03.01.05.00.00: Микроскопы зондовые сканирующие
Федеральный каталог высокотехнологичного оборудования и объектов научного потенциала России

Микроскопы зондовые сканирующие

 1.  Наноспектрометр с дополнительной оптикой возбуждения NFS-320 (JASCO)
Используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника ближнего поля, создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая дифракционный предел.
 2.  Наноспектрометр ближнего поля NFS-210 (JASCO)
Обеспечивает возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты. В данной системе не установлены источники возбуждения или детекторы, несмотря на это можно создавать различные экспериментальные установки, используя окна на передней и правой стенках прибора. Более того, прямой доступ к вводу оптического волокна в ближнепольный зонд обеспечивает большую гибкость при проведении экспериментов с использованием системы микроскопии ближнего поля. Расположение образца контролируется с высочайшей точностью, поэтому наконечник зонда остается на фиксированном расстоянии от поверхности образца, что обеспечивает точные топологические данные о рельефе поверхности образца. Облучая образец с помощью источника ближнего поля, создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая дифракционный предел.
 3.  Атомно-силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии. АСМ- сканирующий зондовый микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям. Диапазон измерений может варьироваться от 1, 3 до 15-ти микронного по Z и от 3мкм до 150 мкм по XY. Высокая степень разрешения от молекулярного до атомарного уровня в режимах СТМ и контактной АСМ достигается за счет применения сканеров с диапазонами: 3х3х1, 3 мкм и 10х10х2 мкм. Атомарное разрешение обеспечивается низким уровнем шумов сканера (0, 25 A RMS по Z) и предельно малой величиной шага сканирования 0, 006 нм, 0, 01 нм.
 4.  Сканирующий туннельный микроскоп GPI 300-05 (Сигма Скан)
Предназначен для прецизионного (на атомном уровне) изучения процессов, происходящих на поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума. Позволяет проводить запись топограмм с атомным разрешением как чистой поверхности, так и адсорбированных слоев. Прибор может быть интегрирован в любую аналитическую или технологическую установку. Открытая архитектура сканера обеспечивает возможность ввода газовых, молекулярных или световых пучков на образец непосредственно в зону туннельного контакта в процессе сканирования. Низкий уровень шумов управляющей электроники и достаточно высокая виброзащищенность. Амплитуда отклонений от заданного расстояния игла-образец не превышает 4 пм. Позиционирование иглы по двум координатам X, Z в диапазоне 10× 5 мм.
 5.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 PRO (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать поверхность образцов на участках размером до 50× 50 мкм. Минимальный шаг сканирования 0. 0004 нм; 0. 0011 нм; 0. 006 нм. Числовая апертура 0, 1. Увеличение с 58х до 578х Разрешение 3 мкм. Горизонтальное поле зрения от 5, 1 до 0, 51 мм. Система контроля и управления СЗМ контроллер. Вибрационная изоляция. Встроенная пассивная изоляция. Активная антивибрационная система доступна по требованию.
 6.  Cканирующий зондовый микроскоп Ntegra Prima HD (НТ-МДТ)
Предназначен для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. 40 измерительных методик. Емкостные датчики перемещения с низким уровнем собственного шума. Высокое качество изображений. Исследования со скоростью вплоть до 40 Гц. Проведение измерений на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости.
 7.  Атомно-силовой микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II (НТ-МДТ)
Используется в различных образовательных приложениях. Для любого исследования/ разработки технологии на атомном масштабе необходимо иметь компетенции в смежных естественно-научных дисциплинах на их пересечении. Как только критические размеры функциональных объектов становятся менее 100 нм, перестает существовать дисциплинарный подход, потому что нельзя описать процессы и явления только на языке физики или только химии или только биологии. И при работе с объектами на атомном уровне между человеком-оператором и предметом исследования/ разработки присутствует интерфейс в виде прибора, подключенного к компьютеру. Этот интерфейс выполняет роль рук и глаз оператора и он в своей основе использует математический аппарат и информационные технологии. Таким образом, при проведении исследований/ разработок в области нанотехнологии в едином междисциплинарном пространстве задействован весь спектр естественнонаучных дисциплин: Физика, Химия, Биология, Математика, Информатика и Робототехника.
Таскаев Сергей Валерьевич, тел. (351) 799-71-17, e-mail: taskaevsv@susu.ru
 8.  Сверхвысоковакуумный туннельный микроскоп-спектроскоп STM 1 (Omicron) на основе вакуумной системы MultiProbe S
Предназначен для исследования микроструктуры, морфологии и локального состава поверхности наноматериалов. Остаточное рабочее давление в камере микроскопа - не более 1*10^-10 Торр, пьезоэлектрический манипулятор точных перемещений - триподного типа; максимальный диапазон перемещений 2. 3мкм х 2. 3мкм х 1. 2 мкм; возможность замены зондирующего острия и образцов in situ; возможность прямого и косвенного нагрева образца; высокоэффективная виброизоляционная система; электронный блок управления Scala SPM с программным обеспечением.
Федянин Андрей Анатольевич, тел. (495) 938-22-10
 9.  Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т. ч. наноматериалов). Поле сканирования 100х100 мкм, высота - 5 мкм, разр. сила выше 1 нм Контактный и полуконтактный режимы работы, токовая и силовая литография.
Власова Ирина Михайловна, тел. (495) 939-14-89
 10.  Трехкоординатный плоскопараллельный сканер для СЗМ приложений Ratis SPM XYZ (Nano Scan Tech)
Плоскопараллельное устройство позиционирования и/ или сканирования. Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т. п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканер обладает высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками. Уникальная автоматическая система термостабилизации и калибровки позволяет использовать плоскопараллельный сканирующий столик в температурном диапазоне ± 40° C.
 11.  Плоскопараллельное устройство позиционирования и/ или сканирования Ratis XY(Z) для АСМ (Nano Scan Tech)
Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т. п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканер обладает высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.
 12.  Сканирующий зондовый микроскоп Certus Optic Duos (Nano Scan Tech)
Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. В состав Certus Optic Duos входят: сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/ или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/ или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; Инвертированный оптический микроскоп (Olympus IX 71 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.
 13.  Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп Centaur U HR (Nano Scan Tech)
Комплекс, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп, конфокальный микроскоп/ спектрометр с двойной дисперсией для получения спектров рамановского рассеяния и флюоресценции и спектральных изображений, конфокальный лазерный микроскоп и оптический прямой микроскоп. позволяет получать полные спектры рамановского рассеяния и/ или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ изображения. Конструкция комплекса Centaur U HR позволяет работать как с отдельными методиками (например, с конфокальной лазерной микроскопией), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования).
 14.  Атомно-силовой микроскоп Cypher (Asylum Research)
Предназначен для обеспечения максимальной разрешающей способности зондовой микроскопии. Его применение поднимает на качественно новый уровень исследования объектов с нанометровыми характерными размерами. Самый низкий по сравнению с аналогами уровень шума, автоматизированная система настройки лазера, стабильность системы позволят при использовании этого прибора взглянуть на наномир другими глазами. Режимы работы: Режим контактной атомно-силовой микроскопии (C‐AFM); Сигналы: высота (по Z зонд‐образец), латеральная сила (LFM); Режим полуконтактной атомно-силовой микроскопии (NC‐AFM); Сигналы: высота (расстояние по Z зонд‐образец), амплитуда/ фаза колебаний кантилевера, контроль величин I/ Q, латеральная сила (LFM); Режим силовой спектроскопии: Построение графиков силы взаимодействия зонд ‐ образец от расстояния в точке и карт на участке образца в контактном или полуконтактном режимах; Электросиловая микроскопия (EFM): Определение контраста электрических свойств образца, локальная модификация образца под воздействием электрического поля кантилевера; Магнитно‐Cиловая микроскопия (МFM): Определение контраста магнитных свойств образца; Распределение потенциала на поверхности; Режим СТМ (сканирующая туннельная микроскопия); Среда: воздух, жидкость.
 15.  Атомно-силовой микроскоп ACM MP 3D Stand Alone (Asylum Research)
Предназначен для микроскопии поверхности материала на атомарном уровне. Диапазон сканирования – 90 мкм, величина шума по XY не более 0, 6 нм, величина нелинейности по XY не более 0, 5 %, величина нелинейности по Z не более 0, 2 %. Оптическая система: суперлюминесцентный диод (SLD), уровень шума: не более 0, 03 нм в диапазоне частот 0, 1Гц-1кГц (с датчиками обратной связи). Узкополосный лазерный источник для уменьшения интерференции. Широкополосный фотодиод, что реализует увеличенную пропускную способность для детектирования отклонения и латеральных сигналов до МГц. Оптическая система наблюдения за образцом включает двойную 1/ 4 камеру ССD с 720 мкм и 240 мкм полем обозрения. Три вида наблюдения: сверху, снизу и их комбинация.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 16.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Р47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150° С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Эта модель может быть успешно использована как в маленьких компаниях и университетских лабораториях, так и в больших исследовательских центрах. Собственная система виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного). Сканирующая Туннельная Микроскопия, Атомно-Силовая Микроскопия и Shear Force (позволяет использовать оптическое волокно в качестве зондового датчика) в одном приборе. Работа в жидкостях, в контролируемой газовой среде и при температурах до 150° С. Интерактивная система управления и программная настройка режимов работы и функциональной схемы прибора. Возможность сохранения настроек в отдельных файлах позволяет начинающему пользователю работать с использованием практически всех современных методов сканирующей зондовой микроскопии. Опытный пользователь может разрабатывать и реализовывать свои собственные методики, в том числе многопроходные.
Сергей Валерьевич Таскаев, тел. (351) 799-71-17, e-mail: taskaevsv@susu.ru
 17.  Атомно-силовой микроскоп Cypher ES (Asylum Research)
Это первый коммерческий АСМ, который использует преимущества высокой пропускной способности и малошумящих характеристик меньших консолей, и является единственным коммерческим АСМ для рутинного решения атомных точечных дефектов и спирали ДНК. Теперь Asylum Research представляет Cypher ES, который добавляет полный контроль над окружающей средой в семейство Cypher. Сердце Cypher ES основано на ячейке, построенной из инертных материалов, таких как плавленый кварц и FFKM, для помещения и контроля окружающей среды. Модульная конструкция позволяет настраивать измерения практически в любой среде.
Сергей Лучкин, e-mail: s. luchkin@skoltech.ru
 18.  Зондовая нанолаборатория ИНТЕГРА Вита (НТ-МДТ)
Предназначена для исследований белков, нуклеиновых кислот, вирусов, бактерий, эукариотических клеток и их компонентов, тканей. Конфигурация прибора базируется на инвертированном оптическом микроскопе и включает следующие основные системы и блоки: базовый блок, инвертированный оптический микроскоп, измерительный блок, измерительную головку, оптическое сменное основание, жидкостные ячейки, защитный колпак, систему видеонаблюдения, систему виброизоляции, систему управления, СЗМ контроллер, термоконтроллер, компьютер, интерфейсную плату.
 19.  Атомно-силовой сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM-1000 (AIST-NT)
Полностью автоматизированный СЗМ: позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений; Высокоскоростной 100 мкм сканер: (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY и 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование; Регистрирующая система с ИК лазером: - с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех; Улучшенный контроль обратной связи: - с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и звона сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения; Режим True Non-contact - и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу; Цифровой модульный контроллер - с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональности.
Марьина Г. Е. , тел. : (495) 955-00-91, факс: (495) 638-46-86
 20.  Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II (НТ-МДТ)
Обеспечивает высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях.
 21.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-M (НТ-МТД)
Предназначен для исследования рельефа поверхности образцов (в режиме АСМ и т. д. ) с разрешением в плоскости образца порядка 10 нм (ограничено радиусом кривизны зонда) и порядка 1 ангстрема по вертикали. Возможность исследования электрических (ЭСМ, Сканирующая Емкостная Микроскопия, Кельвин-Зондовая Силовая Микроскопия и т. д. ) и магнитных свойств (МСМ метод) поверхности с разрешением порядка 30 нм. Минимальный шаг сканирования: от 0. 0011 нм до 0. 006 нм. Размеры области сканирования: максимум 50 мкм.
 22.  Сканирующий туннельный микроскоп Easyscan 2 (Nanosurf)
Предназначен для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. Используется для манипуляции нанообъектами и клетками. Применяется в областях биологии клетки, биосенсорах, биофункционализации, формировании наноструктуры и нанолитографии теперь может быть реализовано.
 23.  Нанотехнологический комплекс Умка-02-Е (Наноиндустрия)
Предназначен для обучения и приобретения опыта в проведении работ в области нанотехнологии. Простота работы и обслуживания, встроенная система виброизоляции, высокая собственная резонансная частота головки позволяют использовать комплекс как в лабораторных работах, так и в производственных помещениях. Он также с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук.
 24.  Атомно-силовой микроскоп Easyscan 2 (Nanosurf)
Предназначен для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Максимальная область сканирования 10 мкм. Максимальная глубина сканирования 1. 8 мкм. Z Разрешение сканера 0. 027 нм. XY Разрешение сканера 0. 15 нм. XY средняя линейная ошибка < 0. 1%. Уровень шума по Z 0. 07 нм.
 25.  Атомно-зондовый томограф с высоковольтным импульсным испарением атомов ECOTAP (Cameca)
Предназначен для исследования структуры вещества на атомарном уровне. Детектор представляет собой комбинацию микроканальной пластины, системы стрипов, люминофора и цифровой CCD-камеры. Детектор регистрирует около 50% прилетевших ионов. При попадания иона на детектор происходит определение времени пролета и регистрируется место, куда попал ион. По этим данным определяется отношение массы к заряду (соответственно, химическая природа атома) и положение иона в момент отрыва с поверхности образца. Наличие рефлектрона позволяет компенсировать разницу во времени пролета ионов, испаренных в начале и в конце импульса [22, 23]. В рабочем объеме поддерживается вакуум (5÷ 7)× 10− 10 Торр, температура образца может составлять 13-100 K. Размер исследуемой области составляет 17× 17× 200 нм, при этом количество зарегистрированных атомов находится в пределах (3÷ 7)× 105 атомов. Обработка данных эксперимента проводится на рабочих станциях с использованием специальных программ, восстанавливающих исходную 3D структуру испаренного образца и анализирующих особенности расположения атомов (например, поиск различных выделений).
 26.  Атомно-зондовый томограф с лазерным испарением ПАЗЛ-3D (ИТЭФ)
Сочетает в себе два прибора - времяпролетный масс-спектрометр и проекционный микроскоп. Сочетание этих двух систем позволяет одновременно с высокой точностью определять химическую природу каждого элемента в образце и получать их трехмерное распределение. Принцип работы прибора состоит в следующем - исследуемый образец по-атомно разделяется в сильном электрическом поле под действием импульсого воздействия (в данном случае лазерных импульсов), испаренные атомы (ионы) ускоряются в пролетном промежутке (что дает возможность методом масс-спектрометрии определить его химическую природу), а дальше, летя по прямой траектории, ионы попадают на позиционно-чувствительный детектор (что дает возможность, используя спец. алгоритмы, восстановить их положение в исследуемом образце). Поскольку для активации полевого испарения необходима высокая напряженность поля (примерно 50 В/ нм), к образцу прикладывается постоянное напряжение в несколько киловольт, а сам образец в свою очередь изготавливается в виде иглы с радиусом при вершине примерно 20нм. Приложение постоянного потенциала позволяет понизить потенциальный барьер приповерхностных атомов, после чего испарение достигается кратковременным воздействием фемтосекундного лазера, который придает атомам решетки дополнительную энергию. Размер исследуемой области в разработанном приборе составляет примерно 50× 50× 500 нм, при этом количество зарегистрированных атомов с одного образца находится в пределах (1÷ 60)× 106 атомов. Обработка данных эксперимента проводится на рабочих станциях с использованием специализированного программного обеспечения, разработанного в ИТЭФ, восстанавливающих исходную 3D структуру испаренного образца, химическую природу каждого испаренного атома и позволяющим анализировать особенности расположения атомов (например, поиск различных выделений, кластеров и т. п. ).
 27.  Атомно-силовой рамановский микроскоп Alpha 300R (Witec)
Предназначен для исследований в области материаловедения, нанотехнологий и биологических наук. Включает профессиональный оптический микроскоп для осуществления общего анализа с использованием оптического метода, а также имеет простую систему выравнивания кантилевера (сканирующего зонда) и высокое разрешение анализа образцов. Поддерживаются все базовые режимы работы атомно-силового микроскопа, что обеспечивает гибкость анализа во всех сферах применения данного метода. Прибор имеет широчайшие возможности по расширению своих функций: так на его основе можно собрать приборы для конфокальной и рамановской конфокальной микроскопии, а также для сканирующей оптической микроскопии ближнего поля. Локальные свойства поверхности, а также топографические детали можно исследовать в нанометрическом масштабе с применением импульсно-силового режима.
 28.  Микроскоп сканирующий зондовый Solver P4-SPM (НТ-МДТ)
Предназначен для сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) включает набор устройств, которые удовлетворяют различным потребностям пользователей в изучении свойств материалов с нанометровым разрешением и охватывают самые разные области применения. Используется для визуализации поверхностных структур возможен выбор контактного метода, амплитудно-модуляционного метода с отображением фазы либо частоты или частотно-модуляционного метода.
 29.  Сканирующий зондовый микроскоп CombiScope 1000 (AIST-NT)
Предназначен для работы с инвертированной оптикой и спектральными приборами. Полностью автоматизированный прибор, оптимизированный для работы с инвертированной оптикой, с возможностью работы с образцами большого размера, в том числе жидкостными и газовыми ячейками, с оптическим доступом к зонду и образцу по верхнему, нижнему и боковому оптическим каналам. Наличие оптического доступа к образцу сверху, сбоку и снизу позволяет работать с минимальной фокальной областью, воздействовать на образец лазером с заданной поляризацией и собирать рассеянный свет с поверхности образца в максимальном телесном угле, что особенно важно для проведения ГКР/ TERS экспериментов.
 30.  Атомно-силовой микроскоп Easyscan 2 (Nanosurf)
Предназначен для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Основные параметры сканирования: Максимальная область сканирования 10 мкм; Максимальная глубина сканирования 1. 8 мкм; Z Разрешение сканера 0. 027 нм; XY Разрешение сканера 0. 15 нм; XY средняя линейная ошибка < 0. 1%; Уровень шума по Z 0. 07 нм.
 31.  Лабораторный нанотехнологический комплекс Умка-02-U (Наноиндустрия)
Предназначен для обучения практическим методам работы с наноразмерными структурами. Используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является его внедрение в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии. Входящий в прибор сканирующий туннельный микроскоп относится к зондовым микроскопам, используемым для исследования неразрушающим методом свойств материалов и топографии поверхностей на атомарно-молекулярном уровне. При помощи СТМ Умка-02-U можно проводить исследования в воздушной атмосфере, как проводящих, так и , что отличает его от предшествующих моделей, слабопроводящих материалов (в т. ч. биологических объектов и их фрагментов размером не более 5-6 мкм), а также полупроводников.
 32.  Атомно-силовой микроскоп SMENA (НТ-МДТ)
Предназначен для изучения структуры поверхности твердых тел с высоким разрешением в лабораторных условиях, при нормальной температуре и атмосферном давлении. Максимальное разрешение: 10 нм.
 33.  Атомно-силовой микроскоп Solver Pro (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования морфологии, локальных физико-химических свойств и механических характеристик поверхности. Шероховатость поверхности не должна превышать 3 мкм. Доступное планарное разрешение составляет 10 нм при точности определения высоты до 5 нм. Максимальный размер скана составляет 50 × 50 мкм. Микроскоп работает в контактном и полуконтактном режиме. Реализованы следующие методики измерения: электростатическая микроскопия, измерение сопротивления растеканию тока, измерение локальной поверхностной жесткости, силовая нанолитография, анодная нанолитография, магнитно-силовая микроскопия.
 34.  Научная учебная лаборатория по нанотехнологии NanoEducator (НТ-МДТ)
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии. Обеспечивает интеграцию методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
 35.  Атомно-силовой сканирующий микроскоп SOLVER P47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования различных объектов на воздухе, в контролируемой атмосфере и жидкостях с высочайшим разрешением (вплоть до атомарного). Используется для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150° С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Может быть успешно использована как в маленьких компаниях и университетских лабораториях, так и в больших исследовательских центрах.
 36.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон)
Может использоваться как сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и как атомно-силовой микроскоп (АСМ). Используется во всех отраслях науки и техники и стал фактически стандартным научным и технологическим оборудованием для нанотехнологий. Достоинством этого микроскопа являются возможность работы без вакуума (в отличии от электронных микроскопов), высочайшее разрешение (вплоть до атомарного), Частота основного механического резонанса - 8 кГц.
 37.  Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode NanoScope III (Veeco)
Предназначен для исследования физических свойств поверхности. Жесткая, осесимметричная конструкция и малошумящая электроника обеспечивают крайне низкий уровень шумов: по вертикали (Z) не превышает 0. 3 Ангстрем (RMS) на воздухе и менее 0. 5 Ангстрем (RMS) в жидкости. Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули. Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии. Предусмотрено несколько типов сменных сканеров для работы в разных диапазонах и режимах. Замена сканера занимает не более одной– двух минут.
 38.  Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 (Микротестмашины)
Представляет собой атомно-силовой микроскоп в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и субмикрорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением. Размер матрицы сканирования до 512x512 точек. Латеральное разрешение (плоскость XY): 1– 5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов). Вертикальное разрешение (направление Z): 0, 1– 0, 5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов).
 39.  Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light V (NanoScanTech)
Компактная версия СЗМ с минимальной функциональностью и стоимостью. Основное отличие от основной версии Certus Light - сканирование образцом и более точная система подвода. Прибор состоит из считывающие состояние кантилевера головки, многофункционального плоского сканера, системы подвода и установки головки. Прибор работает с минимальной конфигурацией блока электронного управления EG1000 с возможностью дистанционного управления прибором через планшетный компьютер с использование специализированного ПО для ОС Android.
 40.  Автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard V (NanoScanTech)
Основными качественными характеристиками прибора являются полная автоматизация микроскопа, применение более совершенных механических комплектующих, наличием более совершенного сканера для сканирования образцом, возможность дистанционного управления прибором через планшетный компьютер с использование специализированного ПО для ОС Android.
 41.  Сканирующий зондовый микроскоп начального уровня Certus Light (NanoScanTech)
В состав прибора входят: сканирующая головка Certus; контроллер EG-3000; программное обеспечение NSpec; простая подставка под СЗМ головку. Режимы работы: сканирующий атомно-силовой микроскоп (АСМ); сканирующий туннельный микроскоп (СТМ); сканирование датчиком Холла; метод Кельвина; другие методики сканирующей зондовой микроскопии.
 42.  Интегрированный атомно-силовой и прямой оптический микроскоп Certus Optic U (NanoScanTech)
Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. Дополнительные опции: Флюоресцентный модуль для использования методик флюоресцентной микроскопии; Автоматизация позиционирования образцов и сканирующей головки; Автоматизация АСМ; Жидкостная ячейка для работы в естественной среде с биологическими объектами.
 43.  Атомно-силовой микроскоп Certus Optic I (NanoScanTech)
Предназначен для работы с методиками оптической и атомно-силовой микроскопии при исследовании биологических объектов и полимерных плёнок. Дополнительные опции: Атомно-силовой (АСМ) Certus Optic I на базе инвертированного оптического микрокопа Olympus IX71; Атомно-силовой (АСМ) Certus Optic I на базе инвертированного оптического микрокопа Olympus IX71; Жидкостная ячейка для работы в естественной среде с биологическими объектами; Однокоординатная Z-подвижка Vectus для объектива для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; Флюоресцентный модуль для использования методик флюоресцентной микроскопии; Автоматизация позиционирования образцов и сканирующей головки; Автоматизации АСМ.
 44.  Атомно-силовой микроскоп Integra Prima HD (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения узкоспециализированных исследований в области атомно-силовой микроскопии. Предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. Емкостные датчики перемещения с низким уровнем собственного шума. Высокое качество изображений. Исследования со скоростью вплоть до 40 Гц. Проведение измерений на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости.
Яскин Александр Сергеевич, тел. (383) 306-66-12, e-mail: yas@nsu.ru
 45.  Атомно-силовой микроскоп EG-1230 PC SPM (NanoScan Technologies)
Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. Используется для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.
 46.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (ПРОТОН-МИЭТ)
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0, 1нм до 30мкм). Микроскоп применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0, 1 А в режиме STM, до 0, 1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2, 5мкм и 2, 5x2, 5x0, 5мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X, Y и Z составляет 10нм ± 10% измеряемого размера.
 47.  Атомно-силовой микроскоп NANOEDUCATOR II (НТ-МДТ)
Учебно-научный комплекс для преподавания основ нанотехнологии. Изогнутая вольфрамовая игла, заточенная с помощью настольной установки электрохимического травления — это простой, и экономичный в использовании вариант. В этом случае зонды можно делать самостоятельно, процедура настолько проста, что даже школьники справляются с этим. В этом варианте можно работать в режиме атомно-силовой микроскопии либо туннельной микроскопии, однако характеристики зонда и сильно упрощенная конструкция сканнера могут накладывать определенные ограничения на результат. В качестве альтернативы в НАНОЭДЬЮКАТОР II может быть использован другой вариант измерительной головки - полупрофессиональный. В этом случае зондом служит типовой кремниевый чип с кантилевером и радиусом кривизны острия около 10 нм. Зонды обладают стандартными (специфицированными) характеристиками. Кроме того, в данном варианте измерительной головки используется трубчатый сканер с датчиками перемещения. Это обеспечивает надежное получение атомарного разрешения, а также повышенную точность возврата в исходную точку (например, это важно при литографии или при манипуляциях с наноразмерными объектами).
 48.  Атомно-силовой микроскоп для высоковакуумных и сверхвысоковакуумных условий attoAFMsolution (Attocube systems)
Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. С помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Ввиду способности не только сканировать, но и манипулировать атомами, назван силовым. Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. В качестве зонда используется наноразмерное остриё, располагающееся на конце упругой консоли, называемой кантилевером.
 49.  Сканирующий туннельный микроскоп STM 150 Aarhus (SPECS)
Сканирующий туннельный микроскоп с атомным разрешением позволяет ученым наблюдать процессы в нанометровом масштабе при сверхвысоком вакууме. Благодаря миниатюризированной конструкции, имеющей минимальный зазор между зондом и поверхностью, прибор обладает непревзойденной для туннельных микроскопов стабильностью. Имеет улучшенный механизм подвески и систему постоянного охлаждения проводов, что обеспечивает высокостабильную регулировку температуры без потери механической стабильности.
 50.  Атомно-силовой микроскоп Nano-DST (Pacific Nanotechnology)
Предназначен для исследования поверхности материалов на микро- и наноуровне. Область сканирования: до 90х90 мкм. Макс. разрешение в плоскости xy: ~10 нм (зависит от используемых зондов). Макс. разрешение по оси z: < 0. 1 нм. Проведение измерений в воздушной среде.
 51.  Атомно-силовой микроскоп Demension V (Veeco)
Реализует методы микроскопии и диагностики, доступные с имеющимся набором модулей: атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, микроскопия сопротивления растекания, проводящая атомно-силовая, электро-силовая; а так же силовые измерения, оксидная литография, наноиндентирование. Разрешение по вертикали - 1нм; область сканирования - до 90 мкм. Для получения изображений используются кремниевые зонды с диаметром острия около 18 нм.
Савушкина Светлана Вячеславовна, тел. (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 667), e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 52.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator (НТ-МДТ)
Позволяет не только визуализировать и диагностировать микро- и нанообъекты различной природы, но и манипулировать одиночными нанообъектами и модифицировать их структуру с высоким пространственным разрешением. Для этих целей используются электронные токи большой плотности, сильные электрические поля и механические давления, которые можно легко реализовать в локальном наноконтакте. Является одним из базовых инструментов нанотехнологии. Позволяет реализовать различные методы измерений туннельной и полуконтактной атомно-силовой микроскопий и может использоваться не только в учебных, но и в научных целях при исследованиях в области физики и технологии микро- и наноструктур, материаловедения, катализа, физики и химии полимеров, трибологии, цитологии и т. п.
 53.  Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Prima (НТ-МДТ)
Предназначен для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. 40 измерительных методик. Емкостные датчики перемещения с низким уровнем собственного шума. Высокое качество изображений. Исследования со скоростью вплоть до 40 Гц. Проведение измерений на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости.
 54.  Атомно-силовой микроскоп ХЕ-3DM (Park Systems)
Предназначен для измерения выступающих элементов профилей, получения боковых изображений высокого разрешения, измерений критических углов. С запатентованной системой раздельного сканирования в латеральной плоскости XY и по оси Z и поворотным Z-сканером АСМ решает сложнейшие задачи с помощью стандартных и конических наконечников (зондов) при точном анализе боковых стенок. Метод True Non-ContactTM XE-3DM позволяет проводить неразрушающее измерение мягких поверхностей фоторезисторов с помощью зондов при высоком соотношении сторон.
 55.  Атомно-силовой микроскоп для исследования подложек с автоматической функцией оценивания дефектов NX-/ ХЕ-WAFER (Park Systems)
Полностью автоматизированный АСМ для анализа дефектов (ADR) с производительностью до 1000%. Технология Smart ADR обеспечивает полностью автоматическое сканирование и идентификацию дефектов, позволяя производить классификацию дефектов прямо на производстве с помощью 3D-изображений высокого разрешения. Разработанная специально для применения в области полупроводников, технология Smart ADR является самым удобным решением для анализа дефектов и характеризуется автоматическим позиционированием, не требующим предварительной калибровки, что зачастую повреждает образец. Технология Smart ADR увеличивает производительность всей системы на 1000% в сравнении с обычными методами сканирования. В добавление, данная технология увеличивает время жизни кантилевера в 20 раз благодаря инновационному методу сканирования True Non-Contact.
 56.  Атомно-силовой микроскоп XE7 (Park Systems)
Обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он выдает изображения и отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям, предусмотренным уникальной АСМ архитектурой: раздельными сканерами XY и Z консольного типа. Более того, уникальный режим True Non-ContactTM обеспечивает Вас самыми четкими изображениями, скан за сканом без снижения разрешения.
 57.  Атомно-силовой микроскоп XE-Bio (Park Systems)
Представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе. Модульная конструкция Park XE-Bio позволяет перейти от режима ICM к бесконтактному режиму измерений АСМ. Созданный для работы с живыми клетками, микроскоп объединяет функции ICM, АСМ и инвертированного оптического микроскопа, поэтому Park XE-Bio является идеальным инструментом для получения сканов биологических образцов, например, живых клеток в динамически меняющихся условиях. Кроме того, ICM можно адаптировать для работы в наноразмерной электрофизиологии.
 58.  Атомно-силовой микроскоп XE15 (Park Systems)
Позволяет проводить измерения с множеством образцов в один проход. Достаточно загрузить предметный столик образцами и запустить процесс сканирования. Этот режим также позволяет сканировать образцы в идентичных условиях окружающей среды, повышая точность и надежность полученных данных. Включает в себя множество уникальных возможностей, которые делают АСМ идеальным инструментом для лабораторий, работающих со множеством различных образцов, исследователей, выполняющих всевозможные эксперименты, инженеров, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках. Разумная цена и надёжная конструкция делают его одним из самых лучших АСМ в индустрии для анализа крупных образцов.
 59.  Высокоточный атомно-силовой микроскоп NX20 (Park Systems)
Предназначен для анализа дефектов. Инженерам-исследователям, требуется получать надежные результаты и данные. Модель ParkNX20 имеет репутацию самого точного АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников. Оснащается компонентами уникальной конструкции, которые облегчают использование микроскопа при поиске дефектов устройств и разработке креативных проектов. Непараллельная конструкция обеспечивает получение данных с высоким разрешением, которые позволяют Вам уделить основное внимание решению исследовательских задач.
 60.  Сканирующий зондовый микроскоп TRIBUS (Sigma Surface Science)
Предназначен для широкого спектра применений. Идет ли речь о СЗМ-спектроскопии, визуализации поверхности или работы с наночастицами, для экспериментов при повышенных температурах или в масштабах милликельвинов, в сильных магнитных полях или в пространственно плотных средах, TRIBUS является идеальным выбором, когда требуются самое высокое разрешение, точность и гибкость. Благодаря малой занимаемой площади, немагнитным материалам, а также совместимостью с широким температурным диапазоном, ультракомпактный СЗМ TRIBUS легко интегрируется в любую сверхвысоковакуумную среду. Особое внимание было уделено правильному подбору типов и характеристик материалов, из которых изготовлен СЗМ TRIBUS.
 61.  Атомно-силовой микроскоп SOLVER P47-PRO (НТ МДТ)
Предназначен для измерений вплоть до атомного уровня приповерхностных характеристик: рельеф, силы трения, адгезии. Представляет собой систему образец и игла. На малых расстояниях между двумя атомами, один на подложке, другой на острие, при расстоянии около одного ангстрема действуют силы отталкивания, а на больших - силы притяжения. Величина этого усилия экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Отклонения зонда при действии близко расположенных атомов регистрируются при помощи измерителя нано-перемещений, в частности, используют оптические, ёмкостные или туннельные сенсоры. Добавив к этой системе устройство развёртки по осям X и Y, получают сканирующий АСМ.
 62.  Сканирующая зондовая лаборатория NTEGRA Solaris (НТ-МДТ)
Позволяет изучать оптические свойства образца (его способность отражать, пропускать, рассеивать свет) с пространственным разрешением в несколько десятков нанометров. В отличие от обычного оптического микроскопа, разрешение которого ограничено пределом дифракции (около 170 нм для синего света при соблюдении условия конфокальности), разрешение СБОМ определяется лишь размером апертуры оптического зонда — отверстия в металлическом покрытии на острие оптоволокна, по которому свет от лазера поступает к образцу. В сменное основание системы встроен держатель объектива с 100 мкм Z-сканером, большая механическая жесткость конструкции позволяет использовать иммерсионные высокоапертурные объективы.
 63.  Зондовый учебный микроанализатор Наноэдьюкатор 2 (НТ-МДТ)
Предназначен для проектной и исследовательской деятельности школьников старших классов, кадетов и учебной деятельности студентов и курсантов в ВУЗах по дисциплинам естественно-научного блока знаний.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 64.  Сканирующий атомно-силовой микроскоп FemtoScan Онлайн (НПП ЦПТ)
Позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 65.  Сканирующий атомно-силовой микроскоп Innova (Bruker)
Предназначен для реализации следующих режимов работы на воздухе и в жидкости:  контактный режим; режим латеральных сил;  полуконтактный режим (tapping mode); режим регистрации фазы;  двух-проходный режимы:  магнитно-силовая микроскопия;  электросиловая микроскопия;  Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности);  силовая спектроскопия (в т. ч. силовое картирование); туннельная микроскопия
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 66.  Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп Solver HV (НТ-МДТ)
Предназначен для АСМ, МСМ, ЭСМ и т. д. измерения поверхности образцов. В условиях высокого вакуума существенно повышается чувствительность колебательных методик зондовой микроскопии, что повышает точность измерений слабых сил. Это особенно важно при высокочувствительных магнитных измерениях (МСМ), при использовании метода зонда Кельвина и сканирующей емкостной микроскопии и т. д.
Грибков Борис Александрович, тел. (831) 417-94-89, e-mail: bg@ipmras.ru
 67.  Сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM™ 1000 (AIST-NT)
Полностью автоматическая настройка прибора – менее 5 минут от включения до сканирования; уникальный быстрый сканер с превосходными метрологическими характеристиками; ИК лазер с длиной волны 1300 нм для измерения фоточувствительных образцов и упрощения интеграции прибора со спектральными методами измерений.
 68.  Атомно-силовой микроскоп Dimension Icon (Veeco)
Исследование поверхности материалов на микро- и наноуровне. Область сканирования: до 100х100 мкм. Макс. разрешение в плоскости xy: ~1… 10 нм (зависит от используемых зондов). Макс. разрешение по оси z: < 0. 1 нм. Проведение измерений в воздушной/ жидкой среде. Термо-контроллер (проведение исследований при температурах от -30 до 150° C). Картирование электропроводности. Торсионный анализ (отклик материала при вдавливании зонда с подкручиванием). Наноиндентация твердых материалов (используется специальный зонд). Наномеханическое картирование.
Свистков Александр Львович, тел. (342) 237-83-15, e-mail: svistkov@icmm.ru
 69.  Сверхвысоковакуумный нанотехнический СЗМ-комплекс Nanofab-100 (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования геометрических параметров и физико-химических свойств микро и нанообъектов на поверхности различных образцов (включая полупроводниковые пластины диаметром до 100 мм) методами сканирующей зондовой микроскопии в условиях сверхвысокого вакуума. Определяющая область применения - микро- и наноэлектроника (в том числе и в производственных условиях). Давление остаточной атмосферы в СЗМ камере- 5*10-8 Па, объем СЗМ-камеры -21 л, - возможность работы в АСМ и СТМ режимах, замена иглы сканирования без напуска атмосферы, - автоматическое позиционирование образцов в диапазоне 100*100 мм: - размер образцов – не более 100*15 мм, - диапазоны сканирования иглы – 3*3*2. 6 мкм и 80*80*10 мкм, - разрешение в плоскости ХУ – не более 0, 15 нм, в плоскости Z -0, 1 нм, - возможность отжига образцов в вакууме.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 70.  Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 (Shimadzu)
Предназначен для получения трехмерного изображения рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз. Позволяет измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра: механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность); электрических (потенциал, проводимость); магнитных (распределение намагниченности). Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.
 71.  Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 (Протон) с атомно-силовым столиком
Позволяет проводить анализ шероховатости и других характеристик поверхности, определять высоту и форму находящихся на ней нанообъектов. Эта информация необходима для проводимых в лаборатории исследований по типоморфизму и типохимизму минеральных поверхностей, диагностике, морфологии и свойствам нано-размерных частиц в экспериментальных и природных системах. Технические характеристики: реализует режимы туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии в контактной моде. Увеличение от 2000 до 1000 000 раз. Размер образца 20× 20× 6 мм. В режиме сканирующей туннельной микроскопии прибор обеспечивает на электропроводящих образцах разрешение до 0. 3 нм. В атомно-силовом режиме максимальная контролируемая разрешающая способность по XY – 2. 5 нм, по Z – 1. 13 нм.
Владимир Львович Таусон, тел. : (3952) 42-99-67
 72.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000Т (Протон)
Обеспечивает работу в двух режимах: сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ). СТМ – режим, позволяющий работать с электропроводными по поверхности образцами с латеральным разрешением до 3 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. АСМ - режим, с лазерным датчиком прогиба АСМ – зонда (кантилевера), позволяющий работать с неэлектропроводными жёстко закреплёнными на непористой поверхности объектами в мягкой контактной моде с латеральным разрешением до 30 Ангстрем и вертикальным разрешением до 1 Ангстрема. (ЛФП).
 73.  Атомно-силовой микроскоп ИНТЕГРА Спектра (НТ МДТ) с рамановским спектрометром
Обеспечивает получение расширенной информации о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальнай жесткости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале и работе выхода, коэффициенте трения, пьезоотклике и пр. Одновременно с АСМ конфокальная флуоресценция и рамановские измерения дают информацию о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, наличия примесей и дефектов, макромолекулярной конформации и т. д.
 74.  Атомно-силовой сканирующий микроскоп СММ-200 (Протон-МИЭТ)
Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. Можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Ввиду способности не только сканировать, но и манипулировать атомами, назван силовым.
 75.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ)
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0, 1нм до 30мкм). Микроскоп СММ-2000 применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0, 1 А в режиме STM, до 0, 1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2, 5мкм и 2, 5x2, 5x0, 5мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X, Y и Z составляет 10нм ± 10% измеряемого размера.
 76.  Сканирующий туннельный микроскоп LT UHV SPM - Multiprobe S/ XA (Omicron Nanotechnolgy)
Позволяет изучать пространственное распределение электронных свойств поверхности проводящих образцов в нормальном и сверхпроводящем состоянии при температурах от комнатной до температуры жидкого гелия с атомарным разрешением в диапазоне смещений ± 10V, с максимальным током 3. 3А (333A), получать спектры туннельного тока (локальная ВАХ) и, в режиме QPlus AFM, измерять профиль поверхности непроводящих образцов с атомарным разрешением на поверхности кристалла NaCl(100). Базовый уровень вакуума 10-10 mBar. Диапазон грубого позиционирования (XYZ) 5x5x10mm. Диапазон сканирования (XYZ): 10x10x1. 5mkm (RT), 4x4x0. 4mkm (< 78K), 1. 8х1. 8х0. 2mkm (< 5K). Возможны измерения в магнитном поле до 1500Гс.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 77.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47H (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0, 1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Величко Александр Андреевич, тел. : (383) 346-08-77, e-mail: Velichko@amber. ref. nstu.ru
 78.  Комплексная научная установка Нанофаб-25 (НТ-МДТ)
Предназначена для вакуумного плазмохимического модифицирования поверхности и анализа поверхности методами электронной спектроскопии. Отличительной чертой комплексной установки является возможность модифицирования и анализа поверхностных слоев в условиях сверхвысокого вакуума. Образец перемещается между частями установки без выноса на атмосферу, что позволяет исследовать электронную структуру, химические связи в сверх тонких слоях образцов без внесения загрязнений и изменения химического состояния поверхности. Возможности части плазмохимической модификации и осаждения: Использование источника удаленной плазмы мощностью 1 кВт. Контролируемое создание смеси газов для плазменного источника из 3х газов. Дополнительная подача газовой смеси (до 3-х газов) в область выхода плазмы. Контроль газовых потоков с точностью до десятых долей см3/ мин. Контролируемый прогрев поверхности образцов до 600 оС Возможность ввода лазерного излучения в вакуумную камеру (энергии квантов ~6 эВ) Возможность подачи высокого напряжения на образец.
Боричева Ирина Константиновна, Телефон: (812) 552-77-67, E-mail: iboricheva@ftim. spbstu.ru
 79.  Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп Solver P47-Pro (НТ-МДТ)
Предназначен для исследований свойств поверхности с высоким разрешением на воздухе. Конструкция прибора позволяет реализовывать различные методики сканирующей туннельной микроскопии; контактной атомно-силовой микроскопии (метод постоянной силы, метод латеральных сил, метод постоянной высоты и др. ); резонансной атомно-силовой микроскопии (полуконтактная и бесконтактная); АСМ спектроскопии (силовая, токовая, апертурная, фазовая и др. ); а также магнито-силовой микроскопии. Кроме того, прибор оснащен собственной системой виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного).
Боричева Ирина Константиновна, Телефон: (812) 552-77-67, E-mail: iboricheva@ftim. spbstu.ru
 80.  Спин каппа-мост с термоприставкой KLY-3S/ CS-3 (AGICO)
Предназначен для лабораторных измерений магнитной восприимчивости горных пород (и др. материалов) ее анизотропии и зависимости от температуры в ходе нагрева и охлаждения
 81.  Атомно-силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ)
Исследование морфологии поверхности твердого тела и анализ физических характеристик поверхности с разрешением по XY - 2 нм и разрешением по Z - 0, 01 нм. Исследование структуры поверхности и анализ элементного состава образцов с разрешением порядка
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 82.  Атомно-силовой микроскоп СММ-2000 ТА (КПД)
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0, 1нм до 30мкм). Микроскоп применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп мультирежимный, имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия). Разрешение микроскопа: 0, 1 А в режиме STM, до 0, 1-20 А в AFM и доп. режимах (зависит от типа зонда). Поле кадров: 15x15x2, 5 мкм и 2, 5x2, 5x0, 5 мкм. Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X, Y и Z составляет 10нм ± 10% измеряемого размера.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 83.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator II (НТ-МДТ)
Обеспечивает высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях.
Климочкин Юрий Николаевич, тел. : 846 3322122, e-mail: orgchem@samgtu.ru
 84.  Сканирующий туннельный микроскоп Умка-02-U (ИНМФК)
Предназначен для исследования неразрушающим методом свойств материалов и топографии поверхностей на атомарно-молекулярном уровне. При помощи СТМ Умка-02-U можно проводить исследования в воздушной атмосфере, как проводящих, так и , что отличает его от предшествующих моделей, слабопроводящих материалов (в т. ч. биологических объектов и их фрагментов размером не более 5-6 мкм), а также полупроводников.
Темердашев Зауаль Ахлоович, тел. : 861 2199571, e-mail: temza@kubsu.ru
 85.  Сканирующий сверхвысоко-вакуумный зондовый микроскоп Multiprobe P (Omicron NanoTechnology)
Предназначен для регистрации фононных спектров молекул, микроскоп с эмиссией баллистических электронов, силовой микроскоп с инверсной фотоэмиссией, акустический микроскоп ближнего поля.
Гафуров Ильшат Рафкатович, e-mail: public. mail@kpfu.ru
 86.  Атомно-силовой туннельный микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для использования в нанотехнологических исследованиях в самых разных научных областях. Этот прибор обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного. При этом объект может находиться в условиях контролируемой температуры (в диапазоне 20-130° С), влажности (вплоть до полного погружения образца в жидкость) и, если это необходимо, в атмосфере газов заданного состава. Предварительно нацелиться на объект можно с помощью встроенной системы оптического видеонаблюдения. Интуитивно понятный и удобный интерфейс позволяет, кроме всего прочего, вносить направленные изменения в структуру поверхности образца с нанометровым пространственным разрешением, осуществляя нанолитографию и проводя прецизионные манипуляции с нано-объектами. Многоуровневая система пассивной виброзащиты и экранирование от акустических и электрических помех обеспечивают стабильную воспроизводимость и достоверность получаемых результатов. Исключительно простой и надежный в работе прибор, Solver P47-PRO прекрасно подходит для работ в области полупроводниковых материалов, для исследования тонких пленок, а также для получения изображений биологических и медицинских объектов.
Солнцев Константин Александрович , тел. : (499) 135-20-60, e-mail: imet@imet. ac.ru
 87.  Стробируемая 4-х ступенчатая цифровая камера Наногейт-24/ 2 (Наноскан)
Принцип работы электронно-оптического модуля в режиме однокадровой съемки быстропротекающего процесса основан на импульсном управлении (стробировании) электронно-оптического преобразователя ЭОП, синхронном считывании полученного импульсного изображения с его экрана ПЗС камерой и записи оцифрованного кадра в память компьютера в формате *tiff. Временные и энергетические параметры ЭОК устанавливаются дистанционно с компьютера. Всем процессом установки параметров ЭОК, процесса записи, и ввода данных об изображении в память компьютера осуществляется с помощью программного обеспечения НАНОГЕЙТ.
Дудин Сергей Васильевич, тел. : (496) 522-51-68, e-mail: dudinsv@ficp. ac.ru
 88.  Зондовая нанолаборатория Ntegra Prima (НТ-МДТ)
Предназначена для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии. Наноиндентация и измерения с помощью наносклерометрического модуля.
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 89.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (НТ-МДТ)
Исследование топографии, морфологии поверхности на атомарном уровне и объектов наноразмерного масштаба, применение для исследований и анализа на атомарном уровне комплексов адатомов, молекул, группировок атомов. Исследование физических, физико-химических свойств и химического состава локальных областей и объектов наномасштаба с использованием методов селективного взаимодействия зонда с поверхностью и методов селективных химических реакций.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 90.  Комплекс сканирующей ближнепольной оптической спектроскопии Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Комплекс обеспечивает интеграцию методов атомно-силовой и оптической, в т. ч. конфокальной, микроскопии/ спектроскопии и обеспечивает проведение исследований, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств. Благодаря зондово-усиленному КР (TERS) позволяет проводить спектроскопию / микроскопию с разрешением до 10 нм.
Телефон: (812) 448-69-80 (доб. 5070), E-mail: imukhin@spbau.ru
 91.  Уникальный сверхвысоковакуумный комплекс Multiprobe S (Omicron Nanotechnology)
Предназначен для исследования морфологии, атомной структуры и химического состава поверхности твердых тел и контроля процесса роста эпитаксиальных слоев в технологической камере комплекса
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 92.  Сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II (НТ-МДТ)
Атомный силовой микроскоп (АСМ), который сочетает в себе простоту, низкую стоимость эксплуатации и высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях.
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 93.  Атомно-силовой микроскоп (зондовая нанолаборатория) INTEGRA-AURA (НТ-МДТ)
Предназначен для осуществления с помощью методов высокоточных АСМ, ЭСМ и МСМ измерений, а также измерений адгезионных сил в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. Вакуум, обеспечивающий десятикратное увеличение добротности колебаний кантилевера, достигается уже через 1 минуту после начала работы.
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 94.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Therma (НТ-МДТ)
Предназначен для получения изображения поверхности и ее локальных характеристик. Возможность нагревания образца до 150 oС, 200 oС или 300 oС (в зависимости от конфигурации) позволяет исследовать, например, такие структурные изменения на поверхности образца как кристаллизацию, плавление, процессы роста.
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 95.  Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P47 PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для исследований поверхностей голограммных (ГОЭ), дифракционных элементов (ДОЭ) и киноформных оптических элементов (КОЭ). Разрешение - 5 нм. Атомно-силовой микроскоп представляет собой систему образец игла. На малых расстояниях между двумя атомами, один на подложке, другой на острие, при расстоянии около одного ангстрема действуют силы отталкивания, а на больших - силы притяжения. Величина этого усилия экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Отклонения зонда при действии близко расположенных атомов регистрируются при помощи измерителя наноперемещений, в частности, используют оптические, ёмкостные или туннельные сенсоры. Добавив к этой системе устройство развёртки по осям X и Y, получают сканирующий АСМ.
Ковалев Михаил Сергеевич, E-mail: director@mnhs.ru, тел. (499) 263-63-44
 96.  Атомно-силовой микроскоп SOLVER-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм).
 97.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ)
Предназначен для работы в условиях контролируемойатмосферы, низкого вакуума, внешних магнитных полей
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 98.  Микроскоп неразрушающей микротомографии VersaXRM-500 Xradia (ZEISS)
Предназначена для 3D рентгеновской микроскопии, оптимизированных для проведения неразрушающей микротомографии.
 99.  Установка для осаждения нанокристаллов и нанотрубок EasyTube™ 2000 System (First Nano)
Предназначена для осаждения из газовой фазы нитевидных нанокристаллов и нанотрубок. Сконструирована в соответствии с современными жесткими стандартами по безопасности. Некоторые стандартные средства безопасности включают уменьшенные количества выбросов отработанных газов, уменьшенное потребление охлаждающей воды, обнаружение утечек пожароопасных газов, очистку линии выброса газов и другие. Средства предупреждения отображаются на мониторе с звуковым сигналом, Данные по сигналам предупреждения сохраняются и могут быть считаны дистанционно.
Боргардт Николай Иванович, e-mail: borgardt@miee.ru
 100.  Сверхвысоковакуумный аналитико-технологический комплекс на базе платформы НАНОФАБ 100 (НТ-МДТ)
Спектр возможностей НАНОФАБ 100 простирается от проведения фундаментальных исследований до отработки отдельных технологических приемов и моделирования наноэлектронных устройств. Применяемые компоновочные схемы, система управления и развитая транспортная система НТК НАНОФАБ 100 позволяют применять их также и для мелкосерийного производства наноструктур и наноустройств.
Луженкова Светлана Вячеславовна, 7(343)375-93-74, s. v. luzhenkova@ustu.ru
 101.  Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research)
Позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе. Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи); Размер образцов: до 8, 6х3, 8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла; Уровень шума: не более 0, 5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0, 1Гц – 1 кГц)
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 102.  Сканирующий зондовый микроскоп с конфокальной микроскопией Интегра Спектра (НТ-МДТ)
Уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа с конфокальной микроскопией/ спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм. Одновременно с оптическим наблюдением, Интегра Спектра позволяет исследовать объект с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии - АСМ, МСМ, СТМ, сканирующей ближнепольной микроскопии, силовой спектроскопии.
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 103.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Терма (НТ-МДТ)
Позволяет на сверхмалых полях (< 100нм) проводить прецизионные манипуляции и осуществлять долговременные измерения единичных нанообъектов. Обеспечивает уникально высокую стабильность при измерениях в условиях меняющейся температуры. Наличие Макроязыка Nova PowerScript для автоматизированного управления комплексом позволяет проводить уникальные эксперименты.
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 104.  Атомно-силовой микроскоп Solver NexT (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать топографию поверхности различных образцов с высоким разрешением менее 1 нм. Оснащен приставкой для наноиндентирования, позволяющей исследовать локальные механические, прочностные свойства образцов в различных точках с различными динамическими нагрузками, локально измерять твердость и модуль упругости, а так же, получать карты распределения модуля упругости и вязкости.
Башков Валерий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 105.  Нанолаборатория ИНТЕГРА Прима (НТ-МДТ)
Предназначена для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования.
 106.  Зондовая установка PM-5 с оптическим микроскопом Mitutoyo (SUSS MicroTec)
Исследование электро- оптических характеристик чипов светодиодов, ближнее поле электролюминисценции
Черняков Антон Евгеньевич, тел. : (812) 292-7922, e-mail: chernyakov. anton@yandex.ru
 107.  Лазерный комплекс Multi Mode 8 (Bruker) для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах
Лазерный комплекс предназначен для исследования и детального анализа структурно-морфологических свойств поверхности твердых тел различными зондовыми сканирующими методами в микро- и наномасштабе.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 108.  Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron)
В состав установки входят АСМ и СТМ, обеспечивающие атомарное пространственное разрешение. Установка оснащена камерой предварительной подготовки и напыления образцов, ионной пушкой, гелиевой продувкой и нагревателями для поддержания температуры образца в интервале 30-1000К.
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 109.  Микроскоп сканирующий зондовый SOLVER Next (НТ-МДТ)
Исследование топографии поверхности образцов, измерение адгезионных свойств поверхности, измерение электрического потенциала частиц и поверхностей
 110.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ)
Предназначен для анализа поверхностей и биологических объектов на наноуровне
Чемерис Алексей Викторович, тел. : (347) 235-60-88, e-mail: chemeris@anrb.ru
 111.  Цифровая камера высокого разрешения Videoscan-285 на базе электронно-зондового микроанализатора MS-46 (Cameca)
Прибор предназначен для получения высококачественных цветных изображений минералов в катодных лучах. Метод является локальным.
Коваленко Дмитрий Вячеславович, e-mail: dmitry@igem.ru
 112.  Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Предназначен для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 113.  Микроскоп атомно-силовой Innova (Veeco Instruments)
Предназначен для проведения исследований методом атомно-силовой микроскопии
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 114.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Prima (НТ-МДТ)
Нанолаборатория Интегра Прима предназначена для широкого круга исследований в области нанотехнологий, многофункциональный прибор для решения наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии. В возможности прибора входит более 40 измерительных методик, что позволяет изучать физические и химические свойства поверхности образца с уникально высокой точностью и разрешением. Возможно проведение измерений в различных средах - на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости. Управляющая электроника позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами атомно-силовой микроскопии или при использовании высокочастотных кантилеверов.
Александров Игорь Васильевич, тел. : 347 2737977, e-mail: iva@mail. rb.ru
 115.  Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных
Сочетание оптических и АСМ методов в одном приборе обеспечивает проведение комплексных экспериментов, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на его топографию, распределение электрических, магнитных и других свойств. Измерительный модуль оборудован микроманипуляторами и предназначен для проведения электрофизических измерений нанострукутур, полупроводниковых устройств и других материалов, и обеспечивает широкий спектр манипуляций с микрообъектами (перемещение и модификация). Система ASEC-03 предназначена для исследования электрических и фотоэлектрических свойств и определения электрофизических параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов, а также гомо и гетероструктур на их основе. В состав модуля входят 3 микроскопа: - исследовательский промышленного назначения; - металлографический микроскоп; - поляризационный микроскоп.
Николаев Анатолий Николаевич, тел. : 4112 496612, e-mail: aic-svfu@mail.ru
 116.  Универсальный автоматизированный спектрометрический комплекс Интегра СПЕКТРА (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования оптических и электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 117.  Атомно-силовой микроскоп Dimension ICON (Bruker Corporation)
Атомно-силовая микроскопия с низкой скоростью теплового дрейфа 200 пм/ мин, с разрешением от 2 нм и возможностью измерения как проводящих, так и непроводящих образцов для получения изображения трехмерного рельефа поверхности (наноструктура), неоднородности материала по составу (фазовый контраст) и картины силовых взаимодействий
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 118.  Лабораторный нанотехнологический комплекс УМКА (Наноиндустрия)
Предназначен для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК Умка в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии.
Аракчева Ксения Сергеевна, тел. : (499) 174-83-93, e-mail: gosniti8@mail.ru
 119.  Микроанализатор электронно-зондовый JXA-8200 (JEOL)
Предназначен для проведения локального качественного и количественного анализа состава материалов для элементов от F до U с пределами обнаружения 0, 01 масс. %
Коваленко Дмитрий Вячеславович, e-mail: dmitry@igem.ru
 120.  Атомно-силовой микроскоп Muiti View 2000 (Nanonics Imaging)
Сканирующая микроскопия поверхности твердых образцов с нанометровым разрешением с помощью атомно-силовых и ближнепольных датчиков.
Корольков Виктор Павлович, тел. : (383) 333-30-91, e-mail: victork@iae. nsk. su
 121.  Атомно-силовой микроскоп MFP-3D CLASSIC (Oxford Instruments)
Исследование морфологии поверхности
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 122.  Атомно-силовой микроскоп с вакуумной камерой Solver HV (НТ-МДТ)
Предназначен для микроскопических исследований лабораторного материала
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 123.  Сканирующий туннельный микроскоп-спектрометр туннельного тока
Предназначен для исследования электронных свойств поверхностей методом туннельной спектроскопии высокого разрешения. Состоит из следующих блоков: электронный блок управления туннельного микроскопа (ТМ), высоковакуумная криоголовка UnderSEM 377 (разработка МИИЭТ) и блок спектрометра туннельного тока. В этом комплекте прибор может решать следующие задачи: туннельная спектроскопия объектов под иглой ТМ; регистрация неупругой компоненты туннельного тока; измерение работы выхода электрона, а также стандартную для ТМ задачу измерения геометрического рельефа поверхности. Все задачи решаются с атомарным пространственным разрешением, присущем ТМ.
Инновационный отдел ИАиЭ СО РАН, тел. (383) 3333 661; e-mail: innovation@iae. nsk. su
 124.  Атомно-силовой микроскоп NANOEDUCATOR II (НТ-МДТ)
Предназначен для практических занятий по нанотехнологиям. Работает в режиме атомно-силовой микроскопии либо туннельной микроскопии, однако характеристики зонда и сильно упрощенная конструкция сканера могут накладывать определенные ограничения на результат.
Насыров Ильгиз Кутдусович, тел. (843) 238-84-22, (917) 299-19-01, e-mail: nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 125.  Микроскоп сканирующий зондовый Solver P7LS (НТ-МДТ)
Предназначен для измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 126.  Микроскоп мультимодовый сканирующий зондовый Solver Smena-P47H (НТ-МДТ)
Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии. Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 127.  Сканирующий туннельный микроскоп СТМ-У1 (Протон-МИЭТ)
Имеет атомное разрешение на пиролитическом графите, кварцевое основание с низким тепловым дрейфом и пятиступенчатой виброразвязкой, трипод с полем кадра 1/ 1/ 1 мкм и управляющими напряжениями до 700В.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов, Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, E-mail: logi@miee.ru
 128.  Сканирующий туннельный микроскоп Нанометр-1 (Протон-МИЭТ)
Работает с пластинами диаметром до 100 мм, позиционируя иглу в любую точку пластины и давая кадры с разрешением до 10 Å полем до 20/ 20/ 2 мкм. Второй по счёту зондовый микроскоп, вошедший в Госреестр измерительных средств России. В 1998 г. адаптирован для любых других образцов размером до 100/ 100/ 30 мм, в т. ч. комплектовался разрывной машины для изучения прочности материалов.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов, Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, E-mail: logi@miee.ru
 129.  Сканирующий туннельный микроскоп СТМ-НЛ-2. 0 (Протон-МИЭТ)
Микроскоп имеет режим СТМ с разрешением до 3 Å , поле до 6/ 6/ 1 мкм и имеет режим СТМ-нанолитографии с амплитудой импульсов до 15 В.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов, Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, E-mail: logi@miee.ru
 130.  Разрывной атомно-силовой микроскоп РАСМ-5
Предназначен для изучения динамики структурных перестроек и дефектов (мезомеханика) in-situ в процессе разрыва материала, для анализа векторов перемещения зёрен и нанозёрен материала при деформации. Имеет встроенную разрывную машину со сверхмалыми вибрациями и усилием до 200 кг. Компьютерная система накапливает фильм из сканов полем до 50/ 50/ 3 мкм с разрешением до 20 Å . Не имеет аналогов в мире.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 131.  Сканирующий зондовый микроскоп АКТИНИД-М
Предназначен для работы с радиоактивными образцами внутри перчаточной камеры, наблюдения структуры, дефектов, динамики радиационного охрупчивания, окисления и т. д. Имеет режимы СТМ и АСМ, разрешение до 5 Å , поле кадра 15/ 15 мкм, встроенную виброподвеску, герморазъём на камере и управление от компьютера. Имеет несколько СТМ и АСМ зондов, внедряемых в камеру по мере необходимости и устанавливаемых вместо отработавших зондов вручную грубыми перчатками. Не имеет аналогов в мире.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 132.  Сканирующий туннельный микроскоп STM-TOKAMAK-2
Подаётся линейным манипулятором в плазму под тень лимитера для наблюдения распыления первой стенки и осаждения из плазмы атомных кластеров и нанопыли. Из-за высокой резонансной частоты 32 кГц и симметрии даёт атомарное разрешение и работает внутри ТОКАМАК несмотря на сильные эл. -маг. поля и градиенты температур
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 133.  Сканирующий туннельный микроскоп UHV-LT-STM-5
Имеет надёжное атомарное разрешение на металлах и внедряется в вакуумные установки до 10-11 Торр, в т. ч. в азотные и гелиевые вакуумные криостаты. Держит прогрев до 150 º С. Резонансная частота 8 кГц. Поле 4. 8/ 4. 8/ 0. 6 мкм при 20С и 0. 8/ 0. 8/ 0. 1 мкм при 5 К. Образец горизонтален и открыт для любых других методик, туннельная игла ходит по образцу в поле 4/ 4 мм. Игла и образец меняются вакуумными манипуляторами.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 134.  Сканирующий туннельный микроскоп UnderSEM-377
Устанавливается внутрь электронных микроскопов (SEM) с открывающейся камерой и вакуумом до 10-7 Торр на место держателя образца вместе с образцом. Образец открыт для SEM и его анализаторов. Туннельная игла подводится сбоку и даёт разрешение просматриваемой в SEM точки образца вплоть до атомарного. В SEM наблюдается процесс сканирования туннельной иглой. Не требует виброразвязок из-за высокой резонансной частоты 38 кГц. Поле 2/ 2/ 0. 6 мкм. Работает режим туннельной спектроскопии.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович ЛогиновТелефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93E-mail: logi@miee.ru
 135.  Сканирующий туннельный микроскоп СММ-2000Т (ООО КПД)
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0, 1 нм до 30мкм).
Кузнецов Михаил Владимирович, тел. : (343) 362-33-56, e-mail: kuznetsov@ihim. uran.ru
 136.  Сканирующий туннельный микроскоп УМКА
Предназначен для проведения атомно-молекулярных исследований поверхности проводящих и слабопроводящих материалов методом туннельной микроскопии в обычной атмосфере. Используется для осуществления демонстрационных, исследовательских и лабораторных работ в области физики, химии, биологии, медицины, генетики, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук.
 137.  Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан Омега (НПТ ЦПТ)
Позволяет осуществлять полномасштабные измерения с любого компьютера, подключенного к локальной сети или сети Интернет, при этом неограниченное количество санкционированных сетевых пользователей могут иметь доступ к данным эксперимента в реальном масштабе времени и осуществлять самостоятельные анализ, обработку и построение трехмерных изображений. Микроскоп позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Он предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии.
Насыров Ильгиз Кутдусович, (843) 2388422, 9172991901, nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 138.  Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения Innova (Bruker)
Обеспечивает высочайшее разрешение, большую функциональность, и простоту в использовании. Встроенная цифровая камера высокого разрешения и моторизированное основание для образцов позволяют быстро и просто позиционировать образец в поисках нужных участков. Жесткая конструкция механики головки микроскопа, очень низкий тепловой дрейф и сверхнизкошумящая электроника позволили получать атомарное разрешение на 90-микронном сканере, снабженном системой линеаризации.
Насыров Ильгиз Кутдусович, (843) 2388422, 9172991901, nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 139.  Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА-ПРИМА (НТ-МДТ)
Позволяет решать широкий спектр задач в области атомно-силовой микроскопии, предусматривает возможность изучения физических и химических свойств поверхности образца с высокой точностью и разрешением
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 140.  Сканирующий зондовый микроскоп MULTIMODE 8 (Veeco Instruments)
Реализует весь набор методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), выдавая характеристики поверхности, такие как топография, упругость, трение, адгезия и распределение магнитного и электрического полей. Короткий оптический путь между зондом и образцом обеспечивает высокие скорость сканирования и точность. Электрохимические приставки позволяют работать в режимах электрохимической сканирующей туннельной микроскопии (ЭХСТМ), электрохимической атомно-силовой микроскопии (ЭХАСМ) и микроскопии электрохимического потенциала. Образцы проб – твердые вещества, в том числе порошки V – 1 х 1 х 0, 8 см
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 141.  Сканирующий зондовый микроскоп di Innova SPM (Veeco-Digital Instruments)
Мультимодовый зондовый сканирующий микроскоп, объединяющий возможности всех мод атомно-силовой и туннельной микроскопии с разрешением вплоть до атомарного, позволяет проводить измерения характеристик рельефа поверхности проводящих и полупроводниковых структур, а также их электрических, магнитных и других свойств в контролируемых температурных условиях, отличных от комнатных.
 142.  Атомно-силовой микроскоп Solver PRO-M с измерительным модулем Smena (НТ-МДТ)
Предназначен для анализа топологии поверхности исследуемых объектов с нанометровым пространственным разрешением.
 143.  Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии NTEGRA Prima (НТ-МДТ)
Прибор используется для получения изображения поверхности образца и его характеристик. Сканирование образцом. Размер образца: диаметр до 40 мм, высота до 15 мм. Вес образца до 100 г. XY диапазон позиционирования 5x5 мм. Разрешение позиционирования 5 мкм.
Тимофеев Андрей Владимирович, тел. (495) 955-01-60
 144.  Сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator (НТ-МДТ)
Используется для исследования микро- и наноразмерных структур, которые сложно, либо невозможно исследовать с помощью оптической микроскопии, на поверхности различных материалов с высоким разрешением.
Фандеев Александр Григорьевич, телефон: (812) 457-1845, e-mail: fandeev@rambler.ru
 145.  Зондовый микроскоп MultiMode NanoScope IIIa SPM System (Veeco)
Используя различные измерительные компоненты, система позволяет проводить исследования топографии поверхности, шероховатости, распределения частиц по размерам и высоте и т. д. , выполнять измерения магнитных характеристик, например, доменной структуры, а также исследования микроскопии сопротивления растекания.
 146.  Атомно-силовой микроскоп Nano-DST (Pacific Nanotechnology)
Предназначен для исследования поверхности материалов на микро- и нано- уровне.
Ковров Владимир Николаевич , тел. : (342) 237-83-17, e-mail: kovrov@icmm.ru
 147.  Атомно-силовой микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для использования в нанотехнологических исследованиях в самых разных научных областях. Обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного.
Гаврилов Сергей Александрович, тел. : 7 (499) 731-22-79, e-mail: rnd@miee.ru
 148.  Нанотехнологический комплекс Нанофаб 100 (НТ-МДТ) с модулями молекулярно-лучевой эпитаксии, вакуумного сканирующего зондового микроскопа, электронного микроскопа и фокусированного ионного пучка
Предназначен для формирования нанотехнологических комплексов с кластерной компоновкой. Формируемые на платформе НАНОФАБ 100 нанотехнологические комплексы (НТК) включают технологические модули с возможностями групповых и нанолокальных методов обработки подложек диаметром до 100 мм, а также контрольно-измерительные модули. При формировании НТК группы технологических и контрольно-измерительных модулей объединяются в кластеры, которые связываются в технологические цепочки через модули межоперационной передачи и складирования образцов.
Гаврилов Сергей Александрович, тел. : 7 (499) 731-22-79, e-mail: rnd@miee.ru
 149.  Сканирующий туннельный микроскоп УМКА (ИН МФК)
Предназначен для наблюдения за поведением отдельных атомов на поверхности и изучения процессов с участием одиночных или небольших групп атомов. Является прекрасным инструментом не только для обучения практическим методам работы с наноразмерными структурами. Он также с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК Умка в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 150.  Атомно-силовой микроскоп Solier (НТ-МДТ)
Представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе.
 151.  Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан 001
Позволяет осуществлять полномасштабные измерения с любого компьютера, подключенного к локальной сети или сети Интернет, при этом неограниченное количество санкционированных сетевых пользователей могут иметь доступ к данным эксперимента в реальном масштабе времени и осуществлять самостоятельные анализ, обработку и построение трехмерных изображений. Микроскоп позволяет проводить измерения на воздухе и в жидких средах. Он предназначен для проведения фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии.
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 152.  Высоковакуумная низкотемпературная система PlasmoScope-2M для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/ СТМ/ МСТ
Исследование нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/ СТМ/ МСТ
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 153.  Сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES (Asylum Research)
Позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре со следующими уникальными техническими возможностями: • Введение и обмен газов/ жидкостей в герметичной ячейке. • Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл). • Интегрированный контроль температуры. • Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами).
 154.  Туннельный, атомно-силовой микроскоп Ntеgra Prima (НТ-МДТ)
Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований.
 155.  Сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЮКАТОР II NT MDT (НТ-МДТ)
Поддерживает все базовые методики атомно-силовой микроскопии, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях: Исследование полимерных объектов; Исследование биологических объектов; Исследование углеродных наноматериалов.
Ведущие ученые: д. т. н. , профессор В. А. Кузьмин, д. т. н. , профессор С. М. Решетников, тел. (8332) 64-15-91
 156.  Установка для электроспиннинга NANON-01A (MECC CO)
Предназначена для получения нановолокна в лабораторных условиях с помощью метода электроспиннинга
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 157.  Объёмный резонатор для МРТ грызунов на ядрах 1Н и 19F (Bruker)
Используется для ЯМР томографии катарактальных хрусталиков
 158.  Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe (JEOL)
Предназначен для микроанализа образцов, их структуры и элементного анализа в микрообъеме. Одним из самых распространенных и эффективных методов, лежащим в основе работы современных микроанализаторов, является микрозондовый (микрорентгеноспектральный) анализ. Образец сканируется электронным микрозондом (пучок электронов до 1 мкм). Под действием этого пучка электронов в микрообъеме образца возникает рентгеновское характеристическое излучение, , а его интенсивность зависит от содержания исследуемого элемента в микрообъеме образца. Это излучение фиксируется спектрометрами, а полученная информация обрабатывается и предоставляется в удобном виде. Таким образом можно выполнять качественный и количественный микроанализ содержания элементов в лабораторных образцах.
 159.  Зондовые микроскопы Nanoeducator-5 (НТ-МДТ)
Сканирующий зондовый микроскоп. Изучение топографических свойств поверхности.
Антоненко Сергей Васильевич, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9673, e-mail: SVAntonenko@mephi.ru
 160.  Сканирующий зондовый микроскоп СОЛВЕР НЕКСТ (НТ-МДТ)
Топография, отображение фазы, атомная энергетика, электроника, исследовательское оборудование. Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем. Проведение исследований с помощью наносклерометрического модуля.
Каргин Николай Иванович, тел. : 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru
 161.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 (Протон-МИЭТ)
Предназначен для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования (диапазон измерений от 0, 1нм до 30мкм). Микроскоп СММ-2000 применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля. Микроскоп СММ-2000 - мультирежимный, он имеет три базовых режима - STM (сканирующая туннельная микроскопия), AFM (атомно-силовая микроскопия) и VAFM (вибрационная атомно-силовая микроскопия).
Тел. : (81555) 79-730. Эл. почта: kuznet@chemy. kolasc. net.ru
 162.  Атомно-силовой микроскоп Park XE-Bio (Park Systems)
Представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе.
 163.  Высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 (Park Systems)
Высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 - идеальный выбор для анализа дефектов. Инженерам-исследователям, требуется получать надежные результаты и данные. Модель ParkNX20 имеет репутацию самого точного АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.
 164.  Нанотехнологический комплекс НАНОФАБ 100 (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения фундаментальных исследований до отработки отдельных технологических приемов и моделирования наноэлектронных устройств. Применяемые компоновочные схемы, система управления и развитая транспортная система НТК НАНОФАБ 100 позволяют применять их также и для мелкосерийного производства наноструктур и наноустройств.
 165.  Лазерный измеритель наноперемещений (НИЦПВ)
Измерение линейных перемещений в реальном масштабе времени, в том числе, калибровка систем сканирования и позиционирования, применяемых в микро- и наноэлектронике, точном машиностроении, микромеханике, робототехнике, растровой электронной и зондовой микроскопии.
 166.  Эталонная 3D лазерная интерферометрическая система измерений наноперемещений (НИЦПВ)
Эталонная система на основе атомно-силового микроскопа оригинальной конструкции и лазерных интерферометрических измерителей наноперемещений предназначена для измерения нано-рельефа поверхности и линейных перемещений по 3-м координатам в микроэлектронике, нанотехнологии и микромеханике, аттестации мер и стандартных образцов для калибровки растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов.
 167.  Исследовательский сканирующий зондовый микроскоп СОЛВЕР P47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150° С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Эта модель может быть успешно использована как в маленьких компаниях и университетских лабораториях, так и в больших исследовательских центрах.
 168.  Автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп Солвер Некст (НТ-МДТ)
Предназначен для определения физико-химических свойств объектов с высоким пространственным разрешением (до 0. 3 нм по осям X и Y, 0. 02-0. 03 нм по оси Z) с помощью методик сканирующей атомно-силовой и туннельной микроскопии. Данный прибор используется в проекте для характеризации получаемых и исследуемых наноматериалов и наноструктур (в том числе металлических магнитных пленок, планарных наноструктур и т. д. ).
 169.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования поверхности методом сканирующей зондовой микроскопии
Алексеев Владимир Александрович, тел. : 3412 588873, e-mail: alekseeVV@istu.ru
 170.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47-PRO (НТ-МДТ)
Предназначен для анализа морфологии поверхности материалов
Салтыков Сергей Николаевич, тел. : 4742 328155, e-mail: saltsn@mail.ru
 171.  Сканирующий зондовый микроскоп JSPM 5400 (JEOL)
Исследование структуры поверхности нано материалов методами атомно-силовой (магнитно-силовой, электро-силовая, SKPM, диссипативной силовая, латерально-силовой, фазовой спектроскопии, силовой спектроскопии, наноиндентирования, наноманипулирования, нанолитографии) микроскопии, а также методами туннельной микроскопии.
Соколов Михаил Евгеньевич, тел. : 861 2199618, e-mail: sokolovme@mail.ru
 172.  Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA VITA BASIC (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Романов Евгений Михайлович, тел. : 8362 686061, e-mail: rector@marstu. net
 173.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Олишевский Даниил Петрович, тел. : 863 2220903, e-mail: ckp@rctt.ru
 174.  Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra Prima (NT-MDT)
Предназначен для общенаучных исследований в области сканирующей зондовой микроскопии
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 175.  Измерительный модуль биологических исследований SolverP47-ProBio
Предназначен для лаборатории зондовой и электронной микроскопии
Козлов Дмитрий Владимирович, e-mail: KozlovDV@ulsu.ru
 176.  Электромеханическая ячейка GPI с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ
Ячейка, разработанная и выпускаемая в РФ, необходима для изготовления вольфрамовых игл (зондов) для сканирующего туннельного микроскопа GPI-300. Особая технология изготовления вольфрамовых игл, специ-ально разработанная для СТМ GPI-300 и реализован-ная в данной ячейке, позво-ляет обеспечить уникальные характеристики используе-мого СТМ [K. N. Eltsov, V. M. Shevlyuga, V. Yu. Yurov, A. V. Kvit, and M. S. Kogan. Sharp tungsten tips prepared for STM study of deep nanostructures in UHV. Phys. Low-Dim. Struct. , 9/ 10: 7, 1996]. Установка снабжена электронным блоком управления, что повышает воспроизводимость характеристик при изготовлении игл.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 177.  Нанотехнологическая установка Луч-2
Функционирует в режиме сканирующего туннельного микроскопа и ориентирована на поисковые задачи микроэлектроники.
Хохлов Алексей Ремович , тел. : (499) 135-79-10, e-mail: khokhlov@ineos. ac.ru
 178.  Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп с изменяемой температурой образца STM VT (CEO Omicron NanoTechnology)
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп STM VT OMICRON позволяет в сверхвысоковакуумных условиях (10-11 Торр) получать атомное изображение поверхности металлов и полупроводников, в том числе кремния, посредством регистрации туннельного тока между зондом и близко подведенной к нему исследуемой поверхности. Микроскоп оборудован титановым ионным насосом и турбомолекулярным насосом. В колонне микроскопа заложена возможность прогрева образцов до 1500ОС, что позволяет отжигать и очищать поверхность кремниевых образцов. Дополнительная система позиционирования, позволяет проводить сканирование поверхности непосредственно после эпитаксии или сублимации. Микроскоп оборудован ячейками напуска кислорода и системой эпитаксиального напыления на поверхность кремния или германия. Разрешающая способность микроскопа определяется разрешающей способностью иглы и соответствует размеру отдельного атома в латеральных направлениях и до 0, 01 нм в вертикальном направлении.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 179.  Сканирующий зондовый микроскоп АСМ/ СТМ SOLVER NEXT (NT-MDT)
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. Все основные методики атомно-силовой микроскопии, топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое. Сканирующая туннельная микроскопия. Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 180.  Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Владимиров Александр Александрович, тел. : 3842 587971, e-mail: fizickemsu@mail.ru
 181.  Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Гальбрайх Л С, тел. : 495 9553394, e-mail: lsgalbraikh@mail.ru
 182.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-200 (НИЭТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 183.  Сканирующий зондовый микроскоп Multimode III (исследовательский) с электрохимической приставкой (Veeco)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 184.  Атомно силовой микроскоп SOLVER P47 (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 185.  Зондовый микроскоп ФемтоСкан
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Попов Павел Аркадьевич, тел. : 84832 666953, e-mail: tfbgubry@mail.ru
 186.  Зондовая нанолаборатория NTegra Aura (НТ-МДТ)
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 187.  Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ)
Оборудование предназначено для проведения исследований на субмикронном уровне механических свойств, модуля упругости и структуры многофазных материалов сверхтвердых материалов. Обеспечивает контактный динамический режим сканирования с применением пьезорезонансного зонда с высокой изгибной жесткостью консоли, получение изображения профиля поверхности и карты модуля упругости с использованием датчиков обратной связи. Максимальный размер области сканирования 100х100х10 мкм, разрешение при сканировании 0, 15 нм (ось Z) и 1, 5 нм (по осям X и Y). Измеряет модуль упругости в диапазоне значений 1 – 1000 ГПА, рабочая частота 10 кГц, размер области упругого контакта зонда ~ 100 нм, разрешение по значению привнесенной контактной жесткости – 0, 1 Н/ м. Измеряет твердость методом склерометрии в диапазоне значений от 0, 5 до 80 ГПа, минимальный размер царапины по глубине/ ширине 1 нм/ 30 нм. Режим работы пошаговый и микропозиционирования.
Говоров Виталий Александрович, тел. : 495 3627735, e-mail: vitaly-govorov@yandex.ru
 188.  Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode8 (Bruker)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 189.  Универсальный вакуумный СЗМ комплекс INTEGRA аура (НТ-МДТ)
Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии в вакуумной среде.
Сысоев Игорь Александрович, e-mail: eianpisia@yandex.ru, тел. : 8-919-739-2055
 190.  Сканирующая зондовая нанолаборатория NTEGRA
Изучения морфологии поверхностей методом зондовой микроскопии.
Сысоев Игорь Александрович e-mail: eianpisia@yandex.ru тел. : 8-919-739-2055
 191.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM 6510 LV SSD X-MAX в комплекте с приставкой зондового микроанализа и напылительной установкой (JEOL)
Исследование морфологии поверхности, определение размеров фрагментов изображений и частиц, элементный анализ поверхности
Хорошилов Алексей Владимирович, тел. : 495 4951534, e-mail: ckp@muctr.ru
 192.  Сканирующий туннельный микроскоп
Сканирующий туннельный микроскоп, работающий в режимах атомно-силовой микроскопии с возможностями формирования наноструктур. сканер X, Y, Z 10мкм x 10мкм x 2мкм ( / -10%) с моторизованным подводом, STM головка с предусилителем (30pA-50nA). Предназначен для проведения научных исследований в широком диапазоне научных областей.
Поляков Вадим Витальевич, тел. : 8634 371767, e-mail: vpolyakov@sfedu.ru
 193.  Комплекс туннельных микроскопов
Предназначен для проведения научных исследований в широком диапазоне научных областей и для получения базовых знаний и навыков работы в области наноэлектроники. Позволяет организовать эксплуатацию в режиме коллективного использования специалистами различных отраслей при решении важнейших научно-технических проблем в различных областях науки и техники: в микро- и нанотехнологии, наноэлектронике, материалов и компонентов твердотельной электроники, физики твердого тела, физико-химических методов исследования процессов и материалов, электронного машиностроения, металлургии, котлостроении, авиационной промышленности.
Поляков Вадим Витальевич, тел. : 8634 371767, e-mail: vpolyakov@sfedu.ru
 194.  Нано-Лаборатория для биологических и медицинских исследований ЛАЙФ NtegraLife
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 195.  Сканирующий тунельный микроскоп OMICRON VT AFM XA
Предназначен для туннельной микроскопии и спектроскопии поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума (P < 10-10 мбар). Исследование образцов при застабилизированной температуре 35 К < T < 500 K с использованием проточного криостата He-4 и нагревателя.
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 196.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 197.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ 2000
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Грачев Михаил Александрович, тел. : (3952) 42-65-04, e-mail: Grachev@lin. irk.ru
 198.  Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light (Нано Скан Технология)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Баранников Владимир Петрович, тел. : (4932) 33-62-72, e-mail: vpb@isc-ras.ru
 199.  Сверхвысоковакуумный туннельный сканирующий микроскоп VT-STM (OMICRON)
Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной микроскопии
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 200.  Зондовый микроскоп Dimension 3100 (Veeco)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 201.  Универсальный СЗМ комплекс Интегра Прима
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 202.  Сверхвысоковакуумная напылительная система Омикрон с термическими испарителями Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 203.  Сверхвысоковакуумная напылительная система Омикрон с магнетронными источниками Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 204.  Сверхвысоковакуумный комплекс Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 205.  Класс мультимикроскопов и профилометров CM-2000, 130
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 206.  Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра-Прима (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 207.  Программно-аппаратный комплекс зондовой микроскопии Солвер некст
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Ерёмкин Алексей Владимирович, тел. : 8352 452403, e-mail: eremkin80@mail.ru
 208.  Метрологический комплекс измерения параметров рельефа и шероховатости на основе атомно-силовой микроскопии НаноСкан-3Д
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Кононогов Сергей Алексеевич, тел. : (495) 437-55-77, e-mail: office@vniims.ru
 209.  Сканирующий электронный микроскоп с микрозондовым анализатором ISYS LEO-1450 EDX System (Carl-Zeiss)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Гафуров Малик Магомедович, тел. : malik52@mail.ru, e-mail: (8722) 67-06-20
 210.  Сканирующий зондовый микроскоп Bruker Multimode8
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 211.  Комплексная сверхвысоковакуумная (UHV) установка Compact (OMICRON)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 212.  Сканирующий туннельный микроскоп Multiprobe Compact (OMICRON)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 213.  Сканирующий туннельный микроскоп VT UHV STM (OMICRON)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 214.  Атомный силовой микроскоп SOLVER P-47
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Саранин Александр Александрович, тел. : (423) 231-04-26, e-mail: saranin@iapu. Dvo.ru
 215.  Атомно-силовой микроскоп BioScope Catalyst (Bruker)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Адрианов Андрей Владимироваич, тел. : (423) 231-09-05, e-mail: inmarbio@mail. primorye.ru
 216.  Атомно - силовой микроскоп Cypher (Asylum)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Созинов Сергей Анатольевич, тел. : (3842) 28-14-76, e-mail: sozinov71@mail.ru
 217.  Установки анализа структуры поверхности Nano DST (Pacific)
Высокоскоростной сканирующий зондовый микроскоп для получения изображений и изучения динамики процессов in situ с высоким временным пространственным наноразмерным разрешением.
Кульчин Юрий Николаевич, тел. : (423) 231-04-39, e-mail: director@iacp. dvo.ru
 218.  Сканирующая зондовая нанолаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 219.  Учебный атомный силовой микроскоп (класс на 6 рабочих мест) Nanoeducator (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 220.  Сканирующая зондовая НаноЛаборатория NTEGRA Aura (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Хасанов Олег Леонидович, тел. : 3822 427242, e-mail: khasanov@tpu.ru
 221.  Интегрированный сверхвысоковакуумный комплекс Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 222.  Атомно-силовой микроскоп ACM MP 3D c принадлежностями Stand Alone (Asylum Research)
Установка АСМ предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многих поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода и др.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 223.  Атомно-силовой микроскоп NT 206
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 224.  Сканирующий зондовый микроскоп и нанотвердомер Nanoscan (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Смирнов Сергей Витальевич, тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 225.  Сканирующий электронный микроскоп-микроанализатор JSM 6390A (Jeol)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Акатов Владимир Семенович, тел. : (4967) 73-94-52, e-mail: v-akatoff@rambler.ru
 226.  Наноизмерительный комплекс зондовой микроскопии на базе АСМ-СТМ NTEGRA-Spectra (НТ-МДТ)
Исследование топологических и электрофизических свойств поверхности образца в различных средах – на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 227.  Комплекс на основе ближнепольной микроскопии (сканирующая зондовая нанолаборатория)
Оборудование для микроскопических исследований
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 228.  Нанозондовая лаборатория Интегра-Аура (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Магкоев Тамерлан Таймуразович, тел. : 918 8224595, e-mail: t_magkoev@mail.ru
 229.  Зондовый сканирующий микроскоп Dimension ICON (Bruker)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Сницар Валерий Григорьевич, тел. : (499) 740-90-11, e-mail: V. Snitsar@tcen.ru
 230.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Рro (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 231.  Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 232.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 (Протон)
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 233.  Атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 234.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-HV (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 235.  Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER P47H (НТ-МДТ)
Исследование физико-химических свойств поверхности нанообъектов и наноструктур с помощью современных методов зондовой микроскопии. Точность измерения перемещения (система сканирования) по вертикали 0, 1 нм, в латеральном направлении – 1 нм.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 236.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 237.  Сверхвысоковакуумная напылительная система с магнетронными источниками Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 238.  Сверхвысоковакуумный комплекс Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 239.  Исследовательский комплекс Зондовая нано лаборатория Интегра
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Грязнов Николай Анатольевич, тел. : (812) 294-47-36, e-mail: gna@rtc.ru
 240.  Микроскоп мультимодовый сканирующий зондовый Solver P47H (НТ-МДТ)
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т. ч. наноматериалов).
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 241.  Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа SPM01
Cканирующий зондовый микроскоп Ntegra Aura предназначен для исследования свойств поверхности твердых тел в следующих режимах: сканирующая туннельная микроскопия; атомно-силовая микроскопия; латерально-силовая микроскопия; отображение фазы; модуляция силы; отображение адгезионных сил; магнито-силовая микроскопия; сканирующая ёмкостная микроскопия; метод зонда Кельвина; отображение сопротивления растекания; силовая литография; токовая литография.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 242.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 243.  Атомно-силовой микроскоп Наноскан
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 244.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro
Для иссследования геометрического и потенциального рельефа поверхности образцов
Пудалов Владимир Моисеевич, тел. : (499) 135-42-78, e-mail: pudalov@sci. lebedev.ru
 245.  Атомно-силовой микроскоп Nanoscope III A (Veeco)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Георгиев Павел Георгиевич, тел. : (499) 135-60-89, e-mail: georgiev_p@genebiology.ru
 246.  Атомно-силовой микроскоп Solver-47 (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 247.  Комплект оборудования для медико-биологических исследований зондовыми методами
Применение в области биологических, биохимических и медицинских исследований. Конструкция объединяет возможности атомного силового микроскопа и инвертированного оптического микроскопа. Размер образцаДо Ø 40 мм, до 15 мм в высотуДиапазон сканирования100x100x10 мкмНелинейность, XY < 0. 1%
Поляков Вадим Витальевич, тел. : 8634 371767, e-mail: vpolyakov@sfedu.ru
 248.  Нанотехнологический комплекс для получения изображений и измерения физических свойств поверхности ИНТЕГРА Аура
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Арчаков А. И. , тел. : (499) 246-69-80, e-mail: inst@ibmc. msk.ru
 249.  Сканирующий зондовый микроскоп Nanoman II
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Арчаков А. И. , тел. : (499) 246-69-80, e-mail: inst@ibmc. msk.ru
 250.  Атомно-силовой микроскоп SOLVER P47H
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Арчаков А. И. , тел. : (499) 246-69-80, e-mail: inst@ibmc. msk.ru
 251.  Сканирующий зондовый комплекс с регулируемым внешним магнитным полем ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 252.  Исследовательский измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии семейства Integra Aura (НТ-МДТ)
Открывает новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 253.  Сканирующая зондовая нанолаборатория Интегра Аура (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Куркин Евгений Николаевич, тел. : (496) 522-80-53, e-mail: kurkin@icp. ac.ru
 254.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Bio P 47
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Широков Александр Александрович, тел. : (8452) 97-04-44, e-mail: alexanders@ibppm. sgu.ru
 255.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Стерхов Михаил Юрьевич, тел. : (3412) 50-82-00, e-mail: mister@udman.ru
 256.  Зондовый микроскоп Enviroscope (Veeco)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Цивадзе Аслан Юсупович, тел. : (495) 955-46-30, e-mail: tsiv@phyche. ac.ru
 257.  Сканирующая зондовая нанолаборатория Ntegra Vita
Исследования свойств поверхности
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 258.  Универсальный комплекс сканирующей зондовой микроскопии Ntegra Prima (НТ-МДТ)
Разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 259.  Атомно-силовой микроскоп ARIS-3500 (Burleigh)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 260.  Туннельный микроскоп ARIS-2200 (Burleigh)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 261.  Универсальная нанолаборатория NTEGRA PRIMA BASIC (НТ-МДТ)
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Романов Евгений Михайлович, тел. : 8362 686061, e-mail: rector@marstu. net
 262.  Сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Кузнецов Михаил Владимирович, тел. : (343) 362-33-56, e-mail: kuznetsov@ihim. uran.ru
 263.  Сканирующий туннельный микроскоп VT STM Omicron
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Кузнецов Михаил Владимирович, тел. : (343) 362-33-56, e-mail: kuznetsov@ihim. uran.ru
 264.  Атомно-силовой микроскоп Solver 47p
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Иванов Максим Геннадьевич, тел. : (343) 267-87-96, e-mail: max@iep. uran.ru
 265.  Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Сканирующая головка может использоваться в конфигурации Stand-alone для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм).
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 266.  Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Исследование пространственного распределения электрических, магнитных, механических, адгезионных свойств поверхности.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 267.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 (НТ-МДТ) в чистой климатической зоне
Изучение наноструктур, наносистем и поверхности материалов с различным типом проводимости с разрешением 5-10 нм (латеральным) и 0, 1 нм (по вертикали).
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 268.  Атомно-силовой и туннельный микроскоп АСМ
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 269.  Туннельный микроскоп Умка
Исследование топологии поверхности проводящих и полупроводящих образцов с атомарным разрешением
Чмутин Игорь Анатольевич, тел. : (495) 332-86-66, e-mail: chmutin@technopark-slava.ru
 270.  Сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM
Универсальный прибор для проведения комплексных исследований поверхности различных объектов с нанометровым разрешением
Чмутин Игорь Анатольевич, тел. : (495) 332-86-66, e-mail: chmutin@technopark-slava.ru
 271.  Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver P-47
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 272.  Учебная зондовая лаборатория NanoEducator
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 273.  Зондовый микроскоп INTEGRA
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 274.  Зондовый микроскоп INTEGRA аура (НТ-МДТ)
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 275.  Атомно-силовой микроскоп NT-206
Исследование рельефа поверх-ности образца, определение раз-меров частиц в диапазоне 1-100 нм
Колеснов Александр Юрьевич, e-mail: sekretariat@biolab.ru, kt4@mail.ru, center@biolab.ru
 276.  Атомно-силовой микроскоп Nano Rule (Pacific)
Для исследования свойств кристаллов и керамик в режимах СТМ и АСМ
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 277.  Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor Omicron LT SPM
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 278.  Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп, позволяющий получать атомно-разрешенные изображения проводящей поверхности при комнатной температуре образца.
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 279.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 280.  Сверхвысоковакуумный низкотемпературный с канирующий туннельный микроскоп GPI CRYO
Уникальный для РФ и один из немногих в мире СТМ, позволяющий исследовать образцы при температуре жидкого гелия. Обеспечивает возможности атомного разрешения и туннельной спектроскопии.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 281.  Сканирующий Зондовый Микроскоп СОЛВЕР P47 (НТ-МДТ)
Предназначен для количественных и качественных измерений приповерхностных характеристик и сопутствующих им физических по-лей с разрешением вплоть до атомарных, для проведения с нанометровым разрешением специальных воз-действий и нанолитографических операций, включая токовые, электрополевые, механические, химические воздействия.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 282.  Сверхвысоковакуумный сканирующи туннельный микроскоп GPI-300
Комплекс позволяет после-довательно исследовать об-разец различными физиче-скими методами, произво-дить технологические обра-ботки, снова исследовать образец и т. д. При этом об-разец никогда не покидает условий СВВ. Исследования методом ДБОЭ могут про-водиться во время техноло-гических процессов (in situ). Поскольку образец не поки-дает условий СВВ, его ис-следования методом СТМ до и после обработок проводят-ся с атомным разрешением. Качество СТМ столь высо-ко, что атомное разрешение реализуется как на гладкой поверхности образца (на-пример, на чистой поверх-ности монокристаллическо-го Si или Ge), так и при ис-следовании объектов с вы-сокой шероховатостью, та-ких как массивы квантовых точек или нанокристалличе-ские пленки кремния или силицидов металлов.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 283.  Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension (Nanoman)
Методы микроскопии, доступные с имеющимся набором модулей: - атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, туннельная (СТМ), микроскопия сопротивления растекания, туннельная атомно-силовая, проводящая атомно-силовая; - область сканирования, мкм: 90; - максимальный размер образца, мм: 150; максимальная толщина образца, мм: 12; максимально-допустимый перепад высот образца, мкм: 7.
Ризаханов Ражудин Насрединович, тел. : (495) 456-80-83, e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 284.  Нанотехнологический комплекс Умка-02-L (Наноиндустрия)
Представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Поле сканирования, мкм: 5x5; - разрешение в плоскости образца, нм, не хуже: 0, 02; - разрешение по вертикали, нм, не хуже: 0, 01; - ток сканирования, пА: 20. . . 5000; - напряжение на зазоре, В: - 0, 01. . . 2, 5; - размер образца, мм: 8x8x0, 5; - время сканирования кадра с атомарным - разрешением (3x3 нм), с, не более: 2; - время сканирования полного кадра (7x7 нм), мин, не более: 4; - время выхода на рабочий режим, мин, не более: 10.
Ризаханов Ражудин Насрединович, тел. : (495) 456-80-83, e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 285.  Атомно-силовой микроскоп SPM-9600 (Shimadzu)
Микроскоп SPM-9600 сканирует образец микроскопическим зондом для получения трехмерного изображения. Топографическая карта поверхности с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз может быть получена для нативных образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов без какой-либо их предварительной подготовки. SPM-9600 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой (AFM), латерально-силовой (LFM) или сканирующей туннельной микроскопии (STM).
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 286.  Сканирующий зондовый микроскоп Multimode V (Veeco)
Предназначен для исследования топографии поверхности вплоть до нанорамерной шкалы.
 287.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра-Терма
Исследование топографии поверхности, измерение размеров поверхностных объектов в микро- и нанометровом диапазонах; Измерение локальных электрических и упругих характеристик поверхности в микро- и нанометровом масштабах;
 288.  Зондовая лаборатория ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
 289.  Лаборатория для исследования физических свойств объектов со сверхвысоким разрешением Интегра Прима (НТ-МДТ)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Кузнецов Борис Борисович, тел. : (499) 135-12-40, e-mail: borisk@biengi. ac.ru
 290.  Атомный силовой микроскоп NS4A-01 (VEECO)
Предназначен для измерительных методик
Агранат Михаил Борисович, тел. : (495) 362-51-36, e-mail: agranat2004@mail.ru
 291.  Многофункциональный атомно-силовой микроскоп Наноскоп-3а
Сканирующая туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, микроскопия в жидких средах, термонаноскопия.
Хохлов Алексей Ремович , тел. : (499) 135-79-10, e-mail: khokhlov@ineos. ac.ru
 292.  Атомно-силовой микроскоп NTEGRA
АСМ, АСМ-ФК
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 293.  Система материалографических исследований с высоким разрешением и локальным элементным анализом Vega II (Tescan)
Изучение структуры и состава неэлектропроводящих материалов с разрешением до 3, 5 нм
Солнцев Константин Александрович , тел. : (499) 135-20-60, e-mail: imet@imet. ac.ru
 294.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Next
Атомно-силовая и микроскопия
 295.  Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов Centaur HR
Работает в режиме сканирующего зондового и оптического конфокального микроскопа. Необходим для исследований химического состава и топографии поверхности (в нанометровом масштабе) образцов подвергнутых наводораживанию и радиационному воздействию.
Тюрин Юрий Иванович, тел. : 3822 56-36-21, e-mail: tyurin@tpu.ru
 296.  Сканирующие зондовые микроскопы NanoEducator
Исследование поверхностей методами АСМ и СТМ с разрешением 50-100 нм, проведение учебных занятий
 297.  Сканирующий микроскоп ИНТЕГРА Прима NTEGRA Prima
Исследование объектов методами атомно-силовой и туннельной микроскопии с атомарным разрешением
 298.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000
Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.
Морозов Александр Викторович, тел. : (8422) 55-95-97, e-mail: ugsha. mitm@yandex.ru
 299.  Зондовый микроскоп SOLVER NEXT
Топография поверхности твердых тел
Поджарая Ксения Сергеевна, тел. : (499) 174-83-93, e-mail: gosniti8@mail.ru
 300.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (Jeol)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
 301.  Атомно-силовой микроскоп атомарного разрешения JSPM-4610A (Jeol)
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
 302.  Сканирующий атомно-силовой микроскоп Solver 47 Pro (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Смирнов Николай Николаевич, тел. : 4932 327410, e-mail: ckp@isuct.ru
 303.  Атомно-силовой микроскоп SPM-9600 (Shimadzu)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 304.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Аура (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 305.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра Спектра (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 306.  Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ Ntegra-Spectra
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 307.  Оптико-электронная система для диагностики поверхности пластин Ntegra Maximus
Система предназначена для изучения морфологии поверхности различных материалов с разрешением свыше 1 нм методами атомно-силовой микроскопии. Измерения во внешнем поперечном и продольном магнитном поле. Микроскопические исследования поверхности с атомарным разрешением. СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. Для многих индустриальных приложений принципиальна возможность исследовать большие образцы, накапливая массивы данных по заранее заданным алгоритмам в автоматическом режиме.
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 308.  Атомно-силовой сканирующий микроскоп АСМ (ИТЭФ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Баблюк Евгений Борисович, тел. : 499 9763758, e-mail: bablyuk. evgeny@yandex.ru
 309.  Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-4610А (JEOL)
Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JSPM-4610A позволяет исследовать физико-химические свойства, дефектность поверхности и топографию с атомным разрешением.
Башков Валерий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 310.  Оптико-зондовый комплекс Интегра Спектра (НТ-МДТ)
Позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии.
Миронов Юрий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 311.  Микроскоп сканирующий зондовый Solver HV-MFM (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 312.  Склерометр DIGI-Schmidt-2
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области анализа структуры вещества методом склерометрии
Маньшин Александр Георгиевич, тел. : 383 2662527, e-mail: mag-21@mail.ru
 313.  Атомный силовой микроскоп Смена-B (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 314.  Микроскоп сканирующий зондовый Solver Pro-М (НТ-МДТ)
Сканирующий Зондовый Микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования. Диапазон измерений может варьироваться от 1, 3 до 15-ти микронного по Z и от 3мкм до 150 мкм по XY. Высокая степень разрешения от молекулярного до атомарного уровня в режимах СТМ и контактной АСМ достигается за счет применения сканеров с диапазонами: 3х3х1, 3мкм и 10х10х2мкм. Атомарное разрешение обеспечивается низким уровнем шумов сканера (0, 25 A RMS по Z) и предельно малой величиной шага сканирования (используется 22-х разрядный ЦАП). Управляющая электроника нового поколения позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами Атомно-Силовой Микроскопии или использовании высокочастотных кантилеверов. Передовые технологии конструирования и изготовления Солвер PRO-М, мощное программное обеспечение, которое легко настраивается на выполнение любой методики измерений, существенно сокращают время, необходимое для всестороннего исследования образца, и позволяют получить полную и достоверную информацию о его свойствах: рельефе поверхности, распределении магнитных и электрических полей, локальной жесткости и эластичности (включая количественную оценку модуля Юнга), вязкости, силе трения, адгезии и т. д.
 315.  STM-головка с предусилителем Solver-Pro (НТ-МДТ)
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области туннельной сканирующей зондовой микроскопии
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 316.  Научная учебная лаборатория NanoEducator (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 317.  Специализированный сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro М (NT MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 318.  Сканирующий зондовый микроскоп Femtoscan
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Цыганкова Людмила Евгеньевна, тел. : 4752 723655, e-mail: vits21@mail.ru
 319.  Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER-Pro (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой зондовой микроскопии
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 320.  Сканирующий зондовый микроскоп Di Innova (Veeco-Digital Instruments)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 321.  Атомно-силовой микроскоп SmartSPM (AIST-NT)
Области применения: 1. Измерение геометрических размеров: латеральных размеров образцов с точностью до 0, 5 нм и высоты ступенек профиля с точностью 0, 1 нм. 2. Исследование электростатических, магнитных и тепловых полей на поверхности образцов. 3. Измерение локального поверхностного сопротивления
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 322.  Атомно-силовая зондовая станция Ntegra Specta
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 323.  Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ)
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 324.  Атомно-силовой сканирующий микроскоп Smena (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 325.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 Pro (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой сканирующей микроскопии
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 326.  Сканирующая зондовая лаборатория ИНТЕГРА СПЕКТРА (НТ-МДТ)
Исследование поверхностей и приповерхностных слоев металлов, полупроводников, диэлектриков, органических материалов и биологических объектов в разных средах.
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 327.  Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JEOL JSPM-4610A (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 328.  Атомно-силовой микроскоп Solver - NEXT (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Хосаев Хазби Сахамович, тел. : 8672 407166, e-mail: uni207@mail.ru
 329.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (NT-MDT)
Сканирующий зондовый микроскоп - применяется для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 градусов Цельсия. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик
Афанасьев Александр Диомидович, тел. : 3952 405000, e-mail: aad@istu. edu
 330.  Учебно-научная лаборатория зондовой микроскопии NanoEducator-2 (ЗАО НТИ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. : 8722 675817, e-mail: nashurb@mail.ru
 331.  Микроскоп атомно-силовой и туннельный сканирующий СЗМ ФемтоСканОнлайн
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Ерёмкин Алексей Владимирович, тел. : 8352 452403, e-mail: eremkin80@mail.ru
 332.  Микроскоп сканирующий зондовый JSРM-5400 (Jeol)
Предназначен для проведения микроскопического анализа с высоким разрешением
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 333.  Микроскоп зондовый сканирующий Solver HV (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Кравченко Олег Александрович, тел. : 8635 255974, e-mail: savost@hotmail.ru
 334.  Магнитный атомно-силовой микроскоп NtegraAura
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 335.  Атомно-силовой микроскоп Ntegra Spectra с рамановским спектрометром
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей АС-микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 336.  Атомный силовой микроскоп-томограф IntegraTOMO с системой подготовки проб (NT-MDT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 337.  Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/ NT-MDT
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM). Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM). Конфокальная Рамановская и флуоресцентная микроскопия и спектроскопия. 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояния. Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения. Гигантское комбинационное рассеяние и другие оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала, в том числе объемное сканирование. Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 338.  Междисциплинарная нанолаборатория для биологических медицинских исследований Лайф
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами. Выполняет функции отдельно стоящего Атомно-Силового Микроскопа, Конфокального и флуоресцентного Микроскопа и Конфокального спектроментра комбинационного рассеяния.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 339.  Оптико-электронная система для диагностики поверхности пластин Ntegra Maximus
Предназначена для изучения морфологии поверхности различных материалов с разрешением свыше 1 нм методами атомно-силовой микроскопии. Уникально низкий дрейф при постоянной температуре (< 3 нм/ ч). Уникально низкий дрейф при меняющейся температуре (< 10 нм/ градус). Широкодиапазонные термоизмерения с компенсацией дрейфов в диапазоне от -30оС до 200° С. Измерения во внешнем поперечном и продольном магнитном поле. Микроскопические исследования поверхности с атомарным разрешением. СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. Для многих индустриальных приложений принципиальна возможность исследовать большие образцы, накапливая массивы данных по заранее заданным алгоритмам в автоматическом режиме.
г. Ставрополь, пр. Кулакова 2, корпус 17, ауд. 125. 15 Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 340.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 (НТ-МТД)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 341.  Нано-склеро-метрический модуль Интегра (МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой сканирующей микроскопии
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 342.  Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA3LMH c EDX микрозондом для химического анализа
Предназначен для проведения сканирования поверхности электронным микроскопом твердых образцов (металлических, неметаллических) и проведения химического анализа поверхности образца
Кушхов Хасби Билялович, тел. : 928 7196727, e-mail: hasbikushchov@yahoo.com
 343.  Модульный атомно-силовой микроскоп Ntegra Prima
ИНТЕГРА Прима — НаноЛаборатория, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Специальный наносклерометрический модуль позволяет проводить микро-, наноиндентирование и склерометрию с последующим сканированием области индентирования. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. Области применения ИНТЕГРА Прима охватывают практически все направления современной науки и техники: Биология Нанобиотехнология Материаловедение Магнитные материалы Наноматериалы и наноструктуры Полупроводники Полимеры Органические пленки Запоминающие среды Нанообработка
Еренков Олег Юрьевич, тел. : 4212 375231, e-mail: erenkov@list.ru
 344.  Универсальный вакуумный сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Aura (НТ-МДТ)
Cканирующий зондовый микроскоп Ntegra Aura предназначен для исследования свойств поверхности твердых тел в следующих режимах: сканирующая туннельная микроскопия; атомно-силовая микроскопия; латерально-силовая микроскопия; отображение фазы; модуляция силы; отображение адгезионных сил; магнито-силовая микроскопия; сканирующая ёмкостная микроскопия; метод зонда Кельвина; отображение сопротивления растекания; силовая литография; токовая литография.
Удовиченко Сергей Юрьевич, тел. : 3452 542008, e-mail: udotgu@mail.ru
 345.  Программно-аппаратный комплекс для микроанализа и морфологического анализа поверхности NanoEducator2
Предназначен для микроанализа и морфологического анализа поверхности
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 346.  Комплекс универсальный СЗМ- Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА (НТ-МДТ)
Область применения: материаловедение, биология, нанобиотехнология, магнитные материалы, наноматериалы и наноструктуры и т. д. Оборудование позволяет получать информацию о поверхностной структуре материала с пространственным разрешением в нанометровом диапазоне (Исследование топографии, фазового распределения, локальной жесткости, измерение силы адгезии в различных областях материала и т. д. ).
Николаев Анатолий Николаевич, тел. : 4112 496612, e-mail: aic-svfu@mail.ru
 347.  Модуль для тестирования НЕКСТ
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Николаев Анатолий Николаевич, тел. : 4112 496612, e-mail: aic-svfu@mail.ru
 348.  Сканирующий зондовый микроскоп Nano Educator
Предназначен для общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Хорохордин Алексей Митрофанович, тел. : 473 2926664, e-mail: a_horohordin@mail.ru
 349.  Комплексный коррелятор оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов Centaur HR
Проведение комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Получение полных спектров рамановского рассеяния и/ или флюоресценции, конфокальных лазерных и конфокальных спектральных изображений (картирование поверхности), СЗМ изображений
Тарбоков Владислав Александрович, тел. : 3822 606258, e-mail: sanc@tpu.ru
 350.  Сканирующий зондовый микроскоп Dimension FastScan (Bruker Corporation)
Высокоскоростной сканирующий зондовый микроскоп для получения изображений и изучения динамики процессов in situ с высоким временным пространственным наноразмерным разрешением.
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@kpfu.ru
 351.  Cканирующий зондовый, конфокальный микроскоп и рамановский микроспектрометр OmegaScope™
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Кузьменко Александр Павлович, тел. : 4712 504445, e-mail: apk3527@mail.ru
 352.  Микроскоп сканирующий зондовый MFP-3D Classic (Asylum Research)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 353.  Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер НаноСкан-4Д
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области зондовой микроскопии
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 354.  Нано Скретч-Тестер NST и Микро Скретч-Тестер MST
Предназначен для нано-механических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем. Нано Скретч-Тестер NST предназначены для наномеханических испытаний, изучения свойств поверхности тонких пленок и покрытий, толщиной менее 1000 нм, таких как адгезия, хрупкость, деформация, отслаивание и износостойкость путем испытания царапаньем, а также устойчивость и сопротивление к царапанию, коэффициент трения.
 355.  Измерительный модуль зондовой нано-лаборатории Ntegra Prima SFV 102
Предназначен для расширения функций зондовой нано-лаборатории
Петрушенко Игорь Константинович, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 356.  Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoScience AFM
Идеально подходит для широчайшего круга применений: от изображения единичных молекул, полимеров и наночастиц до электрических, оптических, электрохимических и механических измерений в контролируемой среде.
 357.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000
Сканирование поверхностей в туннельной и атомно-силовой моде с нанометровым разрешением
 358.  Сканирующий зондовый микроскоп AFM SmartSPM (Aist NT)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой, туннельной, магнито-силовой микроскопии
 359.  Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп SPM Probe VT AFM XA 650 (Omicron Nano Technology)
Исследование в условиях сверхвысокого вакуума топографии и локальной плотности электронных состояний полупроводниковых наноматериалов и наноструктур, применяемых в наноэлектронике и нанофотонике. Исследование одноэлектронных и размерных эффектов в наносистемах с пониженной размерностью
Голубок А. О. , тел. (812) 498-10-65
 360.  Учебный класс сканирующей зондовой микроскопии Nanoeducator-10 с зондовой нанолабораторией Ntegra-PRIMA (НТ-МДТ)
Обучение работе на сканирующих зондовых микроскопах
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 361.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-AURA (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения микроскопических измерений в вакууме и контролируемой атмосфере
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 362.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-SPECTRA (НТ-МДТ)
Интеграция сканирующей зондовой микроскопии с конфокальной микроскопией и спектроскопией комбинационного рассеяния
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 363.  Атомно-силовой микроскоп Agilent 5500 AFM/ SPM
Обеспечивает атомарное разрешение и может быть оснащен множеством дополнительных опций, позволяя решать различные специфические задачи пользователя. Конструкция прибора позволяет осуществлять и комбинировать различные методики сканирования, сочетая легкость использования, а также применять различные способы крепления образца. Использование сканера маятниковой конструкции реализует запатентованную методику сканирования сверху вниз, как с системой контроля позиционирования, так и без нее, обеспечивая наибольшую точность и линейность измерений.
тел. менеджера: (383) 330 82 95
 364.  Зондовый микроскоп ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Исследование твердотельных органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем. Проведение исследований с помощью наносклеро-метрического модуля. Проведение измерений с помощью СЗМ в вакууме. Проведение измерений в магнитном поле. АСМ (контактная полуконтактная бесконтактная). Латерально-силовая микроскопия. Отображение фазы. Модуляция силы. Отображение адгезионных сил, МСМ, ЭСМ, Сканирующая емкостная микроскопия. Метод зонда Кельвина. Отображение сопротивления растекания. Литография АСМ.
Антоненко Сергей Васильевич. Телефон (495) 323-93-93, e-mail: SVAntonenko@mephi.ru.
 365.  Зондовый микроскоп INTEGRA VITA BASIC (сканирующий)
Предназначен для анализа морфологии поверхности с атомарным разрешением
д. т. н. , проф. Дедов А. Н. тел. 68-28-73
 366.  Сканирующий электронный микроскоп EVO 50 XVP (Carl Zeiss) с системой зондового микроанализа INCA Energy-350 (Oxford Instruments)
Элементный анализ (с возможностью совместного детектирования): EDS спектрометр (от бора до урана) - до 0. 1 % ат. WDS спектрометр - до 0. 01 % ат.
 367.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Next (НТ-МДТ)
Предназначен для исследования поверхности методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии, получение сканов поверхности с разрешением до 10 нм; исследование поверхности методами сканирующей туннельной микроскопии, получение сканов поверхности с разрешением до 10 нм; исследование локальных механических свойств поверхности (силы адгезии) методами атомно-силовой спектроскопии; исследование электрофизических и магнитных свойств поверхности (электрический потенциал, сопротивление, вольт-амперные характеристики контакта зонд-образец, распределение магнитных доменов) специальными методиками атомно-силовой микроскопии (зонд Кельвина, сопротивление растекания, магнитно-силовая микроскопия).
тел. (930) 858-00-35, umsn@yandex.ru
 368.  Микроскоп сканирующий зондовый Innova
Лабораторное (Измерения твердости)
 369.  Учебно-научный класс по зондовой микроскопии и нанотехнологиям
Учебно-научный класс по зондовой микроскопии и нанотехнологиям, включающий: - Атомноабсорбционные спектрофотометры: Сатурн, ААS-3 (Германия) – с пламенной атомизацией; -1100 (Перкин Эльмер, США) – с электро-термической атомизацией; - Нанопрофилометр; - Атомно-силовой микроскоп АСМ-СКАН; - Установка для определения поверхностного натяжения ППНЛ-1; - Ультразвуковая установка для определения модуля упругости и механических потерь УЗИ-СМ; - Микротвердометр ПМТ-3; - Спектрофотометр Specord UV VIS; - Ультразвуковой диспергатор; - Установка нанесения покрытий на материалы в непрерывном режиме СПУНЕР
Телефон: (4932) 937819 e-mail: k_fnt@ivgpu.com, izgorodin@ivgpu.com
 370.  Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп SolverNext (модуль для тестирования)
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. Все основные методики атомно-силовой микроскопии, топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое. Сканирующая туннельная микроскопия. Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 371.  Оборудование для исследования материалов Nanoeducator (НТ-МДТ)
Оборудование дает возможность проведения исследований материалов по основным методам атомно-силовой микроскопии (АСМ) (Измерение рельефа / Отображение фазы / Силовая спектроскопия) и сканирующей туннельной микроскопией (СТМ) (методы Постоянного тока / Постоянной высоты), а также проведение АСМ литографии.
 372.  Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra Prima (NT-MDT)
Оборудование позволяет получать информацию о поверхностной структуре материала с пространственным разрешением в нанометровом диапазоне (Исследование топографии, фазового распределения, локальной жесткости, измерение силы адгезии в различных областях материала и т. д. ). Также предусматривает возможность изучения физических и химических свойств поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением
 373.  Универсальный сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO
Исследование рельефа поверхности образцов (в режиме АСМ и т. д. ) с разрешением в плоскости образца порядка 10 нм (ограничено радиусом кривизны зонда) и порядка 1 ангстрема по вертикали. Возможность исследования электрических (ЭСМ, Сканирующая Емкостная Микроскопия, Кельвин-Зондовая Силовая Микроскопия и т. д. ) и магнитных свойств (МСМ метод) поверхности с разрешением порядка 30нм. Проведение исследований рельефа поверхноси образцов и их электрических свойств в режиме СТМ с разрешением вплоть до атомарного уровня.
 374.  Комплект учебных сканирующих зондовых микроскопов NanoEducator
Сканер: 70x70x10мкм ( / -10%). Оптическая система визуализации подвода зонда к образцу. Система автоматического подвода образца к зонду. Ручной позиционер по X-Y осям. Электронный блок СЗМ. SPM Controller. Напряжение питания: 90-120В or 200-240В, 50Hz/ 60кГц. Предназначен для проведения научных исследований в широком диапазоне научных областей и для получения базовых знаний и навыков работы в области наноэлектроники. Позволяет организовать эксплуатацию в режиме коллективного использования специалистами различных отраслей при решении важнейших научно-технических проблем в различных областях науки и техники: в микро- и нанотехнологии, наноэлектронике, материалов и компонентов твердотельной электроники, физики твердого тела, физико-химических методов исследования процессов и материалов, электронного машиностроения, металлургии, котлостроении, авиационной промышленности.
347928 г. Таганрог, ГСП-17А, пер. Некрасовский, 44, ИТА ЮФУ, ЦКП Нанотехнологии тел. (8634) 311-584 e-mail: ckpnano@sfedu.ru
 375.  Научно-Учебный комплекс сканирующей зондовой микроскопии Nanoeducator
Учебно-научный комплекс для образовательного процесса в области нанотехнологии
 376.  Система видеонаблюдения для сканирующего зондового микроскопа
Наблюдение объектов при микроскопировании
Карасева Надежда Александровна, 7(4742)328155
 377.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator (НТ-МДТ)
Для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Исследования топографии поверхности микро и нано объектов.
Проректор по научной работе и инновационно-коммуникационным технологиям БГТУ ВОЕНМЕХ им. Д. Ф. Устинова С. А. Матвеев Тел. : (812) 316-04-38 Тел. : (812) 316-43-16
 378.  Комплект лабораторного оборудования , включающего атомно-силовой микроскоп и сканирующий зондовый микроскоп, интегрированный с микроспектрометром
Измерение параметров нанобъектов
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 379.  Сканирующий Зондовый микроскоп
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
360004, Кабардино - Балкарская Республика г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173. факс 84953379955 конт. телефон 88662722093 электронный адрес kvm@kbsu.ru
 380.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47-PRO, 101040003017
Изучение наноструктуры материалов, визуализация топографии поверхностей образцов и покрытий
Карасева Надежда Александровна, 7(4742)328155
 381.  Микроскоп сканирующий зондовый (Усовершенствованная учебная нанолаборатория)
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 382.  Сканирующий зондовый микроскоп INTEGRA prima (НТ-МДТ)
Изучение топологии и физических свойств поверхности твердых тел
Журавский Д. В. d. zhuravskij@gmail.com 8-919-923-71-09
 383.  Универсальный вакуумный сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA Aura (НТ-МДТ)
Изучение топологии и физических свойств поверхности твердых тел
Журавский Д. В. d. zhuravskij@gmail.com 8-919-923-71-09
 384.  Сканирующий туннельный микроскоп
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 385.  Комплекс нанотехнологический Умка-02-Е(сканирующий туннельный микроскоп)
Проведение лабораторных исследований
Лукьянов Александр Дмитриевич 8-863-2-381-751 8-908-506-95-08 lex1998@rambler.ru
 386.  Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов Solver Next
Исследование структуры поверхности и её локальных характеристик
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 387.  Атомно-силовой и туннельный сканирующий микроскоп СЗМ фемтоСкан Онлайн
Исследование структуры поверхности и её локальных характеристик
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 388.  Атомно-силовой микроскоп NT206 Белоруссия
Для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
Центр коллективного пользования научным оборудованием Качество и безопасность пищевых продуктов
 389.  Установка для заточки зондов сканирующих туннельных микроскопов
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 390.  Сканирующий зондовый микроскоп SPM9700
Получение трехмерных изображений с разрешение до 0, 02 нм нано- и микрообъектов, локальное определение магнитных, электрических и механических свойств поверхности.
79147475876 garafutdinova_ma@mail.ru
 391.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M
Для исследования свойств поверхности в масштабе нанометров.
344090, г. Ростов-на-Дону, ул. Мильчакова, 10 тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 392.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra Prima
ИНТЕГРА Прима — НаноЛаборатория, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. 40 измерительных методикЕмкостные датчики перемещения с низким уровнем собственного шумаВысокое качество изображенийИсследования со скоростью вплоть до 40 ГцПроведение измерений на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости
450000, г. Уфа, ул. К. Маркса, 12, ЦКП научно-образовательный центр Наноструктурные материалы и высокие технологии, 7(347)273-06-76.
 393.  Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9600 (Shimadzu)
Предназначен для исследования микроструктуры сварных конструкций и швов
А. Т. Беккер, e-mail: abekker@mail.ru
 394.  Сканирующий зондовый микроскоп Интегра-Терма
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 395.  Сканирующий зондовый микроскоп Multimode VS-AM
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 396.  Мультимодовый зондовый сканирующий микроскоп Solver-P47 Н
Пространственное разрешение до 1 нм, предназначен для анализа поверхностей конденсированных сред и биологических объектов на воздухе, в заданной атмосфере и в жидкости. Оборудован оптической видеосистемой, активной антивибрационной системой для нейтрализации внешних механических вибраций, компьютером для управления микроскопом и обработки видеоизображения.
420008, г. Казань, ул. Кремлевская 16а
 397.  Сканирующий зондовый микроскоп SMENA-A
Микроскопия
 398.  Комплекс нанолитографии на базе сканирующего зондового микроскопа Nanoman VS (Veeco)
Исследования топографии поверхности в наномасштабе, картирование распределения плотности носителей в полупроводниках, локальные исследования проводимости, нанолитография и наноманипуляции
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17 email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 399.  Сканирующий электронный микроскоп Tescan VEGA3LMH c EDX микрозондом для химического анализа
Предназначен для проведения сканирования поверхности электронным микроскопом твердых образцов (металлических, неметаллических) и проведения химического анализа поверхности образца
360004, Кабардино - Балкарская Республика г. Нальчик, ул. Чернышевского, 173. факс 84953379955 конт. телефон 88662722093 электронный адрес kvm@kbsu.ru
 400.  Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700
Позволяет проводить измерения методами атомно-силовой(AFM), магнитно-силовой(LFM), сканирующей туннельной микроскопии(STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM)
 401.  Микроскоп сканирующий зондовый FemtoScan
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 402.  Атомно-силовой микроскоп SOLVER P47 (НТ-НДТ)
Получение изображения поверхности проводящих и непроводящих материалов с нанометровым и атомарным разрешением. Определение аппаратными средствами АСМ микроскопа характеристик поверхности - шероховатость, перепад высот, размеры неоднородностей. ля поверхностей с дискретной расположенными объектами (неоднородностями) построение таблицы распределения объектов с их характеристиками. Выявление доменной структуры магнетиков и пьезоэлектриков, определение размеров доменов
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ruСайт: www. vsu.ru
 403.  Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ)
Атомно-силовой микроскоп с возможностью использования для апертурной сканирующей ближнепольной оптической микроскопии
(812) 4571780(812) 4571782
 404.  Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra-vita
Микроскопия биообъектов
 405.  Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA VITA BASIC
Исследование морфологии поверхности с атомарным разрешением
Дедов Андрей Николаевич (8362) 68-28-73; (8362) 64-14-48
 406.  Склерометр ОМШ1 для определения прочности бетона
Определение прочности бетона в бетонных и желе-зобетонных конструкциях
Фомичева А. А. (4872) 35-54-58, 300012, г. Тула, пр. Ленина, 92. kafedrassmik@mail.ru
 407.  Склерометр для определения прочности бетона
Определение прочности бетона в бетонных и желе-зобетонных конструкциях
Фомичева А. А. (4872) 35-54-58, 300012, г. Тула, пр. Ленина, 92. kafedrassmik@mail.ru
 408.  Научная учебная лаборатория NanoEducator (НТ-МДТ)
Образовательный процесс с использованием НАНОЭДЬЮКАТОРа направлен на освоение основ работы в режимах Сканирующей Зондовой Микроскопии, приобретение навыков исследования нанообъектов и наноструктур, проведение зондовой нанолитографии и наноманипуляций. Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности. Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы и позволяет приобретать дополнительные практические навыки пользователю системы.
390005, г. Рязань, ул. Гагарина, 59/ 1, тел. : (4912) 46-03-03
 409.  Научная учебная лаборатория NanoEducator (НТ-МДТ)
Образовательный процесс с использованием НАНОЭДЬЮКАТОРа направлен на освоение основ работы в режимах Сканирующей Зондовой Микроскопии, приобретение навыков исследования нанообъектов и наноструктур, проведение зондовой нанолитографии и наноманипуляций.
390005, г. Рязань, ул. Гагарина, 59/ 1, Тел. : (4912) 46-03-03
 410.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator (НТ-МДТ)
Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности. Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы и позволяет приобретать дополнительные практические навыки пользователю системы.
390005, г. Рязань, ул. Гагарина, 59/ 1, тел. : (4912) 46-03-03
 411.  Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы. В возможности прибора входит более 40 измерительных методик, что позволяет изучать физические и химические свойства поверхности образца с высокой точностью и разрешением. Возможно проведение измерений в различных средах - на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами атомно-силовой микроскопии (АСМ) или использовании высокочастотных кантилеверов. В Ntegra Aura реализовано несколько режимов сканирования — сканирование образцом, сканирование зондом и двойное сканирование.
390005, г. Рязань, ул. Гагарина, 59/ 1, тел. : (4912) 46-03-03
 412.  Комплекс для подготовки образцов для исследования на электронном и зондовом микроскопах
Подготовка образцов для исследования на электронном и зондовом микроскопах
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 413.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU, включающий энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) X-MAX 50 Oxford Instruments NanoAnalysis для электронно-зондового микроанализа
Исследование образцов материалов методом электронной микроскопии, и химического состава образцов.
308012, Белгород. ул. Костюкова д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 414.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator
Исследование образцов методом зондовой сканирующей микроскопии.
308012, г. Белгород ул. Костюкоа д. 46 . Центр высоких технологий. факс. (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@eandex.ru
 415.  Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra-aura
Микроскопия поверхностей
 416.  Учебно-научный лабораторный комплекс на базе 2-х сканирующих зондовых микроскопов Nanoeducator-2
Выполнение учебных и научных исследований структуры поверхности проводящих и не проводящих объектов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии.
Курбанисмаилов Вали Сулейманович, тел. / факс: (8722)67-58-17, nashurb@mail.ru
 417.  Сканирующий зондовый микроскоп ИНТЕГРА Аура (НТ-МДТ)
Основные характеристики возможности (назначение) Сканирующий зондовый микроскоп НТЕГРА Аура позволяет проводить исследования рельефа поверхности и магнитной структуры широкого спектра материалов, в том числе и наноструктур. Измерения могут проводиться в условиях вакуума до 10-2 Торр. Дополнительные возможности представляются наличием источника магнитного поля до 2 кГаусс и термостолика, позволяющего производить нагрев образца до 130 оС. Методики имерений. На воздухе: СТМ/ Низкотоковая СТМ/ Туннельная Спектроскопия/ Контактная АСМ/ МЛС/ Резонансная АСМ (полуконтактная безконтактная)/ Метод отображения Фазы/ Метод модуляции силы/ Изображение Силы Адгезии/ Отображение сопротивления растекания / СЕМ / МЗК / МСМ / ЭСМ/ Поперечно-силовая микроскопия/ АСМ (Силовая Токовая), СТМ и RM литографии. В жидкости: Контактная АСМ / Микроскопия Боковых Сил/ Метод Модуляции силы/ Изображение Силы Адгезии/ полуконтактная (scanner-driven) АСМ/ АСМ (Силовая) Литография.
690600, г. Владивосток, ул. Суханова, 8 e-mail ognev. av@dvfu.ru 89242302008 Огнев Алексей Вячеславович e-mail pustovalov. ev@dvfu.ru 84232457719 Пустовалов Евгений Владиславович Щипунов Юрий Анатольевич 4232-448557, Факс: 4232- 448257, Е-mail: YAS@ich. dvo.ru
 418.  Микроскоп сканирующий туннельный
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 419.  Микроскоп высоковакуумный сканирующий зондовый Solver HV (НТ-МДТ)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 420.  Атомно-силовые микроскопы NT MDT, платформы NTEGRA Tomo и NTEGRA Prima
Области применения приборов Tomo и NTEGRA Prima • Биология и Биотехнология (протеины, ДНК, вирусы, бактерии, эукариоты, ткани) • Материаловедение (морфология поверхности, локальные механические, пьезоэлектрические, адгезионные и трибологические характеристики) • Магнитные Материалы (доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля) • Полупроводники (морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев) • Полимеры и тонкие органические пленки (сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки) • Запоминающие среды и устройства (CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи) • Наноматериалы (нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы) • Наноструктуры (фуллерены, нанотрубки, нанокапсулы) • Наноэлектроника (квантовые точки)
690600, г. Владивосток, ул. Суханова, 8 e-mail pustovalov. ev@dvfu.ru 84232457719 Пустовалов Евгений Владиславович Кирилов Алексей Валерьевич 89147067689
 421.  Учебно-научный комплекс по нанотехнологии на базе Сканирующего Зондового Микроскопа (СЗМ) – NANOEDUCATOR
NANOEDUCATOR (НАНОЭДЬЮКАТОР)– это Научно-Учебный Комплекс для преподавания основ нанотехнологии в институтах и университетах. Используется для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, микромеханики, физики и технологии микро и наноструктур, материаловедения. Платформа NANOEDUCATOR создана для организации обучения принципам работы с СЗМ, приобретения навыков исследования нанообъектов и наноструктур, осуществления нанолитографии и наноманипуляций. Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности. Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы и позволяет пользователю системы приобретать дополнительные практические навыки.
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1 (499) 135-87-64, (499) 233-93-30 chens_nauka@mail.ru
 422.  Атомно-силовой микроскоп, серии 5500 в комплекте
Agilent 5500 AFM - это высококлассный, многопользовательский, исследовательский атомно-силовой микроскоп.
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 423.  Сканирующий мультимодовый зондовый микроскоп Solver Р47
Микроскоп сканирующий зондовый (СЗМ) Solver Р-47 предназначен для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики) с атомарным разрешением.
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 424.  Микроскоп GPI-300. 4 сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп с атомным разрешением
450076, РБ, г. Уфа, ул. Заки Валиди, 32 тел. 7(347) 229-96-46 7(347) 229-96-31
 425.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47-PRO
Исследование морфологии поверхности с высоким разрешением, расчет ее количественных характеристик, построение профилограмм, фазовый анализ
Карасева Надежда Александровна 7(4742)32-81-31
 426.  Сканирующий зондовый микроскоп (в комплекте с зондами и автоматизированным рабочим местом оператора)
Электроимпульсные технологии
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17 email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 427.  Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator (SPMO1Ed):
Позволяет анализировать на атомарном уровне структуру самых разных материалов. Используется для определения микрорельефа поверхности, с его помощью можно наблюдать всевозможные несовершенства структуры и оценивать размеры наблюдаемых объектов. Исследование рельефа поверхности осуществляется атомно-силовым микроскопом Solver 47 Pro в полуконтактном режиме с программным обеспечением (программа NOVA, фирма NT – MDT, версия 1. 26), кантилевер – NSG11, резонансная частота – 150 кГц, скорость сканирования порядка 10 мкм/ с, величина амплитуды колебания зонда составляла 30 – 50 нм. Будет использован для анализа структуры рельефа хиральных фаз.
(4932)37-08-08 Соцкий Валентин Викторович
 428.  Сканирующий зондовый микроскоп Jeol JSPM 5400
Исследование структуры поверхности методами атомно-силовой (контактный, полуконтактный, безконтактный метод, магнитно-силовая микроскопия, электро-силовая микроскопия, SKPM, диссипативная силовая микроскопия, латерально-силовая микроскопия, фазовая спектроскопия, силовая спектроскопия, наноиндентирование, наноманипулирование, нанолитография) микроскопии, а также методами туннельной микроскопии. Технические характеристики: Разрешающая способность в плоскости XY не хуже 0, 1 нм. Разрешающая способность по оси Z не хуже 0, 01 нм Позволяет проводить исследования поверхности: в вакууме, при температуре кипения жидкого азота (− 195, 75° C), а также в диапазоне температур от комнатной до 500° C с точностью поддержания температуры 0, 1° C.
350040, г. Краснодар, ул. Ставропольская, 149 НОЦ Диагностика структуры и свойств наноматериалов ЦКП рук. Соколов Михаил Евгеньевич тел. (861)2199618 e-mail: sokolovme@mail.ru
 429.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P-47 Pro (NT-MDT)
Сканирующий зондовый микроскоп позволяет проводить исследования структуры и локальных свойств поверхности твердых тел с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 º С .
Адрес: 191186, Санкт-Петербург, набережная реки Мойки, д. 48, Телефон: 7 (812) 571-55-40, доб. 20-63
 430.  Атомно-силовой микроскоп Smena (НТ-МДТ)
Позволяет проводить исследования структуры поверхности твердых тел с высоким разрешением на воздухе при комнатной температуре. Максимальная область сканирования: 50х50х2, 5 мкм. Максимальное разрешение 10 нм.
Телефон: (812) 571-55-40, доб. 20-63, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 431.  Оптико-электронная система измерения поверхностных дефектов на базе сканирующего зондового микроскопа SolverNEXT
Измерение морфологии образцов, поверхностного потенциала, магнитных и электрических свойств методами атомно-силовой микроскопии и сканирующей туннельной микроскопии, проведение зарядовой и силовой нанолитографии
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17 email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 432.  Микроскоп зондовый сканирующий MultiMode 8
Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, позволяет получать изображения, как на воздухе, так и в жидкости, реализует ряд измерительных методик, в том числе наномеханическое картирование распределения величины модуля упругости, магнитно-силовая микроскопия и электросиловая микроскопия. Уровень шума не превышает 30 пм. Имеет основное отличие от других моделей – новое программное обеспечение и поддержка режимов PeakForce QNM и ScanAsyst.
ЦКП НО Арктика 163002, г. Архангельск, ул. Северодвинская, д. 14 тел. (8182) 21-61-00 (доб. 17-22) web: http: / / www. narfu.ru/ science/ ccu/
 433.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47
Предназначен для количественных и качественных измерений приповерхностных характеристик объектов и сопутствующих им физических полей с разрешениями вплоть до атомарных. Применим в материаловедении для исследования различных покрытий и тонких пленок, полимерных и наноструктурированных материалов, в химии, физи-ке, биологии, медицине и т. д.
Кущев Сергей Борисович, (473)246-76-33, e-mail: kushev_sb@mail.ru
 434.  Нанотехнологический комплекс УМКА на основе сканирующего туннельного микроскопа и автоматизированная система для научных исследований
Для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение предлагаемого НТК Умка в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии. Прибор позволяет: определять топологию поверхности образцов в виде чётких 2D- и 3D-изображений с атомарным разрешением; определять работу выхода и импеданса - определение примесей в исследуемом материале; измерять вольт-амперные и дифференциальные характеристики материала (определение типа проводимости материала, анализ структур проводящих и магнитных образцов) на атомно-молекулярном уровне; определять примеси в исследуемом материале; измерять параметры профиля (шероховатость, размер включений и наночастиц); измерять все типы дифференциальных спектров: dI/ dU, dI/ dH, dH/ dU, а реализованные алгоритмы обработки данных - определять амплитуду и сдвиг фаз между измеряемыми каналами. Это дает возможность использовать комплекс при изучении коррозии, в том числе и гетерогенных материалов, позволяя четко определять структуру зёрен разного состава, исследовать композитные материалы, различать зоны с разным типом проводимости и уровнем легирования в полупроводниках. осуществлять оценку длительного внешнего воздействия на образцы в режиме реального времени (in situ) (определение коррозионной устойчивости, радиационного воздействия и т. д. ). Кроме того, НТК Умка позволяет выполнять работы, требующие определение характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и проводить их анализ (в т. ч. анализ состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; исследование электропроводящих поверхностей, коррозии и т. д. )
Файзиев Рамазан Мусаевич- к. б. н. начальник инновационно-аналитического отдела, тел: 8-84722-29282, e-mail: f_ramazan@mail.ru Каруева Татьяна Васильевна - ведущий экономист планово-экономического отдела, тел. : 8-84722-24410, e-mail: plan1@kalmsu.ru
 435.  Сканирующий зондовый микроскоп Certus Light (в комплекте с зондами и автоматизированным рабочим местом оператора)
Исследование образцов заказчика при помощи атомно-силового микроскопа (сканирующий зондовый микроскоп в комплекте с рабочим местом оператора)Подготовка материалов к процессу магнетронного нанесения покрытий (источник питания, вытяжной шкаф, лабораторные весы)
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 436.  Микроскоп сканирующий зондовый с электрохимической приставкой Multimode V (Veeco)
Прибор предназначен для получения изображения поверхности и её локальных характеристик.
Проректор по научной работе Абдуллин Ильдар Шаукатович, тел. приемной 231-89-47, E-mail: abdullin_i@kstu.ru; Научно-исследовательское отделение E-mail: nich140@mail.ru
 437.  Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст
Сканирующая зондовая микроскопия для выявления наноразмерных дефектов. Микроскоп предназначен для исследования: топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии; распределения латеральных сил (например, силы трения); намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co); распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN); вольт-амперной характеристики покрытий в точке; проведение литографии. Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.
 438.  Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra Aura (НТ-МДТ)
Решение наиболее типовых задач в области сканирующей зондовой микроскопии. В возможности прибора входит более 40 измерительных методик, что позволяет изучать физические и химические свойства поверхности образца с высокой точностью и разрешением. Возможно проведение измерений в различных средах - на воздухе, в контролируемой атмосфере, в жидкости.
Магкоев Тамерлан Таймуразович, тел. (8672) 451214, e-mail: t_magkoev@mail.ru
 439.  Атомно-силовой микроскоп АСМ
Измерение и картирование морфологии поверхности с разрешением по глубине 0. 1 нм и по поверхности 0. 5 нм
Руководитель ЦКП Баблюк Евгений Борисович (499) 976-37-58
 440.  Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400 (Jeol)
Предназначен для атомно-силовой микроскопии (АСМ) поверхности подготовленных проб и препаратов размером не более 10 мм х 5 мм, высотой не более 3 мм, и шероховатостью поверхности не более 1 мкм, в контактном и полуконтактном режимах. Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомарно гладких проводящих или полупроводниковых поверхностей специально подготовленных проб и препаратов. Разработка способов исследования поверхностей препаратов в жидкостной ячейке в ограниченном диапазоне составов растворов. Области применения: минералогия, разработка новых материалов.
Сырков Андрей Гордианович, (812) 328-90-19, syrkovandrey@mail.ru
 441.  Микроскоп атомно-силовой Solver 47
Исследование микро и наноструктур объектов
Управление научных исследований тел. : (4822) 34-26-23
 442.  Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro
Атомно-силовой микроскоп SOLVER PRO является универсальным средством для исследования топографии и электрофизических свойств поверхности с высоким разрешением на воздухе с возможностью управляемого нагрева образца до 130 С° .
400062, г. Волгоград, проспект Университетский, 100 Телефон: (8442) 40-55-08, email: nauka@volsu.ru
 443.  Атомно-силовой микроскоп Solver NEXT (НТ-МДТ)
Предназначен для топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии
 444.  Микроскоп зондовый ФемтоСкан
Исследование строения наноразмерных объектов
 445.  Сканирующий зондовый микроскоп СММ-200
Получение изображений в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно-силовой микроскопией
ЦКП, prorectnir@rgata.ru, т. 4855222688
 446.  Сканирующий зондовый микроскоп Nano Educator
Измерение трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности
Усачев Александр Михайлович, тел. (473) 271-52-35, usachevam@vgasu. vrn.ru
 447.  Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан
Исследование морфологии материалов на наноуровне, вплоть до атомного разрешения
 448.  Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700
Атомно-силовая микроскопия поверхности
 449.  Многоцелевая исследовательская лаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ)
Исследование состава, структурных и спектральных свойств проводящих и непроводящих материалов методами АСМ, СТМ и лазерной конфокальной Рамановской микроскопии.
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. / факс: (8722) 67-58-17, nashurb@mail.ru