе производства и осуществления неразрушающего анализа структуры материалов (пористости, степени кристалличности, фазового состава, нерегулярности распределения наполнителя в нанокомпозите, наличия инородных включений, неоднородностей наноразмерного масштаба, состава и толщин межфазных границ).
 55.  Рентгенофлюоресцентный микроанализатор VRA-30 (Bruker)
Предназначен для качественного и количественного определения атомного и молекулярного состава вещества, основанный на исследовании его спектров. Данный вид анализа проводится при необходимости отождествления состава и некоторых физических свойств двух образцов, один из которых является эталонным. Такой вид анализа важен при поиске любых отличий в составе двух образцов. Область применения: определение тяжелых металлов в почвах, осадках, воде, аэрозолях, качественный и количественный анализ почв, минералов, горных пород, контроль качества сырья, производственного процесса и готовой продукции, анализ свинцовых красок, измерение концентраций ценных металлов, определение загрязнений нефти и топлива, определение токсичных металлов в пищевых ингредиентах, анализ микроэлементов в почвах и сельскохозяйственных продуктах, элементный анализ, датирование археологических находок, изучение картин, скульптур, для проведения анализа и экспертиз.
 56.  Спектральный эллипсометр САГ-1891 (ИФП СО РАН)
Предназначен для измерения оптических характеристик тонких пленок и многослойных структур. Спектральный диапазон составляет 350 – 1100 нм. Углы измерения 450° - 700° с шагом 50° . Диапазон измеряемых толщин 1 – 10000 нм. Диаметр светового пятна на образце 3 мм. Точность измерения толщин до 5 Å . К прибору прилагается программное обеспечение, позволяющее проводить расчеты толщин слоев и оптических параметров многослойных структур и композитов.
 57.  Тандемный квадрупольный масс-спектрометр для жидкостной хроматографии Xevo™ TQD (Waters)
Позволяет проводить количественные UPLC® / MS/ MS анализы более 38 наркотических средств менее чем за 30 мин. Технология IntelliStart помогает пользователю, производя автоматическую калибровку массы, интегрирование и настройку образца, инициализацию SIR/ MRM-методов, выполнение теста on-column. Совместимость с системами ACQUITY UPLC® дает возможность достичь сочетания высокой чувствительности, селективности и скорости. Используется для рутинных количественных UPLC® / MS/ MS анализов.
 58.  Квадрупольный масс-спектрометр для жидкостной хроматографии ACQUITY QDa (Waters)
Обеспечивает получение необходимых масс-спектрометрических данных: масс-спектрометрическое подтверждение присутствия в пробе интересующих соединений; отсутствие ложноположительных результатов; подтверждение и количественное определение в случае недостаточного хроматографического разделения компонентов пробы; подтверждение и количественное определение в случаях, когда определяемый компонент не поглощает в УФ и видимом диапазоне или присутствует в образце в концентрации, недоступной для спектрофотометрического определения. Используется как полноценный взаимодействующий элемент системы хроматографического разделения, заранее оптимизированный для работы с образцами. Применяя одновременно оптическое детектирование, можно значительно уменьшить вероятность пропуска компонента образца.
 59.  Гибридный масс-спектрометр (квадрупольно-времяпролетный) VION IMS QTof (Waters)
Предназначен для получения информации о составляющих образца с помощью технологии ионной подвижности. Данный метод в сочетании с программами UNIFI обеспечивает эффективность и быстроту обработки сведений за один эксперимент. Система Vion IMS QTof позволяет быстро очистить спектры, исключить влияние фона, что гарантирует получение точных характеристик соединений. Технология Tof-MRM дает возможность регулировки интенсивности столкновений, способствуя высокой чувствительности. Предлагает высокое разрешение, высокую чувствительность, погрешность определения массы менее 1 ppm и улучшенные характеристики для количественного анализа. Стандартные методы сбора данных используют масс-спектрометрию ионной подвижности и при этом просты в использовании и настройке.
 60.  Флуориметр Фотон-10 (Европолитест)
Предназначен для оценки степени воздействия техногенных выбросов в атмосферу на растительность вблизи промышленных центров; интегральная оценка уровня загрязнения атмосферы городов и пригородных зон на основе трансплантационной лихеноиндикации; экспресс-биотестирование природных и сточных вод на водоросли хлорелла (Chlorella vulgaris Beijer) и рачках дафний (Daphnia magna); оперативное слежение за технологическим режимом работы очистных сооружений и качеством очистки сточных вод; экспресс-анализ содержания наиболее фитотоксических веществ (напр. цианиды, пестициды, активный хлор, тяжелые металлы и др. ) в различных средах; оценка экологической опасности (токсичности) новых химических соединений перед их использованием в быту и на производстве; оперативный контроль биологической активности некоторых лекарственных препаратов (напр. , прополис, пантокрин, абисиб, радиола, левзея и др. ) с помощью биотестов; экспресс-анализ устойчивости клубней картофеля к болезням.
 61.  Атомно-зондовый томограф с высоковольтным импульсным испарением атомов ECOTAP (Cameca)
Предназначен для глубокого исследования вещества, на который подается постоянное напряжение в несколько киловольт, для испарения атомов исследуемого вещества на кольцо подается импульсное напряжение с частотой 2 кГц и длительностью несколько наносекунд. Величина импульсного напряжения находится в пределах 15÷ 25 % от постоянного. Форма и длительность импульса подбирается так, что бы за один импульс испарялось не более одного, двух атомов. После подачи высоковольтного импульса происходит испарение полем ионов с поверхности исследуемого образца, в этот же момент запускается отсчет времени. Каждый ион в зависимости от своей массы, энергии и точки испарения летит по своей траектории на детектор.
 62.  Атомно-зондовый томограф с лазерным испарением ПАЗЛ-3D (ИТЭФ)
Сочетает в себе два прибора - времяпролетный масс-спектрометр и проекционный микроскоп. Сочетание этих двух систем позволяет одновременно с высокой точностью определять химическую природу каждого элемента в образце и получать их трехмерное распределение. Принцип работы прибора состоит в следующем - исследуемый образец по-атомно разделяется в сильном электрическом поле под действием импульсого воздействия (в данном случае лазерных импульсов), испаренные атомы (ионы) ускоряются в пролетном промежутке (что дает возможность методом масс-спектрометрии определить его химическую природу), а дальше, летя по прямой траектории, ионы попадают на позиционно-чувствительный детектор (что дает возможность, используя спец. алгоритмы, восстановить их положение в исследуемом образце). Поскольку для активации полевого испарения необходима высокая напряженность поля (примерно 50 В/ нм), к образцу прикладывается постоянное напряжение в несколько киловольт, а сам образец в свою очередь изготавливается в виде иглы с радиусом при вершине примерно 20нм. Приложение постоянного потенциала позволяет понизить потенциальный барьер приповерхностных атомов, после чего испарение достигается кратковременным воздействием фемтосекундного лазера, который придает атомам решетки дополнительную энергию.
 63.  Портативный спектрометр DELTA Premium (Olympus)
Предназначен для проведения экспресс-анализа легких элементов в почве, низколегированной стали, металлургических пробах и горных породах. Используется рентгеновская трубка на 4 Вт, кремниевый дрейфовый детектор большой площади, что позволяет осуществлять анализ редкоземельных элементов (REE) и тяжелых элементов: Cd, Sn, Cr, Ba, Ag, Te. Для повышения скорости проводимого анализа и увеличения пределов обнаружения предусмотрена приближенная геометрия на максимальном уровне.
 64.  Портативный XRF-анализатор DELTA Element (Olympus)
Предназначен для оперативного анализа металлов и сплавов. Значительное сокращение времени сбора данных без потери эффективности. Наличие оптимального источника возбуждения элементов – рентгеновская трубка 4 Вт. Для улучшения предела обнаружения и повышения скорости анализа используется максимально приближенная геометрия. Беспроводная передача данных при помощи Bluetooth® . Безопасность работы осуществляется с помощью предупреждающих световых индикаторов (заметны с любого положения устройства). Сигнальный процессор цифрового типа значительно увеличивает скорость обработки полученных данных (применяются усовершенствованные алгоритмы калибровки). Прибор оснащен сенсорным жидкокристаллическим экраном, который обладает высоким уровнем качества. Для быстрой загрузки данных и связи с ПК предусмотрен порт USB. Возможность замены батарей в горячем режиме. Для безопасности и комфорта оператора предусмотрена эргономичная прорезиненная рукоятка. Рентгенофлуоресцентный спектрометр оборудован производительным акселератором, который обеспечивает режим ожидания, сокращающий энергопотребление. Кроме этого, устройство оснащено автоповоротом изображения, что облегчает работу оператора. Быстрая и удобная обработка данных и создание отчетов становятся возможными с помощью программного обеспечения DELTA PC. Предусмотрена опция тестового стенда и калибровка по образцу.
 65.  Портативный спектрометр DELTA Classic Plus (Olympus)
Предназначен для достижения максимальной точности анализа во всем диапазоне элементов периодической таблицы, спектрометр оборудован дрейфовым детектором большой площади SDD, а также обладает настраиваемыми параметрами трубки. Для повышения скорости проводимого анализа и увеличения пределов обнаружения предусмотрена приближенная геометрия на максимальном уровне. Наличие встроенного барометра позволяет проводить коррекцию в случае изменений атмосферного давления. Барометр позволяет существенно повысить точность исследований легких элементов. Предельно высокая скорость сбора данных без уменьшения качества анализа. За быстроту обработки и сбора данных отвечает цифровой сигнальный процессор, использующий усовершенствованные алгоритмы калибровки. Для беспроводной передачи данных используется встроенный Bluetooth. Наличие специальной системы охлаждения дает возможность эксплуатировать прибор при высоких температурах и позволяет увеличить срок службы трубки. За безопасность при работе отвечают световые предупреждающие индикаторы. Индикаторы видны с любой стороны от спектрометра. Наличие интерактивного сенсорного жидкокристаллического дисплея облегчает настройку прибора и процесс анализа. Высокие технические характеристики экрана дают возможность применять его при любом освещении. За энергосберегающий режим ожидания отвечает акселератор. Предусмотрен автоповорот изображения, который зависит от положения спектрометра в руке оператора.
 66.  Газовый хромато-масс-спектрометр GCMS-QP5050A (Shimadzu)
Гибкий квадрупольный газовый хромато-масс-спектрометр наряду с ионизацией электронным ударом (EI) и системой положительной химической ионизации (PCI) для высокоточного определения молекулярной массы имеет также систему отрицательной химической ионизации (NCI) для высокочувствительных анализов электрофильных соединений. Обладает компьютерно - оптимизируемым ионным источником и системой магнитных линз. Быстрый и чистый (150 л/ с) турбомолекулярный насос обеспечивает прекрасный вакуум для химической ионизации и возможность работы с насадочными колонками в течение 5 минут после включения. Диапазон масс расширен до 900 Дальтон. Расширение динамического диапазона достигается при помощи нового вида детектора с низким шумом. Возможность прямого ввода пробы. Возможность использования капиллярных и насадочных колонок. Предусмотрено быстрое автоматическое переключение с режима отрицательной химической ионизации (NCI) на ионизацию электронным ударом (EI) без замены компонентов источника ионов. Имеется возможность прямого подключения концентраторов образцов Purge-and-Trap без дополнительного введения струйного сепаратора. Скорость сканирования составляет 6750АЕМ/ с или 50 сканов/ с, динамический концентрационный диапазон - 106. Работа прибора полностью компьютеризирована. Программное обеспечение имеет встроенные автоматические функции для включения / выключения системы, полной автоматизации анализов, а также обеспечения требований GLP, TO 14, EPA методов 500, 600, и 8000.
 67.  Квадрупольный масс-спектрометр с тройным фильтром Hiden EPIC 1000 (Analytical)
Предназначен для высокоточных научных исследований, анализа положительных и отрицательных ионов, нейтралей и радикалов в широком диапазоне применений, включая изучение таких процессов как электронно-стимулированное осаждение, фотон стимулированное осаждение и термическое осаждение. Мощный микропроцессор Hiden HALV обеспечивает скорость развертки до 500 каналов/ секунду, а встроенная программа синхронизации позволяет совместить данные масс-спектрометрии с сигналами встроенной системы ввода/ вывода, например, с термопарами.
Яскин Александр Сергеевич, тел. (383) 306-66-12, e-mail: yas@nsu.ru
 68.  Спектрофлюориметр ФЛЮОРАТ-02-ПАНОРАМА (Люмэкс)
Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также воздухе, почве, технических материалах, продуктах питания. Область применения анализатора - аналитический контроль объектов окружающей среды, санитарный контроль, контроль технологических процессов, а также научные исследования. Прибор может быть использован в качестве автоматического детектора при исследовании спектров возбуждения и регистрации люминесценции, и изучения фотометрических характеристик и характеристик фосфоресценции. Прибор укомплектован приставками, снабженными волоконно-оптической линией связи и позволяет проводить исследования люминесценции и рассеяния света от твердых, сыпучих и замороженных образцов.
 69.  Спектрофлюориметр FluoroMax-3 (Horiba)
Предназначен для исследования состава и структуры вещества. Имеет в своем составе: источник возбуждающего света (150 Вт ксеноновая лампа), спектрометры возбуждения и эмиссии, модуль для измеряемого образца с детекторами сравнения и эмиссии. Спектрофлуориметр подсоединен к компьютеру IBM-PC с соответствующим программным обеспечением. Графическое представление результатов обеспечивается программой Origin 7. 0.
Выгодина Татьяна Владимировна, e-mail: vygodina@belozersky. msu.ru
 70.  Поточный анализатор металлов АРП-1Ц (Техноаналитприбор)
Предназначен для измерения содержания элементов в рудах, шихте, пульпе флуоресцентным рентгено-радиометрическим методом, в основе которого лежит зависимость плотности потока характеристического рентгеновского излучения элементов в зависимости от их концентраций. Анализ шихты на этапе дробления необходим для входного контроля руды. На этапе флотации требуется производить анализ пульпы для управления количеством флотирующего вещества. АРП-1Ц используется также для контроля содержания химический элементов в отвальных хвостах и готовом концентрате.
 71.  Квадрупольный жидкостный хромато-масс-спектрометр LCMS-2020 (Shimadzu)
Предназначен для работы в составе систем быстрой жидкостной хроматографии, обеспечивает непревзойденные на сегодняшний день скорость и чувствительность анализа. Применение масс-селективного детектора вместо традиционных LC-детекторов существенно повышает надежность идентификации и количественного определения компонентов. Технология UFswitching для переключения режимов регистрации положительных и отрицательных ионов 15 мс, что позволяет регистрировать самые узкие пики в режиме сверхбыстрой ВЭЖХ; идеальна при анализе неизвестных субстанций; технология UFsensitivity: превосходная чувствительность для работ в режиме быстрой хроматографии; система ионной оптики Qarray обеспечивает великолепную воспроизводимость результатов, широчайший линейный диапазон и высокую чувствительность; технология UFscanning: сверхвысокая скорость сканирования, что позволяет работать на сверхвысокой скорости сканирования, (до 15 000 аем/ с) без потерь чувствительности и разрешения системы.
Дежурный оператор, тел. (818) 228-70-06, e-mail: brovko-olga@rambler.ru
 72.  Полусферический анализатор энергии электронов PHOIBOS 225 (SPECS)
Предназначен для спектроскопии XPS, UPS, AES и ISS. Благодаря модульной конструкции, прибор может быть легко адаптирован под конкретные задачи. Современная электронная оптика, включающая высокоэффективные корректоры краевого поля во входной и выходной линзах, обеспечивает превосходное разрешение на очень низких кинетических энергиях. Обеспечивает возможность снятия угловой зависимости при исследовании валентной зоны. Режим работы с малым размером пятна.
 73.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-II (Quantera)
Обеспечивает высокую чувствительность и необходимый инструментарий для применения РФС метода практически ко всему спектру существующих образцов, а также в анализе отказов. Среди его возможностей − высокопроизводительная спектроскопия микрообласти по всем элементам кроме H и He, профилирование ионной пушкой, картрирование, автоматизированный анализ диэлектриков и др. Минимальная область сканирования 9 мкм. Полная автоматизация системы упрощает эксплуатацию и повышает воспроизводимость результатов измерений. Большой размер столика образцов позволяет анализировать действительно крупные образцы из реального мира автоматически или сразу несколько мелких образцов. Принцип работы: В методе РФС в качестве первичного источника возбуждения используется мягкое рентгеновское излучение, а наряду с Оже-электронами регистрируются фотоэлектроны, непосредственно вырываемые рентгеновскими квантами с внутренних оболочек атомов. Поскольку энергетическое положение фотоэлектронных линий очень чувствительно к химическому окружению атомов, составляющих исследуемое вещество, данный метод широко применяется для исследования химического состава.
 74.  Масс-спектрометр MALDI Ultraflextreme (Bruker)
Позволяет решать комплексные задачи протеомики, дополняя имеющееся оборудование для жидкостной хромато-масс-спектрометрии. Прибор позволяет исследовать очень большие белки, до 300 кДа; использовать стандартный bottom-up подход, определяя значения масс пептидов после проведения специфического протеолиза; повышать достоверность идентификации белков, получая спектры фрагментации отдельных пептидов; использовать top-down подход для получения информации о C и N концевых остатках аминокислот интактного белка; выявлять пост-трансляционные модификации с определением их природы и места ковалентного связывания. Уникальной особенностью приборя является возможность использования метода MALDI молекулярной визуализации, который сразу был окрещён методом молекулярной гистологии. Суть метода заключается в специальной подготовке среза изготовленного на криостатирующем микротоме для последующего его использования в МАЛДИ-массспектрометрии. Масс-спектрометр последовательно получает спектрограмму для каждой точки препарата (с разрещением до 50 мкм), которая отражает весь набор присутствующих в данной точке веществ, сохраняя, таким образом, информацию как о локализации биомаркера, так и о его природе.
 75.  Автоматизированный электронный спектрометр для химического анализа (ЭСХА) при нормальных условиях EnviroESCA (SPECS)
Новейшая интеллектуальная система EnviroESCA позволяет выйти за рамки стандартного РФЭС анализа, работая при давлениях гораздо выше вакуума. EnviroESCA идеально подходит для повседневного рутинного анализа, где требуется высокая скорость и простота оборудования, а также предоставляет широкие возможности для медицинских технологий и биотехнологий. Система позволяет сильно сократить время между загрузкой образца и измерением и работает с жидкостями, биологическими тканями, пластиками и фольгой, порошками, почвой, цеолитами, камнями, минералами и керамикой.
Ответственный, тел. : (495) 333-3325, e-mail: office@siplus.ru
 76.  Ручная зондовая измерительная станция MST-5500B (MS TECH)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений DC: IC и CV и др. Станция подходит для целей исследования и разработки, а также обучения по технологиям ИС на одиночных образцах. Идеальный прибор для согласования нагрузок и замера ВЧ-шумов. Устойчивая плита, допускающая установку микропозиционеров. Стереомикроскоп с увеличенем 90х или CCD цифровой микроскоп с увеличением 400х. Цифровая камера 40M или FULL HD 210M.
 77.  Ручная зондовая измерительная станция MST 4000A (MS TECH)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений DC: IC и CV и др. Станция подходит для целей исследования и разработки, а также обучения по технологиям ИС на одиночных образцах. Идеальный прибор для согласования нагрузок и замера ВЧ-шумов. Стереомикроскоп с увеличенем 90х или CCD цифровой микроскоп с увеличением 400х. Цифровая камера 40M или FULL HD 210M.
 78.  Ручная зондовая измерительная станция MST-2000A (MS TECH)
Предназначена для прецизионного анализа подложек и полупроводниковых пластин размером до 100 мм. Данные станции подходят для измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характериатик. Эргономичный дизайн позволяет быстро позиционировать образец в ручную. Тестирование на образцах (пластинах) до 100 мм (столик 100мм). Устойчивая плита, допускающая установку микропозиционеров. Размер плиты 400 мм (ш) X 300мм (г) X 20 мм (в). Микроскоп с увеличенем 90х.
 79.  Автоматический спектроскопический эллипсометр SENDURO® (SENTECH Instruments)
Предназначен для измерения на пластинах до 300 мм. Система позволяет измерять толщину пленок в диапазоне от нескольких ангстрем до 50 микрон. Установка оснащена роботом для загрузки пластин из кассеты в кассету. Высокая стабильность и точность при измерения. Высокая скорость измерения образцов. Измерение толщин пленок от 1 нм. до 10 000 нм. (ультра-тонкие пленки). Измерение оптических характеристик пленок. Полностью автоматическое выравнивание образца при измерении. Измерения на прозрачных и поглощающих подложках. Управление нажатием кнопки. Удобное программное обеспечение SpectraRay/ 4.
 80.  ИК-Фурье спектроскопический эллипсометр SENDIRA (SENTECH Instruments)
Предназначен для проведения эллипсометрических измерений в диапазоне MIR (средняя ИК-область) с возможностью измерения при разных углах падения луча (угловое разрешение 0, 005º , шаг 0, 01º ) и позволяет использовать моторизованный столик (опция по дополнительному заказу) для проведения измерений по всей поверхности образца в автоматическом режиме (сканирование – mapping).
 81.  Спектроскопический эллипсометр SENresearch 4. 0 (SENTECH Instruments)
Предназначен для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
 82.  Спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр SENpro (SENTECH Instruments)
Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
 83.  Мобильный анализатор X-5000 Mobile XRF (OLYMPUS)
Предназначен для полевого экспресс анализа геохимического и минералогического состава материалов. Применения: геологоразведка, контроль сортности руды и процесса переработки, экологический мониторинг. Одновременное определение более 29 элементов за секунды в руде, керне, почве, хвостах, концентратах, отходах, пульпе, металлах. Mg-Pu, ppm-100%, включая тяжелые, токсичные, легкие металлы, редкие земли, драгметаллы и их спутники. Обновленная версия с дрейфовым детектором и новым ПО для горногеологических приложений обеспечит наилучшие аналитические характеристики по всей Периодической таблице. X-5000 Mobile XRF – полевой анализ на уровне лаборатории, идеальное решение для полевого анализа драгметаллов и элементов спутников, а также La, Ce, Pr, Nd, Y, Th, Nb.
 84.  Терагерцовый спектрометр T-Spectralyzer (Baumer Hubner)
Предназначен для аналитики и контроля качества. Для работы этого мобильного устройства необходима только электросеть и ничего больше. Благодаря новейшим технологиям Hubner T-Spectralyzer не требуется дополнительное охлаждение или внешнее газоснабжение. Индивидуальные дополнительные модули и интуитивное меню пользователя помогают вам провести оптимальные измерения, обработать и экспортировать данные. Анализ проб производится за несколько секунд без их разрушения и касания. При этом существует возможность автоматизировать прибор на определенные действия, что позволяет проводить серию измерений с невысокой потребностью в персонале.
 85.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 (JEOL)
Позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.
 86.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 (JEOL)
Позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.
 87.  Оже-микрозондовый спектрометр JAMP-9510F (JEOL)
Обладает самой высокой пространственной разрешающей способностью в мире. Его совершенная электронно-оптическая система позволяет достигать разрешения 3 нм в режиме изображения во вторичных электронах и 8 нм в режиме оже-анализа. Данный микрозонд позволяет получать изображение поверхности образца, используя высокоразрешающий режим вторичных электронов, оценивать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи энергодисперсионного спектрометра или оже-анализатора, а также изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов.
 88.  Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F (JEOL)
Предоставляет возможность не только получать точные результаты количественного анализа, но и регистрировать отличного качества изображения поверхности образца. Разрешение JXA-8530F в режиме регистрации вторичных электронов составляет 3 нм на аналитическом рабочем отрезке 11 мм, что является прекрасным показателем для микрозонда. Также этот прибор позволяет исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа.
 89.  Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 (JEOL)
Предназначен для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодо-люминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов. Ключевыми преимуществами электронно-зондового микроанализатора над растровыми электронными микроскопами являются: высокая стабильность ускоряющего напряжения и тока пучка; высочайшая стабильность и точность перемещения столика образцов; Возможность работы в полностью автоматическом режиме: оператор днем задает точки анализа, микроанализатор ночью собирает данные; высокая чувствительность по следовым элементам; высокая производительность, благодаря одновременной работе до 5 волновых и одного энергодисперсионного спектрометров.
 90.  Волоконно-оптическая система рамановской спектроскопии MiniRam (B& W Tek)
Система рамановской спектроскопии MiniRam с термо-электрическим (TE) охлаждением является уникальным и удобным для транспортировки прибором, обладающим небольшими размерами и весом. Спектрометр позволяет проводить изучение различных методов комбинационного рассеяния для анализа материалов. Сочетая в себе лазер, выполненный по запатентованной технологии CleanLaze® с термоэлектрическим охлаждением приемника излучения, MiniRam обеспечивает лучшую точность и воспроизводимость в своем классе.
 91.  Волоконно-оптическая система рамановской спектроскопии i-Raman EX (B& W Tek)
Является расширением нашего портативного спектрометра комбинационного рассеяния света i-Raman, оснащенного лазером запатентованной технологии CleanLaze® с возбуждающим излучением на длине волны 1064 нм. Благодаря высокой чувствительности матрицы детектора с глубоким ТЕ охлаждением и высокому динамическому диапазону, этот портативный спектрометр комбинационного рассеяния света обеспечивает высокое отношение сигнал-шум, что делает возможным измерить широкий спектр биологических образцов без возбуждения флуоресценции. Рамановский спектрометр i-Raman EX обеспечивает спектральное разрешение до 9. 5 см-1 в спектральном диапазоне 100 - 2500 см-1, что позволяет покрыть всю необходимую для точной идентификации спектральную область.
 92.  Высокочувствительный оптоволоконный рамановский спектрометр высокого разрешения с усиленным охлаждением i-Raman Pro (B& W Tek)
Является одним из победителей линейки портативных спектрометров i-Raman, построенных по современной технологии малогабаритных спектрометров. Данный спектрометр оснащен охлаждаемым ПЗС-детектором (до -25˚С) и обладает широким динамическим диапазоном. Этот портативный рамановский спектрометр обеспечивает улучшенное отношение сигнал/ шум в течение 30 минутного времени интегрирования, что позволяет проводить измерение слабых рамановских сигналов. Особенность i-Raman Pro заключается в уникальной комбинации широкого спектрального диапазона и высокого разрешения с настройкой измерения в диапазоне от 65 см-1 до 4200 см-1, и позволяет измерять линии, растянутые до 3100 см-1. Компактный дизайн, объединенный с планшетным компьютером с технологией touch screen, позволяют проводить исследования в любом месте.
 93.  Высокочувствительная высокоразрешающая волоконно-оптическая система рамановской спектроскопии i-Raman Plus (B& W Tek)
Обеспечивает улучшенное отношение сигнал/ шум, время интегрирования до 30 минут, что позволяет измерять слабые сигналы. Позволяет проводить измерения в интервале шириной 3100 см-1. Компактные размеры, легкий вес и низкое энергопотребление дают возможность проводить исследования комбинационного рассеяния в любом месте. i-Raman Plus поставляется с волоконно-оптическим зондом и может использоваться совместно с держателем зонда с трех-позиционным XYZ столиком, кюветами для измерения жидких образцов, а также с нашим собственным мульти вариантным программным обеспечением BWIQ. Благодаря системе i-Raman Plus Вы сможете проводить высокоточный качественный и количественный анализ.
 94.  Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH)
Предназначен для измерений пленок под различными углами. Разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Длина волны эллипсометра - 632, 8 нм; Диапазон длины волны рефлектометра - 450-920 нм. ; Диапазон измерения толщины пленок с эллипсометром: 1 нм до 6000 нм. ; Диапазон измерения толщины пленок с рефлектометром: 50 нм до 25000 нм.
 95.  Полностью автоматическая зондовая станция MPI TS2500 (MPI)
Автоматизированная зондовая станция для пластин размером до 200 мм. Предназначена для проведения серийных испытаний на высокой частоте
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 96.  Полуавтоматическая зондовая станция MPI TS2000SE (MPI)
Предназначена для проведения точных и надежных измерений на постоянном токе и постоянном напряжении, измерений на высокой частоте и высокой мощности, тренировки полупроводниковых устройств на пластине – испытания на термостойкость, на воздействие холода, продолжительные испытания.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 97.  Полуавтоматическая зондовая станция MPI TS2000 (MPI)
MPI TS2000 Полуавтоматическая зондовая измерительная станция, 200 мм. Специализированные конструктивные решения станции TS2000 направлены на удовлетворение требований рынка передовых процедур тестирования полупроводников (Advanced Semiconductor Test). Станция полностью совместима со всей системной оснасткой, выпускаемой компанией MPI. В основном, она разработана для анализа сбоев, проверки соответствия конструкции заданным требованиям, технологии ИС, надежности конструкции на уровне полупроводниковой пластины, а также особым требованиям, предъявляемым к измерениям устройств МЭМС, сигналов высокой мощности, высокочастотных сигналов и сигналов миллиметрового диапазона. Станция TS2000 поддерживает температурный режим (от температуры окружающей среды до высоких температур) и способна обрабатывать до 10 кристаллов в секунду в зависимости от окончательной конфигурации, предоставляя, таким образом, идеальный выбор для проведения электрических испытаний опытных образцов перед началом производства, например, на дискретных ВЧ устройствах.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 98.  Ручная зондовая станция MPI TS150HP (MPI)
Предназначена для тестирования устройств высокой мощности на полупроводниковой пластине. Обеспечивает реализацию технического решения для измерений на пластине с расстоянием до 150 мм и 200 мм. Позволяет успешно выполнять измерения низкого контактного сопротивления мощных полупроводниковых устройств в широком температурном диапазоне.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 99.  Ручная зондовая станция MPI TS200SE (MPI)
Зондовая станция MPI TS200-ShieldEnvironment™ (TS200-SE) разработана с возможностью обеспечения защиты от электромагнитных излучений, радиочастотных помех, выполнения светоустойчивых, малошумных измерений с малой утечкой в температурном диапазоне от -60 до 300° C, включая снятие параметров структур на этапе моделирования, высокочастотные измерения и измерения в миллиметровом диапазоне, анализ отказов, надежность на уровне кристалла подложки, подтверждение правильности проектного решения и моделирование устройств высокой мощности.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 100.  Ручная зондовая станция TS50 (MPI)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/ CV), высокочастотных (RF) сигналов. Станция подходит для целей исследования и разработки, а также обучения по технологиям ИС на одиночных образцах. Идеальный прибор для согласования нагрузок и замера ВЧ-шумов. - Эргономичный дизайн - Надежная и стабильная конструкция при небольших (300х300 мм) размерах подставки - Устойчивая платформа, допускающая установку до 6 DC или 2 RF-позиционеров - Легкое позиционирование штатива и микроскопа - Русскоязычное ПО
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 101.  Ручная зондовая станция TS150-THZ (MPI)
Предназначена для точных измерений в миллиметровом и терагерцовом диапазонах. Конструкция станции обеспечивает механическую стабильность. Ее работа осуществляется без подъема держателя на частотах, выше 220 ГГц. Она имеет уникальные функции подъема держателя и платформы, аналогично ручным зондовым станциям TS-150, TS-200, разработанным компанией MPI
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 102.  Ручная зондовая станция TS150 (MPI)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/ CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 103.  Портативный спектрометр PMI-MASTER ASR (Oxford Instruments)
Предназначен для выполнения рутинных работ по сортировке и входному контролю на месте. По ряду аналитических параметров не имеет аналогов в мире. Небольшой вес и возможность работы от аккумулятора делают прибор незаменимым помощником при работе в полевых условиях. Идеальный прибор для оперативной разбраковки металлов, когда необходим анализ содержания углерода. Благодаря уникальной системе обтекания электрода аргоном Jet Stream анализатор легко без адаптеров работает с прутками, проволокой и объектами с неровной поверхностью. Анализируемая продукция: все виды сталей, чугуны, а также медные, титановые, никелевые, алюминиевые, цинковые, оловянные и свинцовые сплавы.
 104.  Мобильный спектрометр TEST-MASTER ASR/ UVR (Oxford Instruments)
Предназначен для анализа состава и структуры низколегированной стали, чугуна, высоколегированного чугуна, нержавеющие (Cr-Ni) стали, инструментальные стали, Mn-стали. Медные, титановые, никелевые, алюминиевые, цинковые, оловянные и свинцовые сплавы. На базе спектрометра TEST-MASTER ведущие мировые металлургические комбинаты строят автоматизированные системы для анализа химического состава проката в режиме реального времени прямо на конвейере. Система обработки данных: современный встроенный промышленный компьютер, возможность подключения внешней клавиатуры и мыши, порты: RS232, USB, сетевая плата.
 105.  Спектрометр рентгеновский многоканальный СРМ-35 (НП-О)
Обеспечивает высокие аналитические требования мирового уровня по точности и чувствительности, быстродействию и надёжности. Многофункциональное программное обеспечение позволяет удобно и эффективно проводить анализ, осуществлять настройку и тестирование состояния прибора. Оптимальное и эффективное применение в металлургии, горнодобыче, машиностроении, производстве стройматериалов, энергетике для качественного и количественного (точного) определения концентраций химических элементов.
 106.  Спектрофлуориметр F-7000 (Hitachi)
Предназначен для работы в режиме флюоресценции, фосфоресценции и люминесценции, с жидкими и полимерными образцами. Система характеризуется высокой чувствительностью (соотношение сигнал/ шум 800 : RMS) и очень высокой скоростью сканирования (60 000 нм/ мин) и представляет собой прибор высочайшего уровня в своем классе; регистрации спектров фото-люминесценции в области 300-800 нм в широком температурном диапазоне (77-350 К).
 107.  Система измерения фазовых пленок Elli-Ret (Ellipso Technology)
Предназначена для анализа сильных, слабых и нулевых фазовых пленок. Данный прибор определяет оптические оси, параметры Rin и Rth фазовых пленок и пропускание или оси затухания поляризационных пленок. Измеряемые константы: фазы (Rin, Rth), оптические оси, (nx, ny, nz), угол β ; Диапазон толщин: 10 нм – 50 мкм (зависит от типа пленки); Производительность: < 25 с на точку; Повторяемость: < 0. 005 нм (Rin).
 108.  Спектральный рефлектометр Elli-RP (Ellipso Technology)
Предназначен для надежного, быстрого и точного измерения толщин пленок в различных технологических процессах. Измеряемые константы: толщина пленки, n, k через λ , отражательная способность; Диапазон толщин 10 нм ~ 50 мкм (зависит от типа пленки); Число слоев: до 3 слоев (зависит от типа пленки); Производительность 0. 5 с на точку (зависит от типа пленки); Повторяемость ± 1Å при измерении 10 раз; Рабочее расстояние: 100 / - 50 мм
 109.  Спектральный рефлектометр с интегрирующей сферой Elli-RI (Ellipso Technology)
Предназначен для высокоточных измерений толщин пленок. Хорошо подходит для измерения характеристик различных материалов, особенно антибликовых покрытий SiN, нанесенных на текстурированные мульти-кристаллические и / или моно-кристаллические кремниевые солнечные элементы. Диапазон длин волн: 400 ~ 950 нм; Размер светового пятна: 4 мм; Измеряемые константы: отражательная способность, толщина пленки, n, k через λ ; Диапазон толщин: 10 нм – 50 мкм (зависит от типа пленки); Число слоев: до 3 (зависит от типа пленки); Производительность: < 1 с на точку (зависит от типа пленки); Повторяемость: ± 0. 3 нм за 10 измерений (зависит от типа пленки).
 110.  Спектрометр с компенсацией астигматизма S150-2 (СОЛАР ТИИ)
Предназначен для спектрального анализа излучения, состоит из двух спектрографов (каналов), конструктивно расположенных в одном корпусе. Каждый из спектрографов построен по оригинальной вертикально-симметричной оптической схеме с относительным отверстием 1/ 9. 3 и фокусным расстоянием 158 мм. Благодаря использованию вертикально-симметричной оптической схемы спектрометр имеет низкий уровень рассеянного света и высокое качество изображения на плоском поле.
 111.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 (Shimadzu)
Прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld. Качественный и количественный анализ с использованием баз данных PDF-2.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 112.  Спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian) с криогенной системой Fast Track Optistat DN
Предназначен для записи спектров флуоресценции, фосфоресценции, хемо- и биолюминесценции органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах. В режиме фосфоресценции сбор данных проводится каждую микросекунду. Чувствительность Сагу Eclipse позволяет определять пикомольные концентрации в пробах малого (0. 5 мл в стандартной кювете) объема. Геометрия горизонтального пучка обеспечивает максимальную эффективность светоотдачи освещенной части пробы, а применение оптики Шварцшильда - максимальную эффективность использования источника света. Малые размеры (60 х 62. 5 х 27. 5 см) облегчают установку и работу прибора в лабораторных условиях, а большое кюветное отделение (19. 8 х 27. 3 х 20. 5) позволяет без проблем устанавливать в прибор различные приставки и нестандартные образцы. Сагу Eclipse создан с применением полностью отражающей оптики с кварцевым покрытием. Как и во всех спектрофотометрах серии Сагу, оптические компоненты смонтированы на трехмерной стальной базе для повышенной стабильности при проведении измерений.
Кодесс Михаил Исаакович, тел. : (343) 341-57-55, e-mail: nmr@ios. uran.ru
 113.  Спектроскопический рефлектометр Elli-RS (Ellipso Technology)
Предназначен для измерения в режиме реального времени толщин тонких пленок и оптических констант (n и k) с очень небольшим размером пятна, что используется для определения характеристик различных материалов (например, диэлектриков, полупроводников, органики и т. д. ). Это может быть весьма полезно для определения характеристик образца больших размеров с нанесенной локальной моделью.
 114.  Спектральный эллипсометр Elli-SE (Ellipso Technology)
Предназначен для измерения толщины тонких пленок и оптических показателей (n и k). Спектроэллипсометр используется для определения характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других. Является отраслевым стандартом для исследования сложных многослойных структур, используется всей полупроводниковой промышленностью и производителями топ-дисплеев. Это мощная и надежная оптическая технология позволяет получать информацию об амплитудных и фазовых изменениях в широком спектральном диапазоне. Эллипсометрические измерения позволяют определять оптические показатели многих сложных пленок, в том числе OLED пленок, антибликовых покрытий, солнечных ячеек и пленок с низкими и высокими значениями оптических констант и т. д. Особенности
 115.  Рамановский спектрометр высокого разрешения i-Raman Pro (B& W Tek)
Обеспечивает улучшенное отношение сигнал/ шум в течение 30 минутного времени интегрирования, что позволяет проводить измерение слабых рамановских сигналов. Может выполнять анализ, используя встроенное программное обеспечение BWSpec, или при подключении к ПК. Комбинации широкого спектрального диапазона и высокого разрешения с настройкой измерения в диапазоне от 65 см-1 до 4200 см-1, и позволяет измерять линии, растянутые до 3100 см-1. Компактный дизайн, объединенный с планшетным компьютером с технологией touch screen, позволяют проводить исследования в любом месте.
 116.  Спектрометр кругового дихроизма (дихрометр) СКД-2МУФ (ОЭП ИСАН)
Предназначен для регистрации спектров кругового дихроизма и определение в жидкости концентрации биологически активных веществ и наночастиц. Рабочий диапазон 190 - 800 нм, минимально обнаружимый круговой дихроизм – 10-6 (Δ А/ А), пределы биосенсорного определения биологически активных соединений 10-7 ÷ 10-14 М/ л.
 117.  ИСП-спектрометр высокого разрешения Ultima Expert (Horiba)
Предназначен для решении наиболее сложных задач, недоступных для обычных ИСП-систем. Оптическая система с высокой светосилой, запатентованная система плазменного блока и горелка, оптимизированная для распыления растворов с высокой засоленностью, детектор с увеличенным динамическим диапазоном (HDD) – все эти особенности обеспечивают максимально возможные аналитические характеристики спектрального анализа. Как результат, по своим параметрам Ultima Expert превосходит любой из представленных на рынке аналогов.
 118.  Рамановский спектрометр HR 800 (Horiba Jobin Yvon)
Идентификация твёрдых веществ (включая минералы), жидкостей, газов; Фазовая диагностика включений в минералах (твёрдые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения); Оценка степени кристалличности вещества, структурного состояния; Исследование изоморфизма и полиморфизма. Спектрометр оборудован встроенным стандартным He-Ne лазером (Pmax = 20 мВт, l = 632. 8 нм, красный цвет). Уникальный ахроматический спектрограф Черни-Тернера с фокальным расстоянием F=800 мм позволяет работать при соблюдении высочайшего оптического разрешения 0. 3 см-1. Спектрометр укомплектован двумя стандартными решётками 600 ш/ мм и 1800 ш/ мм. Спектрограф спектрометра LabRam HR 800 позволяет сканировать диапазон 450-950 нм для решётки 1800 ш/ мм и 450-2850 нм для решётки 600 ш/ мм. Спектральное разрешение прибора зависит от решётки и диапазона регистрации спектра, который, в свою очередь, простирается от длины волны возбуждающего лазерного излучения в длинноволновую область.
Михеев Геннадий Михайлович, тел. (3412) 21-89-55, e-mail: mikheev@udman.ru
 119.  Портативный XRF анализатор металлов DELTA Element (Olympus Innov-X)
Предназначен для быстрого и высокоточного анализа металлов (от титана Ti и выше), а также драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd, Rh, Ir). Имеет широкие возможности и прочный дизайн, присущий приборам серии DELTA. Быстрая окупаемость анализатора для металлов Delta Element обеспечивается благодаря высокой скорости анализа и идентификации марки сплава.
 120.  Квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 C (Netzsch)
Предназначен для совместной работы с ДСК, ТГ, СТА- анализаторами и дилатометрами. Возможность работы всей газовой системы до температуры 300° C. Система регулируемой подачи газа, совмещенная с низкореакционным кварцевым капилляром и ионным источником с ультразвуковым излучателем. Интегрированное с масс-спектрометром программное обеспечение Proteus® существенно облегчает пользователю проведение исследований в области термического анализа.
 121.  Спектрометр с компенсацией астигматизма SL40-2 (Solar TI)
Малогабаритный двухканальный анализатор спектра. Имеет в своем составе два независимых спектральных канала (спектрографа), конструктивно расположенных в одном корпусе, и встроенный линейный детектор. Каждый из спектрографов построен по оригинальной оптической схеме с использованием асферических зеркал и ахроматизированных объективов. Спектрографы имеют фокусное расстояние 40 мм и относительное отверстие 1/ 4. 9.
 122.  Волоконно-оптическая система рамановской спектроскопии MiniRam (B& WTek)
Предназначен для изучения различных методов комбинационного рассеяния в процессе анализа материалов. Сочетая в себе лазер, выполненный по запатентованной технологии CleanLaze® с термоэлектрическим охлаждением приемника излучения, MiniRam обеспечивает лучшую точность и воспроизводимость в своем классе.
 123.  Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-752 (ИФП СО РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров.
Ломухин Юрий Лупонович, e-mail: lom@ipms. bscnet.ru, тел. : (301) 243-38-41
 124.  Ручная зондовая станция TS200 (MPI)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/ CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности.
infos@tbs-semi.ru
 125.  Портативный рентгенофлюоресцентный анализатор состава вещества РЛП-3-03 (НИИТФА)
Предназначен для оперативного анализа металлов и сплавов, а также многоэлементный анализ металлов, сплавов и изделий на их основе, определение содержания химических элементов от алюминия до нептуния в веществах, находящихся в твердом (образцы горных пород, руд и др. ), порошкообразном (образцы руд, концентратов, продуктов порошковой металлургии и др. ) и жидком (неагрессивные жидкости) состояниях.
 126.  Вакуумный эллипсометрический комплекс ВЭК-600 (ЛЭПМиС)
Предназначен для исследования оптических свойств тонкоплёночных структур в широком диапазоне температур, адсорбционно-десорбционных и других процессов, обусловленных взаимодействием атомарно чистой поверхности с газовой фазой. Комплекс состоит из быстродействующего лазерного эллипсометра, сопряженного с вакуумной камерой, оснащенной системой откачки, напуска газов, терморегулирования и контроля параметров.
 127.  Эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-101 ЭЛХ (НПК ЦН)
Предназначен для in situ диагностики поверхности металлов и полупроводников методом быстродействующей эллипсометрии в процессах электрохимического окисления и роста тонкопленочных оксидных структур. Работа комплекса основана на измерении эллипсометрических параметров во времени, на базе которых могут быть в деталях описаны свойства отражающей системы, такие как: толщина растущей оксидной пленки и ее оптические характеристики, наличие рельефа оксидной пленки и подложки, образование пористой структуры анодного оксида.
 128.  Рентгеноспектральный микроанализатор MICROBEAM (Cameca)
Предназначен для качественного и количественного анализа состава материала в микрообъеме порядка 1-3 к3 на все элементы таблицы Менделеева, начиная с бора. Определение состава тонких пленок с толщиной от 50 нм. Получение профилей (распределения) элементов в многослойных структурах.
 129.  Мобильный спектрометр для анализа металлов SPECTROTEST (Spectro Analytical Instruments)
Предназначен для измерений массовой доли элементов в сталях, сплавах на основе меди, алюминия, никеля; для проведения сортировки и идентификации материалов в производственных и лабораторных условиях.
 130.  Квадрупольный масс-спектрометр 8800 Triple Quadrupole ICP-MS (Agilent Techologies)
Благодаря новейшим комплектующим и разнообразным приставкам, масс-спектрометр имеет высокую чувствительность при низком уровне фона. Все характеристики данного анализатора в значительной степени превосходят параметры аналогичных квадрупольных ИСП-МС анализаторов. Специально разработанная тандемная конфигурация прибора предназначена для МС-МС для контроля процессов, протекающих в октапольной ячейке реакционной системы третьего поколения (ORS3). Путем перенаправления ионов в реакционную ячейку достигаются поразительно точные результаты исследований даже тогда, когда состав матрицы неоднороден и может изменяться от пробы к пробе.
 131.  Масс-спектрометр MALDI-TOF Autoflex II (Bruker)
Предназначен для идентификации и проведения комплексного анализа пептидов, белков, олигонуклеотидов в биологических жидкостях и тканях организма человека и животных.
 132.  Установка фотоэлектронной и оже-электронной спектроскопии Multitecnique PHI-5500 (PHYSICAL ELECTRONICS)
Предназначена для фотоэлектронной спектроскопии (ЭСХА, РФЭС), оже-электронной спектроскопии (ОЭС) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ). В методе РФЭС исследуемая плоская поверхность образца облучается ренгеновским пучком с энергией квантов 1, 2 или 1, 5 кэВ, при этом анализируется энергетический спектр выбитых в вакуум вторичных электронов (внешний фотоэффект). Среди вторичных электронов выделяются электроны, возбужденные поглотившимся рентгеновским квантом с остовных уровней атомов образца или из делокализованных состояний и не испытавшие неупругих рассеяний в процессе их транспорта в вакуум. Такие электроны имеют вполне определенные кинетические энергии, спектр которых измеряется электростатическим анализатором.
 133.  Квадрупольный масс-спектрометр QMS 403 C Aë olos (Netzsch)
Предназначен для разделения ионов исследуемого вещества по величинам m/ z, измерение этих величин и токов раз-деленных ионов. Метод анализа вещества, основанный на определении отношения массы к заряду ионов m/ z, обра-зующихся при ионизации пробы материала (взвешивание молекул вещества).
С. В. Куцев, тел. (495) 718-16-55, е-mail: kutsev@yandex.ru
 134.  Электронно-зондовый микроанализатор Superprobe-733 (JEOL)
Предназначен для получения изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава
Финкельштейн Александр Львович, тел. (3952) 42-95-79
 135.  Рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр VRA-30 (Carl Zeiss)
Предназначен для качественного и количественного анализа элементов от натрия до урана в твердых, жидких и сыпучих образцах. Спектрометр представляет собой стационарную аналитическую установку, состоящую из следующих основных блоков: блок возбуждения; блок спектрометра; электронный блок индикации.
Финкельштейн Александр Львович, тел. (3952) 42-95-79
 136.  Спектрометр рентгеновский многоканальный СРМ-25 (Научприбор)
Оптимальное и эффективное применение в металлургии, горнодобыче, машиностроении, производстве стройматериалов, энергетике для качественного и количественного (точного) определения концентраций химических элементов.
Финкельштейн Александр Львович, заведующий лабораторией, доктор технических наук, раб. тел. (3952) 42-95-79
 137.  Ручная зондовая станция TS150 (MPI Corporation)
Предназначена для точных и воспроизводимых измерений постоянных (DC/ CV), высокочастотных (RF) сигналов и сигналов большой мощности (High Power). Станция имеет широкие возможности применения для таких нужд, как снятие характеристик и моделирование устройств, оценка надежности кристаллов на подложке, анализ дефектов технологии ИС, МЭМС и измерения высокой мощности.
 138.  Синхронный детектор SR 810 (Stanford Research System)
Предназначен для детектирования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов (в том числе полупроводниковых наногетероструктур наоснове III-V соединений) в спектральном диапазоне 185 нм-1700нм с высокимспектральным разрешением (0, 008 нм) и пространственным разрешением до (1 мкм).
 139.  Оже-электронный спектрометр PHI-660 (PerkinElmer)
Анализ элементного состава поверхности и распределение элементов по глубине (отLi до U). Разрешение по глубине 3 нм. Локальность 0, 1 мкм. Чувствительность 0, 1 ~ 1, 0 ат. %.
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 140.  Вторичный ионный масс-спектрометр IMS-4F (CAMECA)
Прибор может работать в двух режимах: Ионный микроскоп: с помощью ионной оптической системы в фокальной плоскости анализатора создаётся отсепарированное по массе ионное изображение поверхности подобно тому, как это происходит в оптическом и просвечивающем электронном микроскопе. Для создания однородной плотности изображения первичный пучок разворачивается в растр. При этом его диаметр может оставаться достаточно большим, что никак не сказывается на латеральном разрешении, которое определяется только настройкой ионно-оптической системы и может достигать 1 мкм. Ионный микрозонд: спектрометр работает по принципу растрового электронного микроскопа, в котором электронный пучок заменён ионным. В этом случае латеральное разрешение определяется диаметром первичного ионного пучка.
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 141.  Хромато-масс-спектрометр Turbomass Golg (PerkinElmer)
Высокоэффективный, исследовательского уровня аналитический квадрупольный масс-анализатор с блоком квадрупольного префильтра пропускает только те ионы, которые выбрали по отношению масса/ заряд. Блок префильтра защищает стержни аналитического квадруполя от загрязняющих ионных налетов. Ионы, выходящие из квадрупольного масс-анализатора, определяются детекторной системой фотоумножителя. Низкошумный фотоумножитель обычно действует с коэффициентом усиления в 105, что увеличивает собранный поток ионов.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 142.  Время-пролетный МАLDI-TOF масс-спектрометр LTQ™ FT (Thermo Finnigan)
Предназначен для наиболее сложных аналитических применений в изучении метаболизма, анализе белков, разработке новых лекарственных средств и других применений, требующих сложных структурных исследований. Высокое разрешение для анализа сложных смесей. Разрешение более 500, 000 (на полувысоте)Одновременное определение точной массы, достижение высокого разрешения и высокой чувствительности на одной декаде масс (например, 200 - 2000 а. е. м. ). Быстрая запись сигнала (1 сек) с высоким разрешением (100, 000 на m/ z 400 а. е. м. ) для беспрецендентного качества работы в режиме ВЭЖХ/ МС. Чувствительность на уровне единиц фемтомоль
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 143.  Квадрупольный хромато-масс-спектрометр TRACE MS Plus (Thermo Finnigan)
Для рутинных работ исследовательского класса, доступный любой лаборатории. Обеспечивает бесподобную гибкость, чувствительность, воспроизводимость и надежность и отвечает жесточайшим требованиям любой аналитической лаборатории.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 144.  Анализатор площади проективного покрытия LAI-2200C (Li-Cor)
Анализатор предназначен для определения площади проективного покрытия образцов растительного происхождения
 145.  Быстродействующий лазерный эллипсометр ЛЭФ-757 (ИФП СО РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и объемных материалов. Измерение параметров производится посредством анализа состояния поляризации отраженного от поверхности образца поляризованного монохроматического пучка света с последующим математическим расчетом физических параметров.
Файзуллин Рашид Робертович, эл. почта: fajzullin. unir@kstu-kai.ru; тел. (843) 238-91-59
 146.  Рентгеновский комплекс X8 PROTEUM (Oxford Instruments)
Предназначен для проведения рентгеноструктурного анализа макромолекул. Комплекс позволяет регистрировать рассеянные с кристаллов рентгеновские лучи и определять структуры как макромолекул (белки, РНК, ДНК, их комплексы), так и небольших органических веществ (лекарств, комплексов металлов с органическими молекулами и т. д. ). Может быть также использован для получения рентгенограмм с упорядоченных волокон и т. п.
Станислав Владимирович Никонов, д. б. н. , профессор, тел. 733-722, эл. почта: nikonov@vega. protres.ru
 147.  Масс-спектрометр вторичных ионов МС-7201М (Электрон) с приставкой ионного травления
Предназначен для определения химического (элементного) состава в микрообъемах. Имеет двухканальный иммерсионный объектив для отбора и фокусировки вторичных ионов, в фокусе которого находится прижатый к первому вытягивающему электроду образец. На первый электрод подается напряжение от 0 до 200 В, на два других соответственно от 0 до - 700 В и от 0 до - 500 В.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 148.  Рентгено-флюоресцентный спектрометр ED-2000 (Oxford Instruments)
Предназначен для экспрессного анализа макро- и микроэлементного состава природных систем. Возможности приборной базы в плане анализа: диагностика валового состава инженерных материалованализ примесей элементов в золах и органических средах; экспрессное аналитическое обеспечение рядового опробования при производстве геолого-разведочных работ; количественное определение валового состава горных пород и руд
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 149.  Тандемный TOF/ TOF масс-спектрометр ultrafeXtreme (Bruker)
Предназначен для анализа биологических и синтетических полимеров. Точность определения масс до 40 000 с точностью 1 ppm с высочайшей достоверностью.
 150.  Настольный квадрупольный масс-спектрометр МС7-800 (ИАП РАН) с ионизацией электронным ударом
Предназначен для количественного анализа состава газовых смесей и смесей летучих жидкостей, содержащих органические примеси сложного химического состава. Прибор может работать в сочетании с любым отечественным газовым хроматографом. В составе хромато-масс-спектрометра может быть использован для массовых анализов в контрольно-аналитических службах экологического и таможенного мониторинга, в диагностических медицинских лабораториях, при контроле технологических процессов, в различных отраслях промышленности.
тел. : (812) 3630719, факс: (812) 3630720, mail: iap@ianin. spb. su
 151.  Квадрупольный хромато-масс-спектрометр TRACE MS plus (Thermo Finnigan)
Позволяет сканировать со скоростью около 11, 000 а. е. м. в секунду. Это открывает новые возможности, например, можно практически одновременно получать полный масс-спектр соединения для его однозначной идентификации и вести селективный мониторинг ионов (SIM), на несколько порядков понижающий предел обнаружения.
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 152.  Флуоресцентный спектрометр с системой измерения времени жизни флуоресценции в пикосекундном диапазоне FL3- 221-NIR (Horiba Jobin Yvon)
Предназначен для стационарных и динамических измерений, измерения времен затухания флуоресценции и фосфоресценции, детекторы для работы в ИК и УФ областях, флуоресцентная микроскопия
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 153.  Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Измерения флуоресценции, фосфоресценции, биолюминисценции, хемилюминисценции биообразцов, жидких и твердых образцов, порошков и монокристаллов. Устройство для быстрого смешивания RX. 2000 (Applied Photophysics)
Пермяков Сергей Евгеньевич, внс, к. ф. -м. н. , 31-89-72 serge@ibp-ran.ru
 154.  Спектрофлуориметр FluoroLog 3 (HORIBA Scientific)
Предназначен для исследования квантового выхода, анализа времени жизни флуоресценции, анизотропии времени жизни, поляризации флуоресценции. Анализ спектров флуоресценции в широком спектральном диапазоне от 200 нм до 5 мкм.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 155.  Мобильный рентгено-флуоресцентный анализатор драгметаллов DXL (Thermo Niton)
Предназначен для точного и быстрого анализа содержания золота, серебра, платины и примесей других металлов в любых ювелирных изделиях, монетах и слитках, отходах ювелирного производства и т. д. Дает возможность провести экспертизу украшений без любых разрушений за считанные минуты. Основные преимущества: повышение надежности и скорости анализа содержания драгоценных металлов, экспресс-анализ подлинности и определения пробы.
 156.  Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Измерения флуоресценции, фосфоресценции, биолюминисценции, хемилюминисценции биообразцов, жидких и твердых образцов, порошков и монокристаллов.
Пермяков Сергей Евгеньевич, внс, к. ф. -м. н. , 31-89-72, e-mail: serge@ibp-ran.ru
 157.  Зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА Вита (НТ-МДТ)
Предназначена для исследований белков, нуклеиновых кислот, вирусов, бактерий, эукариотических клеток и их компонентов, тканей. Конфигурация прибора базируется на инвертированном оптическом микроскопе и включает следующие основные системы и блоки: базовый блок, инвертированный оптический микроскоп, измерительный блок, измерительную головку, оптическое сменное основание, жидкостные ячейки, защитный колпак, систему видеонаблюдения, систему виброизоляции, систему управления, СЗМ контроллер, термоконтроллер, компьютер, интерфейсную плату.
Телефоны: (495) 632-78-68, (4967) 73-26-36, sergeykhaustov@gmail.com
 158.  Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр с ионизацией электроспреем maXis impact (Bruker)
Предназначен для определения точной массы и неискаженного изотопного распределения в режимах MS и MS/ MS со значительно улучшенными в сравнении с аналогичными приборами характеристиками. На сегодняшний день он является единственным прибором, сочетающим высокую скорость сбора данных с высоким разрешением, превосходящим 50 000 FWHM, гарантированной точностью в режимах измерения значений масс, как целых, так и фрагментных ионов в пределах 0. 00008 % и чувствительностью на уровне 1 фмоль.
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@ksu.ru
 159.  Масс-спектрометр MALDI TOF ultrafleXtreme (Bruker)
Предназначен для: Определения массы гомогенного негидролизованного белка или пептида с точностью 0, 5 – 0, 01% Да. Top-down подход: идентификация белков, пробоподготовка включает 2D гели и трипсинолиз в гелеBottom-Up подход: секвенирование последовательности белка de novo. Определение посттрансляционных модификаций. Метод матрично-активированной лазерной десорбции/ ионизации обладает высокой чувствительностью, позволяет работать с гетерогенными образцами.
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@ksu.ru
 160.  Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой ICP-MS NexION 300D NWR213 (Perkin Elmer)
Предназначен для определения изотопного состава Sr, Nd, Pb в горных породах, рудах, природных водах; Rb- Sr, Sm-Nd; геохронология горных пород и минералов
 161.  Оже-микрозонд JAMP-9500F (JEOL)
Сочетает в себе свойства высокоточного Оже-анализатора с энергетическим разрешением (Δ E/ E=0. 05%) и хорошего растрового электронного микроскопа с разрешением во вторичных электронах не хуже 3 нм на 24-миллиметровом рабочем отрезке. Использование термоэмиссионной электронной пушки и высокостабильной электронно-оптической колонны с максимальным током пучка 200 нА открывает широкие аналитические возможности
 162.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ЭМС-3 (ФТИ УрО РАН)
Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах. Относительное энергетическое разрешение спектрометра – 10-4: светосила - 0. 1%, вакуум 10-5 Торр. Чувствительность до доли моноатомного слоя. Время определения концентрации элемента - 10 сек. -доли сек. Рабочий диапазон температур до 1500оС. Глубина анализируемого слоя 3-5 нм.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 163.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс 1891 САГ
Предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке).
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 164.  Последовательный спектрометр S8 Tiger (Bruker)
Оснащен следующими элементами: экран из упрочненного бериллия и колесо с фильтрами, защищающими окно рентгеновской трубки; устройство смены масок и вакуум-затвор защищают камеру гониометра. Все это позволяет при просыпании или проливания пробы на позицию измерения быть уверенным, что это не повредит компоненты системы. Открытый доступ к позиции измерения дает возможность пользователю убрать все загрязнения из камеры. Диапазон определяемых элементов - от Be (4) до U (92). S8 Tiger позволяет определять элементы в образцах, находящихся в различных состояниях- твердом, жидком и порошкообразном. При использовании спектрометра S8 Tiger (для измерения порошков и жидкостей) достаточно продувания гелием только небольшого объема камеры пробы, которое занимает всего несколько секунд. К примеру, в приборах, в которых гелием заполняют всю камеру, измерение может занять приблизительно 15 мин. Преимущества спектрометра S8 TIGER очевидны: быстрое переключение между режимами измерения для жидких, твердых и порошковых проб, низкое потребление гелия, защита измерительной камера с гониометром.
 165.  РФА-спектрометр параллельного действия S8 DRAGON (Bruker)
Обеспечивает точный анализ в области контроля качества в металлургии и литейных цехах. Спектрометр дает возможность проводить высокоточный и скоростной элементный анализ большинства элементов периодической таблицы. Для упрощения работы с прибором и снижения ошибки оператора в спектрометре S8 DRAGON использована система TouchControl™ . Такая система позволяет обеспечить максимальное время безотказной работы за счет нахождения трубки над пробой, что дает возможность защитить спектрометр от высыпания пробы. Конструкция S8 DRAGON обеспечивает быструю бесшовную интеграцию в автоматические линии. Загрузка проб может производиться в магазин спектрометра манипулятором или конвейерной лентой с задней панели спектрометра. Рентгенофлуоресцентный анализ (S8 DRAGON) совместно с оптико-эмиссионной спектрометрией Q8 MAGELLAN дают возможность поднять контроль качества в металлургической промышленности на высокий уровень. В спектрометр встроен порт Ethernet, позволяющий результаты анализа и оптико-эмиссионной спектрометрии направить в систему управления лабораторной информацией (LIMS) или управляющее ПО.
 166.  Лазерный дифракционный анализатор размеров частиц ANALIZETTE-22 модель NanoTec plus (Fritch)
Предназначен для измерения размера частиц в суспензиях, эмульсиях, порошках и аэрозолях
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 167.  Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр Х-50 MLab (Innov-X SyStemS)
Переносной рентгенофлуоресцентный спектрометр улучшенной точности применяется для быстрого элементного анализа в диапазоне от Ti (22) до U (92). Анализирует твердые пробы (сплавы, руду. . . ), сыпучие вещества и порошки, а так же жидкие пробы. Анализ проводится на основе моделей фундаментальных параметров и имеется возможность загрузки эмперических моделей.
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 168.  Многофункцианальный планштный ридер Synergy 4 (BioTek Instruments)
Модульная изменяемая архитектура ридера позволяет определять: интенсивность флюоресценции; флюоресценцию с временным разрешением; поляризацию флюоресценции; быстро (flash-) и медленно (glow-) протекающую люминесценцию; поглощение в УФ и видимой области спектра; FRET (исследование резонансного переноса энергии флюоресценции); TR-FRET (исследование резонансного переноса энергии флюоресценции с временным разрешением); BRET (исследование резонансного переноса энергии биолюминесценции); спектральное сканирование.
Георгиев Павел Георгиевич, тел. : (499) 135-60-89, e-mail: georgiev_p@genebiology.ru
 169.  Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu)
Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U за 2, 5 минуты Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент) Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий Уникальная система пробоподачи образца
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 170.  Зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии.
Абрамович Римма Александровна, тел. : 495 7873803, e-mail: abr-rimma@yandex.ru
 171.  Газовый хроматомасс-спектрометр GCMS-QP2010NC Plus (Shimadzu)
Позволяет проводить разделения при высоких давлениях (до 970 кПа) и высоких скоростях потока газа-носителя (до 1200 мл/ мин), и один из самых быстрых на современном рынке квадрупольный масс-спектрометр с диапазоном регистрируемых масс 1. 5 – 1090 m/ z, максимальной скоростью сканирования 10000 amu/ s и частотой сбора данных 50 сканирований/ сек.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 172.  Анализатор размеров наночастиц IG-1000 plus (Shimadzu)
Предназначен для анализа размера наночастиц в диапазоне 0, 5 - 200 нм
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 173.  Установка микрорентгеноспектрального анализа МАР-2 (Зенит)
Предназначена для микрорентгеноспектрального анализа
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 174.  Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр настольного типа EDX 800 HS (Shimadzu)
Прибор предназначен для определения качественного и количественного состава материала в диапазоне таблицы Менделеева от углерода до урана
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 175.  Анализатор размера частиц Analysette-22 NanoTec (Fritsch)
Предназначен для анализа частиц размером 0, 01 - 1000 нм
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 176.  Экспресс-анализатор углерода и серы в металлах АУС-8144 (Черметавтоматика)
Предназначен для одновременного определения содержания углерода и серы в металлах. Принцип действия анализатора основан на сжигании пробы в потоке кислорода и количественном анализе продуктов сжигания методом инфракрасного поглощения. Результат анализа индицируется на цифровом табло в массовых процентах углерода и серы.
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 177.  Спектрофлюориметр Флюорат-02-Панорама (Люмэкс)
Предназначен для определения органических и неорганических веществ по флуоресценции растворов
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 178.  Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500A (Agilent Technologies)
Прибор даёт возможность обнаруживать следовые количества микропримесей (на уровне до нг/ л) или быстро просматривать содержание большого количества элементов (свыше 70) для получения сведений о составе исследуемых образцов. Программное обеспечение Agilent 7500 a Chem Station автоматизирует выполнение анализов и способствует расшифровке полученных данных.
Шацкая Светлана Станиславовна, 2-170-454 к. 304 ул. Мичурина 15
 179.  Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ)
Представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Система способна работать в режиме регистрации пространственного, трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света, а также в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии, включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию.
 180.  Рентгеновский дифрактометр Ultima IV (Rigaku)
Предназначен для фазового анализа проб, количественного анализа, определения размеров частиц и пор
Голубев Сергей Владимирович, тел. : (831) 436-40-68, e-mail: gol@appl. sci-nnov.ru
 181.  Универсальный вторично-ионный микроанализатор Ion Microanalyzer IMS-4F (Cameca)
Области применения: локальный элементный и изотопный анализ; анализ глубинных профилей распределения основных и примесных элементов в образцах, неоднородных по толщине, например, в гетероструктурах; изучение строения гетерограниц; явлений сегрегации и диффузии; исследование двумерных и трехмерных распределений атомов в сложных гетерофазных структурах (конструкционные материалы, структуры опто- и микроэлектронных приборов и др. )
Черняков Антон Евгеньевич, тел. : (812) 292-7922, e-mail: chernyakov. anton@yandex.ru
 182.  Рентгеноспектральный электронно - зондовый микроанализатор JXA 8200 (JEOL)
Предназначен для исследования макро-состава и микропримесей в минералах горных пород и руд
Непомнящих Александр Иосифович, тел. : (3952) 51-14-66, e-mail: ainep@igc. irk.ru
 183.  Спектрометр рентгенофлуорисцентный волнодисперсионный S8 Tiger (Bruker) 43018325
Проведение химического анализа металлических сплавов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 184.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Мaya 2000 Pro (Ocean Optics)
Предназначен для фиксации спектров излучения в диапазоне 165-300 нм
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 185.  Универсальный рентгенофлуоресцентный анализатор X-ART-M, Научно-технического управления ЗАО Комита
Предназначен для определения количественного и качественного состава материлов
Лебедев Анатолий Тимофеевич
 186.  Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific)
Предназначен для исследования элементного состава, химической связи, пространственного распределения элементов
Вербенко Илья Александрович. , тел. : 863 2975009, e-mail: ilich001@yandex.ru
 187.  Научно-образовательный комплекс рентгеновской дифрактометрии
Предназначен для проведения широкого круга рентгеноструктурных исследований различных образцов. Среди основных назначений следует отметить: проведение исследований общего характера (качественный и количественный фазовый анализ, исследования твёрдых растворов, определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка и др. ), исследование полного набора интегральных интенсивностей отражений от монокристаллов, проведение исследований текстуры
Родионов Владимир Владимирович, lRodionov@kantiana.ru Контактный телефон: 7 4012 59 55 95, доб. 9013
 188.  Анализатор коррозии CANIN (PROCEQ)
Предназначен для определения степени коррозии арматуры
Карацупа Сергей Викторович, тел. : 4722 553615, e-mail: cupik@yandex.ru
 189.  Эллипсометр UVISEL 2 HORIBA (Jobin Yvon)
Позволяет измерять образцы толщиной от нескольких Ангстрем до десятков микрон благодаря широкому спектральному диапазону. Патентованная система наблюдения образца MyAutoView, расположенная непосредственно в детектирующей головке эллипсометра, позволяет видеть точную форму и положение аналитического пятна на образце, в отличие от систем наблюдения под прямым углом к образцу.
Карацупа Сергей Викторович, тел. : 4722 553615, e-mail: cupik@yandex.ru
 190.  Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 191.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (JEOL)
Позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр может эффективно использоваться для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также оценивать их эксплуатационные характеристики
Александров Игорь Васильевич, тел. : 347 2737977, e-mail: iva@mail. rb.ru
 192.  Газоанализатор ГАНК-4 (ООО ГАНК)
Предназначен для автоматического непрерывного контроля концентраций вредных веществ в воздухе
Шарифуллина Елена Алексеевна, тел. : 3467 357853, e-mail: e_sharifullina@ugrasu.ru
 193.  Спектрометр рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный портативный СПЕКТРОСКАН GEO D (Спектрон)
Предназначен для исследования состава и структуры вещества
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 194.  Растровый электронный микроанализатор JXA-8600S с 4 кристалл-дифракционными спектрометрами
Предназначен для сверхточного микроанализа твердых образцов материалов
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 195.  Сканирующий спектральный эллипсометр Uvisel 2 (Horiba)
Исследование оптических характеристик и толщин тонких пленок
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 196.  Спектральный эллипсометр NIR 2. 1 AGMS (UVISEL)
Предназначен для измерения характеристик поляризованного света
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 197.  Спектральный эллипсометр Спектроскан (ИФП СО РАН)
Позволяет измерять экстинкцию и показатель преломления тонких слоев веществ или определять толщину слоя известного вещества по эллипсометрическим данным в видимом диапазоне спектра.
Корольков Виктор Павлович, тел. : (383) 333-30-91, e-mail: victork@iae. nsk. su
 198.  Система микроанализа INCF WAVE 700 (Oxford Instruments)
Анализ элементного состава облучённых материалов
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 199.  Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов PHI Versa Probe II 5000 (ULVAC-PHI)
Дополнительные опции к рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру PHI Versa Probe II 5000 позволяют проводить анализ поверхности органических, гибридных и биоматериалов в интервале температур.
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 200.  Масс-спектрометр квадрупольно-времяпролетный высокого разрешения Agilent 1260/ 6550 (Agilent Technologies)
Масс-спектрометр квадрупольно-времяпролетный высокого разрешения
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 201.  Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO MRD (PANalytical)
Предназначен для рентгеновской микроскопии имикротомографии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 202.  Анализатор площади поверхности и пористости Tristar 3020 (Micromeritics Instrument Corporation)
Предназначен для анализа площади поверхности и пористости
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 203.  Рентгенофлуоресцентный анализатор металлов Альфа-8000 LZX (Innov-X Systems Inc. )
Предназначен для рентгенофлуоресцентного анализа металлов
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 204.  Анализатор хемосорбции ChemiSorb 2750 (Micromeritics)
Предназначен для хемосорбционного анализа вещества
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 205.  Спектрометр рентгенофлуоресцентный волно-дисперсионный последовательного действия XRF-1800 (Shimadzu)
Предназначен для анализа вещества методом рентгенофлуоресцентной волно-дисперсионной спектрометрии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 206.  Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализатор Oxford ED 200 (Oxford Instruments)
Предназначен для исследования и анализа материала методом оптической спектроскопии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 207.  Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500A (Agilent Technologies)
Прибор даёт возможность обнаруживать следовые количества микропримесей (на уровне до нг/ л) или быстро просматривать содержание большого количества элементов (свыше 70) для получения сведений о составе исследуемых образцов. Программное обеспечение Agilent 7500 a Chem Station автоматизирует выполнение анализов и способствует расшифровке полученных данных.
Кузнецов Михаил Владимирович, тел. : (343) 362-33-56, e-mail: kuznetsov@ihim. uran.ru
 208.  Квадрупольный хромато-масс-спектрометр CLARUS 500MS (PerkinElmer)
Представляет из себя квадрупольный хромато-масс-спектрометр с электронной и химической ионизацией, имеет высокую скорость сканирования до 60 спектров в секунду. Конструкция хромато-масс-спектрометра позволяет легко адаптировать его к любому сложному анализу благодаря широкому выбору систем ввода проб и модулей управления газовыми потоками. Благодаря наличию карусели автосамплера на 82 позиции, автоматического дозатора и автоматического ввода проб, спектрометр может работать в режиме нон-стоп, обеспечивая при этом высокое качество проведения анализов.
тел. 763-099, каб. 325, эл. адрес: yuri_tom@rambler.ru
 209.  Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный PHI-5500 (Physical Electronics)
Исследование химического состава твердофазных материалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) основано на анализе энергетического распределения фотоэлектронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении рентгеновскими фотонами.
 210.  Сканирующая зондовая нанолаборатория Integra Aura (НТ-МДТ)
Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии. Создание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 211.  Люминисцентный спектрофлуориметр LS-50 (Perkin Elmer)
Предназначен для регистрации в ближней и средней ИК области спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ (в том числе наркотиков, лаков и красок, нефтепродуктов, взрывчатых веществ, фармакологических препаратов) с их последующей идентификацией, а также для качественного и количественного анализа смесей, содержащих несколько компонентов.
 212.  Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)
Приставка используется для анализа тонких пленок, полностью совместима с рентгеновским дифрактометром XRD-7000S. Приставка для исследования тонких пленок включает: приставку, плоский монохроматор с Cu-мишенью и программное обеспечение
Пойлов Владимир Зотович, тел. : (342) 239-16-08, e-mail: poilov@cpl. pstu. ac.ru
 213.  Рентгеновский микроанализатор CAMEBAX (Cameca)
Предназначен для анализа элементного состава микрообъемов различных материалов: металлов и сплавов, покрытий, геологических пород, порошков и т. д. , может анализировать любой материал не разрушающийся в вакууме и выдерживающий температуру не менее 150 ° С в металлургической промышленности, геологии, экологии, криминалистике, химической, электронной промышленности, а также научных исследований.
Поляков Евгений Валентинович, тел. : (343) 374-48-14, e-mail: polyakov@ihim. uran.ru
 214.  Микрозондовый аналитический комплекс LEO1455VP (Carl Zeiss)
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т. ч. наноматериалов). Разрешение в высоком вакууме 4 нм, при низком вакууме 5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 15В. Увеличения в диапазоне 5 - 1000000х.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 215.  Оже-электронный спектрометр PHI-660 (PerkinElmer)
Предназначен для исследовании поверхности и в области материаловедения. В основе спектроскопического метода лежит эффект Оже, который основан на анализе заполнения электроном вакансии, образованной на одной из внутренних электронных оболочек атома путём выбивания другого электрона рентгеновским излучением.
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 216.  Станция зондовой и конфокальной микроскопии ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать объект с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии - АСМ, МСМ, СТМ, СБМ. Благодаря зондово-усиленному КР (TERS) позволяет проводить спектроскопию / микроскопию с разрешением до 10 нм.
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 217.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891 (НПК ЦН)
Предназначен для проведения прецизионных измерений толщин многослойных тонкопленочных структур с субмикронным разрешением, а также исследования спектральных оптических постоянных и структурных свойств материалов с высоким быстродействием в широком спектральном диапазоне
Морченко Александр Тимофеевич, тел. (495) 638-44-51
 218.  Фотоэлектронный спектрометр ЭС-3201
Получение спектров ионизации молекул, при удалении электрона с разных энергетических уровней молекулы, что обеспечивает экспериментальной информацией об электронном, а также пространственном строении молекулы в ее основном состоянии
Лебедев Юрий Анатольевич, тел. : (347) 235-72-42, e-mail: lebedev@anrb.ru
 219.  Масс-спектрометр Ultraflex III MALDI-TOF/ TOF (Bruker)
Предназначен для секвенирования рекомбинантных белков сверху вниз. Подход к секвенированию с использованием reISD использует сверх-быстрые фрагментации в ионном источнике MALDI длительностью порядка наносекунд, чем обеспечивает доминирование фрагментных ионов c- и z/ y-типа. Средства MALDI-TDS также включают направленное секвенирование N- и C-концов белковых последовательностей с помощью запатентованной технологии Bruker T³ -секвенирования. При T³ -секвенировании фрагментные ионы, образованные из участков, близким к хвостам негидролизованных пептидов, затем анализируются на масс-спектрометре ultraflex III TOF/ TOF
Кузнецов Борис Борисович, тел. : (499) 135-12-40, e-mail: borisk@biengi. ac.ru
 220.  Универсальный двухканальный спектральный эллипсометр ES-2LED
Предназначен для определения оптических параметров материалов, толщины оптически прозрачных и полупрозрачных слоев в многослойных структурах, качества обработки и шероховатости поверхностей. В приборе используются оригинальные поляризационные устройства и экспрессные алгоритмы измерений.
Кузьменко Александр Павлович, тел. : 4712 504445, e-mail: apk3527@mail.ru
 221.  Зондовая лаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Измерительный комплекс, включающий сканирующий зондовый микроскоп, ближнепольный оптический микроскоп и конфокальный микрорамановский спектрометр высокого разрешения. Предназначен для проведения измерений характеристик рельефа поверхности образца, а также его электрических, магнитных, наномеханических и других свойств методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии и наносклерометрии с разрешением вплоть до атомарного.
 222.  Спектрометр энергетического дифракционного рентгеновского микроанализа Inca Energy 350X – Max 80 (Oxford Instruments)
Позволяет проводить качественные и количественные исследования элементного и фазового состава образцов, а также получать информацию о пространственном расположении и ориентации микрокристаллитов и зерен в поликристаллических материалах.
 223.  Спектрометр мессбауэровский МС-1104 Ем (НИИ физики ЮФУ)
Изучение состава, магнитной и кристаллической структуры, свойств ферритов и наноматериалов
Коровушкин Владимир Васильевич, тел. (495) 951-23-82
 224.  Спектральный оптический когерентный микроскоп Michelson Diagnostics
Оптический когерентный микроскоп, работающий на принципе спектральной интерференции в ближнем ИК-диапазоне с перестройкой длины волны источника излучения и обеспечивающий отображение внутренней микроструктуры различных материалов (В- сканов). Оптическая разрешающая способность по глубине среды не хуже 10 мкм. Оптическая разрешающая способность в среде в поперечном направлении не хуже 10 мкм.
Фандеев Александр Григорьевич, телефон: (812) 457-1845, e-mail: fandeev@rambler.ru
 225.  Система лазерной искровой спектроскопии LIBS2500plus (Big Sky Laser Technologies)
Предназначена для определения качественного состава твердых тел, растворов и газов в реальном времени. Позволяет проводить спектральный анализ в широком диапазоне 200– 980 нм (в зависимости от системы) с высоким оптическим разрешением ~ 0. 1 нм (FWHM).
Фандеев Александр Григорьевич, телефон: (812) 457-1845, e-mail: fandeev@rambler.ru
 226.  Хромато-масс-спектрометр GCMS QP2010 (Shimadzu)
Позволяет проводить разделение при высоких давлениях (до 970 кПА) и высоких скоростях потока газа-носителя (до 1200 мл/ мин). В сочетании с высокоэффективной системой вакуумирования и быстрым квадруполем это обеспечивает проведение анализа в режиме быстрой хромато-масс-спектрометрии.
 227.  Лазерный эллипсометр ЛЭФ-3М (ИФП СО РАН)
Определение параметров поляризации отраженного света для расчета толщины и показателя преломления прозрачных пленок на плоских подложках. Расположение оптических элементов по ходу луча; лазер λ = 632. 8 нм; диапазон угла падения пучка света на образец от 45 до 90 градусов.
Артемьев Ю. М. тел. (812) 428-41-36
 228.  Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891М (ИФП РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов. Спектроэллипсометр отличается однозначностью вычисления эллипсометрических параметров: они измеряются в полном диапазоне их значений (Ψ - от 0 до 90 градусов; Δ - от 0 до 360 градусов) с одинаковой точностью и чувствительностью, что обеспечивает однозначную интерпретацию результатов измерений.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 229.  Рентгеновский микроанализатор LINK-860 (JEOL)
Предназначен для исследования состава и структуры биологических материалов
Жегалло Елена Александровна , тел. : (495) 339-35-11, e-mail: ezheg@paleo.ru
 230.  Зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии.
Башков Валерий Михайлович, (499) 263-65-31, bmstunc@bmstu.ru
 231.  Быстродействующий спектральный эллипсометр Эллипс-1891 (ИФП СО РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др. ), в том числе анизотропных и жидких. В основу комплекса положена быстродействующая статическая схема эллипсометрических измерений. Алгоритмыс читывания сигналов и расчета рабочих параметров обеспечивают очень высокую чувствительность, необходимую для проведения измерений с высоким спектральным разрешением. Использование новой измерительной схемы обеспечивает быстрое сканирование всего спектра или отдельных участков спектра с повышенным спектральным разрешением. С использованием эллипсометра определены составы силицидов железа на границе раздела Si/ Fe при разных температурах кремниевой подложки.
 232.  Спектрометр поглощения UV-3600 (Shimadzu)
Предназначен для получения спектров поглощения конденсированных сред в диапазоне 180– 3300 нм.
 233.  Универсальный вакуумный комплекс сканирующей зондовой нанолаборатории Интегра Аура (НТ-МДТ)
Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии в вакуумной среде. Позволяет анализировать физические (в т. ч. электрические, магнитные, оптические) и химические свойства объекта в диапазоне характерных размеров от миллиметров до ангстрем.
Сысоев Игорь Александрович, тел. 8-919-739-2055, e-mail: eianpisia@yandex.ru
 234.  Сканирующая зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА Прима (НТ-МДТ)
Предназначена для изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии. Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узко-специализированных исследований.
Сысоев Игорь Александрович, тел. 8-919-739-2055, e-mail: eianpisia@yandex.ru
 235.  Зондовая станция РМ-5 (Cascade Microtech)
Позволяет проводить измерения электрофизических свойств полупроводниковых структур (вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики).
Ресурсный центр Инновационные технологии композитных наноматериалов, тел. : (812) 428-93-41, e-mail: nanocomposite@spbu.ru, andrey. romanychev@spbu.ru
 236.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс 1891 САГ
Предназначен для проведения прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, а также исследования спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке).
Ресурсный центр Инновационные технологии композитных наноматериалов, тел. : (812) 428-93-41, e-mail: nanocomposite@spbu.ru, andrey. romanychev@spbu.ru
 237.  Квадрупольный масс-спектрометр Microvision 2 (MKS Instruments)
Позволяет проводить газовый анализ и регистрировать масс-спектры в режиме реального времени.
 238.  Эллипсометр Эллипс-1891 САГ (ИФП СО РАН)
Предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др. ), в том числе анизотропных и жидких.
Ковров Владимир Николаевич , тел. : (342) 237-83-17, e-mail: kovrov@icmm.ru
 239.  Комплекс для микроанализа в РЭМ IE350-IW500-HKL (OXFORD INSTRUMENTS)
Предназначен для проведения энергодисперсионного экспресс-анализа состава и структуры образца
Соловьева Людмила Владимировна, Тел. : (499) 233-95-47, E-mail: solo@aernet.ru
 240.  Мессбауэровский спектрометр Ms-1104Em (НИИ ИФ)
Измерение мессбауэровских спектров железосодержащих веществ. Мессбауэровский источник гамма-излучения закрытого типа кобальт-57.
В. П. Корнеев, тел. : (499) 135-96-75, e-mail: kornvp@imet. ac.ru
 241.  Зондовая станция Ntegra-Spectra Upright max (НТ-МДТ)
Позволяет в процессе сканирования проводить наблюдение участка образца непосредственно под зондом с разрешением 0. 4 мкм. Оптическая измерительная головка обеспечивает получение оптического изображения высокого разрешения (0. 4 мкм) поверхности исследуемого объекта, в том числе, и непосредственно под острием зонда, облучение светом видимого диапазона поверхности и сбор светового излучения образца из-под острия зонда. Кроме того, в сочетании со спектрометром прибор может функционировать как Конфокальный Рамановский микроскоп. Большое значение числовой апертуры использованного объектива (NA=0. 7) обеспечивает возможность возбуждения светом поверхности образца под значительными углами падения. Это дает возможность сформировать под острием зонда световое пятно, обладающее значительной компонентой электрического поля, направленной нормально к поверхности. Такое поле оптимально для организации усиленных острием зонда оптических эффектов ближнего поля, таких как гигантское комбинационное рассеяние.
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 242.  Учебно-научный комплекс, зондовая станция Nanoeducator II (НТ-МДТ)
Предназначен для ведения проектной и исследовательской деятельности в рамках дополнительного образования. Комплекс оборудования используется для преподавания естественнонаучных дисциплин, междисциплинарного подхода, и для преподавания основ нанотехнологии, а так же для обучения и повышения квалификации работников образования субъектов РФ по соответствующим дисциплинам.
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 243.  Спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр SE 800 (SENTECH Instruments GmbH)
Высокоточные измерения толщины и оптических характеристик, как однослойных пленок, так и многослойных пленочных наноструктур (коэффициент преломления, показатель поглощения) в УФ и видимом диапазоне длин волн (280 - 850 нм)Спектральный диапазон: 280 – 850 нмПринцип функционирования: PSA/ PCSAРазмер образца: до 150 ммТолщина подложки: до 7 ммИсточник света: ксеноновая лампа 75 ВтПоляризатор/ анализатор: призма Глана-ТейлораКоэффициент затухания: 10-6Угловое разрешение: 0, 01°
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 244.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1881А
Предназначен для определения коэффициента экстинкции и показателя преломления
Гаврилов Сергей Александрович, тел. : 7 (499) 731-22-79, e-mail: rnd@miee.ru
 245.  Фотометрический спектральный эллипсометр Эльф (ИН МФК)
Предназначен для измерения толщин пленок и слоев в тонкопленочных структурах, исследования структуры материалов и наноструктур, анализа состояния поверхности и структуры тонких поверхностных слоев методами эллипсометрии. Исследует в обычной атмосфере, при различных температурах и давлениях, в различных средах, включая агрессивные. Обеспечивает: бесконтактность, неразрушающий характер, оперативность измерения. Может работать в режиме спектрального фотометра. Применение: для исследования и технологического контроля процессов производства наноразмерных материалов и структур, электронных компонентов и др.
 246.  Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр)
Предназначен для регистрации гамма и рентгеновского излучения при радиологическом контроле радиационно опасных объектов.
 247.  Спектрофлуориметр Флюорат-02-Панорама (Альфа-Эталон)
Предназначен для широкого круга научных и методических исследований спектрально-временных характеристик люминесценции самых разнообразных объектов: растворы; твёрдые образцы, в том числе замороженные до температуры жидкого азота; оптические стёкла; порошки. Для прибора разработана гамма приставок, позволяющих проводить измерения вне кюветного отделения прибора. Вместе с тем, прибор аттестован как анализатор Флюорат® -02, что позволяет проводить измерения массовой концентрации веществ в соответствии с утверждёнными методиками (кроме хрома и урана). Имеется модификация прибора являющаяся спектрофлуориметрическим детектором для ВЭЖХ. Компьютерное программное обеспечение обеспечивает управление прибором во время проведения измерений и позволяет проводить обработку результатов.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 248.  Ручная зондовая станция Cascade M150 (Cascade Microtech)
Предназначена для проведения точных и надежных измерений вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в непрерывном или импульсном режиме на пластине, возможных только при осуществлении качественного, стабильного и надежного контакта
Специалист: вед. инж. -техн. Живодков Ю. А. (ТК к. 107, 108 тел. 330-90-82)
 249.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (JEOL)
Предназначен для высокоточного исследования химического состава и типа химической связи на поверхности исследуемых образцов. Возможно тестирование поверхности большого количества образцов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др.
7 (383) 363-40-19, nsm@nsm. nsu.ru
 250.  Квадрупольный фильтр масс УАВ. Э-100/ 2-006
Предназначен для контроля состава газовой среды при давлении 1• 10-3 Па (7, 5• 10-6 мм рт. ст. ). Масс-спектрометр обеспечивает разрешающую способность, измеренную на уровне 10 % высоты массового пика, не менее номера регистрируемой массы. Диапазон массовых чисел: верхний предел - не менее 100 а. е. м. , нижний предел - не более 2 а. е. м. Пороговая чувствительность по аргону - не более 10-9 Па (7, 5• 10-12 мм рт. ст. ). Квадрупольный фильтр масс относится к группе динамических масс-спектрометров пролетного типа. Его аналитическая часть, ответственная за выработку сигналов спектра масс, содержит ионный источник, анализатор и приемник ионов.
 251.  Рамановский спектрометр Jobin Yvon HR 800 (Horiba)
Позволяет производить: -Идентификацию твердых веществ (включая минералы), жидкостей, газов -Фазовую диагностику включений в минералах (твердые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения) -Оценку степени кристалличности вещества, структурного состояния -Исследование изоморфизма и полиморфизма -Изучение политипии минералов
 252.  Спектрометрический комплекс PHOIBOS-150 (SPECS) для исследования поверхности
Предназначен для определения химического состава веществ и материалов с содержанием элементов Li - U от 0, 1 до 100 ат. %; для установления особенностей электронного строения и химического состояния; для изучения геометрических особенностей.
Телефон: 8-4232-215-338, les@ich. dvo.ru
 253.  Раман-спектрометр TRI VISTA 777 (S& I)
Позволяет проводить измерения КР жидкостей, газов, твердых тел: кристаллов, стекол, порошков, полимеров. Система полностью автоматизирована, перестройка от одного режима к другому осуществляется простым нажатием мышки. Предусмотрена возможность согласования системы с микроскопом и оборудованием для проведения температурных измерений.
тел. / факс: (4232) 313-799, e-mail: chemi@online.ru
 254.  Автоматизированная спектрометр RamanSpec RSO 785 (Thermo Scientific)
Предназначен для исследования состава и структуры вещества методом рамановской спектроскопии
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 255.  Сканирующий РФ-спектрометр SRS 3400 (SIEMENS)
Предназначен для определения элементного (химиче­ ского) состава твердых, порошкообразных, жидких и газообразных веществ. Выполнение экспресс-анализов SRS-3400 в сравнении с традиционно применяемыми сканирующими РФ-спектрометрами занимают меньше време­ ни и отличаются более высокой аналитической универсальностью.
 256.  СЗМ комплекс рамановской спектроскопии ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию, а также исследование оптических свойств объектов за пределом дифракционных ограничений.
 257.  Спектроскопический эллипсометр PhE-102 (Micro Photonics Inc. )
Предназначен для измерения показателя преломления, коэффициента экстинкции и толщины тонких пленок на различных подложках. Объекты исследования: объемные образцы, тонкие пленки, многослойные оптические покрытия.
 258.  Быстродействующий встраиваемый эллипсометр ЛЭФ-959 (ИФП СО РАН)
Принцип действия основан на измерении состояния поляризации светового пучка, которое определяется по результатам сравнения углов поворота поляризатора, компенсатора и анализатора. Решаемые задачи: определение показателя преломления и поглощения (оптических постоянных) материалов (в твердом и жидком состояниях), исследование пленок и пористых объектов, включая, шероховатости поверхностей, а также профили распределения компонентов в многослойных структурах.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 259.  Автоматический эллипсометр АСЭБ-10 М (ИФП СО РАН)
Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных, анизотропных и пористых материалов, а также слоистых и многослойных наноструктур методом полной эллипсометрии.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 260.  Анализатор удельной поверхности СОРБТОМЕТР-М (ИК СО РАН)
Прибор позволяет быстро и просто определять величины удельной поверхности катализаторов, адсорбентов, сенсоров и других пористых тел по методу адсорбции-десорбции стандартного газа азота при криогенных условиях. Принцип работы обладают рядом преимуществ по сравнению с дорогостоящими вакуумными установками объемного типа. Имеет высокую производительность.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 261.  Квадрупольный масс-спектрометр МС7-100 (ИАП РАН)
Предназначен для анализа состава газовых смесей, в том числе для определения концентраций компонентов выдыхаемого воздуха и их идентификации в процессе дыхательного цикла. Решаемые задачи: • исследование процессов дыхания человека и животных; • оценка состояния окружающей среды• контроль газовыделения в технологических процессах напроизводстве. Прибор может быть использован в медицине, экологии, промышленном производстве, геологии, как для массовых анализов, так и для научных исследований. Конструктивное исполнение масс-спектрометра МС7-100 и его относительно малые габариты позволяют использовать прибор в передвижных контрольно-аналитических лабораториях.
 262.  Рентгеноэлектронный спектрометр для экспрессного химического анализа (ИАП РАН)
Ориентирован на решение задач определения и контроля химического состава твердых материалов, в том числе физико-химических свойств материалов порошковых катализаторов. Спектрометр дает информацию о качественном и количественном составах, обеспечивая неразрушающий контроль образца. Спектрометр разработан с целью оснащения учебно-исследовательских лабораторий аналитическими средствами для экспрессной диагностики химического состава материалов.
т. (812) 251-9029
 263.  Хемосорбционная установка AutoChem-2920 (Micromeritics)
Полностью автоматизированный хемосорбционный анализатор, который обеспечивает исследование поверхностных реакций, кислотности поверхности, термо восстановление и термоокисление различных материалов, включая измерение дисперсности нанесенных металлов.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 264.  Рентгеновский флуоресцентный спектрометр ARL OPTIMX (Thermo Techno)
Предназначен способом рентгеноспектральной флуоресцентной спектрометрии на основе волнодисперсионного метода для элементного количественного анализа от натрия до урана всех элементов.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 265.  Рентгеновский дифрактометр D8 Advance с высокотемпературной HТK16 и реакционной камерами XRK-900 (Bruker)
Область применения: Качественный и количественный фазовый анализ проб. Определение областей когерентного рассеяния и микронапряжений. Полнопрофильный структурный анализ по РитфельдуОпределение степени кристалличности цеолитов. Определение и уточнение параметров кристаллической решетки.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 266.  Термополевой электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F Hyperprobe (JEOL)
Благодаря радикальному улучшению характеристик, расширяются области использования микрозонда, включая ранее недоступные, такие, как анализ наночастиц, точный количественный анализ низких концентраций элементов, в том числе легких, использование микрозонда в решении задач геохронологии и т. д. На колонну, в дополнение к волновым спектрометрам, можно установить один энергодисперсионный спектрометр, который позволяет качественный экспресс-анализ всего спектра (10-20 сек), а также количественный анализ основных элементов (60-150 сек), картирование по площади и вдоль линии.
 267.  Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe (JEOL)
Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации, от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это позволяет оператору днем только намечать точки для анализа.
 268.  ОЖЕ-микроанализатор JAMP-9500F (JEOL)
Обеспечивают получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению. Преимущество Оже-электронных микроанализаторов заключается в возможности исследования одномерных нанообъектов, а именно тонких (вплоть до одного монослоя) пленок, а также весьма высокая локальность анализа в латеральном направлении. Данные приборы в массивных образцах обеспечивают получение информации по элементному и химическому составу в областях глубиной до 1 нм и диаметром около 8 нм.
 269.  Аналитическая зондовая станция LCS-4000 с интегрированным лазерным резаком (analytical probe stations with laser cutting system) MicroXact Inc.
Зондовая станция с интегрированным лазерным резаком с высоким соотношением цена/ качество с управлением с ПК или ручным управлением для исследований и мелкосерийных производств с возможностью апгрейда DC и RF измерения, измерение емкости. Дает максимум гибкости в исследовании полупроводников, лазерной подгонке, лазерного перерезания контактов, анализе отказов, маркировке и лазерного снятия поверхностного слоя в многослойных структурах. Все действия делаются на микроскопическом уровне. Предлагается как с полностью ручным управлением так и с полуавтоматическим управлением и может быть легко сконфигурирована для большого числа применений с большим числом различных опций.
 270.  Полуавтоматическая аналитическая зондовая станция SPS-2600 (analytical probe stations) MicroXact Inc.
Полуавтоматическая зондовая станция с высоким соотношением цена/ качество с управлением с ПК или ручным управлением для исследований и мелкосерийных производств с возможностью апгрейда. DC и RF измерения, измерение емкости возможностью апгрейда.
 271.  Аналитическая зондовая станция SPS-2000 с ручным управлением (analytical probe stations) MicroXact Inc.
Предназначена для DC, RF и ёмкостных измерений, однако станция также может быть сконфигурирована для температурных и светочувствительных измерений и высоко частотных измерений. Станция полностью готова к апгрейду и возможности конфигурации под любые требования заказчиков.
 272.  Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments)
Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
 273.  Лазерный эллипсометр SE 400adv (SENTECH Instruments)
Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок.
 274.  Сканирующий зондовый комплекс микрорамановской спектроскопии NTEGRA Spectra (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 275.  Оптический спектрофлуориметр с компьютерным управлением FLSP920 Steady State (Edinburgh Instruments)
Предназначен для оптических исследований флуоресценции
 276.  Масс-спектрометр Bruker ultraflex III MALDI-TOF/ TOF
Предназначен для секвенирования рекомбинантных белков сверху вниз. Подход к секвенированию с использованием reISD использует сверх-быстрые фрагментации в ионном источнике MALDI длительностью порядка наносекунд, чем обеспечивает доминирование фрагментных ионов c- и z/ y-типа. Средства MALDI-TDS также включают направленное секвенирование N- и C-концов белковых последовательностей с помощью запатентованной технологии Bruker T³ -секвенирования. При T³ -секвенировании фрагментные ионы, образованные из участков, близким к хвостам негидролизованных пептидов, затем анализируются на масс-спектрометре ultraflex III TOF/ TOF
 277.  Комбинированный квадруполь-времяпролётный масс-спектрометр сверхвысокого разрешения MaXis impact (Bruker)
Прибор позволяет обнаруживать и идентифицировать как известные соединения и их метаболиты, так и неизвестные соединения в широком диапазоне масс от 20 до 40 000 Да (лекарственные препараты, наркотики, пестициды и др. ). Используется для количественной оценки соединений.
 278.  Жидкостный масс-спектрометр QQQ 6420 (Agilect Tehnologies)
Предназначен для сверхчувствительного количественного анализа, с большим выбором ионных источников и расширенными возможностями по модернизации.
 279.  Масс-спектрометр MALDI-TOF REFLEX III (Bruker Daltonics)
Широкоапертурная ионная оптика: Сфокусированный поток ионов; Минимальный риск загрязнения источника ионизации; Минимальная потребность в очистке и обслуживании источника ионизации. Запатентованный сверхбыстрый лазер: 2кГц сверхбыстрый твердотельный УФ лазер 355 нм, совместимый с различными матрицами и образцами; Варьируемая фокусировка пучка от 10 мкм до более чем 100 мкм; Длительный срок непрерывной работы. Визуализация образца в HD качестве: Ультрасовременная оптика для визуализации образцов с высоким разрешением и кристально чистым изображением; Цветное изображение в формате FullHD (1080р); Управляемый переменный фокус для просмотра различных поверхностей. TrueCleanTM: Запатентованная полностью автоматизированная лазерная система очистки ионного источника; Высокоэффективная быстрая очистка в автономном режиме.
 280.  Зондовая станция EPC1000 (Ecopia)
Установка предназначена для тестирования электрических свойств полупроводниковых компонентов (чипов, ламп, подложек, элементов smd типа и т. п. ) с использованием внешних генераторов и анализаторов сигналов.
Каргин Николай Иванович, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru
 281.  Масс-спектрометрический детектор MS-8040 (Shimadzu)
Предназначен для надежной идентификации и воспроизводимого количественного анализа следов аналитов в сложных матрицах, который находит применение в различных областях: анализ пищевых продуктов, фармацевтика (включая фармакокинетику), экология, токсикология, перинатальный скрининг. В сочетании с хроматографической системой для ультра-ВЭЖХ LC-30 Nexera, базируясь на патентованных технологиях (UltraFastTechnologies), включающих высокоскоростную регистрацию MRM-переходов , высочайшую скорость сканирования и минимальное время переключение полярностей, LCMS-8040 может резко увеличить аналитическую производительность. В дополнение к этому, усовершенствованная ионная оптическая система UF-LensTM и уникальная соударительная ячейка UF-SweeperTM II обеспечивают более высокую чувствительность, расширяя потенциальный диапазон применения LC/ MS/ MS.
 282.  Рентгеновский спектрометр СПЕКТРОСКАН МАКС-GV
Предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры.
Тел. : (81555) 79-154. Эл. почта: Semushin@chemy. kolasc. net.ru
 283.  Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500
Предназначен для определения концентраций элементов (от Be до U) с высокой чувствительностью в воде и почве, который обеспечивает проведение детальных экологических исследований природных систем как на макро-, так и на микроуровне.
 284.  Масс-спектрометр PHI-6300 (Physical Electronics) время-пролетный
Предназначен для анализа элементного состава в твердых пробах различных материалов
Суржиков Анатолий Петрович, e-mail: surzhikov@tpu.ru
 285.  Оже-электронный спектрометр Шхуна-2 (Электрон)
Предназначен для анализа элементного состава материалов, а также: Анализ элементного состава поверхностных слоев материалов. Исследование профилей концентрации элементов по глубине в соединениях, сплавах, тонкопленочных структурах и на границах раздела. Исследование диффузионных процессов. Определение толщин пленок и толщин границ раздела между тонкими пленками.
Степанов Игорь Борисович, тел. : 3822 701613, e-mail: stepanovib@tpu.ru
 286.  Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор химического состава (спектрометр) Delta Premium (Olympus NDT)
Предназначен для определения химического состава материалов
Наумкин Евгений Анатольевич, тел. : 347 2431775, e-mail: ynaumkin@mail.ru
 287.  Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ
Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных и анизотропных материалов и слоистых наноструктур методом полной эллипсометрии. Работа комплекса основана на измерения полного вектора Стокса или 16 элементов матрицы Мюллера, которые дают исчерпывающую информацию об оптических свойствах анизотропной, а также несовершенной диффузно-ассеивающей поверхности деполяризующих материалов применяемых в наноиндустрии.
 288.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891
Назначение: технологический контроль многослойных структур; технологический контроль роста сложных наноструктур в реальном времени
 289.  Лазерный быстродействующий эллипсометр ЛЭФ-757
Назначение: технологический контроль поверхности и слоистых наноструктур; технологический контроль ростовых процессов в реальном времени.
 290.  Анализатор Флюорат-02-2М (Люмэкс)
Измерение массовой концентрации органических и неорганических веществ в области спектра 200. . . 650 нм
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 291.  Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр CER SE 500adv (SENTECH Instruments)
Предназначен для проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.
 292.  Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (МКS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов
Для выполнения магистрантами ЕНМФ лабораторных, практических и научных работ по специальным дисциплинам в рамках магистерских программ Физика конденсированного состояния, Физика плазмы
Тюрин Юрий Иванович, тел. : 3822 56-36-21, e-mail: tyurin@tpu.ru
 293.  Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ЦНТ)
Предназначен для определения толщины неорганических и органических тонкопленочных материалов.
Соколов Михаил Евгеньевич, тел. : 861 2199618, e-mail: sokolovme@mail.ru
 294.  Портативный рентгеновский дифрактометр РИКОР-6
Предназначен для исследования фазового и элементного состава неорганических материалов любых форм и размеров, для структурного и элементного анализа порошковых и жидких образцов, а также крупногабаритных деталей. Функционально рентгеновский дифрактометр совмещен со спектрометрическим энергодисперсионным каналом, что позволяет получать информацию, как об элементном составе, так и о структуре образца.
 295.  Рентгеновский флуоресцентный спектрометр - Анализатор Сенсор XFA - 200
Предназначен для рентгеноспектральной флуоресцентной спектрометрии на основе метода энергетической дисперсии. Широко применяется для обнаружения металлов и других компонентов в жидкостях (растворах) со средней и относительно высокой концентрацией целевых элементов. Предел обнаружения для стандартного варианта данного метода составляет приблизительно несколько десятков ррm.
 296.  Микрофокусный рентгенофлюоресцентный спектрометр МХ-10
Предназначен для проведения рентгенофлюоресцентной спектрометрии веществ. Рекордно маленькое фокальное пятно — 10 микрон достигнуто использованием поликапиллярной оптики (линзы) Кумахова. Спектрометр предназначен для неразрушающего качественного и количественного определения массовой концентрации элементов от Mg12 до U92 содержащихся в образце. Образцы могут быть жидкими, твердыми или порошкообразными
 297.  Гибридный квадрупольно-времяпролетный хромато-масс-спектрометр micrOTOF-Q II (Bruker)
Определение молекулярной массы с высоким разрешением в целях: установления строения органических веществ, состава материалов, анализа сложных смесей. Качественный и количественный анализа в криминалистике и экологии, исследования метаболомики, молекулярной фрагментации органических веществ.
Макаров Владимир Сергеевич, тел. : 343 3754408, e-mail: v. s. makarov@urfu.ru
 298.  Рентгенофлюоресцентный анализатор элементного состава MINIMATE
Количественное определение содержания серы в нефтепродуктах по ГОСТ Р 51947-2002 Нефть и нефтепродукты. Определение серы методом энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной спектрометрии (до 50 ppm).
 299.  Универсальный энерго-дисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Х-Calibur с опцией SDD - детектор в комплекте
Исследование химического состава веществ
Заведующий лабораторией - канд. техн. наук, доцент Бегдай Инна Владимировна355000, г. Ставрополь, ул. Пушкина 1, ауд. 334, корпус 2, Тел. : 7(8652) 35-43-53Email: algae@mail.ru
 300.  Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии
Олишевский Даниил Петрович, тел. : 863 2220903, e-mail: info@ckpvt.ru
 301.  Масс-спектрометрический детектор ISQ (Thermo Scientific)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии
Козлов Дмитрий Владимирович, e-mail: KozlovDV@ulsu.ru
 302.  Анализатор рентгеновский БРА-17
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноспектрального анализа
Козлов Дмитрий Владимирович, e-mail: KozlovDV@ulsu.ru
 303.  Многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALA B250 (Thermo Fisher Scientific)
Многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB 250 вместе с опциями представляет собой систему анализа поверхности, использующую следующие методы анализа: рентгеноэлектроная спектроскопия РФЭС (XPS), ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия УФЭС (UPS), оже-электронная спектроскопия ОЭС (AES), спектроскопия рассеяния медленных ионов (ISS).
 304.  Масс-спектрометр тандемный Ultraflex в комплекте с рабочей станцией (Bruker Daltonics)
Научное лабораторное оборудование Ионизация MALDI, источник ионов scoutMTP™ с системой широкодиапазон-нойимпульсной экстракции ионов PAN™ ; твердотельный лазер с частотой им-пульсов 200 Гц и технологи-ей smartbeam™ ; Время-пролетный (TOF) анализатор для работы в линейном иотражательном режимах; тандемный блок LIFT™ для работы вTOF/ TOF (MS/ MS) режиме; блок для ударной диссоциации ионов (CID)
Центалович Юрий Павлович, тел. : (383) 330-31-36, e-mail: yura@tomo. nsc.ru
 305.  Вакуумный спектральный эллипсометр КАТАКОН
Комплекс предназначен для изучения оптических характеристик поверхности и тонких слоев в вакууме в широком интервале температур и изучения кинетики температурно-индуцированных процессов (плавления, кристаллизации, структурных превращений и т п. ). Технические характеристики: температурный диапазон измерений от комнатной температуры до 1100° С, размеры исследуемого образца 10х3 мм2; длина волны зондирующего света 632. 8 нм; быстродействие эллипсометрических измерений 1 мс.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 306.  Комплекс спектрально-эллипсометрический быстродействующий КАТАКОН
Спектральный эллипсометр предназначен для: исследования многослойных структур, состоящих из полупроводниковых, диэлектрических и металлических слоев в произвольном сочетании; измерения спектров оптических постоянных полупроводников, диэлектриков, металлов и других материалов; характеризации структурных и композиционных свойств материалов; исследования свойств поверхности (наличие загрязнений и остаточных слоев, микрорельефа и т. п. ). Спектральный эллипсометр имеет следующие характеристики: спектральный диапазон 250 – 1000 нм, спектральное разрешение 3 нм, размер светового пятна 4х8 мм, время измерения одного спектра 20 с. Программное обеспечение позволяет проводить измерения спектров, моделирование и содержит базу данных по оптическим спектрам различных материалов.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 307.  Рентгенофлуоресценстный спектрометр EX-Calibur с PIN diode детектором
Проведениe эффективного одновременного многоэлементного автоматического спектрального химического анализа. Для автоматического определения концентраций элементов от Na до U в диапазоне от долей ppm до 100%. Конфигурируется под любые задачи (выбор материала анода, фильтров, окошка детектора), продувка либо вакуум.
Дегтерёва Т. В. , тел. - 89054971828
 308.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891
Установка предназначена для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов (металлов, полупроводников, диэлектриков и др. ), в том числе анизотропных и жидких.
г. Ставрополь, ул. Пушкина, 1 (корп. 2), кафедра общей физики ИМиЕН СКФУ, ПНИЛ Электро- и магнитооптики магнитных дисперсных наносистем, ауд. 232.
 309.  Рентгенофлуоресцентный анализатор ARL Optim-X (Thermo Electron Corporation)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентного анализа
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 310.  Рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением S2 PICOFOX (Bruker)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентной спектрометрии
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 311.  Рентгено-флуоресцентный анализатор ХМЕТ-5000 (OXFORD)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгено-флуоресцентного анализа
Жердева Светлана Александровна, тел. : 83953 325350, e-mail: gerdeva@rambler.ru
 312.  Негатоскоп с встроенным денситометром НС 85*400-5003
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской рефлектометрии
Жердева Светлана Александровна, тел. : 83953 325350, e-mail: gerdeva@rambler.ru
 313.  Спектрометр рентгеновский VRA-30 (Carl Zeiss Jena)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии
Суслов Дмитрий Сергеевич, тел. : 3952 424881, e-mail: suslov@chem. isu.ru
 314.  Термопрограммируемый десорбционный спектрометр TDS 40A1 с температурным диапазоном до 1500 градусов
Квадрупольный масс-спектрометр с диапазоном масс 1-300 Дальтон, с разрешением 0. 5 а. е. м. на уровне 10% от максимального значения массового пика, с чувствительностью 2*10Е-4 А/ Тор.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 315.  Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела
Анализ электронной структуры наносистем
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 316.  Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX-800P (Shimadzu)
Расширенное определение общего химического состава почвенно-растительного комплекса и других объектов окружающей среды (диапазон определяемых элементов от Be (пор. № 4) до U (пор. № 92), изучение связи между концентрацией элементов и различными фазами почв (органической, минеральной).
Булгаков Виктор Павлович, тел. : (423) 237-52-79, e-mail: bulgakov@ibss. dvo.ru
 317.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Kratos AXIS Ultra DLD
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 318.  Мобильный XRF анализатор Innov-X серии X-5000 Olympus
Прибор Innov-X X-5000 разработан для выполнения элементного анализа широкого ассортимента промышленных и коммерческих материалов, встречающихся в твердом и жидком виде, включая почвы и порошки. Он использует рентгеновскую флуоресценцию (XRF) для неразрушающего анализа и измерения элементов от магния (Mg – атомный номер 12) до плутония (P – атомный номер 94). Анализ может быть выполнен в лаборатории или в полевых условиях.
Ухваткина Ольга Николаевна, тел. : (423) 238-88-20, e-mail: f. e. forests@gmail.com
 319.  Микроденситометр автоматический MDM-6 (Oxford)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 320.  Масс-спектрометр квадрупольный с газовым хроматографом Shimadzu
Масс-спектрометрия летучих органических соединений
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 321.  Портативный настольный рентгеновский прибор РИКОР
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Андреев Юрий Анатольевич, тел. : (3822) 49-19-00, e-mail: andreev@lhfe. hcei. tsc.ru
 322.  Сканирующей ОЖЕ-спектрометр сверхвысокого разрешения JAMP-9500 F (JEOL)
Обеспечивает получение информации о химсоставе образцов из малого информационного объёма, что определяет их высокие показатели по пространственному разрешению.
Солнцев Константин Александрович , тел. : (499) 135-20-60, e-mail: imet@imet. ac.ru
 323.  Рентгеновский дифрактометр EMPYREAN (PANALYTICAL)
Предназначен для решения широкого спектра задач рентгеновской дифрактометрии в области научных исследований и аналитического контроля в промышленности.
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 324.  Универсальный вторично-ионный микроанализатор Ion Microanalyzer IMS-7F в расширенной комплектации с комплектом дополнительного специального научного и инженерного оборудования обеспечивающего его работоспособность и с комплектом ЗиП (Cameca)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 325.  Тандемный масс-спектрометр Agilent 6410 (Agilent Technologies)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Степанов Вадим Анатольевич, тел. : (3822) 51-33-34, e-mail: vadim. stepanov@medgenetics.ru
 326.  Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Предназначен для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 327.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000S (Shimadzu)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Гафуров Малик Магомедович, тел. : malik52@mail.ru, e-mail: (8722) 67-06-20
 328.  Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Agilent 7500
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 329.  Спектрометр с полным внешним отражением TXRF S2 PICOFOX (Брукер)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 330.  Рентгеноспектральный электронно - зондовый микроанализатор JXA8200 (JEOL)
Стереомикроскоп с 7× увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения – 15, 0 × 100, 0× ; диаметр поля – 17, 3 мм × 2, 6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ½ CCD PAL камера и 17 монитор. Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов). Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов.
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 331.  Микроанализатор электронно-зондовый Cameca SX100 с пятью волновыми спектрометрами и энергодисперсионным спектрометром Bruker XFlash 6
Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ геологических образцов
Вотяков Сергей Леонидович, тел. : (343) 371-19-97, e-mail: director@igg. uran.ru; Щапова Юлия Владимировна, e-mail: shchapova@igg. uran.ru
 332.  Установка для исследования поверхности твердых тел SIENTA R3000 ARPES (OMICRON)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 333.  Cпектрометр MicrOTOF Q II (Bruker)
Определение точных молекулярных масс и структуры органических и неорганических соединений
Гнеденков Сергей Васильевич, тел. : (423) 231-25-90, e-mail: referent@ich. dvo.ru
 334.  Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр, соединенный с жидкостным хроматографом Q-TOF Agilent 6510
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Исаков Владимир Владимирович, тел. : (423) 231-16-63, e-mail: isakov@piboc. dvo.ru
 335.  Тандемный гибридный масс-спектрометр высокого разрешения с несколькими видами ионизации AMD 604S (AMDIntectra)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Исаков Владимир Владимирович, тел. : (423) 231-16-63, e-mail: isakov@piboc. dvo.ru
 336.  Рентгеновский микроанализатор SUPERPROB-733 (JEOL) 10007655
Проведение химического состава поверхности металлов и оксидов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 337.  Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор S1 Turbo (Bruker) 43016575
Проведение химического анализа сплавов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 338.  Спектрофотометр X-Rite (X-Rite) 00010825
Проведение химического анализа
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 339.  Фотоэлектронный спектрометр UNI-SPECS
Предназначен для исследования химического состава поверхностных слоев твердого тела (несколько нанометров, до 100 нм при послойном анализе)
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 340.  Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ИФП СО РАН)
Предназначен для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм. ).
Кульчин Юрий Николаевич, тел. : (423) 231-04-39, e-mail: director@iacp. dvo.ru
 341.  Зондовая установка для тестирования микросистем в составе пластин UF200A (TOKYO)
Стереомикроскоп с 7× увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения – 15, 0 × 100, 0× ; диаметр поля – 17, 3 мм × 2, 6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ½ CCD PAL камера и 17 монитор. Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов). Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов.
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 342.  Зондовая установка для анализа пластин и подложек до 150 мм PM5 Probe System (Cascade)
Стереомикроскоп с 7× увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения – 15, 0 × 100, 0× ; диаметр поля – 17, 3 мм × 2, 6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ½ CCD PAL камера и 17 монитор. Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов). Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов.
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 343.  Времяпролетный масс-спектрометр TOF SIMS 5-100P в комплекте (IОNTOF)
Предназначен для экспериментов на вторично-ионных масс-спектрометрах в процессе анализа поверхности материала
142432 г. Черноголовка, М. О. , ул. Академика Осипьяна д. 8, ИСМАНТел. : 7(496) 524 6384, Е-mail: isman@ism. ac.ru, Web-site: www. ism. ac.ruСычев Александр Евгеньевич, Тел. : 7(496) 524 6384, Е-mail: sytschev@ism. ac.ru Web-site: www. ism. ac.ru
 344.  Электронно-зондовый микроанализатор JXA 8100 (Jeol Superprobe) с системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа
Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ с чувствительностью 0, 01 % и определяемыми элементами от B до U
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 345.  Дифрактометр рентгеновский с высоко- и низкотемпературными камерами и системой п/ к оптики XRD 7000 (Shimadzu)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Титова Светлана Геннадьевна, тел. : (343) 232-90-75, e-mail: ckp-ural-m@mail.ru
 346.  Дифрактометр рентгеновский базовый с подвижной системой излучатель-детектор XRD 7000 (Shimadzu)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Титова Светлана Геннадьевна, тел. : (343) 232-90-75, e-mail: ckp-ural-m@mail.ru
 347.  Дифактометр рентгеновский XRD 7000 (Shimadzu)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Титова Светлана Геннадьевна, тел. : (343) 232-90-75, e-mail: ckp-ural-m@mail.ru
 348.  Масс-спектрометр отрицательных ионов МИ-1201 (Selmi)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Лебедев Юрий Анатольевич, тел. : (347) 235-72-42, e-mail: lebedev@anrb.ru
 349.  ДЕЛЬТА Премиум / Трубка 4Вт Rh, анализатор элементарного состава, детектор увеличенной площади, с комплектом стандартных принаддлежностей и ПО ДЕЛЬТА Премиум
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Евтушенко Владимир Иванович, тел. : (812) 596-85-67, e-mail: mol-biol@yandex.ru
 350.  Станция Метрология и EXAFS-спектроскопия в мягком рентгеновском диапазоне
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 351.  Станция EXAFS-спектроскопия
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 352.  Станция Прецизионная дифрактометрия и аномальное рассеяние
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 353.  Дифрактометр рентгеновский Empyrean (PANanylitical)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 354.  Спектрометр фотоэлектронный K-ALPH (Thermo)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 355.  Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Сницар Валерий Григорьевич, тел. : (499) 740-90-11, e-mail: V. Snitsar@tcen.ru
 356.  Рентгеноэлектронный спектрометр SPECS
Предназначен для изучения электронной структуры, межатомной химической связи и химического строения в сверхтонких поверхностных слоях вещества методом РФЭС.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 357.  Оже-электронный спектрометр JAMP-10s (Jeol)
Предназначен для исследования химического состава сверхтонких поверхностных слоев, растровая электронная микроскопия поверхности.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 358.  Электронный спектрометр ЭС-2401 (ЭЗАН)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел. Объекты исследования: металлы, сплавы, полупроводники, диэлектрики, порошковые материалы, тонкие пленки и мультислои.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 359.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS - 9200 (JEOL)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Баблюк Евгений Борисович, тел. : 499 9763758, e-mail: bablyuk. evgeny@yandex.ru
 360.  Спектроденситометр Scanner 3 (CAMAG)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Яненко Александр Степанович, тел. : (495) 315-12-47, e-mail: yanenko@genetika.ru
 361.  Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ. 450. 501-М
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Грязнов Николай Анатольевич, тел. : (812) 294-47-36, e-mail: gna@rtc.ru
 362.  Рентгенофлюоресцентный элементный анализатор СПЕКТРОСКАН-МАКС-GV
Предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр может применяться в различных отраслях науки и техники для анализа элементного состава вещества.
Кушхов Хасби Билялович, тел. : 928 7196727, e-mail: hasbikushchov@yahoo.com
 363.  Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации SIMS01
Исследование элементного состава поверхности и слоев, ионный литограф
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 364.  Энергодисперсионная приставка Inca Energy 350 (Oxford)
Стереомикроскоп с 7× увеличением: рабочее состояние – 113 мм; кратность увеличения – 15, 0 × 100, 0× ; диаметр поля – 17, 3 мм × 2, 6 мм; освещение 150 Вт источник холодного света сволоконно-оптическим кольцом света; опции видео – ½ CCD PAL камера и 17 монитор. Методы. Ручная зондовая станция для измерения пластин до 150 мм (6 дюймов). Область применения. Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 365.  Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer)
Анализатор типа цилиндрическое зеркало (АЦЗ) со встроенной электронной пушкой модель 25-120A
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 366.  Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд IMS - 4f (Cameca)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 367.  Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TRIFT NanoTof (PHI)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 368.  Рентгеновский аппарат EPESCO
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 369.  Модернизированный рентгеновский микроанализатор Camebax micro + INCA Energy 350 (CAMECAOxford)
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 370.  Квадрупольный масс-спектрометр NETZSCH 403C Aeolos
Прибор предназначен для анализа газовой фазы, имеет капиллярную систему ввода. Диапазон измеряемых масс от 1 до 300 а. е. м. Температура нагрева адаптера, капилляра и впускной системы квадрупольного масс-спектрометра 300° C.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 371.  Рентгеноспектральный микроанализатор JXA-8100 (JEOL)
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Реутский Вадим Николаевич, тел. : (383) 330-65-31, e-mail: reutsky@igm. nsc.ru
 372.  Электронный спектрометр для химического анализа PHOIBOS 150 MCD (Specs)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Куркин Евгений Николаевич, тел. : (496) 522-80-53, e-mail: kurkin@icp. ac.ru
 373.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000s (Shimadzu)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 374.  Дифрактометр рентгеновский GBC (EMMA)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Ретивов Василий Михайлович , тел. : (495) 963-70-89, e-mail: vasilii_retivov@mail.ru
 375.  Оже электронный спектрометр DESA-100 (Staib)
Для научных целей
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 376.  Квадрупольный масс-спектрометр Microvision 2 (MKS Instruments)
Позволяет проводить газовый анализ и регистрировать масс-спектры в режиме реального времени. Vision 2000-P состоит из системы дифференциальной откачки вакуумной камеры с масс-спектрометром MicroVision Plus.
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 377.  Квадрупольный масс-спектрометр с ионизацией электронным ударом MSD 5975 Agilent
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 378.  Электронный спектрометр для химического анализа ESCALAB MK II (Thermo Scientific)
Предварительно настроенная и откалиброванная спектрометрическая система для контроля качества лабораторных и полевых измерений характеристик светодиодов и других излучателей
Кузнецов Михаил Владимирович, тел. : (343) 362-33-56, e-mail: kuznetsov@ihim. uran.ru
 379.  Рентгеновский дифрактометр Shimadzu 6000
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Удачин Валерий Николаевич, тел. : (3513) 57-35-62, e-mail: udachin@mineralogy.ru
 380.  Рентгеновский дифрактометр с расширенной опцией XRD-7000 (Shimadzu)
Предназначен для проведение фазового и структурного анализа, прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, анализ напряжений, тонких плёнок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур
Темердашев Зауаль Ахлоович, тел. : 861 2199571, e-mail: temza@kubsu.ru
 381.  Комплекс тройной квадрупольный хроматографический-спектрометрический на базе TSQ Quantum Access MAX и TSQ Quantum XLS (Thermo)
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности
Темердашев Зауаль Ахлоович, тел. : 861 2199571, e-mail: temza@kubsu.ru
 382.  Рентгеновский микроанализатор состава Камебакс-Микробим (Cameca)
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 383.  Фотоэлектронный и Оже-спектрометр Эсхалаб МК-II
Для научных целей
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 384.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 385.  Спектральный эллипсометр Эльф
SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм. ).
Чмутин Игорь Анатольевич, тел. : (495) 332-86-66, e-mail: chmutin@technopark-slava.ru
 386.  Времяпролетный масс-спектрометр Waters Xevo G2 QTof MS System с системой Acquity UPLC (Waters)
Предназначен для TOF SIMS анализа состава и структуры вещества
Московцев А. А. , тел. : (499) 151-17-56, e-mail: ckpniiopp@mail.ru
 387.  Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadsu)
Предназначен для исследования поликристаллических образцов. Радиус гониометра – 185 мм, минимальный шаг по углу – 0. 002 град. (2q), 0. 001 град. (q), воспроизводимость по углу – не более ± 0. 001 град (2q). Детектор пропорциональный сцинцилятор NaI.
Фомичев Валерий Вячеславович, тел. : 495 936-82-89
 388.  Видеоденситометр Сорбфил
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Штыков Сергей Николаевич, тел. : 8452 516411, e-mail: shtykovsn@mail.ru
 389.  Рентгеновский комплекс РИКОР
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 390.  Эллипсометр ЛЭФ-3М-1
SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм. ).
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 391.  Научно-исследовательская лаборатория ESCALAB 5 (Thermo)
Для научных целей
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 392.  Квадрупольный масс-спектрометр Agilent 7500ce
Современные квадрупольные масс-спектрометры способны анализировать (в некоторых случаях - напрямую) высокосолевые образцы (морская вода, сточные воды), органические вещества (растворители, нефть и т. п. ), клинические образцы (кровь, плазма, моча и т. п. ) и образцы с неизвестной матрицей с высокой надежностью и точностью.
Грачев Михаил Александрович, тел. : (3952) 42-65-04, e-mail: Grachev@lin. irk.ru
 393.  Microflex LT MALDI-TOF масс-спектрометр (Bruker)
Настольный масс-спектрометр для определения масс биомолекул. 96 луночный формат мишени, источник ионов microSCOUT™ с системой импульсной экстракции, азотный лазер repetition rate 20 Hz, Digitizer 2 GHz, точность измерения 0. 1 – 1 Да
Говорун Вадим Маркович, e-mail: govorun@hotmail.ru
 394.  Рентгенофазовый дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu)
Рентгенофазовый анализ. Определение фазового состава неорганических соединений
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 395.  Зондовый датчик для нанотвердомера
Исследование свойств поверхности монокристаллов и керамик
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 396.  Рентгеновский спектрометр СПАРК-1
Предназначен для исследований с применением рентгеновской спектроскопии
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 397.  Флуоресцентный рентгеновский спектрометр VRA-2 (Carl Zeiss)
Предназначен для флюоресцентного рентгеновского анализа лабораторного материала
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 398.  Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами ЛВ-31
Габариты микроскопа, мм 510 х 370 х 470 Масса, кг 25 Увеличение при визуальном наблюдении от 50 до 1500 Увеличение при наблюдении на демонстрационном экране от 50 до 1000 Увеличение при фотографировании от 25 до 500 Размер демонстрационного экрана, см 9 х 12 Увеличение объективов 5, 10, 20, 50 и 100 Увеличение окуляров 10 и 15 Максимальная нагрузка на предметный столик, кг 3, 0
Громков Николай Валентинович, тел. : 8412 368422, e-mail: ngrom@bk.ru
 399.  Анализатор газов атмоферного давления QMS-200
Предназначен для анализа газов высокого давления, обеспечивает анализ состава газовых смесей методом квадрупольной масс-спектрометрии, содержащих компоненты с массой до 200 а. е. м. Определение веществ с молекулярной массой до 200 а. е. м. с разрешающей способностью 0. 5 а. е. м. , 10% по высоте пика; Предел детектирования < 1 ppm; Длительность одного измерения до 0. 5 сек.
Винокуров Владимир Арнольдович, тел. : 7916 6734181, e-mail: vinok_ac@mail.ru
 400.  Денситометр Сорбфил-М
Измерение оптической плотности рентгенограмм
Евтушенко Людмила Ивановна, тел. : (4967) 73-09-24, e-mail: evtushenko@ibpm. pushchino.ru
 401.  Двухмодовый рефлектометр на поляризованных нейтронах РПН-2М (Канал 13)
Исследования процессов зер-кального отражения и незеркаль-ного рассеяния поляризованных нейтронов на магнитных много-слойных структурах. Диапазон по переданному им-пульсу во время-пролётном ре-жиме 0. 045-1. 37 нм-1, в режиме с постоянной длиной волны 0. 061-1. 1 нм Относительная спектральная ши-рина пика двойного зеркального монохроматора на длине волны 0. 137 нм - Δ λ / λ = 0. 05 Поляризация в пике - 0. 976
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 402.  Рефлектометр на поляризованных нейтронах с вертикальной плоскостью отражения (Канал 12)
Исследования показателя пре-ломления материалов до глубины ~1000 с целью определения структурного профиля, а также магнитных свойств около по-верхности и профиля намагни-ченности. Монохроматор: механический (Δ λ / λ = 0, 10), кристаллический (пирографит, фторфлогопит) Анализатор 35 суперзеркал (вее-ром). Длина волны λ > 0, 55 нм-1 Плоскость рассеяния - верти-кальная Наклон пучка -1. 5° ÷ 1. 5° Расстояние Образец-Детектор 2, 5 м Вектор рассеяния q < 10-3 нм-1 Разрешение по переданному им-пульсу 5• 10-6 нм-1 Разрешение по углам 10´ ´ Диапазон измеряемых масштабов 1 ÷ 150 нм Детектор: 1D (20 счетчиков СНМ-50) 2D (190 мм × 190 мм)
Зобкало Игорь Александрович, тел. : (81371) 46044, e-mail: zobkalo@pnpi. spb.ru
 403.  Ферритометр FERITOSCOPE MP30E-S (Fisher)
Определение содержания ферритной фазы
Корнеев Алексей Евгеньевич, тел. : (495) 675-85-16, e-mail: korneev@cniitmash.ru
 404.  Оже-спектрометр PHI 700
Является новейшей, высокоэффективной системой предназначенной для анализа и предоставления информации об элементном составе поверхности образца, субмикронных элементах, тонких пленках и интерфейсах. Электронная оптика прибора на полевой эмиссии обладает пространственным разрешением менее 8 нм, что позволяет в короткие сроки получать изображения высокого разрешения субмикронных элементов во вторичных электронах и выбрать область анализа. Оже-спектрометр способен определить любые элементы в приповерхностных слоях образца, кроме H и He. Наличие ионной пушки дает возможность предварительной очистки образцов, исследования непроводящих поверхностей и профилирования по глубине. PHI 700 позволяет проводить элементный анализ сложных образцов, таких, как: • полупроводниковые устройства: поверхностные дефекты или частицы, загрязнения, тонкие пленки и анализ отказов; • металлы: покрытия, композиты, анализ границ зерен (включая разлом в вакууме), коррозия и другие дефекты.
Ризаханов Ражудин Насрединович, тел. : (495) 456-80-83, e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 405.  Тройной квадрупольный масс-спектрометр с ионной ловушкой QTRAP 5500
Качественное измерение молярной массы веществ
Котловский Юрий Васильевич, тел. : (391) 228-09-14, e-mail: office@krascnil.ru
 406.  Рентгенфлуоресцентный спектрометр на основе полного внешнего отражения РФС ПВО – 001
Предназначен для определения концентраций химических элементов в диапазоне от натрия до урана в сухих остатках растворов, твёрдых телах и поверхностях
 407.  Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL XTRA (Thermo Electron Corporation)
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
 408.  Электронно-зондовый микроанализатор РЭМА-102-02 (Сумы)
РЭМ, микроанализ
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 409.  Масс-спектрометр времяпролетный вторично-ионный TOF. SIMS. 5 (ION-TOF)
Исследования элементного и молекулярного состава поверхности, слоистых структур и межфазных границ, профилей легирования, получениетрехмерных картин распределения элементов
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 410.  Газоанализатор/ масс-спектрометр AMIS-2000 (Innovision)
Качественное определение широкого спектра химических соединений в выдыхаемом воздухе
Чернов Игорь Валентинович, тел. : (499) 250-93-39, e-mail: chernov@icad. org.ru
 411.  Полифункциональный дихрометр СКД 2МУФ
Регистрация спектров кругового дихроизма 220-750 нм, ± 2нм
Джемилев Усеин Меметович, тел. : (347) 284-27-50, e-mail: ink@anrb.ru
 412.  Микроанализатор Camebax-micro (Cameca)
Рентгеноспектральный микроанализ
Кобылин Виталий Петрович, тел. : (4112) 39-05-02, e-mail: v. p. kobylin@prez. ysn.ru
 413.  Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр Mobilab Х-50 (Innov-Systems)
Определение элементного состава минерального сырья.
Рассказов Игорь Юрьевич, тел. : (4212) 32-79-27, e-mail: rasskazov@igd. khv.ru
 414.  Денситометр ультразвуковой UBIS-3000 (DMS)
Измерение прочности костной ткани (пяточная кость)
Зборовская Ирина Александровна, тел. : (8442) 78-90-98, e-mail: pebma@pebma.ru
 415.  Денситометр костный рентгеновский DPX-Pro
Измерение минеральной плотности костной ткани
Зборовская Ирина Александровна, тел. : (8442) 78-90-98, e-mail: pebma@pebma.ru
 416.  Оже-электронный микроанализатор Jamp-9500F (Jeol)
Исследование внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий
 417.  Масс-спектрометр QMS 403 C Aёolos (Netzsch)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии
Смирнов Николай Николаевич, тел. : 4932 327410, e-mail: ckp@isuct.ru
 418.  Масс-спектрометр высокого разрешения 6230 TOF LC/ MS с жидкостным хроматографом, снабженный источниками ионизации ESI и прямого анализа в реальном времени DART (Agilent)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области время-пролетной масс-спектрометрии
Климочкин Юрий Николаевич, тел. : 846 3322122, e-mail: orgchem@samgtu.ru
 419.  Эллипсометр Sentec-500 (SENTECH Instruments GmbH)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 420.  Высоковакуумная двухкамерная система Omicron MXPS XP (NanoTechnology GmbH)
Предназначена для исследования химических соединений и поверхности комплексом методов электронной спектроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 421.  Спектрометрический эллипсометр SE 800 Sentech Instruments GmbH
SE 800 - новейший UV-VIS спектроскопический эллипсометр специально разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом диапазоне длин волн (250 - 850 нм. ).
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 422.  ИК-спектральный эллипсометр IR-VASE (J. A. Woollam Inc)
Предназначен для определения толщин слоев, определения для каждого слоя зависимости коэффициентов преломления и затухания от длины волны света, а также вычисления некоторых специфических параметров, например, ширину запрещенной зоны для полупроводников и химический состав вещества
Башков Валерий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 423.  Оже-электронный спектрометр Specs
Сверхвысоковакуумный аналитический прибор Оже-электронной спектроcкопии (англ. Auger electron spectroscopy) предназначен для элементного (кроме He и H) анализа поверхности образцов диаметром до 20 мм в условиях сверхвысокого вакуума (до 10-8 Па).
Башков Валерий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 424.  Спектрометр рентгенофлуоресцентный Nanohunter на полном внутреннем отражении (Rigaku Corp. )
Исследования в области материаловедения, микроэлектроники, контроль состава продуктов, судебная экспертиза
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 425.  Хромато-масс-спектрометр гибридный квадрупольный Xevo QTof UPLC (Waters Corp)
Предназначен для решения широкого круга задач в области биологических исследований (метаболомика, протеомика, экология), органической химии, фармацевтики
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 426.  Масс-спектрометр MX-7304 (НИТИ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области время-пролетной масс-спектрометрии
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 427.  Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku Supermini
Компактный волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр с производительной рентгеновской трубкой мощностью 200 Вт позволяет заметно сократить продолжительность измерений и повысить чувствительность. Возможность анализа образцов руд, агломератов и горных пород. Возможность контроля содержания токсичных веществ в соответствии с требованиями Евросоюза (директивы WEEE/ RoHS/ ELV). Анализ следовых микропримесей тяжелых элементов. Supermini оснащен тем же программным обеспечением для обработки данных, что используется в спектрометрах серии ZSX Primus с рентгеновской трубкой 4 кВт. Данное программное обеспечение зарекомендовало себя как легкое в использовании и обладающее расширенными возможностями. Качественный анализ проб неизвестного состава может быть выполнен с помощью программы EZ Scan. Программа полуколичественного анализа SQX позволяет получать полуколичественные значения концентраций элементов без использования стандартов . Определение концентраций проводится с помощью обработки интенсивностей линий наблюдаемых в спектре качественного анализа методом фундаментальных параметров и метода теоретической поправки на перекрывание линий. Для улучшения результатов анализа методом фундаментальных параметров может использоваться библиотека соответствия стандартов. В программном обеспечении заложены различные возможности для калибровки: с использованием стандартов, методом фундаментальных параметров, введением поправок на влияние матрицы. Основные технические характеристики: Рентгеновский генератор Макс. 50 кВ 4 мА Рентгеновская трубка Pd анод, 200 Вт, воздушное охлаждение Держатель кристаллов Три позиции для кристаллов: один кристалл для тяжелых элементов, два для легких элементов Кристаллы-анализаторы LiF (200) (Ti-U) и PET (Al-Ti) Детекторы легкие элементы: F-PC(газопроточный пропорциональный), тяжелые элементы: SC(cцинциляц. ) Фильтры на первичном пучке Zr-фильтр (анализ Cd) и Al-фильтр (анализ следов К). Автоматическая замена. Держатель проб 12 позиционная турель для образцов Размер пробы диаметр не менее 30 мм. макс. размеры: диаметр 44 мм, высота 33 мм. Вращение пробы 30 об. / мин. Атмосфера в камере спектрометра вакуум, вакуум/ гелий Вакуумный насос роторный насос Программное обеспечение качественный и количественный анализ (метод фундаментальных параметров), SQX
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 428.  Рентгеновский дифрактометр Shimadzu XRD-7000
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской дифрактометрии
Хасанов Олег Леонидович, тел. : 3822 427242, e-mail: khasanov@tpu.ru
 429.  Оптическая установка комплексного изучения свойств тонких пленок Эллипсометр М2000DI (LOT-Oriel Gruppe)
Предназначена для изучения свойств тонких пленок
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 430.  Спектральный эллипсометр AutoSe System (HORIBA Jobin Ivon)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 431.  Анализатор химического состава металлов и сплавов Х-Мет 3000ТХ (OXFORD)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа химического состава металлов и сплавов
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 432.  Элементный анализатор EA3028 (Evrovector)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноспектрального анализа
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 433.  Рентгеноэлектронный спектрометр SM 4201TERLAB
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеноэлектронной спектрометрии
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 434.  Рентген-фотоэлектронный спектрофотометр ЭС 2403М-Т
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгено-фотоэлектронной спектрофотометрии
Сульман Эсфирь Михайловна, тел. : 4822 449317, e-mail: science@science. tver.ru
 435.  Рентгенофлуоресцентный анализатор Спектроскан-Макс-G (Спектрон)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгенофлуоресцентного анализа
Сульман Эсфирь Михайловна, тел. : 4822 449317, e-mail: science@science. tver.ru
 436.  Рентгеновский дифрактометр AXS D8 Discover (Bruker Corporation)
Анализ рентгенодифракционными методами
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 437.  Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System (Bede Scientific Instruments)
Предназначен для исследования гетероэпитаксиальных структур. Рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок). Проведение качественного фазового анализа; Оценка структурного совершенства кристаллов; Анализ текстуры; Исследование тонкопленочных (в том числе многослойных) структур; Исследование квантово-размерных структур разной размерности (квантовые ямы, квантовые нити, квантовые точки); Определение структурных параметров наночастиц в тонких слоях; Изучение микродефектов и радиационных повреждений в монрокристаллах; Определение шероховатости поверхности и межслойных границ в гетероструктурах; Контроль качества обработки поверхности; Исследование поведения точечных дефектов в сильно неравновесных полупроводниковых системах (ионно-легированные кристаллы, облученные нейтронами объемные кристаллы).
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : (495) 638-45-46, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 438.  Электронный оже-спектрометр PHI-680 (Physical Electronics)
Исследование элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком.
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 439.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI-1500 (Physical Electronics)
Спектроскопические исследования поверхности твердых тел
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 440.  Спектрометр сканирующий фотоэлектронный PHI VersaProbe II 5000 (Physical Electronics)
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 441.  Оже-микроанализатор JAMP-9500F (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оже-электронной спектрометрии
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 442.  Комплекс оборудования для исследования супрамолекулярных систем (электрокинетический анализатор Anton Paar SurPass с вспомогательным оборудованием)
Определение электрокинетического потенциала поверхности минеральных фаз
Безуглова Екатерина Александровна, тел. : 495 7390314, e-mail: BezuglovaEA@mgsu.ru
 443.  Рентгеновский дифрактометр XRD-7000 S (Shimadzu)
Предназначен для анализа структуры веществ
Афанасьев Александр Диомидович, тел. : 3952 405000, e-mail: aad@istu. edu
 444.  Спектральный эллипсометр Микроскан
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектральной эллипсометрии
Ерёмкин Алексей Владимирович, тел. : 8352 452403, e-mail: eremkin80@mail.ru
 445.  Спектрометр рентгеновского поглощения Rigaku R-XAS Looper
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии
Солдатов Александр Владимирович, тел. : 863 2975128, e-mail: soldatov@sfedu.ru
 446.  Оже-электронный спектрометр PHI-660 (Perkin-Elmer)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оже-электронной спектрометрии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 447.  Времяпролетный масс-спектрометр IONTOF SIMS5 (GmbH)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области времяпролетной масс-спектрометрии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 448.  Рентгенофлуоресцентный микроанализатор Фокус М2/ ИРО
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновского анализа
Рыбальченко Виктор Викторович, тел. : 495 2763272, e-mail: vvr_01@mail.ru
 449.  Масс-спектрометрическая установка на вторичных ионах с времяпролетным масс-спектром
Исследование элементного состава материалов методом вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС). Быстрое получение исследуемого спектра масс в TOF-SIMS режиме. Возможность работы как с положительно заряженными вторичными ионами, так и с отрицательно-заряженными (positive and negative SIMS). Возможность распыления образца (очистки) в режиме постоянного ионного пучка. Максимальное разрешение по массе (М/ Δ М) ~ 2000 (FWHM) (Цезиевая пушка). Точность по массе / - 0, 005 amu. Исследование элементного состава материала.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 450.  Спектроскопический эллипсометр SE 800 Sentech Instruments GmbH
Научно-исследовательский прибор предназначен для измерения толщин и свойств тонких пленок методами эллипсометрии с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур. Спектральный диапазон: UV/ VIS: 280… 850 (190 - 2500 или 3500) нм. Размер образца: 6, опция: 8 Подложка образца: Прозрачная / непрозрачная Ручной гониометр: Регулировка угла от 40-90є, шаг 5є, воспроизводимость 0, 01є Исследования с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 451.  Спектрометр универсальный рентгеновский СУР-01 (Реном)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области рентгеновской спектрометрии
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 452.  Спектрометр рентгено-флюоресцентный СПЕКТРОСКАН МАКС-G
Предназначен для общенаучных исследований в области рентгеновской спектроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 453.  Спектрометр рентгеновский кристаллдифракционный СПЕКТРОСКАН МАКС-GV
Предназначен для проведения общенаучных исследований в области дифракционной спектроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 454.  Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах
Предназначено для подготовки проб к анализу на спектрометрах ренгенофлуорисцентных
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 455.  Квадрупольный масс-спектрометр micrOTOF-Q II (Bruker Corporation)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектроскопии
Абрамович Римма Александровна, тел. : 495 7873803, e-mail: abr-rimma@yandex.ru
 456.  Спектроскопический эллипсометр PHE-102 (Angstrom Advanced Inc. )
Мощный и универсальный эллипсометр для проведения исследований широкого круга материалов: диэлектрики, полимеры, полупроводники, металлы, многослойные структуры. Позволяет работать в широком диапазоне длин волн (250 - 1100 нм) с высоким спектральным разрешением.
Каргин Николай Иванович, тел. : 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru; Гусев Александр Сергеевич. тел. (495) 788-56-99 доб. 8438
 457.  Спектроскопический эллипсометр SE 850 (SENTCH)
Мощный и универсальный эллипсометр для проведения исследований широкого круга материалов: диэлектрики, полимеры, полупроводники, металлы, многослойные структуры. Он позволяет работать в широком диапазоне длин волн (250 - 1700 нм) с высоким спектральным разрешением.
Каргин Николай Иванович, тел. : 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru; Гусев Александр Сергеевич. тел. 8 (495) 788-56-99 доб. 8438
 458.  Комбинированный тандемный квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр QqTOF (Sciex Applied Biosystems)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области квадрупольной масс-спектрометрии твердого тела
 459.  Лазерный анализатор дисперстности почв и грунтов Анализетте 22 модель Nano Tec
Предназначен для анализа дисперстности почв и грунтов методом лазерного сканирования
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 460.  Денситометр ДенСкан для ТСХ
Анализ образцов методом тонкослойной хроматографии
Субоч Георгий Анатольевич, тел. : 391 2660390, e-mail: niu@sibgtu.ru
 461.  Микроанализатор спектров (опытный образец лазерной установки)
Лазерный элементный спектральный микроанализ органических и неорганических материалов
Соколова Татьяна Николаевна, тел. : 8452 572644, e-mail: ckp-liotp@yandex.ru
 462.  Времяпролётный масс-спектрометр Triple TOF 5600 (ABSciex)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области времяпролетной масс-спектрометрии
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 463.  Оже-микрозонд PHI-670xi (Physical Electronics)
Анализэлементного состава поверхности и получение профиля распределения элементов по глубине
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 464.  Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TOFSIMS-5-100 (IonTOF)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области ионной масс-спектроскопии
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 465.  Спектрофотометр рентгенфлуоресцентный Х-Арс М с функцией сканирования
Предназначен для экспресс-анализа химического состава различных объектов (позволяет проводить быстрый качественный и количественный анализ образцов на содержание элементов).
 466.  Электронный оже-спектрометр PHI-680 (Physical Electronics)
Предназначен для исследования элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком.
тел. / факс (495) 638-45-46; (495)236-05-12 e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 467.  Спектрометр лазерного импульсного фотолиза модель LP920KS
Предназначен для общенаучных экспериментов в области лазерной спектрометрии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 468.  Спектрометр электронного парамагнитного резонанса EMXplus
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области спектрометрии электронного парамагнитного резонанса
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 469.  Система Renishaw in Via Reflex Spektrometer для Раман спектрального анализа с возбуждением в видимой области спектра
Предназначена для общенаучных экспериментов в области спектрального анализа с возбуждением в видимой области спектра
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 470.  Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 471.  Энергодисперсионный спектрометр ARL QUANT X (Thermo Fisher Scientific)
Элементный анализ неорганических веществ
Тюменцев Василий Александрович, тел. : 351 7997117, e-mail: tyum@csu.ru
 472.  Рентгенофлуоресцентный анализатор БРА-18
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Александров Игорь Васильевич, тел. : 347 2737977, e-mail: iva@mail. rb.ru
 473.  Масс-спектрометр Microflex LT/ SH (Bruker)
Для определения масс биомолекул. Идентификация микроорганизмов.
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@ksu.ru
 474.  Спектрометр последовательного рентгенофлюоресцентного анализа ARL PERFORMX
Предназначен для решения аналитических задач в различных производственных отраслях, таких как: Металлургия; Нефтедобыча; Полимеры; Цемент и огнеупорные материалы; Стекло; Горнодобывающая промышленность и т. д.
 475.  Модуль электронно-ионной спектроскопии на базе платформы НаноФаб 25 (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения комплексного анализа поверхностных слоев твердого тела. В аналитическом модуле могут исследоваться образцы с размерами до 10× 10× 8 мм в условиях сверхвысокого вакуума (2× 10-8Па).
 476.  Спектральный эллипсометр с визуализацией Accurion Nanofilm
Предназначен для решения многочисленных задач метрологии тонких пленок и покрытий, таких как: измерение толщин однослойных и многослойных ультратонких пленок и монослоев, индекса преломления с точностью до третьего знака после запятой, коэффициента затухания, отражения, пропускания, измерения шероховатости и картирования поверхности и др. Также метод дает возможность исследования физико-химических процессов, протекающих на поверхности твердого тела: современная техника эллипсометрии позволяет измерять толщину адсорбционных покрытий с точностью до 0, 02 долей монослоя.
 477.  Компактный спектрометр Scienta R3000
Предназначен для быстрых измерений фотоэлектронной спектроскопии. Новый дизайн линзы с высокой пропускной способностью и детектор, охватывающий интервал по энергии сразу в 12% от энергии пропускания, позволяют проводить чрезвычайно быстрые измерения со скоростью, сравнимой со скоростями для спектрометров Scienta большего диаметра. Различные модификации Scienta R3000 позволяют использовать спектрометр для широкого круга задач - от электронной спектроскопии для химического анализа до ARPES измерений и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в режимах высокого давления.
 478.  Сканирующий спектрофлуориметр Cary 500 Eclipse (Varian)
Предназначен для определения органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах по их спектрам флуоресценции, фосфоресценции, хеми- и био -люминесценции
Голубок А. О. тел. (812) 498-10-65
 479.  Газовый хроматограф / Хромато-масс-спектрометр GC/ MS 600 D (Perkin Elmer)
Проведение анализов смесей газов и летучих жидкостей методами газовой хроматографии и масс-спектрометрии
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 480.  Газоаналитическая система на основе квадрупольного масс-спектрометра STA 409 Luxx/ QMS 403 C (Netzsch)
Качественный и количественный анализ газообразных продуктов разложения неорганических веществ
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 481.  Анализатор ртути PA-915
Является частью аналитического ртутного комплекса, обладающего уникальной возможностью выполнять быстрые селективные измерения концентрации ртути в атмосферном воздухе, газовых потоках, жидких и твердых пробах. Оригинальная оптико-электронная схема анализатора обеспечивает ультранизкий предел обнаружения ртути в режиме прямых измерений (без предварительного концентрирования), высокую селективность анализа и широкий динамический диапазон измерений. Ртутный аналитический комплекс позволяет решать любые задачи, связанные с определением ртути в природных средах и с контролем технологических процессов.
Аналитический центр Химического факультета МГУ
 482.  Модульный спектрометр Ocean Optics Jaz-ULM-200
Предварительно настроенная и откалиброванная спектрометрическая система для контроля качества лабораторных и полевых измерений характеристик светодиодов и других излучателей
 483.  Масс-спектрометр LaserToF LT2 Plus (время-пролетный)
Функция сравнительного анализа спектров позволяет как идентифицировать отличия между спектрами близкородственных микроорганизмов, так и улавливать изменения спектральных профилей, обусловленные изменениями условий культивирования, что необходимо, в частности, при изучении чувствительности патогенных микроорганизмов к антибиотикам. Масс-спектрометры LaserToF LT2 Plus представляют собой автоматизированные многоцелевые измерительные системы, состоящие из ионного источника, вакуумной камеры, анализатора масс и персонального компьютера.
 484.  Зондовая станция EP6 (Cascade Microtech)
Позволяет проводить определение параметров базовых устройств, таких как I-V и C-V измерений, а также анализ отказов.
Рыжук Роман Валериевич. Телефон: (495) 788-56-99, доб. 8439, e-mail: ryzhuk-om@yandex.ru
 485.  Зондовая станция PM8 (Cascade Microtech)
Предназначена для точного аналитического контроля на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм, в частности, для испытания готовых компонентов, анализа неисправностей, высокочастотных (ВЧ) испытаний в диапазоне до 220 Ггц, испытаний оптоэлектронных и микроэлектромеханических схем.
Рыжук Роман Валериевич. Телефон: (495) 788-56-99, доб. 8439, e-mail: ryzhuk-rom@yandex.ru
 486.  Прибор синхронного термического анализа STA 409 CD с квадрупольным масс-спектрометром QMS 403C (NETZSCH-Gerä tebau GmbH)
Дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК), дифференциальный термический анализ (ДТА), измерение изменения массы и анализ выделяющихся газов (квадрупольный масс-спектрометр). Область применения: Синхронный анализ сплавов и керамических материалов ядернойэнергетики и других отраслей промышленности.
Тенишев Андрей Вадимович. Телефон (495) 788-56-99 доб. 9804, e-mail: onil709@mail.ru
 487.  Квадрупольно-времяпролетный масс-спектрометр QStar Elite AB Sciex (Applied Biosystems)
Метод тандемной масс-спектрометрии может быть использован для самых разнообразных приложений – от структурного анализа небольших молекул до качественного и количественного анализа протеинов и пептидов. Область приложений включает криминалистику, фармацевтику, биотехнологии, здравоохранение, экологический мониторинг, безопасность и другие направления. Применение в одном приборе двух масс-анализаторов и расположенной между ними ячейки столкновений позволяет проводить фрагментацию и последующий масс спектрометрический анализ предварительно отобранных родительских ионов пробы, тем самым существенно повышая достоверность определения структуры молекул пробы. Возможность применения различных источников ионов позволяет использовать прибор для анализа как жидких, так и газовых смесей. Потоки элюента от 2 nL/ мин до 1-2 мл/ мин (в зависимости от источника ионов) позволяют совмещать прибор с различными системами для разделения сложных смесей - от электрофореза и нано Высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ) до высокоскоростной ВЭЖХ.
Сысоев Алексей Александрович. Телефон (495) 788-56-99 доб. 96-93, e-mail: alexey. sysoev@mephi.ru.
 488.  Установка время-разрешенной фото-фононной спектроскопии
Предназначена для изучения время-разрешенной интегральной фононной флуоресценции при облучении исследуемых образцов импульсами лазера на красителях.
 489.  ИК-спектральный эллипсометр IR-VASE
Предназначен для спектрального анализа
 490.  Спектрофлюориметр Флюорат-02-ПАНОРАМА с приставкой КРИО-1
Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также в воздухе, почве, технических метериалах после переведения примесей в раствор
ЦКП Исследовательский научно-аналитический центр ФГУП ИРЕА 107076, г. Москва, Богородский вал, д. 3. office-irea@mail.ru, тел. 7 (495) 963-70-70
 491.  Сканирующая цифровая аэрокамера АФА6У92 Explore 300HDV
Основное (Испытание авиационной техники)
 492.  Масс-селективный детектор (аналитический комплекс)
Лабораторное оборудование (научные исследования и разработки)
 493.  Кулонометрический титратор в комплекте
Научно-исследовательское/ лабораторное (Определение воды по Фишеру)
 494.  Координатно-измерительная аппаратура в комплекте со сканирующей системой
Вспомог. (контроль точности изготовления моделей гребных винтов)
 495.  Детектор LaBr3(Ce)38X38 мм, ФЭУ с делителем напряжения, программным обеспечением Genie 2000
Лабораторное (спектрометрия излучения)
 496.  Спектрофлюориметр Флюорат-Панорама
Предназначен для проведения спектрофлюориметрических исследований
 497.  Спектрофлюориметр Cary Eclipse (Varian)
Предназначен для исследования спектральных составляющих веществ
Егоров Николай Борисович, egorov@tpu.ru
 498.  Анализатор Флюорат-02-3М (в комплекте)
Фильтровый флуориметр для рутинных измерений объектов с предварительно установленными спектральными характеристиками фотолюминесценции. Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также воздухе, почве, технических материалах, пищевых продуктах после переведения примесей в раствор.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 499.  Спектральный эллипсометр VUV-VASE (Woollam)
Измерения оптических и световых свойств
8-499-720-69-07
 500.  Система автоматического определения воды - титратор V30
Определение содержания воды
 501.  Рентгено-флюоресцентный спектрометр Quan-X
Предназначен для проведения спектрометрических исследований
Дорофеева Наталия Валерьевна, т. 606-258
 502.  Рентгеновский Si-PIN-детектор AMPTEK с процессором спектрометрических импульсов
Предназначен для рентгеновских исследований
Ляпков Алексей Алексеевич, (382) 270-17-77 доб. 1411
 503.  Рентгено-флуоресцентный спектрометр сканирующего типа (последовательный) XRF-1800 (Shimadzu)
Предназначен для исследования оптического пропускания и поглощения прозрачных образцов в ИК, ВИД и УФ диапазонах
Галдина Анна Юрьевна, координатор проектов, тел. (843) 238-91-59, e-mail: antik139@yandex.ru
 504.  Лазерный эллипсометрический комплекс ЛЭК-9105
Проведение прецизионных измерений толщины однослойных и многослойных тонкопленочных структур, исследование спектральных оптических постоянных (показателя преломления и коэффициента поглощения), структурных свойств материалов (пористость; наличие, концентрация и распределение примесей в пленке).
 505.  Иономер И-160МИ
Прямое и косвенное потенциометрическое измерение активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (pX), окислительно-восстановительных потенциалов (Eh) и температуры в водных растворах с представлением результатов в цифровой форме и в виде аналогового сигнала напряжения постоянного тока.
 506.  Автотитратор АТП-02
Проведение титрования с использованием общего метода потенциометрического титрования, кислотно-основного титрования, титрования по методу осаждения и др.
 507.  Иономер И-160
Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), активности и концентрации ионов
кафедра Безопасность жизнедеятельности, Тел. 8 (861)274-40-48, innovazionni@kubstu.ru, nastya_Yakovleva89@mail.ru
 508.  Иономер Анион 7010
Для измерения показателя рН в различных растворах, в окружающей среде, сырье, пищевой продукции и так далее.
Боме Н. А. 89129236177 bomena@mail.ru
 509.  Автоматический титратор с комплектом для титрования по Карлу Фишеру TitroLine alpha plus TL 20
Предназначен для измерение содержания воды
кафедра Технологии жиров, косметики, товароведения, процессов и аппаратов , Тел. 8 (861)274-40-48, innovazionni@kubstu.ru, nastya_Yakovleva89@mail.ru
 510.  ФЛЮОРАТ-02-2М
Экспресс-анализ воды
Наименование учреждения: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный машиностроительный университет (МАМИ)/ Университет машиностроения/ Наименование подразделения: Институт инженерной экологии и химического машиностроения Контактное лицо: Беренгартен Михаил Георгиевич Адрес: 105066, Москва, ул. Старая Басманная, д. 21/ 4 Тел. : 8 (499) 267-07-02
 511.  Спектрофлюориметр исследовательского класса Shimadzu RF-5301 PC
Получение и регистрация спектров люминесценции и спектров возбуждения в образцах.
Соловьёв Владимир Сергеевич E-mail: vnd3@yandex.ru Тел. : 8 (3452) 25-51-20
 512.  Рентгеновский волновой флуоресцентный спектрометр XRF-1800 (Shimadzu)
Предназначен для анализа состава и структуры веществ и материалов
Первухин Сергей Васильевич, (391) 2912-848
 513.  Рентгенофлуорисцентный спектрометр Quant`X (Thermo)Quant`X
Спектрометрия
Российская Федерация, 660041, г. Красноярск, пр. Свободный, 79 Сибирский федеральный университет Научно-исследовательская часть Первухин Сергей Васильевич (391) 2912-848
 514.  Рентгенофлуорисцентный спектрометр Advant`X (Thermo)Advant`X
Спектрометрия
Российская Федерация, 660041, г. Красноярск, пр. Свободный, 79 Сибирский федеральный университет Научно-исследовательская часть Первухин Сергей Васильевич (391) 2912-848
 515.  Иономер И-160
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 516.  Анализатор Флюорат-02-АБЛФ-Т
Учебный процесс, НИР. Анализатор проводит спектральный флуориметрический количественный анализ органических веществ. Предназначен для выполнения измерений объектов, для которых предварительно установлены спектральные характеристики фотолюминесценции. Применяется для экспресс-анализ воды водоемов и водотоков на содержание загрязнителей, скринингового обследования акваторий, имеющих риск загрязнения нефтепродуктами, мониторинговых исследований содержания поллютантов в водоемах, контроля загрязненности почв и грунтов нефтепродуктами и тяжелыми металлами.
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 517.  Прибор универсальный ультразвуковой сканирующий Карис плюс
Ультразвуковое сканирование в медицине
Киндаров Заур Баронович e-mail: kzb. 07@mail.ru
 518.  Сканирующий спектрофлюориметр
Спектрофлуориметр широкого профиля для проведения исследовательских работ и рутинных измерений в фармацевтических, биохимических и биофизических лабораториях, лабораториях молекулярной биологии, обладающий максимальной чувствительностью, скоростью и мощным пакетом программного обеспечения
 519.  РН-метр/ ионометр/ титратор МУЛЬТИТЕСТ ИПЛ-111-1 (16726, 50))
Предназначен для измерения рН и концентрации ионов
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 520.  Кулонометрический титратор C20D
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 521.  СЗМ FemtoScan
Исследование морфологии поверхности, анализ размера зерен, определение шероховатости поверхности, распределение высот
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 522.  Рентгено-флуоресцентный спектрометр
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 523.  Титратор автоматический 870 KFTitrinoplus
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 524.  Спектрофлюориметр сканирующий в комплекте Carry Eclipse R3896
Исследование спектров
Василенко о. А. 8 (499) 978-83-99
 525.  Спектрометр рентгеновский
Определение содержания любых химических элементов в диапазоне от натрия до урана в материалах, находящихся в твердом, жидком или порошкообразном состоянии
E-mail: olukina@ugtu. net, тел. : (8216) 700-640
 526.  Титратор DL 15
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 527.  Спектрофлюориметр RF-5301 (Shimadzu)
Является прибором высокого класса. Наличие дополнительного приспособления - автоматическая блокировка возбуждения флуоресценции после проведенных измерений, позволяет предотвратить разложение флуоресцирующего образца. Источник излучения - ксеноновая лампа 150 Вт с деозонатором. Спектральный диапазон: 220-750 нм
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. (3822) 53-48-45
 528.  Спектрофлюориметр Флюорат-02
Спектрофлюорометрические измерения
Немич Виктор Николаевич, директор НИУ СибГТУ; тел. 8(391) 266-03-90; E-mail: nvn@sibgtu.ru
 529.  Микрофокусный рентгеновский флуоресцентный спектрометр
Определение элементного состава
8(495)276-33-83
 530.  Спекторфлюориметр Флюорат-02-1 Панорама, 101040001411
Определение низких концентраций неорганических и органических веществ
Шашканова Ольга Юрьевна, 7(4742)328155
 531.  Аналитич комплекс СПЕКТРОСКАН МАКСМ-GV
Предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры.
 532.  Титратор автоматический Titration Excellence T70 Terminal с автоматическим податчиком образцов Rondo 20
Предназначен для автоматизации титрований, связанных с дозированием нескольких титрантов и вспомогательных реагентов. Рекомендуется для постановки нескольких методик на одном приборе благодаря полнофункциональным дополнительным приводам.
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 533.  Термометрический титратор
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 534.  Титратор автоматический 907 Titrando Metrohm
Автоматическое титрование растворов веществ
420008, г. Казань, ул. Кремлевская, 29, Химический институт им. А. М. Бутлерова, кафедра неорганической химии
 535.  Диффенциальный сканирующий калориметр Setaram LabSys Evo
Термический анализ образцов различной природы
191186 город Санкт-Петербург, улица Большая Морская, дом 18, кабинет 337, телефон (812) 315-02-70, uon_nicron@sutd.ru
 536.  УФ-спектрометр СФ-56 (ЛОМО)
УФ-спектроскопия растворов, изучение кинетики, качественный и количественный анализ
191186 город Санкт-Петербург, улица Большая Морская, дом 18, кабинет 337, телефон (812) 315-02-70, uon_nicron@sutd.ru
 537.  УФ-спектрометр Shimadzu UV-1800
УФ-спектроскопия растворов, изучение кинетики, качественный и количественный анализ
191186 город Санкт-Петербург, улица Большая Морская, дом 18, кабинет 337, телефон (812) 315-02-70, uon_nicron@sutd.ru
 538.  Иономер И-120
Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Еh), концентрации (активности) ионов.
ЮРГПУ(НПИ) Управление по научной работе и инновационной деятельности Тел. 8(86352)55220 email: unridnpi@gmail.com
 539.  РН-метр/ иономер АНИОН-4110
Для измерения рН растворов
 540.  Спектрофлуориметр RF-1501
Флуоресцентные спектрофотометры высокого класса для научных исследований и рутинных анализов. беспечивают регистрацию спектров возбуждения и испускания, автоматический поиск спектральных максимумов, выбор уровня усиления сигнала, автоматические измерения (в том числе кинетические) с усреднением данных, операции со спектрами (арифметические, сглаживание, дифференцирование, логарифмирование и др. ), калибровки, количественные измерения, сохранение, распечатку и воспроизведение методик и результатов анализа.
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 541.  Спектральный быстродействующий эллипсометрический комплекс Эллипс-СБ
Прецизионные измерения толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 542.  Сканирующий спектрометр UV-2600 Shimadzu
Измерение спектров поглощения и пропускания водных и неводных растворов и суспензий неорганических и органических веществ в видимом и ультрафиолетовом диапазонах. Исследование динамики изменения спектров поглощения во времени.
Горный университет, каф. АТПП, Шариков Юрий Васильевич, т. 911-213-15-96; YVShar@mail.ru
 543.  Лабораторный 5-ти канальный иономер-кондуктометр-термометр АНИОН-4155
Измерение общей минерализации в пересчете на NaCl и других электролитов, окислительно-восстановительного потенциала Eh, удельной электрической проводимости, температуры воды, ЭДС электродных систем, активности ионов водорода, молярной концентрации ионов и массовой концентрации ионов
 544.  Иономер микропроцессорный И-500(базовый)
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 545.  Спектрофлуориметр с расширенным спектральным диапазоном 210-840 нм
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 546.  Спектрофлуориметр Флюорат-02-Панорама
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 547.  Спектрофлуориметр RF-5310PC, Shimadzu
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 548.  Сканирующий спектрофлуориметр Элюмин-2М
Предназначен для регистрации низкотемпературных спектров люминесценции и возбуждения люминесценции в области 250 – 900 нм.
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 549.  Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Сканирующий спектрофотометр Varian Cary Eclipse предназначен для исследования люминесценции и позволяет регистрировать спектры флуоресценции и фосфоресценции, а также возбуждения флуоресценции и фосфоресценции.
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 550.  Титратор G20 автоматический в комплекте
Опредение концентраций веществ
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 551.  Ультрафиолетовый диодноматричный детектор с проточной кюветой
Анализ сложных смесей жидких проб труднолетучих и нелетучих высокомолекулярных соединений (в т. ч. биомолекул) с предварительным разделением на жидкостном хроматографе, анализ индивидуальных чистых высокомолекулярных соединений.
 552.  Спектрометр ОЖЕ
Измерение ОЖЕ спектров
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 553.  Прибор спектрального анализа Эллипсоид
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 554.  Спектрофлуориметр RF-5301 Shimadzu
Исследование состава и свойств веществ
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 555.  Универсальный иономер ЭВ-74
Настольный многопредельный прибор
г. Чита, ул. Амурская 15, ЗабГУ, кафедра водного хозяйства и инженерной экологии Курганович Константин Анатольевич тел. : (3022)26-42-56, факс: (3022)32-48-58
 556.  РН-метр/ иономер АНИОН-4110
Для измерения рН растворов
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта/ Народной воли, д. 62/ 45, ФГБОУ ВПО УрГЭУ, кафедра физики и химии, тел. (343) 221-27-13, 221-17-65, sny@usue.ru
 557.  Рентгенофлуорецентный энергодисперсионный спектрометр EDX 3600
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 558.  Комплект оборудования для определения массовой доли хлористых солей в нефти прямым потенциометрическим титрованием по ГОСТ 21534 метод В (титратор) DL50 Graphix (метод Б)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 559.  Портативный иономер/ кислородомер/ БПК- тестер Анион-7050
Предназначен для проведения многокомпонентного анализа проб методом потенциометрии (одновременно от 3 до 5 электродных систем), кондуктометрии и амперометрии, позволяет производить измерения с наибольшей производительностью.
308012, г. Белгород, ул. Костюкова, 46 факс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupic@yandex.ru
 560.  Спектрофлуориметр RF 5301 PC
Анализ флуоресцирующих соединений
ЦКП Химический анализ и идентификация веществ 625003, г. Тюмень, ул. Перекопская 15А, лаб. 116-117 Третьяков Н. Ю. тел. : 79044921561 Email: nikckp@mail.ru
 561.  Рентгенфлуоресцентный спектрометр на основе ПВО РФС-001
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 562.  РН-метр/ иономер АНИОН-7010
Для измерения, содержания ионов в растворе
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта/ Народной воли, д. 62/ 45, ФГБОУ ВПО УрГЭУ, кафедра физики и химии, тел. (343) 221-27-13, 221-17-65, sny@usue.ru
 563.  Спектрометр рентгеновского поглощения Rigaku R-XAS
Для измерения спектров рентгеновского поглощения вещества.
1) 344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru 2) Солдатов Александр Владимирович, профессор, д. ф-м. н: soldatov@sfedu.ru Тел. 8(863)2975326
 564.  Титратор Фишера Эксперт-007
Прибор предназначен для определения концентрации воды в неводных жидкостях
Говоров Виталий Александрович, Vitaly-Govorov@yandex.ru 79175334056 7(495)3627735
 565.  Микропроцессорный рН-метр-иономер И-500
Определение рН среды
308012, г. Белгород, ул. Костюкова, 46факс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupic@yandex.ru
 566.  Иономер лабораторный И-160М
Потенциометрическое измерение (прямое и косвенное) активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (рХ), измерение окислительно-восстановительных потенциалов (Еh) и температуры в водных растворах
ВГПУ, ул. С. Орлова, д. 6, г. Вологда, 160000 wgpunis@rambler.ru 8(8172)72-52-41
 567.  Иономер И-160а 1. 35. 10. 0050
Потенциометрическое измерение (прямое и косвенное) активности ионов водорода (pH), активности и концентрации других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (рХ), измерение окислительно-восстановительных потенциалов (Еh) и температуры в водных растворах
ВГПУ, ул. С. Орлова, д. 6, г. Вологда, 160000 wgpunis@rambler.ru 8(8172)72-52-41
 568.  Компактный рентгеновский дифрактометр-спектрометр Радиан ДР-02
Исследование микро- и наноструктур и контроль над их получением. Анализ новых веществ; Исследование различных твердых материалов, веществ и изделий, имеющих кристаллическую структуру с целью определения их параметров; Изучения профиля дифракционных пиков; Измерение остаточных напряжений в материале; Исследование тонких пленок; Кристаллографические исследования.
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 569.  Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре
Для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре
зав. кафедрой Нищев Константин Николаевич тел. (834) 2-24-24-44
 570.  Анализатор жидкости (спектрофлуориметр) ФЛЮОРАТ-02-ПАНОРАМА (Люмэкс)
Предназначен для широкого круга научных и методических исследований спектрально-временных характеристик люминесценции самых разнообразных объектов: растворы; твёрдые образцы, в том числе замороженные до температуры жидкого азота; оптические стёкла; порошки
Соколов Михаил Евгеньевич, тел. (861) 219-96-18, e-mail: sokolovme@mail.ru
 571.  Спектральный быстродействующий эллипсометр ЭЛЛИПС-900 АСБ
Позволяет проводить измерения в оптическом диапазоне от ближнего ИК вплоть до вакуумного ультрафиолета. Основная область применения - научные исследования: измерение спектров оптических постоянных и спектральных характеристик различных материалов, анализ слоистых структур, характеризация сверхчистой поверхности. Измерение толщин пленок.
344090, г. Ростов-на-Дону, ул. Мильчакова, 10 тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 572.  Сканирующий приемник - Winradio WR-G31DC EXCALIBUR, 101042000265
Проведение исследований случайных процессов случайных процессов электромагнитной природы.
Осинин Владимир Федорович 8(4742)32-82-05
 573.  Сканирующая камера системы PIV
Исследование свойств потоков жидкости с помощью визуализации
для печати биочипов
 574.  Спектрофлуориметр Сary Eclipse
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344090, г. Ростов-на-Дону, пр. Стачки 194/ 2, тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 575.  Установка нестационарной спектроскопии глубоких уровней DLS-83D
Для контроля параметров полупроводниковых структур (параметров глубоких уровней) в процессе их изготовления
зав. кафедрой Беспалов Николай Николаевич тел. (834) 2-24-37-05
 576.  Автоматический титратор DL50 G
Научное оборудование
 577.  Спектрофлуориметр, Fluorolog 3 с конфокальным микроскопом
Исследование люминесценции в диапазоне 200-800 нм
8 (812) 328-86-83
 578.  Иономер МА 235
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 579.  Лаборатория сканирующая зондовая Nanoeducator с нанокомплексом
Сканирование нано-объектов
 580.  Иономер лабораторный И-160М
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 581.  Иономер И-500
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 582.  Иономер, рН метр, титратор
Цифровой анализатор жидкости
 583.  Иономер, рH-метр ИПЛ-301
Определение молярной и массовой концентрации ионов
 584.  Комплект вакуумного спектрометра McPhersonModel 248/ 310G для исследования экстремального вакуумного ультрафиолета и мягкого рентгена
Исследования в радиационной физике
 585.  Иономер, рH-метр ИПЛ-201
Определение молярной и массовой концентрации ионов
 586.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (Jeol)
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Jeol JPS 9010 (Япония) позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр эффективно используется для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также для оценки их эксплуатационных характеристик.
тел. (347) 273-06-76
 587.  Иономер, рH-метр ИПЛ-101
Определение молярной и массовой концентрации ионов
 588.  Иономер И-160 М
Определение активности ионов водорода среды
Прейс И. В, (4872) 33-24-42 300012, г. Тула, пр. Ленина, 92.
 589.  Анализатор Флюорат-02-2М
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 590.  Иономер лабораторный И-160
Предназначен для измерения активности одновалентных и двухвалентных катионов и анионов, окислительно-восстановительных потенциалов и температуры в водных растворах.
Кафедра водоснабжения и водоотведения. Зав. кафедрой Васильев Алексей Львович (8 - 831) 430 54 87; e-mail: k_viv@nngasu.ru
 591.  Спектрометр универсальный рентгеновский СУР Реном-01
Проведение исследований фазового состава
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 592.  Система микроанализа Quantax
Элементный анализ материала
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 593.  Система микроанализа INCA Energy 250 (Oxford Instruments)
Элементный анализ материала
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 594.  Титратор автоматический кулонометрический влаги по Карлу Фишеру серии МКС модели МКС-520
Определение содержания влаги в нефтепродуктах.
665709 Иркутская область, г. Братск, ул. Макаренко, 40, Братский государственный университет, научно-исследовательская лаборатория анализа нефтепродуктов и атмосферы Тел. : 8(3953) 32-53-81
 595.  Спектрофлуориметр
Измерение спектров люминесценции
(846)334-54-04
 596.  Лазерная сканирующая система RIEGL VZ-400 в комплекте с цифровой камерой Nikon D700
Геодезические изыскания и топографияИзыскания As-Built, контроль соблюдения проектовГражданское строительствоАрхитектурные и фасадные измеренияСъемка археологических объектов и объектов культурного наследия
Центр энергоэффективности Директор - Молчанов Сергей Васильевичтелефон (4012) 595 595, добавочный 9160e-mail: smolchanov@innopark. kantiana.ru
 597.  Спектрофлуориметр RF-5310PC, Shimadzu
1. Возможность регистрации спектров возбуждения и испускания с последующей обработкой спектров (определение положения максимумов и минимумов, определение измеряемой величины в выбранных точках, расчет площади, вычитание спектров, производные 1-4 порядка, сглаживание, арифметические операции и логарифмирование). Вывод на экран до 10 спектров одновременно; 2. Построение градуировочной кривой и расчет уравнения 1-3 порядка, усреднение измерений, определение концентраций неизвестных образцов, использование от 1 до 20 стандартов; 3. Регистрация изменения сигнала во времени.
Лунегов Игорь Владимирович, заведующий кафедрой радиоэлектроники и защиты информации телефон: (342) 2-396-231 e-mail: lunegov@psu.ru
 598.  Спектрофлюориметр сканирующий
Предназначены для измерения спектров разнообразных соединений
163002, Набережной Северной Двины, 17. кафедра теоретической и прикладной химии
 599.  Спектрофлуориметр RF-5301 PC (Shimadzu)
Предназначен для количественного химического анализа органических и неорганических веществ. Область применения: в фармацевтической и пищевой промышленности, при экологическом мониторинге, научно-исследовательские исследования химические, биохимические и биологические лаборатории.
Брюханов Валерий Венимианинович, e-mail: VBryukhanov@kantiana.ru
 600.  Анализатор Флюорат-02-2М
Предназначен для измерения массовой концентрации неорганических и органических примесей в воде, а также воздухе, почве, технических материалах, пищевых продуктах.
Людмила Муратовна Кубалова, зав. лабораторией физико-химического анализа, тел. (8672)531214, моб. 89188261844
 601.  Спектральный Эллипсометр HORIBA Jobin Ivon Auto Se System
Авто SE является новым тонким инструментом измерения пленок, который проводит полностью автоматический анализ тонких образцов пленок с простым управлением. Анализ пробы занимает всего несколько секунд и предоставляет полный отчет, который полностью описывает тонких пленок - в том числе толщина пленки, оптические константы, шероховатость поверхности, и неоднородностей пленки
Брюханов Валерий Венимианинович, e-mail: VBryukhanov@kantiana.ru
 602.  Спектральный эллипсометрический комплекс Эллипс-1891
Оптические измерения
solovyev_v55@mail.ru
 603.  Рентгенофлоуресцентный спектрометр серии AKR 9900 WorkStation с встроенной системой дифракции
Исследование рентгено-фазового и химического состава образцов материалов.
308012, Белгород ул Костюкова д46 Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 604.  Спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный Спектроскан Макс GV
Данный рентгеновский спектрометр предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры.
308012, Белгород, ул. Костюкова, д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 605.  Энергодисперсионный флуоресцентный рентгеновский спектрометр серии Rayny EDX– 800HS
Назначение: 1. Элементный анализ твердых, порошковых и жидких проб различных материалов в диапазоне элементов от углерода (С) до урана (U) в динамическом диапазоне измерений от (10 – 2 до 100) %. 2. Количественный анализ тонких плёнок. 3. Количественное определение всех элементов от F до U в твёрдых и жидких пробах с использованием метода фундаментальных параметров без использования стандартных образцов. 4. Анализ образцов неизвестного состава, нестандартного размера и формы диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм. Области применения: Металлургия, геология, нефтедобыча, цементная промышленность, огнеупоры, стекло, горнодобывающая промышленность, криминалистика, объекты окружающей среды Технические характеристики: 1. Рентгеновская трубка с Rh-анодом, напряжение на трубке 5-50 киловольт, ток 1 – 1000 мкА, охлаждение воздушное. 2. Детектор – полупроводниковый Si (Li), охлаждение жидким азотом только на время измерений. 3. Встроенная цифровая видеокамера, позволяющая в комплекте с коллиматорами автоматически выбирать и наблюдать за облучаемым участком образца диаметром от 1 до 10 мм для анализа неоднородных образцов без их предварительной гомогенизации с получением информации о распределении элементов по образцу. 4. Автосамплер на 16 образцов. 5. Вакуумная система для определения лёгких элементов. 6. Автоматическая смена 4 коллиматоров диаметром 1, 3, 5 и 10 мм. 7. Автоматический выбор 4-х первичных фильтров. Программное обеспечение позволяет управлять прибором и обрабатывать информацию в автоматическом режиме; создавать и настраивать программы измерений; осуществлять количественный анализ методами фундаментальных параметров и калибровочных кривых; матричную коррекцию (не менее 4 типов), учёт неопределяемых элементов методом фоновых фундаментальных параметров; определять толщины и состав тонких плёнок и покрытий неорганической и органической природы.
350040, г. Краснодар, ул. Ставропольская, 149 УНПК Аналит, кафедра аналитической химии рук. Темердашев Зауаль Ахлоович тел. (861)2199571, 2199572 e-mail: analyt@chem. kubsu.ru
 606.  Эллипсометр HORIBA Jobin Yvon UVISEL 2
Измерение оптических свойств образцов.
308012, Белгород, ул Костюкова д 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 607.  Спектрофлуориметр СМ 2203
Прибор для проведения качественного и количественного анализа в ультрафиолетовой и видимой области спектра
 608.  Конструктор оптико-механический Edmund Optics
Оптические методы регистрации нелинейных процессов в химических системах
Ванаг Владимир Карлович - Директор химико-биологического института БФУ им. И. КантаАдрес электронной почты: vkvanag@gmail.com, vvanag@kantiana.ruРабочий телефон: 5000, 53-37-07
 609.  Сканирующий спектрофлуориметр Cary Eclipse (Varian)
Проведение абсорбционно-люминесцентных измерений, включая спектры возбуждения люминесценции в спектр. диапазоне 200-900 нм
Голубок А. О. , тел. (812) 498-10-65
 610.  Анализатор Флюорат - 02 - Панорама в комплекте
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Василено О. А. 8 (499) 978-83-00
 611.  Спектрофлуориметр СМ 2003
Предназначен для анализа ультрафиолетовой и видимой области спектра, профессиональный стационнарный спектрофлуориметр СМ 2203 обеспечивает высокочувствительные и стабильные измерения.
 612.  Широкополосный сканирующий приемник Icom IC-R9500
Оборудование предназначено для приема и обработки информации
г. Красноярск, пр-т. имени газеты Красноярский рабочий, 31, тел. 7(391)291-90-19
 613.  Анализатор спектра для наблюдения и измерения относительного распределения энергии
Анализатор в биологии — то же, что сенсорная система. Анализатор спектра — прибор для наблюдения и измерения относительного распределения энергии электрических (электромагнитных) колебаний в полосе частот. Анализатор трафика — в компьютерных сетях. Лазерный анализатор — лабораторный лазерный анализатор размеров частиц. Логический анализатор — устройство, предназначенное для записи и анализа цифровых последовательностей.
450076, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 614.  Установка рентгено-спектральная СРМ-20
Предназначен для автоматического проведения экспрессного многокомпонентного анализа различных материалов рентгеноспектральным методом в диапазоне от фтора до урана
 615.  Автоматический потенциометрический титратор АТП-02
Предназначен для измерения концентрации ионов и веществ в растворах в автоматическом режиме различными методами объёмного титрования. Позволяет измерять активность ионов водорода и др. ионов, ЭДС электродных систем и др. источников постоянного тока, температуру растворов, а также может быть использован в качестве дозаторов высокой точности
ОмГТУ, кафедра Химия, тел. 8(3812) 65-98-11, зав. каф. Воронкова Наталья Артёмовна, доцент Шубенкова Екатерина Гаррьевна, доцент Федяева Оксана Анатольевна
 616.  РН-метр/ иономер ЭКСПЕРТ-001-3(0. 1) в комплекте с блоком сопряжения, 1-07
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 617.  Спектроскоп OPL R
Оптический прибор, используемый в спектроскопических исследованиях.
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 618.  Установка для изучения тонкой структуры спектральной линии ртути и спектра паров натрия
Установка для изучения тонкой структуры спектральной линии ртути и спектра паров натрия позволяет демонстрировать расщепление желтых дуплетов спектров ртути и натрия с помощью высокоразрешающих отражающих дифракционных решеток.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 619.  Комплекс аналитический GCMS-QP2010 Ultra
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 620.  Спектрофлуориметр Fluoromax 4
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 621.  Энергодисперсионный рентгенофлюоресцентный спектрометр
Рентгенофлуоресцентный анализ состава и дефектов тонких плёнок, полупроводников, магнито-оптических дисков, жидких кристаллов. Определение токсичных металлов
Анциферов Владимир Никитович, академик РАН, д. т. н. , профессор, тел. (342) 239-11-19, факс (342) 319-11-22
 622.  Легкий набивной зонд
Лабораторные испытания грунтов
644 080 г. Омск, пр. Мира 5 тел. (3812) 65-37-04, Хоробрых Валерий Владимирович
 623.  Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Therma (НТ-МДТ)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 624.  PH-метр-иономер ИПЛ-111
PH-метр-иономер ИПЛ-111 предназначен для измерения активности ионов водорода (pH), активности и концентрации ионов любой валентности, а также окислительно-восстановительного потенциала (Eh) методом прямой потенциометрии, для определения концентрации различных компонентов методами титрования до заданной точки с потенциометрическим определением конечной точки титрования, для измерения температуры.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 625.  Спектрометр рентгеновский кристалл дифракционный СПЕКТРОСКАН МАКС-G
Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр может применяться в различных отраслях науки техники для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.
Ванаг Владимир Карлович - Директор химико-биологического института БФУ им. И. КантаАдрес электронной почты: vkvanag@gmail.com, vvanag@kantiana.ruРабочий телефон: 5000, 53-37-07
 626.  Лабораторный иономер И-160МИ
Иономер лабораторный И-160МИ предназначен для измерения показателя активности ионов водорода (pH) и других одновалентных и двухвалентных анионов и катионов (pX), а так же массовой, молярной концентрации и массовой доли ионов (cX) (далее - концентрация), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), электродвижущей силы (ЭДС) электрохимических датчиков и температуры водных рас-творов. Прибор осуществляет индикацию результатов измерения на цифровом показы-вающем устройстве, а также преобразовывает измеренные величины в пропорцио-нальные аналоговые и цифровые выходные сигналы. Прибор может быть использован в лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских учреждений и других областях хозяйственной деятельности
364060, г. Грозный, бульвар Дудаева, 17. ЦКП ЧГУ. Шуаипов Каир Абдул- Вахидович. Тел. 8-928-786-04-80. E-mail: kshuaipov@mail.ru
 627.  Спектрометр рентгеновский ARL OPTI X (Thermo Electron Corporation)
Предназначен для рентгеновской спектрометрии
 628.  Спектрофлюориметр флюорат-02 ПАНОРАМА
Применяется для аналитического контроля объектов окружающей среды, санитарного контроля и контроля технологических процессов.
 629.  Спектрофлюориметр СМ 2203
Используется для получения спектров поглощения, люминесценции и пр. в видимой и ультрафиолетовой области спектра
 630.  Иономер/ кондуктомер Анион 4154-55
Предназначен для измерения: активности ионов (рХ), ЭДС электродных систем, окислительно-восстановительного потенциала (Eh), молярной и массовой концентрации ионов, удельной электрической проводимости (УЭП), солесодержания в пересчете на СNaCl, концентрации растворенного кислорода, температуры водных растворов
E-mail: olukina@ugtu. net, тел. : (8216) 700-640
 631.  Титратор АТП-02 потенциометрический
Прибор позволяют проводить титрование, определять кислотные и щелочные числа, содержание S, Cl, Pb и других веществ в нефтепродуктах, минеральных и пищевых маслах и других продуктах по ГОСТ.
Кемеровский технологический институт пищевой промышленности НИИ биотехнологии Тел. / факс (3842) 39-68-73, 39-68-74 e-mail: olich. 43@mail.ru
 632.  Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС)
• Изучение электронных и колебательных уровней энергии молекул. • Изучение потенциалов ионизации (как вертикальные, так и адиабатические). • Изучение характера молекулярных орбиталей. • Установление закономерности электронного строения молекул в изоэлектронных, изовалентных и т. п. рядах. • Выявление влияние заместителей. • Установление донорно-акцепторных свойств заместителей. • определение структуры внутренних и валентных электронных уровней поверхности вещества и свободным молекул, элементный анализ, • количественный анализ, • исследование изменения концентрации веществ по глубине в приповерхностном слое.
690600, г. Владивосток, ул. Суханова, 8e-mail ognev. av@dvfu.ru89242302008Огнев Алексей Вячеславовичe-mail pustovalov. ev@dvfu.ru84232457719Пустовалов Евгений ВладиславовичЩипунов Юрий Анатольевич 4232-448557, Факс: 4232- 448257, Е-mail: YAS@ich. dvo.ru
 633.  Спектрофлуориметр RF 5301 Shimadzu
Определение активности этоксирезоруфин-O-диэтилазы в эмбрионах морского ежа как специфического молекулярного биомаркера действия нефтяных углеводородов, а также низкомолекулярных антиоксидантов (токоферол)
 634.  Поляризационный спектрофлуориметр ISS PC-1
Для измерения анизотропии, спектров поляризации и синхронной люминесценции при кинетических исследованиях с миллисекундным разрешением
690600, г. Владивосток, ул. Суханова, 8 e-mail ognev. av@dvfu.ru 89242302008 Огнев Алексей Вячеславович e-mail pustovalov. ev@dvfu.ru 84232457719 Пустовалов Евгений Владиславович Щипунов Юрий Анатольевич 4232-448557, Факс: 4232- 448257, Е-mail: YAS@ich. dvo.ru
 635.  Милливольтметр -иономер И-160
Предназначен для определения в водных растворах активности ионов водорода (рН), окислительно-восстановительного потенциала (Eh), активности и концентрации ионов: H , Li , Na , K , NH4 , Ag , X , NO3-, ClO4-, F-, Cl-, Br-, I-, CN-, SCN-, Ca , Ba , Mg , (Ca Mg) , Pb , Cd , Cu , Hg , X , CO3--, S-- и др. Иономер И-160МП применяется в аналитическом контроле различных объектов (воды, пищевых продуктов, сырья, фарм- и ветпрепаратов, объектов окружающей среды и т. д. ), а также в производственных системах непрерывного контроля технологических процессов.
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 636.  Универсальный лабораторный титратор Mettler Toledo DL 22
Предназначен для определения содержания хлоридов в продуктах, для определения pH фруктовых соков, вина, молока, сыра, для определения концентрации кислот в водных растворах. Используется для анализа воды: для определения общей жесткости воды, ее щелочности, величины рН, содержания в воде хлоридов, перекисного числа. Прибор позволяет определять содержание свободных жирных кислот в неводных растворах (маслах, жирах), определять концентрацию SO2 в вине, содержание витамина С во фруктовых соках, кашах и других продуктах.
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 637.  Лабораторный титратор METROHM 870 KF TITRINO plus
Прибор предназначен для волюметрического определения воды по методу Карла Фишера.
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 638.  Универсальный лабораторный титратор METROHM 848 TITRINO plus
Проведение кислотно-основного титрования, нитритометрии, неводного титрования. Динамическое титрование с адаптацией приращений объемов к наклону кривой титрования. Монотонное титрование с выбираемыми фиксированными приращениями объема. Титрование до заданной конечной точки (потенциометрически или поляризованными электродами); могут быть установлены две конечные точки. Измерение величины рН, напряжения и температуры.
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 639.  Рентгено-флуоресцентный спектрометр в комплекте с оборудованием подготовки проб
Предназначен для качественного и количественного анализа.
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 640.  Флюорат-02-Панорама/ анализатор
Установка для исследования спектров флюоресценции в зависимости от длинны волны возбуждающего излучения. Определение концентрации флюоресуирующих веществ.
Официальный почтовый адрес: 241036, г. Брянск, ул. Бежицкая, д. 14 Контактные телефоны: (84832) 666442 Факс: (84832) 666442 Адрес электронной почты (email): bryanskgu@mail.ru Официальный web-сайт: http: / / www. brgu.ru/
 641.  Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Aura (НТ-МДТ)
Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Специализация – измерение слабых сил (электрических, магнитных, адгезионных и т. п. ).
 642.  PH- метр-иономер-БПК-термооксиметр Эксперт-001 с термодатчиком
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
г. Краснодар, ул Ставропольская 149. кафедра зоологии, заведующая кафедрой - д. б. н. , проф. Пескова Т. Ю. 861-219-95-84. golikov-36@rambler.ru
 643.  Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр JEOL JED-2300/ JED-2300F/ JED-2300T
Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр является приставкой к просвечивающему электронному микроскопу JEM-2100 и предназначен для анализа пробы наблюдаемого в микроскоп вещества.
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1 (499) 135-87-64, (499) 233-93-30 chens_nauka@mail.ru
 644.  Спектрометр портативный аналитический рентгеновский коротковолновый СПАРК-1-2М
Предназначен для проведения рентгеноскопического анализа химических элементов в твердых и порошкообразных пробах в диапазоне от Sc21 до U92 (металлургия, машиностроение, с/ х, геология, экология, химия)
8(4932)373703 Козловский Евгений Викторович
 645.  Сканирующая зондовая нанолаборатория INTEGRA
Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением.
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 646.  Титратор для кулонометрического определения воды по Фишеру Schott TitroLine KF trace
Предназначен для кулонометрического титрования влаги по методу К. Фишера.
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1 (499) 135-87-64, (499) 233-93-30 chens_nauka@mail.ru
 647.  Рентгеноэлектронный спектрометр SM 4201TERLAB
Предназначен для селективной по глубине диагностики фазового состава и физико-химического состояния поверхности и объема твердых тел в кристаллическом и аморфном состоянии, многослойных синтетических структур, наноструктур и наномагнетиков.
Адрес: 191186, Санкт-Петербург, набережная реки Мойки, д. 48, Телефон: 7 (812) 571-55-40, доб. 20-63
 648.  Анализатор Флюорат-02-3М (с поверкой)
Определение загрязняющих веществ в воздухе, воде, измерение массовой концентрации органических и неорганических веществ в области спектра – 250-900 нм.
300012, г. Тула, пр. Ленина, 92. тел. / факс (4872) 35-35-50 Павпертов Геннадий Владимирович - Директор ЦЭАС ceastulgu@mail.ru
 649.  Рентген-флуоресцентный спектрометр EDX-800 HS (Shimadzu)
Проведение проведение качественного и количественного экспресс-анализа химических элементов в диапазоне от 6С до 92U для различных проб и веществ, находящихся в твердой и жидкой фазе.
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. / факс: (8722) 67-58-17, nashurb@mail.ru
 650.  Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC
Спектрофлуориметр c системой анализа времени жизни флуоресценции TCSPC. Используется для получения спектров люминесценции твердых и жидких образцов, измерения времени жизни флуоресценции, определения квантовых выходов люминесценции. Предназначен для проведения исследований в области физики (изучение квантовых точек), химии (изучение межмолекулярных взаимодействий в растворах, молекулярной динамики в конденсированных средах), химической технологии (определение флуоресцирующих примесей в сырье и материалах).
ЦКП НО Арктика163002, г. Архангельск, ул. Северодвинская, д. 14тел. (8182) 21-61-00 (доб. 17-22)web: http: / / www. narfu.ru/ science/ ccu/
 651.  Флюорит 92009
Для организации и проведения учебного процесса
191186, Санкт-Петербург, ул. Большая Морская, д. 18, каб. 337 8(812)315-02-70 uon_nicron@sutd.ru
 652.  Спектрометр универсальный рентгеновский Сур 01-Реном
Комплекс позволяет производить неразрушающий локальный анализ элементного и фазового состава вещества в твердых, порошкообразных, жидких, осажденных на пленках или фильтрах, пробах.
Официальный почтовый адрес: 241036, г. Брянск, ул. Бежицкая, д. 14 Контактные телефоны: (84832) 666442, 666953 Факс: (84832) 666442 Адрес электронной почты (email): bryanskgu@mail.ru Официальный web-сайт: http: / / www. brgu.ru/
 653.  Лазерный сканирующий виброметр PSV-400-3D (Polytec)
Предназначен для бесконтактного измерения вибрации и ее анализа и совместимости для работы с входящими в комплект поставки программным обеспечением.
Тел. : (499) 972-94-02, (499) 973-17-92
 654.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, система K-Alpha
Определение элементного состава, химических состояний и распределений компонентов на поверхности материалов (электропроводящих и не электропроводящих).
360004, Кабардино-Балкарская Республика, г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173 Телефон: 8 (8662) 42-25-60, Voice/ fax: 7(495) 3379955, E-mail: bsk@kbsu.ru
 655.  Спектрометр рентгеновский VRA 30
Определение содержания любых химических элементов в диапазоне от натрия до урана в материалах, находящихся в твердом, жидком или порошкообразном состоянии
suslov. dmitry@gmail.com
 656.  Эллипсометр ЛЭФ-3М-1
Исследования поверхностей и границ раздела различных сред (твердых, жидких, газообразных), основанные на изучении изменения состояния поляризации света после взаимодействия его с поверхностью границ раздела этих сред.
Наталья Ильинична Цидаева - директор НОЦ естественных наук, тел. (8672)546018; моб. 89188256755, e-mail: tsidaeva@rambler.ru
 657.  Трёхфункциональный зонд с телескопической рукояткой 0635 1535
Обогреваемый зонд скорости воздуха со встроенным сенсором температуры и влажности
 658.  Дифракционный сканирующий калориметр DSC 204 F1 Phoenix
Определение величин, характеризующих свойства вещества и материалов (плавление-кристаллизация, фазовые переходы в жидких кристаллах и т. д. )
Руководитель ЦКП Баблюк Евгений Борисович (499) 976-37-58
 659.  Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200
Исследование структуры и химического состава поверхностных слоев
Руководитель ЦКП Баблюк Евгений Борисович (499) 976-37-58
 660.  Спектрометр рентгено-флуоресцентный Альфа-2000
Предназначен для качественного неразрушающего анализа соединения химических элементов методом рентгенофлюоресцентной спектрометрии в образцах металлов, стали, сплавов. Контроль химического состава руд, почв, др. жидких и порошковых проб.
 661.  Титратор Фишера Эксперт-007М
Кулонометрический титратор с бипотенциометрической индикацией конечной точки титрования
Небольсин Валерий Александрович, т. (473)256-04-65, vcmsao13@mail.ru
 662.  Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима ЗАО НТМДТ
Позволяет изучать топографию поверхности образцов различных твердых материалов
Небольсин Валерий Александрович, т. (473)256-04-65, vcmsao13@mail.ru
 663.  Спектрометр универсальный рентгеновский СУР-01 Реном
Для проведения анализа концентраций примесных элементов, рентгеноструктурного и фазового анализа частиц катализатора и нанопорошков нитевидных нанокристаллов кремния, необходимого для получения нанокристаллов с заданными свойствами
Небольсин Валерий Александрович, т. (473)256-04-65, vcmsao13@mail.ru
 664.  Универсальный СЗМ комплекс Интегра Прима ЗАО НТМДТ
Для исследование атомно-молекулярной структуры поверхностей, качества и толщины наносимых функциональных слоев
Небольсин Валерий Александрович, т. (473)256-04-65, vcmsao13@mail.ru
 665.  РН-метр/ иономер/ титратор Мультитест ИПЛ-101
Измерение активности и концентраций ионов в водных растворах, измерение потенциалов
Бортников Сергей Валериевич, доцент кафедры химии8 (3902) 22-21-63svb@khsu.ru
 666.  РН-метр/ иономер/ титратор Мультитест ИПЛ- 211, зав. №: 155, 156, 157, 164
Измерение активности и концентраций ионов в водных растворах, измерение потенциалов
Бортников Сергей Валериевич, доцент кафедры химии 8 (3902) 22-21-63 svb@khsu.ru
 667.  Сканирующий диагностический набор
Для научных исследований
Кафедра СДМ, р. т . 417244
 668.  Спектрометр портативный аналитический рентгеновский коротковолновый СПАРК-1-2М
Предназначен для определения содержания химических элементов в диапазоне от скандия до урана в порошковых, монолитных пробах. Область применения Металлургия, машиностроение. Геология и горнодобывающая промышленность
Забайкальский государственный университет (ФГБОУ ВПО ЗабГУ) Научно-образовательный центр Горного факультета 672000 Россия, г. Чита, ул. Кастринская 1А Телефон: 8 (3022) 35-68-72 Якимов Алексей Алексеевич e-mail: Yaa76@yandex.ru
 669.  Спектроскопический эллипсометр SE800
Разработан для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур
Научно-образовательный центр фотовольтаики и нанотехнологии (НОЦ ФН) г. Ставрополь, просп. Кулакова, 2 (Корпус 10), ауд. 212 Телефон: (8652) 95-68-25 E-mail: fotonano@ncfu.ru
 670.  Спектральный эллипсометр Эллипс-1891
Спектральный эллипсометр предназначен для прецизионных измерений толщин тонких пленок, оптических параметров тонкопленочных структур и спектральных зависимостей оптических констант поверхностей различных материалов
Институт математики и естественных наук Северо-Кавказского федерального университета (ИЕН СКФУ) г. Ставрополь ул. Пушкина, 1 (корпус 2) Телефоны: (8652) 35-70-23, (8652) 35-92-10, (8652) 35-43-53 Факс (8652) 35-70-23 E-mail: nauka@stavsu.ru
 671.  Спектрометр рентгеновский многофункциональный K-ALPHA
Анализ поверхности твердых тел. Широко используется для исследования наноматериалов.
Магкоев Тамерлан Таймуразович - научный руководитель ЦКП Физика и технологии наноструктур, тел. (8672)451214; моб. 89188224595, e-mail: t_magkoev@mail.ru
 672.  Спектрофлуориметр СМ 2203
Регистрация электронных спектров поглощения, люминесценции, возбуждения и смещенной люминесценции в диапазоне 220 - 750 нм
г. Оренбург, Шарлыкское шоссе 5, оф. 14228, Центр коллективного пользования приборным оборудованием Институт микро- и нанотехнологий ОГУ. Тел. (3532)375967), email: / / imnt@unpk. osu.ru
 673.  Установка стационарной и динамической спектрофлуориметрии
Регистрация спектров поглощения, люминесценции, возбуждения при стационарном (ламповом) возбуждении; регистрация спектров наведенного поглощения, кривых затухания люминесценции при импульсном лазерном (в том числе ступенчатом) возбуждении. Спектральный диапазон 220 – 1500 нм, временное разрешение – 50 нс.
г. Оренбург, Шарлыкское шоссе 5, оф. 14228, Центр коллективного пользования приборным оборудованием Институт микро- и нанотехнологий ОГУ. Тел. (3532)375967), email: / / imnt@unpk. osu.ru
 674.  УФ-спектрометр Lambda 35
Регистрация спектров в УФ и видимой области 190-1100нм. Может быть использован для качественного и количественного анализа, идентификации, изучения строения органических и неорганических соединений в растворах. Применяется для изучения кинетики химических и фотохимических реакций, исследования люминесценции.
620002, Екатеринбург, УрФУ, 3-й учебный корпус, химико-технологический институт, Х-272. Контактное лицо: Ельцов О. С. , доцент, к. х. н. , телефон (343) 375-93-85, e-mail: o. s. eltsov@ustu.ru
 675.  УФ-спектрометр Lambda 45
Регистрация спектров в УФ и видимой области 190-1100нм. Может быть использован для качественного и количественного анализа, идентификации, изучения строения органических и неорганических соединений в растворах. Применяется для изучения кинетики химических и фотохимических реакций, исследования люминесценции.
620002, Екатеринбург, УрФУ, 3-й учебный корпус, химико-технологический институт, Х-272. Контактное лицо: Ельцов О. С. , доцент, к. х. н. , телефон (343) 375-93-85, e-mail: o. s. eltsov@ustu.ru
 676.  Титратор амперометрический Эксперт-001А
Для амперометрического определения металлов
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 677.  Анализатор Флюорат-02-Панорама(исслед-кий спектрофлуориметрический комплекс)
Исследование флюорисценции, количественный и качественный анализ
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 678.  Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр
Представляет собой прибор, позволяющий проводить полный элементный анализ, использующий для подсчёта и анализа рентгенофлуоресценцию какой-либо конкретной длины волны, дифрагированной на кристалле
Волостнов Александр Валерьевич, т. 42-40-08
 679.  Рентгено-флуорисцентный спектрометр MAKC-GV
Предназначен для определения содержания химических элементов в различных веще-ствах, находящихся в твердом, порошкообразном или раство-ренном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры
 680.  Кюветный флуориметр
Моментальное сканирование спектров веществ
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 681.  Спектрофлуориметр
Прибор позволяет измерять спектральные характеристики в течение нескольких секунд
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 682.  Титратор Titroline KF автоматический волюметрический по методу Фишера
Предназначен для автоматического или полуавтоматического выполнения титриметрического анализа
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 683.  Спектрометр энергодисперсионный рентгенофлуорисцентный Х-Calibur SDD
Исследование химического состава веществ
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 684.  РН-метр-иономер Эксперт-001
Измерение активности, молярной и массовой концентрации ионов, окислительно-восстановительного потенциала, температуры
тел. 40-54-30, fedotov@tomsgroup.ru
 685.  Метр-иономер
Предназначен для проведения экспериментов в области ионной метрологии
Тимофеева Светлана Семеновна, тел. 40-56-71, bgd@istu. edu; timofeeva@istu. edu
 686.  Энерго-дисперсионный рентгено-флуоресцентный спектрометр
Рентгено-флуоресцентный анализ оброазцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм
ЮРГПУ(НПИ), УНРиИД, т. 8(8635) 255-220, e-mail: unridnpi@gmail.com
 687.  Рамановский спектрометр DXR Smart Raman Research (ThermoFisher Scientific Inc. ).
Исследование молекулярных спектров различных органических и неорганических проб и веществ, находящихся в различном фазово-агрегатном состоянии при помощи спектроскопии комбинационного рассеяния.
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. / факс: (8722)67-58-17, nashurb@mail.ru
 688.  Система автоматического определения содержания воды - титратор V30
Определение содержания воды
 689.  Спектрофлуориметр СМ 2023
Применяется в научно-исследовательской деятельности при проведении исследований биохимического состава на клеточном и тканевом уровне, а также изучении особенностей строения и функционирования клеток и тканей.
Научно-исследовательская лаборатория Молекулярной и клеточной биологии (430007, Саранск, ул. Студенческая, 13 а, корпус 2).
 690.  Рентгено-флуоресцентный энергодисперсионный спектрометр с полным внешним отражением TXRF S2 PICOFOX c High Efficiency Module (Bruker)
Криминалистика, научные исследования, контроль продуктов питания, анализ масел, смазок, металлургических шлаков и руд, цемента, полупроводников и магнитных носителей
 691.  Лазерно-искровой экспресс-анализатор состава ЛИЭС-2
Оперативное определение и исследование качественного и количественного элементного состава твердых и жидких образцов и проб с высокой чувствительностью