03.01.01.00.00: Микроскопы электронные
Федеральный каталог высокотехнологичного оборудования и объектов научного потенциала России

Микроскопы электронные

 1.  Растровый электронный микроскоп Mini-SEM HR-3000 (Evex Analytical Instruments) с энергодисперсионным рентгеновским анализатором X-ray nanoanalysis
Предназначен для исследования морфологии образцов и изучения их химического состава. Обеспечивает разрешение 8 нм и увеличение 15-15, 000Х, скорость вывода информации 12 кадров/ с (320х240), 2 кадра/ с (1280x 960), 1 кадр за 2-30 с (1280x 960) и 4-400 с (2560x1280); поле зрения 20x20 мм и 360° . Тип электронной пушки - вольфрамовая нить (Tungsten Filament), ускоряющее напряжение от 1 до 20 кВ, вакуумная система с автоматически пуском и остановом; автоматическая фокусировка.
 2.  Микроскоп сканирующий электронный S-3400N (HIТACHI)
Аналитический прибор, способный демонстрировать высокое разрешение в широком диапазоне ускоряющих напряжений и давлений остаточного вакуума в камере {режим VP-SEM). Микроскоп оснащен термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Рабочая камера имеет 10 портов (фланцев) для подключения дополнительного оборудования. Разрешение 3 нм (глубокий вакуум) и 4 нм (при 270 Па). Моторизованный столик образца с возможностью перемещения по 5 осям, наклоном образца от -20 до 90 градусов. Можно исследовать образец до 80 мм высотой. Новый дизайн камеры образца оптимизирован для одновременной установки и использования EDS, WDS и EBSD детекторов. Полная автоматизация всех функций (автоматическое насыщение катода, авто фокус, автоматическая регулировка луча по осям и другие). Турбомолекулярный насос позволяет сократить время необходимое для замены образца до 90 секунд и делает ненужным водяной контур.
Бохонов Б. Б. , тел. (383) 233-24-10 доб. 1146
 3.  Микроскоп просвечивающий электронный JEM-2000 FXII (JEOL)
Аналитический электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую может интегрироваться устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300) и электронный спектрометр потерь энергии (СПЭ) в любой комбинации.
Бохонов Б. Б. , тел. (383) 233-24-10 доб. 1146
 4.  Сканирующий растровый микроскоп JSM-6480 LV (Jeol)
Позволяет исследовать рельеф поверхности, неоднородность материала с одновременным определением элементного состава в диапазоне элементов от B – U как качественно, так и количественно, а так же получать качественные фотографии и спектры катодолюминисценции. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов. Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности: спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава; детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).
 5.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 Plus (Jeol)
Оснащен высокопроизводительной гибкой электронно-оптической системой, разработанной и модернизируемой компанией JEOL на протяжении многих лет, и самой современной системой управления. Этот многоцелевой электронный микроскоп (ПЭМ) обеспечивает решение научно-исследовательских задач в широком спектре областей: от материаловедения до медицинских и биологических наук.
 6.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 Plus (Jeol) с ускоряющим напряжением 120 кВ
Микроскоп с высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ и великолепные функции по получению оцифрованного изображения и расширяемый до аналитической конфигурации, является удобным прибором для применений в исследованиях биологических образцов, образцов полимеров и для материаловедения. Новое программное обеспечение JENIE™ , включенное в состав JEM-1400Plus, предоставляет возможность обучения управлению прибором, что не только крайне важно для начинающих микроскопистов, но и дает возможность опытным пользователям наиболее эффективно использовать самые сложные рабочие функции прибора.
 7.  Просвечивающий микроскоп атомарного разрешения JEM-ARM200F (Jeol)
Модель, включающая корректор сферической аберрации для электронной оптической системы в качестве стандартного оборудования, достигает разрешения в растровом просвечивающем режиме (STEM-HAADF) 0, 08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
 8.  Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7800F (Jeol)
Оснащен электронной пушкой на базе эмиттера Шоттки, супергибридной объективной линзой (конической объективной линзой, использующей скрещенные электростатические и электромагнитные поля) и новым пользовательским интерфейсом. Имея в распоряжении такие мощные функции, даже начинающий пользователь может легко получать изображения со сверхвысоким разрешением. Комбинация магнитных и электростатических полей обеспечивает превосходный эффект, значительно улучшая разрешение растрового электронного микроскопа особенно при низких ускоряющих напряжениях. Кроме того, стандартный нижний детектор обеспечивает детектирование отраженных электронов, испускаемых при малых углах. Работа в режиме детектирования этих электронов позволяет снизить эффект электростатического заряда на поверхности образца.
 9.  Электронный микроскоп BS-300 (Tesla)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения.
 10.  Сканирующий электронный микроскоп Evo 50 (Carl Zeiss) с приставкой для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems
Предназначен для получения изображения поверхности образца с большим разрешением. Характеристики: Увеличение: x50 – x200, 000; Разрешение: 2. 0 нм (30 КВ, SE изображение); Ускоряющее напряжение: 1-30 кВ; Электронная пушка: W (Вольфрам); Детектор: SE, BSE (во вторичных и обратноотраженных электронах). Особенности: Полностью моторизированный столик, возможность просмотра образцов в геометрии cross-section (под наклоном, определение толщины пленок-покрытий). Большой размер камеры, возможность анализа объектов больших размеров. Приставка для рентгеновского энергодисперсионного микроанализа SDD IXRD systems предназначена для неразрушающего микроанализа (измерения массовых долей элементов в микрообъеме) различных пленок и покрытий.
Каменев Антон, тел. (962) 926-04-91, e-mail: a. kamenev@superox.ru
 11.  Микроскоп настольный сканирующий ТМ-1000 (Hitachi)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Компактный, настольный микроскоп, чрезвычайно простой в эксплуатации, не требующий трудоемкой подготовки образца и сложной настройки условий наблюдения. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для определения химического состава образца. Химический состав определяется путем измерения энергии рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии электронного пучка с поверхностью образца. Программное обеспечение спектрометра позволяет идентифицировать пики и предоставить качественную информацию о составе образца, а учет процессов поглощения дает возможность получения количественной информации. Детектор TM1000 EDS позволяет определять химические элементы, начиная с натрия. Охлаждение детектора производится ячейкой Пельтье.
 12.  Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F (Jeol)
Обеспечивает возможность анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме Gentle Beam (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов.
 13.  Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JIB-4600F Multibeam (Jeol) с ионной пушкой для микротравления
Обеспечивает высокую производительность в различных вариантах применения, от наблюдения образцов до их ионного микротравления. Высокоразрешающая электронная (LaB6) и ионная оптика. Обеспечивает получение стабильного изображения для травления/ мониторинга процесса через длительные интервалы времени. Изображение и микроанализ в отсутствие зарядки. Наличие стандартной низковакуумной системы для исследования непроводящих образцов. Система фигурного ионного травления. Позволяет проводить фигурное напыление и травление в соответствие с данными бинарного изображения, записанными в виде BMP-файла. Поддерживает режим трехмерного нанотравления с непрерывным доступом к многочисленным данным, записанных в виде файлов изображений. Стандартная шлюзовая система для быстрой и простой загрузки в камеру без нарушения вакуума. Максимальный размер загружаемого через шлюз образца: пластина диаметром 150 мм. Эффективная подготовка тонких фольг оптимальной толщины для просвечивающего электронного микроскопа. Полный набор портов для установки всех видов приставок. Большой столик позволяет проводить травление образцов диаметров до 76 мм.
 14.  Многоцелевой растровый электронный микроскоп с эмиттером Шоттки JSM-7200F (Jeol)
Предназначен для решения широкого спектра задач как в элементном и структурном микроанализе так и в получении качественных изображений с высоким разрешением. Электронная оптическая система использует погружённую в конденсорную линзу термоэмиссионную электронную пушку, позволяющую получать остросфокусированный электронный зонд при высоком токе зонда, что обеспечивает эффективное выполнение элементного анализа путем EDS (энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии), WDS (волнодисперсионной рентгеновской спектрометрии) и EBSD (дифракции отражённых электронов). К тому же, поскольку высокий зондовый ток можно получить также при низком ускоряющем напряжении, JSM-7200F может выполнять поэлементное картирование по поверхности образца с высоким разрешением при использовании EDS и WDS.
 15.  Растровый электронный микроскоп JIB-4501 Multibeam (Jeol) с ионной пушкой для микротравления
Обеспечивает высокую производительность в различных вариантах применения, от наблюдения образцов до их ионного микротравления. Большой ионный ток травления. Повышенная производительность при большой площади травления (максимальный ионный ток травления 30 нА). Высокоразрешающая электронная (LaB6) и ионная оптика. Обеспечивает получение стабильного изображения для травления/ мониторинга процесса травления через длительные интервалы времени. Изображение и микроанализ в отсутствие зарядки образцов. Наличие стандартной низковакуумной системы для исследования непроводящих образцов. Система фигурного ионного травления. Позволяет проводить фигурное напыление и травление в соответствие с данными бинарного изображения, записанными в виде BMP-файла. Поддерживает режим трехмерного нанотравления с непрерывным доступом к многочисленным данным, записанных в виде файлов изображений. Стандартная шлюзовая система для быстрой и простой загрузки образцов в камеру образцов без нарушения вакуума. Обеспечивает быструю загрузку образцов через шлюз. Максимальный размер загружаемого через шлюз образца: пластина диаметром 150 мм.
 16.  Растровый электронный микроскоп с сенсорным управлением JSM-IT300 (Jeol)
Обеспечивает возможность работы в низковакуумном режиме. Оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и возможностью управления посредством сенсорного экрана, как дополнением к высококачественной электронной оптике с усовершенствованной системой вакуумной откачки и системой захвата и построения изображения. Разрешающая способность 3 нм во вторичных электронах. При низких ускоряющих напряжениях разрешающая способность составляет 8 нм (при 3 кВ) и 15 нм (при 1 кВ), что является предельно высокими показателями для микроскопов такого класса. Конденсорная зум-линза обеспечивает автоматическую качественную фокусировку в широких диапазонах токов электронного луча. Высокопроизводительный турбомолекулярный насос в комплекте с двумя форвакуумными насосами обеспечивает чистую и быструю вакуумную откачку.
 17.  Растровый электронный микроскоп JSM-6510 (Jeol)
Позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящего слоя, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т. д. Каждый из приборов серии может оснащаться различными аналитическими приставками для определения химического состава (спектрометры с энергетической и волновой дисперсией), катодолюминесценции, кристаллической структуры и др. В современных моделях предусмотрена возможность установки турбомолекулярного насоса и/ или электронной пушки с гексаборид-лантановым катодом по желанию заказчика. Вся линейка этих моделей значительно превосходит своих конкурентов по надежности, удобству управления и эксплуатации, имеет очень большой ресурс и сохраняет основные рабочие характеристики в течение длительного срока эксплуатации за счет минимизации загрязнения основных элементов в процессе эксплуатации и простоты технического обслуживания.
 18.  Растровый электронный микроскоп JSM-6010 TouchScope (Jeol)
Обеспечивает получение высококачественных изображений и микроанализ, где бы вы в них ни нуждались. Возможности беспроводной связи делают прибор по настоящему автономным. Сенсорный экран управляющего компьютера – новый подход в организации дружественного и интуитивно понятного интерфейса. Даннй микроскоп имеет широкие аналитические возможности: качественный и количественный элементный микроанализ с помощью полностью интегрированной безазотной системы ЭД микроанализа, получение изображений с высоким пространственным разрешением, возможность работы в низковакуумном режиме (низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящего слоя, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т. д. ) и большой эвцентрический столик образцов.
 19.  Аналитический сканирующий микроскоп SU70 (Hitachi HT)
Источником электронов этого микроскопа служит полевой катод Шоттки. В приборе реализован разумный компромисс, который позволяет, сохраняя высокое разрешение, использовать многочисленные аналитические методики сканирующей электронной микроскопии: EDX, WDX, EBSP, STEM (TE), CL. Применение методики торможения электронов (Deceleration) даёт возможность понизить энергию электронного зонда до 100эВ, сохраняя высокое разрешение. Особое внимание заслуживает способность микроскопа работать в двух режимах, которая реализована с помощью методики FieldFreeMode. Объектив микроскопа имеет две обмотки. Когда задействована одна обмотка, микроскоп работает как out-lens, включение другой обмотки переводит его в работу в режим semi-in-lens. В out-lens режиме микроскопу доступны магнитные образцы и возможность использовать аналитическую приставку электронной дифракции EBSD.
 20.  Аналитический сканирующий микроскоп SU5000 (Hitachi HT)
Многозадачный РЭМ с катодом Шоттки, прекрасно подходящий для решения широкого круга аналитических задач. Благодаря новому источнику электронов, который обеспечивает стабильный ток пучка в диапазоне от 1пА до 200 нА, микроскоп совмещает возможность ультра быстрого анализа и высокого разрешения. В приборе используется конструкция объективной линзы типа Out-of-Lens, что даёт возможность работы с магнитными образцами. Камера микроскопа имеет порты для установки всех распространённых аналитических приставок, включая EDS, WDS и EBSD. Работа с чувствительными образцами возможна благодаря режиму торможения электронов (до 100В). Непроводящие или влажные образцы могут быть просмотрены в режиме неглубокого вакуума (VP-SEM), причём переход в этот режим осуществляется нажатием одной кнопки в управляющей программе. Для режима VP-SEM доступен специальный детектор вторичных электронов (UVD детектор).
 21.  Просвечивающий электронный микроскоп HT7700 (Hitachi HT)
Предназначен для работы с биологическими объектами. Эти объекты, как правило, имеют слабый контраст и весьма чувствительны к дозе электронного облучения, поэтому для регистрации изображения используется высокочувствительная цифровая CCD камера с разрешением 2048 х 2048 пикселей. Это позволяет оператору работать при низкой интенсивности электронного пучка, которая заведомо недостаточна для возбуждения привычного люминесцентного экрана. Такое решение предоставляет ряд дополнительный возможностей для автоматизации работы оператора: автоматическую настройку изображения, например, применять автофокус, автоконтраст или автостигматор.
 22.  Универсальный просвечивающий электронный микроскоп H-9500 (Hitachi HT)
Позволяет проводить исследование на атомарном уровне широкого круга материалов в самых различных областях: от фармакологии до материаловедения. Этот прибор унаследовал лучшие черты своего предшественника Н-9000, и выделяется своей надёжностью, стабильностью параметров и высокой производительностью. Микроскоп в высшей степени автоматизирован и компьютеризирован. Моторизованный держатель образца имеет пять степеней свободы, а компьютер отслеживает все перемещения и запоминает маршрут, позволяя, исследователю возможность вернуться в нужное место. Прибор может быть оборудован ячейкой Environmental chamber, которая позволяет проводить эксперименты in situ, например, исследовать реакцию газ-твёрдое тело на атомарном уровне, непосредственно, в колонне микроскопа.
 23.  Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией HF-3300 (Hitachi HT)
Обеспечивает гарантированное высокое разрешение и уникальные аналитические возможности. Современные электронные микроскопы высшего уровня способны показывать разрешение менее 0, 1 нм. Для достижения такого показателя производители включают в дизайн источника электронов энергетический фильтр, а для улучшения характеристик объективной линзы используют Сs корректор астигматизма. Это, однако, усложняет конструкцию и приводит к снижению стабильности изображения. И, кроме того, накладывает весьма жесткие требования на допустимый уровень вибраций помещения и уровень внешних электромагнитных полей. Концепция электронного микроскопа HF-3300 компании Hitachi HT исходит из принципа простоты и надёжности. Конструкция источника электронов с холодной полевой эмиссией представляет оптимальный баланс между энергетическим разбросом и яркостью и обходится без энергетического фильтра.
 24.  Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп HD2700 (Hitachi)
Предназначен для работы с тонкими образцами, не уступая в возможностях традиционному просвечивающему микроскопу. Сам принцип формирования изображения позволяет выводить изображение одновременно с трёх детекторов BF, DF и SE. Любая модификация доступна на выбор с катодом Шоттки или с холодным полевым катодом. Прибор имеет гарантированное разрешение 0, 204 нм и отличается высокиой производительностью. Так на смену образца требуется не более 2 минут. Юстировка микроскопа, выведение астигматизма, центрирование пучка, автофокус, автоконтраст - вот перечень функций, которые микроскоп способен провести в автоматическом режиме.
 25.  Электронный сканирующий микроскоп S-3700N (Hitachi)
Аналитический прибор, способный демонстрировать высокое разрешение в широком диапазоне ускоряющих напряжений и давлений остаточного вакуума в камере (режим VP-SEM). Микроскоп оснащен термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Рабочая камера имеет 10 портов для подключения дополнительного оборудования. Модель S-3700N оснащён большой рабочей камерой, позволяющей исследовать образцы диаметром до 300 мм. Дизайн камеры образца позволяет одновременную установку и работу EDX, WDX и EBSD детекторов.
 26.  Сканирующий электронный микроскоп flexSEM 1000 (Hitachi HT)
Предназначен для исследования структуры поверхности вещества. оснащен детекторами SE и BSE, работает в режиме VP-SEM. Возможна установка UVD детектора, системы EDX и ИК-камеры. Компактные размеры микроскопа (450 мм (ширина) х 640 мм (глубина) х 1120 мм (высота)) позволяют установить его практически в любое лабораторное помещение или даже в офис. Для работы прибора требуется лишь одна стандартная розетка. Все рабочие функции микроскопа максимально автоматизированы. Используется новейшая навигационная функция SEM MAP, позволяющая, с использованием встроенной камеры, получать изображения образца от камеры и микроскопа в одно нажатие мыши.
 27.  Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (HITACHI)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Ускоряющее напряжение: 15 кВ. Увеличение: х20-10 000. Разрешение: 30 нм. Глубина резкости: 0, 5 мм. Детектор: твердотельный детектор обратнорассеяных электронов. Размер области обзора: X=15 мм, Y=18 мм; Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 20 мм в высоту; Режимы: обычный (5x10-2 Па) или низкого вакуума ((30-50)x10-2 Па) для наблюдения образцов с низкой проводимостью или содержащих влагу биологических образцов.
 28.  Микроскоп электронный просвечивающий HT 7700 (Hitachi)
Предназначен для работы с широким спектром объектов. Для регистрации изображения используется очень чувствительная цифровая камера с высоким разрешением, что позволяет исследовать образцы, дающие слабый контраст и чувствительные к электронному облучению. Увеличение составляет свыше 1 млн. раз. Разрешение, которое удается получить HT7700 Hitachi, достигает 0. 2 нм. Объектами исследования могут выступать порошки, коллоидные растворы (при соответствующей пробоподготовке), полимеры с различными включениями (при соответствующей пробоподготовке) и т. д. Кроме того, приставка энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) позволяет определять элементный состав образца.
 29.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (Jeol) с энергодисперсионным анализатором IncaX-act
Предназначен для исследования морфологии и структуры поверхности твердых веществ и материалов, а также локального микроанализа. Многопользовательская система с двумя детекторами. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 30.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 (Jeol) с энергодисперсионным анализатором Inca-250
Предназначен для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм. Высокая стабильность пучка. Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка вместе с превосходной электронно-оптической системой позволяет получать разрешение 0, 19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0, 28 стерад и угле сбора 24, 1, что позволяет производить высокоточный анализ и быстрый набор данных микроанализа. Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС-микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Полученную информацию также можно передать по локальной сети на другие персональные компьютеры для дальнейшей ее обработки.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. (381) 267-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 31.  Растровый электронный микроскоп JXA-6400 (Jeol)
Позволяет визуализировать образцы с увеличением до х400 в оптическом диапазоне и наблюдать реальные цвета различных участков образца (поскольку изображение во вторичных электронах не несет информации о цвете). Одной из самых важнейших характеристик является стабильность электронного зонда по положению и току. Стабильность по току обеспечивает точность микроанализа и составляет полторы десятых доли процента в течение одного часа. Это необходимо, поскольку при работе волновых спектрометров спектр накапливается последовательно, и колебания тока могут привести к такой же неточности при расчете концентрации элементов. В обычных растровых электронных микроскопах с аналитическим приставками таких жестких требований на электронный зонд не накладывается, поэтому на них нельзя получить точных данных микроанализа.
Сафаров Ильфат Миндигалеевич, тел. (347) 282-38-58, e-mail: ilfat@imsp.ru
 32.  Сканирующий электронный микроскоп EVO 50 XVP (Carl Zeiss) с автоматизированной системой QEMSCAN
Предназначен для получения изображения поверхности образца с большим разрешением. Полностью моторизированный столик, возможность просмотра образцов в геометрии cross-section (под наклоном, определение толщины пленок-покрытий). Большой размер камеры, возможность анализа объектов больших размеров. Характеристики: активная площадь: 10 мм2; перечень определяемых элементов: от Бора до Америция; возможность линейного сканирования по поверхности с определением состава в каждой точке; возможность построения карты распределения элементов по поверхности; возможность разрушающего анализа толщины пленок и покрытий.
 33.  Растровый электронный микроскоп JSM-6610LA (JEOL)
Предназначен для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Сергей Валерьевич Таскаев, тел. (351) 799-71-17, e-mail: taskaevsv@susu.ru
 34.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 Plus (JEOL)
Предназначен для получения высококонтрастных высокоразрешающих изображений на просвет, в том числе и на медико-биологических образцах. Оснащен цифровыми системами регистрации изображений, производства Olympus, а также приставкой SТЕМ (сканирующей трансмиссионной микроскопии) в связке с приставкой энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), позволяющий делать карты содержания элементов по образцу. Технические харктеристики: Ускоряющее напряжение: 40, 60, 80, 100, 120кВ; Разрешение по точкам: 0. 38 нм; Разрешение по линиям: 0. 2 нм; Электронная пушка: LaB6 или W; Увеличение: X50 – x800, 000.
 35.  Растровый электронный микроскоп JSM-6610LA (JEOL) c совмещенным энергодисперсионным спектрометром X-MAX
Предназначен для изучения микроструктуры вещества. Пространственное разрешение 3 нм. Ускоряющее напряжение от 0, 3кВ до 30 кВ. Диапазон увеличений от х5 до х300 000. Максимальный размер образца диаметр до 200 мм, высота до 80 мм. Виды контраста вторичные электроны: топографический контраст; отражённые электроны: композиционный, топографический, теневой контрасты. Катод W. Столик образцов эвцентрический моторизация до 5 осей с компьютерным управлением диапазон перемещений: Х – 125 мм, Y – 100 мм, Z – от 5 до 80 мм. наклон: от -10 до 90 градусов, вращение 360 градусов.
 36.  Трансмиссионный электронный микроскоп JEM-100S (Jeol)
Предназначен для проведения ультра-структурных исследований клеток и тканей эукариот, а также прокариот и вирусов. Характеристики: разгонное напряжение: 80 кВ; макс. увеличение: 50 000 крат; разрешение: 5. 6 А.
 37.  Цифровой сканирующий электронный микроскоп Cam Scan MV 2300 (Tescan)
Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с катодом с полевой эмиссией, выпускается как в высоковакуумном исполнении, так и с переменным вакуумом в камере образцов. Характеризуется непревзойденными оптическими свойствами, немерцающим цифровым изображением превосходного качества. Cовременное дружественное программное обеспечение для управления микроскопом, накопления и обработки изображений, работающее в среде Windows™ .
 38.  Микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21-1 (ЛОМО)
Предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле. Обеспечивает увеличение от 0 до 1000 в прямом и поляризованном свете.
Синицын Антон Александрович, тел. : (817) 272-50-44, e-mail: prorectornr@mh. vstu. edu.ru
 39.  Растровый электронный микроскоп Supra 25 (Carl Zeiss) с нанолитографической приставкой XENOS
Предназначен для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой электронной микроскопии.
 40.  Электронно-растровый микроскоп VEGA 3 XM (TESCAN)
Предназначен как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур.
 41.  Длиннофокусный микроскоп QM100 с приставкой PowerPak100 (Questar)
Предназначен для микроскопического исследования вещества. Основные характеристики: свободное расстояние от 9 см до 35 см; разрешение 1. 1 мкм; числовая апертура до 0. 2 (при наименьшем рабочем расстоянии); спектральный диапазон от 200 нм.
 42.  Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп ULTRA 55 (Carl Zeiss)
Предназначен для получения изображений рельефа поверхности с одновременным отображением композиционного контраста в нанометрическом масштабе. Используются три интегрированные системы детектирования сигнала: Встроенный в линзовую систему детектор вторичных электронов (In-lens SE) для изучения топографии поверхности на предельных разрешениях; Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по энергии выхода (EsB), дающий картины поверхности с отображением химического контраста на сверхразрешениях; Встроенный в колонну детектор обратно рассеянных электронов с селекцией по углу выхода (AsB), используемый для изучения композиционного контраста и получения картин ориентации кристаллов. С помощью микроскопа Zeiss ULTRA получают уникальные по разрешению и выдающиеся по качеству изображения: топологии поверхности, композиционного контраста поверхности, карты разориентации кристаллов и карты ориентации магнитных доменов.
 43.  Сканирующий ионный электронный микроскоп ORION NanoFab (Carl Zeiss)
Обеспечивает получение субнанометрового разрешения. Благодаря минимально возможному размеру источника ионов, который представляет собой одиночный атом вольфрама, теоретический предел разрешения составляет 0, 25 нм. Малый угол сходимости пучка обеспечивает большую глубину резкости, что, в сочетании с высоким разрешением, позволяет получить высокое качество изображения. Большая масса ионов по сравнению с электронами существенно уменьшает влияние дифракции и увеличивает сечение рассеяния на атомах исследуемого материала, благодаря чему увеличивается контраст по атомному номеру, как в режиме регистрации вторичных электронов, так и при регистрации обратно-рассеянных ионов. Другой особенностью ионного сканирующего микроскопа является малый ток пучка, на три порядка меньший, чем типичный ток пучка электронного микроскопа. Это позволяет избежать негативных последствий, связанных с изменениями, происходящими в образце под действием пучка и уменьшить влияние зарядки поверхности не проводящих образцов. Кроме того, предусмотрена система компенсации заряда поверхности электронным пучком, которая позволяет работать с диэлектриками, практически без потери качества изображения.
 44.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 1200 (JEOL)
Предназначен для исследования поверхности, а также структуры вещества методом просвечивающей электронной микроскопии. Имеет высокое разрешение с превосходной управляемостью и возможностью масштабирования. Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) насущный инструмент во всех областях научных исследований, включая разработку полупроводников, решение задач биологии и материаловедения.
 45.  Двухлучевой микроскоп-литограф Neon 40 ESB (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования наноструктур, нанопрепарирования, локального ионного травления/ осаждения и подготовки сверхтонких срезов для исследований методами ПЭМ. Имеется возможность локального ионно-стимулированного осаждения нескольких материалов (Pt, SiO2, вольфрам и др. ).
 46.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 6510LV (JEOL)
Позволяет проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума. Камера образцов микроскопа обладает солидным количеством портов и позволяет дооснастить РЭМ множеством разнообразных приставок (спектрометрами с дисперсией по энергиям и по длинам волн, системой дифракции отраженных электронов, системой катодолюминесценции, рамановским спектрометром) для решения широкого класса исследовательских задач.
 47.  Сканирующий электронный микроскоп SEM-515 (Philips)
Предназначен для микроскопии высокого разрешения. Технические характеристики: диапазон ускоряющего напряжения и тока пучка - 3— 30 кВ, разрешение - до 10 нм (при ускоряющем 30 кВ), минимальное увеличение ∼ 20 крат, глубина резкости (соответствущая предельному разрешению человеческим глазом элементов конечного изображения (0, 2 мм)) - порядка 0, 5 от его линейных размеров.
 48.  Растровый электронный микроскоп JSM-840А (JEOL)
Предназначен для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек.
Сафаров Ильфат Миндигалеевич, тел. (347) 282-38-58, e-mail: ilfat@imsp.ru
 49.  Растровый сканирующий электронный микроскоп LEO 1420 VP (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования состава и морфологии природных объектов и синтетических соединений. позволяет получать высококачественные растровые изображения в обратно рассеянных и вторичных электронах для изучения объектов в топографическом, композиционном и смешанном контрастах. Спектрометр INCA Energy 350 позволяет регистрировать рентгеновские спектры элементов от В до U, имеет удобное и эффективное программное обеспечение для проведения качественного и количественного микроанализа вещества. Прибор может использоваться для проведения исследований в геологии и металловедении. Кроме того, специальный VP-режим вакуумной системы микроскопа позволяет изучать объекты без нанесения на них токопроводящего покрытия. Это дает возможность исследовать биологические и полимерные материалы.
 50.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-7A (JEOL)
Предназначен для визуализации индивидуальных моноатомных ступеней (высотой 0. 31 нм на Si(111) и 0. 14 нм на Si(001)), двумерных островков и сверхструктурных доменов при высокой температуре (например, 1300 ° С). Включает устройство дифференциальной криогенной откачки, обеспечивающее сверхвысокий вакуум в районе образца, и позволяет нагрев и охлаждение образцов от температуры жидкого азота до температуры плавления; имеется возможность проводить осаждение на исследуемую поверхность атомов различных элементов из молекулярных пучков.
 51.  Сканирующий электронный микроскоп Supra 40VP (Carl Zeiss)
Предназначен для изучения и разработки новых материалов, анализа отказов, контроля производства, крио-приложения, нанотехнологии, прикладные аналитические исследования и др. Обеспечивает сверхвысокое разрешение даже на малых ускоряющих напряжениях: 2. 1 нм при 1 кВ, 5. 0 нм при 200 В; аналитическую геометрию рабочей камеры (рабочее расстояние для EDS, WDS и EBSD приставок составляет всего 8, 5 мм), обеспечивающую получение высококачественных данных микроанализа синхронно с получением изображений со сверхвысокими разрешениями; сверхстабильный ток пучка - 0, 2 % в час / до 20 нА, что обеспечивает высочайшее качество результатов рентгеновского и дифракционного анализов.
 52.  Сканирующий электронный микроскоп Nova NanoSEM 450 (FEI) с системой энергодисперсионного микроанализа EDAX
Предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/ или газящих образцов в наномасштабе. Отличается ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Оснащен энергодисперсионным (EDS), волнодисперсионным спектрометрами (WDS), а также EBSD-системой, что позволяют проводить качественный, количественный, фазовый и структурный анализ материала. Для выполнения функции электронно-лучевой литографии микроскоп может оснащаться 16-ти битовым генератором образа и бланкером луча.
 53.  Просвечивающий 200 кВ электронный супермикроскоп FE-TEM HF5000 (Hitachi)
Супермикроскоп, соединяющий в себе одновременно функции TEM и STEM. Наличие Сs корректора позволяет достигнуть разрешения менее 0, 1 нм. Юстировка микроскопа, выведение астигматизма, центрирование пучка, автофокус, автоконтраст являются автоматизированными. Оригинальные держатели с улучшенными рабочими характеристиками.
 54.  Растровый электронный микроскоп JSM-35C с рентгеноспектральным микроанализатором SDS-35 (JEOL)
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI), поглощенного тока. Изображение: SEI, BEI, AEI. Разрешение: 6 нм. Увеличение: 15– 180 000 (пошаговое). Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA– 1 mA.
 55.  Растровый электронный микроскоп LEO-1420 с рентгеноспектральным микроанализатором RONTEC (Oxford Instrument)
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Режимы высокого вакуума. Детекторы: вторичных (SEI) и обратно рассеянных электронов (BEI). Изображение: SEI, BEI. Разрешение: 3. 5 нм. Увеличение: 15– 300 000 (пошаговое). Ускоряющее напряжение от 200 V до 39 kV: ток на образце 1 pA– 1 mA.
 56.  Растровый электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL)
Обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Режимы высокого (HV-mode) и низкого (LV-mode) вакуума. Детекторы: вторичных (SEI) и обратнорассеянных электронов (BEI). В режиме HV-mode. Изображение: SEI, BEI. Разрешение: 3 нм (30 кВ, WD 8 мм, SEI); 8 нм (3. 0 кВ, WD 6 мм, SEI); 15 нм (1. 0 кВ, WD 6 мм, SEI). Увеличение: от 5 (WD 48 мм) до 300 000 (пошаговое).
 57.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1200 EX (JEOL)
Предназначен для проведения биологических и медико-биологических исследований. Позволяет исследовать тончайшие клеточные структуры и помимо чисто исследовательских целей используются также в качестве инструментов диагностики патологий в клинических центрах. В микроскопе используется электронная пушка Lab6 высокой яркости с высокой эмисионной стабильностью, которая очень эфективна как для высоко чувствительного анализа микроучастков размером до нескольких нанометров, так и для получения изображений с высоким разрешением. Для изучения чувствительных к облучению материалов, таких как углеродные нанотрубки или полимеры, имеется возможность очень легко подобрать оптимальное ускоряющеее напряжение, наиболее подходящее к задаче.
 58.  Растровый сканирующий автоэмиссионный микроскоп Мerlin (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования структуры и фазового состава приповерхностных слоев наноструктурированных материалов, осуществлять их послойный анализ и модификацию, проводить 3D реконструкцию, а также проводить механические испытания в колонне микроскопа при различных температурах.
 59.  Сканирующий электронный микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss)
Предназначен для биологических исследований используется для широкого спектра исследований биологических и медицинских объектов в их естественном состоянии (в естественной среде), включая возможность регулировки давления водяных паров до 3000 Па. Наблюдение объектов в режиме высокого вакуума, в режиме переменного вакуума, в парах воды. Рентгеновский микроанализ (EDS), детектор обратноотраженных электронов (4QBSD), охлаждающий столик Пельте. Микроскоп оснащен системой пробоподготовки, в которую входят: ультрамикротом, блок напыления проводящих покрытий, блок сушки в критической точке, криоустановка для подготовки образцов.
 60.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 (JEOL)
Предназначен для получения высококонтрастных высокоразрешающих изображений, в первую очередь на медико-биологических образцах. Ускоряющее напряжение — от 40 до 120 кВ, катод — вольфрам или LaB6, увеличение от Х50 до Х800000, разрешение по точкам — 0. 38 нм. Прибор оснащен гониометром с большими углами наклона, цифровой камерой высокого разрешения, а также аналоговой камерой для регистрации изображений на фотопленку. Микроскоп управляется компьютером, многие его функции автоматизированы.
Киреев Игорь Игоревич, тел. (495) 939-55-28, e-mail: kireev@genebee. msu.ru
 61.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 1400 (JEOL)
Предназначен для получения высококонтрастных, высокоразрешающих изображений, в первую очередь на медико-биологических образцах. Ускоряющее напряжение - от 40 до 120 кВ, катод - вольфрам или LaB6, увеличение от Х50 до Х800000, разрешение по точкам - 0. 38 нм. Прибор оснащен гониометром с большими углами наклона, цифровой камерой высокого разрешения, а также аналоговой камерой для регистрации изображений на фотопленку. Микроскоп управляется компьютером, многие его функции автоматизированы.
 62.  Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (Hitachi)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твердых образцов. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для анализа химического состава исследуемого материала. Химический состав определяется путем измерения энергии рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии электронного пучка с поверхностью образца. Программное обеспечение спектрометра позволяет идентифицировать пики и представить качественную информацию о составе образца.
 63.  Растровый электронный микроскоп CX-200TA (COXEM)
Предназначен для микроскопии высокого увеличения. Оснащен полностью автоматизированным столиком с пятью осями (X, Y, Z, T, R), что позволяет перемещать образец по желанию оператора. Современный моторизованный столик позволяет пользователям перемещать образец нажатием кнопки мыши на экране изображения. Обеспечивает изображения до 5, 120х3, 840 пикселей, что позволяет получить адекватную картинку изображения на очень больших увеличениях.
 64.  Микроскоп на медленных электронах FE-LEEM P90 (SPECS)
Представляет собой следующее поколение микроскопа на медленных электронах с высочайшим для динамических LEEM-экспериментов разрешением (< 5 нм). Основанный на конструкции д-ра Р. Тромпа, этот прибор позволяет наблюдать процессы на поверхности нанометрового масштаба в реальном времени. С помощью сложного энергетического фильтра можно производить измерения с разрешением по энергии вплоть до 250 мэВ при минимальном пространственном разрешении прибора. Прибор может быть дополнен коррекцией аберраций. Наилучшее достижимое разрешение для данного микроскопа с корректором < 2 нм.
 65.  Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI) с системой микроанализа EDAX Trident XM 4
Позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат. Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. FEI Quanta 600 FEG позволяют работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами, способными к газовыделению при вакуумировании). Является самым востребованным прибором в нанотехнологической лаборатории, по интенсивности использования он превзошел даже рутинные оптические микроскопы.
Соколова Наталья Алексеевна, тел. (495) 456-64-12, (495) 456-85-72 (доб. 672, 680), e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 66.  Двухлучевой трехмерный ионный микроскоп Helios NanoLab 460 HP (FEI)
Позволяет выйти на новый уровень получения двух- и трехмерных изображений изучаемых объектов и их анализа, создания нанопрототипов и подготовки образцов. Технология Elstar™ FESEM обеспечивает наилучшую детализацию в нанометровом диапазоне. В двухлучевой системе также реализована новейшая разработка компании FEI - ионная колонна Tomahawk™ FIB. Эффективность колонны Tomahawk в условиях низкого напряжения достаточно велика для того, чтобы получать тонкие образцы высочайшего качества для исследования на просвечивающем электронном микроскопе или атомно-силовом микроскопе. В устройстве предусмотрена тройная система детектирования внутри колонны и режим иммерсии, которые могут использоваться одновременно для формирования изображений во вторичных и обратно отражённых электронах.
 67.  Просвечивающий электронный микроскоп TALOS (FEI)
Обеспечивает быстрый и точный количественный анализ материалов в нескольких измерениях. В нем объединены выдающаяся визуализация и высокое разрешение в режиме STEM с лучшим детектированием сигнала EDX, химическим анализом 3-мерных объектов и функцией картирования. Используемый источник полевой эмиссии последнего поколения (FEI XFEG) с высокой яркостью обеспечивает высокое значение тока пучка – до 5 раз больше, чем у стандартной автоэмиссионной электронной пушки с эффектом Шоттки. При этом угол сведения лучей остается малым. Благодаря этому обеспечены улучшенные параметры сигнал-шум и очень высокое разрешение как STEM, так и EDX. Talos идеален для динамических исследований благодаря используемой камере Ceta 16M с большим полем зрения и высокой скоростью работы, и пьезо-столику, позволяющему осуществлять точную навигацию по образцу. Talos имеет дружественный интерфейс, удобную навигацию по образцу. Доступен удаленный доступ к системе.
 68.  Сканирующий электронный микроскоп Phenom Pure (FEI)
Позволяет получать изображения с высоким разрешением и увеличением до 30 000х. Он является научным электронным микроскопом с возможностью получения трехмерных изображений. Увеличение до 30 000x; Разрешение 30 нм; Ускоряющее напряжение 5 кВ; Высокочувствительный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы); Оптическая цифровая навигационная камера; Управление посредством сенсорного экрана и/ или специальной поворотно-нажимной кнопки; Мощный термоэлектронный источник CeB6 (гексаборид церия) с увеличенным временем жизни (~1500 часов); Моторизованный предметный столик; Высокая скорость работы - 30 секунд с момента загрузки образца до получения изображения с высоким разрешением; Возможность работы как с токопроводящими, так и с нетокопроводящими образцами без необходимости в дополнительной подготовке (напыление и т. п. )
 69.  Сканирующий электронный микроскоп Phenom proX (FEI)
Самый быстрый, эффективный и универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп с интегрированной системой ЭДС микроанализа. Основные технические особенности электронных микроскопов Phenom ProX: Система ЭДС интегрирована в модуль получения изображений; Определение элементов от углерода до америция; Возможность определения элементного состава в точке, по линии и по площади в реальном времени; Увеличение до 130 000x достигается без применения цифрового зума; Разрешение до 10нм; Ускоряющее напряжение 5, 10, 15 кВ; Высокочувствительный детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы); Цветная оптическая цифровая навигационная камера; Управление посредством сенсорного экрана и/ или специальной поворотно-нажимной кнопки; Мощный термоэлектронный источник CeB6 (гексаборид церия) с увеличенным временем жизни (~1500 часов); Моторизованный предметный столик; Высокая скорость работы - 30 секунд с момента загрузки образца до получения изображения с высоким разрешением; Возможность работы как с токопроводящими, так и с нетокопроводящими образцами без необходимости в дополнительной подготовке (напыление и т. п. ); Программный пакет автоматизированных решений Pro Suite.
 70.  Сканирующий электронный микроскоп Quanta 200 (FEI)
Предназначен для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации. Вакуумная система свободно переключается между различными вакуумными режимами из программной оболочки без дополнительных настроек и юстировок. Безмасляная система откачки (чистый вакуум), турбомолекулярный насос производительностью 250 л/ с (время откачки после полной вентиляции камеры при смене образца около 2. 5 минут); два форвакуумных насоса производительностью 8 л/ с; плавное переключение между вакуумными режимами из программной оболочки (без дополнительной перенастройки системы); автоматическая защита от неправильных действий; прогреваемая цеолитовая ловушка в цепях откачки низкого вакуума (для форвакуумного насоса подкачки естественной среды).
 71.  Сканирующий электронный микроскоп Versa 3D DualBeam (FEI)
Обеспечивает качественный и количественный микрорентгеноспектральный анализ (EDS) в точке, распределение элементов по линии и на площади. Двулучевая система c интегрированными электронным и ионным пучками (FIB/ SEM) позволяет: получать высококачественные изображения по композиционному и топографическому контрасту; изготавливать поперечные сечения для исследования подповерхностных слоев; травить и напылять по шаблону.
 72.  Электронный сканирующий микроскоп JSM 7800F (Jeol)
Предназначен для проведения цитологического исследования биологических тканей и других материалов при больших увеличениях. Используются стандартные методики приятные в мировой практике для проведения электронно-микроскопических исследований.
 73.  Цифровой микроскоп Idonus SMA (Idonus)
Цифровой микроскоп с двумя независимыми оптическими системами. Позволяет одновременно обозревать две области с разрешением свыше 2 микрон. Основные возможности: Позволяет очень точно выровнять пластину с маской, используя два поля обзора. Объектив 5х с большой рабочей дистанцией. Разрешение лучше, чем 2 микрона. Инспекция на компьютере.
Юрий Васин, тел. : (495) 287-85-77, e-mail: vasin@tbs-semi.ru
 74.  Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-6000PLUS Neoscope II (JEOL)
Работает в диапазоне увеличений от x10 до х60000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры, возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-6000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве. Прибор настолько надежен в эксплуатации, прост и удобен в работе, что помимо использования для решения рутинных задач, он может использоваться и в учебных целях.
 75.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-100 SX (JEOL)
Предназначен для биологических и медицинских целей. Электронная оптика прибора рассчитана на получение максимального контраста на биологических препаратах. Электронная оптика и вакуумная система управляются компьютером, а изображение может регистрироваться на широкоугольную цифровую камеру. Управление прибором построено по принципу одной кнопки, то есть многие стандартные последовательности действий выполняются одной командой, например: включение-выключение прибора, высокого напряжения, накала катода, смена образца и т. п.
 76.  Многоканальный 3D сканирующий лазерный микроскоп-спектрометр Confotec CARS (SOL)
Предназначен для проведения бесконтактного структурного анализа биологических образцов и протекающих в них процессов в реальном времени и с высоким пространственным разрешением. Высокая чувствительность: во время CARS процесса генерируются более сильные и направленные сигналы по сравнению с сигналами в спонтанной Рамановской микроскопии. CARS сигнал генерируется только в фокусе, где интенсивность возбуждения является самой высокой. Это позволяет регистрировать изображения с высоким пространственным разрешением без использования конфокальных пинхолов, а также проводить 3D сканирование по слоям с минимальным влиянием соседних слоёв на результаты измерений.
 77.  Универсальный сканирующий микроскоп УЭМВ-100В (ПО Электрон)
Предназначен для визуального и фотографического исследования объектов (электронной микроскопии). Прибор позволяет: исследовать объекты на просвет в широком диапазоне увеличения; получать стереоскопические снимки; получать светлопольные и темнопольные изображения; производить диффракционное исследование избранного участка на просвет; проводить микродиффракционные исследования участков объектов с локальностью 1-2 мк. Электронно-оптическая система прибора снабжена двумя конденсорными, объективной, промежуточной и проекционной линзами, обеспечивающими увеличение прибора от 300 до 200. 000 крат. Промежуточная и проекционная линзы обеспечивают плавное изменение увеличения при постоянном поле изображения; Объектив снабжен стигматором, облегчающим получение высоких разрешений. Фотографирование изображений при всех видах исследований производится на фотопластинки 6, 5 х 9 см.
 78.  Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge Instruments) с системой рентгеноспектрального микроанализа LINK ISIS-200
Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением до 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0. 5 до 40 кэв. ). Рентгеноспектральный микроанализ: особенности строения и вещественного состава любых твердых материалов; определение качественного и количественного химического состава объектов с размерами от 0, 2-4 мкм
 79.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 5130MM (Тescan) с системой микроанализа INCA Energy 200
Позволяет проводить рентгеноспектральный анализ химических элементов, начиная с бора (B), а количественный анализ, начиная с кислорода (O) и кончая ураном (U), с пределами обнаружения менее 0. 1 массовых %.
 80.  Растровый электронный микроскоп TS 5130MM (Tescan) с системой рентгеноспектрального микроанализа Spirit
Применяется для электронной микроскопии (SEM), микроскопии высокого разрешения, исследования особенностей строения твердых материалов в диапазоне увеличений 50-150000; рентгеноспектральный микроанализ (EPMA)
 81.  Установка регистрации изображений DITABIS micron (Digital Biomedical)
Предназначена для регистрации изображений на специальные IP пластины в просвечивающем электронном микроскопе. Благодаря IP пластинам, в просвечивающем микроскопе возможно получение сверх разрешения. DITABIS micron за счет линейного отклика с 20 битным каналом оцифровки дает возможность регистрации изображений с динамическим диапазоном порядка 106 за одно считывание. ОборудованиеDITABIS имеет широкий спектр применения в естественных науках: медицины, биологии, протоно-графии и многих других.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 82.  Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования микроструктуры вещества. Освещение по Кёлеру, встроенный ОМЕГА фильтр.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 83.  Электронный сканирующий микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss), Inca X-Max 80мм2
Предназначен для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением.
Нуждин Евгений Владимирович, тел. : (927) 403-24-30, e-mail: evgenyboom@gmail.com
 84.  Просвечивающий электронный микроскоп Morgagni 268 D (FEI)
Предназначен для использования большим количеством операторов, которые работают в области клеточной биологии и изучают различные биологические процессы или испытывают новые фармацевтические препараты. ПЭМ Morgagni является экономичным и обеспечивает простоту работы и великолепное качество изображения.
 85.  Электронный сканирующий микроскоп Tecnai G2 30 (FEI)
Обеспечивает высокую производительность и универсальность, а также простоту использования в индивидуальной рабочей среде. Оборудование, которое может быть дополнительно установлено, например, СПЭМ, CDD камеры, детекторы для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (EELS) и энергетические фильтры, встроены в пользовательский интерфейс, что позволяет операторам с разным опытом работы в полной мере использовать все функциональные возможности системы через один понятный интерфейс. Электронный пучок 300 кВ в данном микроскопе обеспечивает высокое разрешение для данной геометрии объектива, а также более высокий ток пучка и проникновение в образец по сравнению с ПЭМ, использующим 200 кВ.
 86.  Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп TITAN3 G2 60-300 TEM (FEI)
Позволяет проводить исследования в режиме СПЭМ с фокусировкой на зонде и ПЭМ-режиме с параллельным пучком и разрешением 70 пм на той же площади образца в том же микроскопе. Таким образом, преимущества обоих методов визуализации может быть объединены в платформе (С)ПЭМ с двойной коррекцией. С акустической и тепловой изоляцией корпуса система может передавать информацию до 70 пм и использует сверхвысокое разрешение, которое достигается без особых трудностей и выбирается при установке. Высокоскоростная цифровая камера и инновационный дружественный интерфейс позволяют сделать работу не просто легко, но и улучшить управление всеми приложениями. Микроскоп охватывает полный динамический диапазон интенсивности от наблюдений биологических образцов с помощью интенсивного фокусированного пучка до применения пучков низких доз и дифракции.
 87.  Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп TITAN G2 80-200 S/ TEM (FEI)
Позволяет за несколько минут получать распределение элементов с атомным разрешением. Система для анализа ChemiSTEM состоит из пушки с полевой эмиссией Шоттки X-FEG высокой яркости, запатентованной системы Super-X 4-SDD, безоконного детектора EDX и быстродействующей электроники для визуализации, которая способна обрабатывать 100000 спектров / сек. Кроме получения распределения элементов на атомном уровне, Titan G2 80-200 с системой для анализа ChemiSTEM cпособен в 50-100 раз увеличить скорость и чувствительность EDX картирования по сравнению с обычной аналитической системой FEG. Такое повышение производительности позволяет быстро проводить картирование больших площадей и количественно определять элементы со спектрометром с дисперсией по энергии с концентрацией ниже 0, 01 массовых долей в %. Кроме того, эту систему можно использовать для EDX томографии, что делается впервые в мировой практике.
 88.  Ионный сканирующий микроскоп HELIOS NANOLAB 400S (FEI)
Обеспечивает превосходное качество съемки с новейшей электронной колонной, в которой помимо полного набора детекторов предусмотрен новый способ визуализации, с которым достигается превосходный контраст и разрешение, а сфокусированный пучок ионов (ФИП) обеспечивает высоко эффективную и быструю пробоподготовку и травление. Идеально подходит для обеспечения высокой пропускной способности, высокого разрешения при подготовке (С)ПЭМ проб, обработки изображений и анализа. Разрешение в режиме электронного пучка - до 0. 8 нм; Максимальный диаметр образца - 100 мм.
 89.  Растровый электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI Company)
Предназначен для измерения линейных размеров нанообъектов, элементного состава поверхности и спектров катодолюминесценции. Возможность измерения в высоком (10-5 Торр) и низком (до 1 Торр, для измерения диэлектрических образцов) вакууме. Регистрация истинно-вторичных и упруго-отраженных электронов. Диапазон ускоряющих напряжений 100 В – 30 кВ. Эффективный диаметр электронного зонда, согласно ГОСТ Р 8. 636-2007: 30 нм. Приставка для изучения катодолюминесценции (Gatan) в диапазоне длин волн от 300 нм до 1000 нм при температуре образца от 80 К. Приставка для рентгеновского микроанализа (EDAX): энергодисперсионный и волновой спектрометры. Приставка для исследования дифракции обратно-рассеянных электронов.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 90.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 SBH (Tescan) c приставкой для элементного анализа и распылительной установкой для нанесения углеродного покрытия
Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа твердых объектов. Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом и предметной камерой SB (максимальная высота образца 36 мм), предназначенный как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур.
Смирнов Николай Николаевич, тел. : (493) 232-74-10, e-mail: ckp@isuct.ru
 91.  Сканирующий электронный микроскоп SEM LEO-420 (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования микроструктуры веществ и материалов методом дифракции обратно-рассеянных электронов и ЭДС-микроанализа.
 92.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA II XMU (Oxford Instruments)
Предназначен для определения концентрационного элементного профиля металлических материалов (кроме H и He), а также для исследования химического состава поверхности образца при помощи электронно-лучевых методов. Оснащен системой ионного травления образца, позволяющей проводить поверхностную очистку, а также глубинное профилирование элементного состава образца.
Михайлова Анжела Ивановна, тел. : (814) 278-27-53, e-mail: angela@krc. karelia.ru
 93.  Система пробоподготовки нанообъектов 16 bit Vector Scan NanoPattering Engine Pro (Carl Zeiss)
Позволяет производить резку нанообъектов в целях пробоподготовки материала для микроскопии посредством микроскопа Zeiss Cross Beam
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : (423) 222-25-28, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 94.  Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения LIBRA® 200MC (Carl Zeiss)
Объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения.
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : (423) 222-25-28, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 95.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2000 EX (Jeol)
Позволяет получить наибольшее разрешение из всех доступных методов исследования биологических объектов, таких как клетки, клеточные органеллы, бактерии, вирусы, биогенные макромолекулы. Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 200 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов
 96.  Сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором JSM 6610 LA (Jeol)
Предназначен для высокоэффективных исследований микроструктуры вещества. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
 97.  Растровый электронный микроскоп JSM-50A SEM (Jeol)
Предназначен для исследования микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; топографический и качественный фазовый анализ поверхности; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).
 98.  Растровый электронный микроскоп JSM 50A (Jeol)
Предназначен для исследования топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция). Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)
 99.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100-F (Jeol), оснащенный электронной пушкой с полевой эмиссией
Предназначен для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии ультравысокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью.
 100.  Просвечивающий электронный микроскоп EM420 (Philips)
Предназначен для восстановления трехмерного атомного строения вещества (в том числе в наноплёнках и нанокластерах). Осуществляется регистрация вторичной электронной эмиссии.
 101.  Ионный сканирующий микроскоп Strata FIB 205 (FEI)
Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм2.
 102.  Просвечивающий электронный микроскоп LEO-910 (Carl Zeiss)
Предназначен для микроскопического исследования биологических объектов с использованием общепринятых методик фиксации и заливки. Увеличение - 50х-500000х.
 103.  Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 Spirit BioTWIN (FEI)
Предназначен для проведения исследований в области клеточной и структурной биологии, бионанотехнологии, медицины и, в частности, предназначен для 2D и 3D визуализации клеток, клеточных органелл и более мелких структур. Укомплектован томографическим модулем (гониометром), позволяющим в процессе работы наклонять образец относительно горизонтальной оси и получать серии снимков с их последующей автоматической сборкой и реконструкцией 3D-моделей сложных биологических структур. Микроскоп может автоматически настраивать состояние электронной пушки и корректировать фокус и астигматизм. При этом сохраняется возможность контроля всех функций микроскопа опытными пользователями в ручном режиме, который реализуется на основе концепции Tecnai, предусматривающей цифровое управление всеми системами микроскопа.
 104.  Цифровой микроскоп ShuttlePix P-400Rv (Nikon)
Предназначен для захвата изображения больших и тяжёлых образцов. Автомобильная, аэрокосмическая, металлургическая, судостроительная промышленность и т. д. Подходит для тестирования, анализа и исследования электронных компонентов и электронных устройств собранных их них . Имеет широкий спектр применения. Заводы и ремонт оборудования, музеи, судебно-медицинская экспертиза, промышленно производство и т. д. Увеличение от 20х до 400х крат реализуется без сложной замены оптических линз.
 105.  Растровый электронный микроскоп JSM-35-CF (Jeol) с рентгеноспектральным микроанализатором Link System S-860-II
Покрывает диапазон увеличения от х10 до х60000. Опционально предусмотрено использование микроскопа с приставкой для микроанализа и приводом для наклона и вращения образца. Микроскоп оснащен детекторами вторичных и отраженных электронов и способен работать в режимах как высокого так и низкого вакуума.
 106.  Микроскоп электронный сканирующий MIRA 3LMH (TESCAN) с системой анализа дифракции обратно-отраженных электронов (EBSD) HKL Channel 5 EBSD (Oxford Instruments)
Предназначен для изучения структуры и кристаллографических параметров поликристаллических материалов
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 107.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2000EX (JEOL)
Предназначен для исследования структуры металлов и сплавов, биологических объектов, исследования межфазных и межзеренных границ
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 108.  Электронный сканирующий микроскоп VEGA 3SBH (TESCAN) с ЭДС AZtec Energy X-act, Oxford Instruments
Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа металлов, керамики, неорганических порошков, волокон и др.
Имаев Ренат Мазитович, тел. : (347) 282-38-59, e-mail: renat_imayev@mail.ru
 109.  Растровый электронный микроскоп BS 300 (Tesla)
Предназначен для исследования характера разрушения покрытий на образцах малоуглеродистой стали, поверхностно упрочненных методом диффузионного борирования
Колосов Владимир Юрьевич, тел. (343) 251-96-96, факс. (343) 257-71-47, е-mail: VladKol@usue.ru
 110.  Просвечивающий электронный микроскоп BS 540 (Tesla)
Предназначен для исследования и разработка новых материалов для быстрорастущего рынка энергонезависимой памяти (DVD- CD-RW, flash), основанных на переходах стекло - кристалл. Исследования методами оптической, электронной и атомно-силовой микроскопии образования, дефектности и превращений в тонких плёнках неорганических веществ теоретические и экспериментальные исследования дифракции электронов от упруго искажённых кристаллов и разориентированных микроструктур. Электронно-микроскопические исследования дефектности и превращений в тонких плёнках, слоях и покрытиях для микро- и оптоэлектроники, нанотехнологий
Колосов Владимир Юрьевич, тел. (343) 251-96-96, факс. (343) 257-71-47, е-mail: VladKol@usue.ru
 111.  Сканирующий ионный гелиевый микроскоп ORION Plus (Carl Zeiss)
Обеспечивает большую глубину резкости, что, в сочетании с высоким разрешением, позволяет получить высокое качество изображения. Большая масса ионов по сравнению с электронами существенно уменьшает влияние дифракции и увеличивает сечение рассеяния на атомах исследуемого материала, благодаря чему увеличивается контраст по атомному номеру, как в режиме регистрации вторичных электронов, так и при регистрации обратно-рассеянных ионов. Другой особенностью ионного сканирующего микроскопа является малый ток пучка, на три порядка меньший, чем типичный ток пучка электронного микроскопа. Это позволяет избежать негативных последствий, связанных с изменениями, происходящими в образце под действием пучка и уменьшить влияние зарядки поверхности не проводящих образцов. Кроме того, предусмотрена система компенсации заряда поверхности электронным пучком, которая позволяет работать с диэлектриками, практически без потери качества изображения.
 112.  Сканирующий электронный микроскоп Supra 40VP (Carl Zeiss)
Универсальный лабораторный автоэмиссионный растровый микроскоп, использующий электронно-оптическую колонну GEMINI 3-го поколения. Высококачественные изображения, с потрясающими глубиной и контрастом, в комбинации с широкими аналитическими возможностями делают эти микроскопы настоящими рабочими лошадками многих лабораторий мира, специализирующихся в различных областях исследований — изучение и разработка новых материалов, анализ отказов, контроль производства, крио-приложения, нанотехнологии, прикладные аналитические исследования и др.
 113.  Просвечивающий электронный микроскоп Tesla BS 613C
Изучение механизмов образования и роста (в том числе с непосредственным наблюдением процессов in situ в электронном микроскопе и видео записью процессов), а так же факторов, определяющих характеристики объектов с сильным искривлением кристаллической решетки - трансротационных кристаллов
 114.  Просвечивающий электронный микроскоп Philips CM30
Структурные исследования с пространственным разрешением 0, 23 нм; кристаллографический/ фазовый микро-/ нано-анализ методами электронной дифракции.
 115.  Микроскоп с приставкой ионного пучка V600CE FOCUSED ION BEAMS (FEI)
Предназначен для полупроводниковых лабораторий, применяющиеся для внесения изменений в микросхемы. Он многофункционален и позволяет быстро проводить анализ и модифицировать схемы с использованием только одной колонны - сфокусированного пучка ионов (ФИП), который эффективно обеспечивает высокую пропускную способность при модификациях схем, приготовлении поперечных срезов и анализе неисправностей.
 116.  Рентгеновский сканирующий микроскоп Verios™ XHR SEM 460L (FEI)
Мощный двухпучковый сканирующий микроскоп. Применяется в научных исследованиях или промышленном контроле.
 117.  Растровый электронный микроскоп Supra 40 VP (Carl Zeiss)
Микроскоп снабжен системой компьютерного контроля сканирования электронным пучком и цифровой регистрацией сигналов и изображения, рентгеноспектральный микроанализатор INCA WAVE и INCA X-MAX. Получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных и обратноотраженных электронах).
Боричева Ирина Константиновна, Телефон: (812) 552-77-67, E-mail: iboricheva@ftim. spbstu.ru
 118.  Микроскоп электронный сканирующий LEO 430 SEM (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии веществ и материалов с высоким разрешением до 1 нм.
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 119.  Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с комплексом диагностики наноструктур Supra 40 (Carl Zeiss)
Микроскоп снабжен системой компьютерного контроля сканирования электронным пучком и цифровой регистрацией сигналов и изображения, рентгеноспектральный микроанализатор INCA WAVE и INCA X-MAX. Получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных и обратноотраженных электронах).
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 120.  Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 F20 U-TWIN (FEI)
Предназначен для исследований в области электронной микроскопии. Ускоряющее напряжение до 200кВ, катод с полевой эмиссией. Микроскоп оснащен устройством STEM. Разрешение по точкам 0, 19 нм, информационный предел < 0, 12 нм, разрешение в режиме STEM - 0, 14нм. Поворот образца на / -24° .
А. С. Рудый, тел. / факс. : (4852) 24-65-52, электронный адрес: rudy@uniyar. ac.ru, rudy@yf-ftian.ru
 121.  Растровый электронный микроскоп BS 300 (TESLA)
Предназначен для исследования микроструктуры на поверхности материалов. Ускоряющее напряжение: 100кВ, разрешающая способность: 1 нм.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 122.  Просвечивающий электронный микроскоп СМ 30 (Philips)
Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (TWIN-объективная линза, разрешающая способность до 0, 24 нм); дифракционный анализ, наклон образца до ± 60° ; сканирующая электронная микроскопия (светлое и темное поле); качественный и полуколичественный рентгеноспектральный анализ; пространственное распределение химических элементов.
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 123.  Сканирующий настольный электронный микроскоп TM3000 (Hitachi)
Электронная сканирующая микроскопия различных биологических объектов с увеличением до 40 000 Х.
 124.  Растровый электронный микроскоп EVO 50 XVP (Carl Zeiss)
Структурные исследования поверхности материалов. Низковакуумный режим (XVP) позволяет исследовать не проводящие образцы, а также биологические объекты. Элементный анализ (с возможностью совместного детектирования).
Батаев Владимир Андреевич, тел. : (383) 346-06-12, e-mail: vabataev@yandex.ru
 125.  Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai 20 G2 TWIN (FEI)
Структурные исследования внутреннего строения материалов. Управляется операционной системой Windows NT, обеспечивает высокую производительность и универсальностью, высокую продуктивность с легкостью использования и безопасностью.
Батаев Владимир Андреевич, тел. : (383) 346-06-12, e-mail: vabataev@yandex.ru
 126.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490 LV (Jeol)
Предназначен для исследования микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; топографический и качественный фазовый анализ поверхности; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 127.  Микроскоп для промышленных измерений и анализа изображений MM400/ 800 (Nikon)
Предназначен для промышленных измерений и анализа изображений. Они интегрируют важнейшие функции и дают полный цифровой контроль за максимальной точностью измерений для самых сложных промышленных задач.
 128.  Просвечивающий электронный микроскоп BS-500 (Tesla)
Предназначен для исследования ультраструктуры биологических объектов, а также кристаллографического анализа макромолекул.
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 129.  Сканирующий электронный микроскоп EVO-MA-10 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения фундаментальных и рутинных исследований в области общего материаловедения, оптических материалов, полупроводниковых исследований, исследований непроводящих и/ или слабо проводящих образцов (керамики, полимеры, покрытия, искусственные материалы и метаматериалы) с пространственным разрешением в нанодиапазоне и с возможностью модификации поверхности образцов, покрытых электронно-чувствительными материалами с помощью электронного пучка.
Ковалев Михаил Сергеевич, E-mail: director@mnhs.ru, тел. (499) 263-63-44
 130.  Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп с системой электронной литографии Supra 50VP (Carl Zeiss)
Позволяет выполнять многоплановые исследования по созданию и диагностике наноструктур с применением методов сканирующей электронной микроскопии и электронной литографии. Микроскоп оснащен комплектом аналитических модулей (детекторов и программное обеспечение), с помощью которых можно получать разнообразную качественную и количественную информацию об исследуемых объектах: получение изображений объектов без предварительной подготовки (в том числе и непроводящих - возможность использования режимов низкого вакуума (VP) и их комбинаций с работой на низких ускоряющих) во вторичных и отраженных электронах с пространственным разрешением до 1, 5 нм; морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц; микроанализ элементного состава объектов, включая измерение толщины и состава тонких пленок, с использованием энергодисперсионного рентгеновского спектрометра; сверхстабильный ток пучка — 0, 2% в час / до 20 нА, обеспечивает высочайшее качество результатов рентгеновского и дифракционного анализов; анализ спиновой поляризации вторичных электронов и получение изображений поверхности материалов с магнитным контрастом; диагностика полупроводниковых структур с применением методов катодолюминесцентных измерений и т. п.
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 131.  Ионный просвечивающий микроскоп V400ACE (FEI)
Предназначен для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного редактирования передовых интегральных схем. Редактирование схем позволяет производителям продуктов развести проводящие цепи и протестировать измененные схемы в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин.
 132.  Электронный просвечивающий микроскоп VION PLASMA FOCUSED ION BEAM (FEI)
Является инструментом, способным проводить очень точную резку и травление с высокой скоростью. Он обладает возможностью избирательно травить нужные области образца. Кроме того, микроскоп может выборочно наносить структуры проводников и изоляторов. Совместно используя высокоскоростное травление и точный контроль, система может использоваться для изготовления интегральных схем в различных областях, например, для анализа повреждений при столкновениях, разрывах проводов связи, для анализа дефектов в плотноупакованных структурах MEMS-устройств.
 133.  Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI)
Предназначен для проведения исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий. Позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат, с большим числом элементов разложения (пикселей). Прибор предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. Микроскоп оснащен рентгеновским спектрометром для проведения элементного микроанализа (EDAX).
 134.  Сканирующий электронный микроскоп SU8220 (Hitachi)
Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне. Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 135.  Растровый электронный микроскоп VEGA II (TESCAN) с системой микроанализа INCA Energy 350
Предназначен для анализа химического состава и концентрации химических элементов в твердых веществах, сыпучих материалах, порошках, жидкостях, образцах, осажденных на пленках и фильтровальной бумаге. Существует возможность получения карт диффузии.
 136.  Моторизированный микроскоп Axio Imager. Z2 с флуоресценцией (Carl Zeiss)
Универсальный исследовательский микроскоп для проведения научно-исследовательских работ в лабораториях различной направленности: генетика и цитогенетика (кариотипирование, FISH, MFISH); экспериментальная биология; патология и анатомия (окрашенные срезы, люминесценция); клеточная биология; нейробиология.
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 137.  Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125 К
Исследование микроструктуры и фазового состава, наблюдение и фотографирование изображений в диапазоне 100 – 800000 крат
Крылов П. Н. , тел. : 3412 916133, e-mail: ftt@udsu.ru
 138.  Аналитический просвечивающий электронный микроскоп Libra 200MC (Carl Zeiss) с комплектом оборудования для пробоподготовки
Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 139.  Сканирующий электронный микроскоп S50 EDAX PRIME EDS (FEI INSPECT) с термоэмиссионным источником электронов и системой элементного анализа
Исследование структуры поверхности любых твердотельных объектов: металлы, неметаллы, биообъекты и др. ; поэлементный химический анализ от Be до U, распределение по поверхности образца. Получение изображения поверхности исследуемого материала с разрешением до 3 нм.
тел. : 89501552084, e-mail: nikolai_kostenkov@mail.ru
 140.  ИК-Фурье-микроскоп HYPERION 1000 (Bruker)
Позволяет просто и эффективно провести высококачественный микроанализ с помощью множества самых современных устройств, специальных объективов и средств изображения химического состава. Модульная конструкция дает возможность адаптировать HYPERION к требованиям поставленной задачи. Область таких задач самая широкая: материаловедение, исследование полимеров, общая химия, криминалистика, исследование произведений искусства, биология и минералогия.
Мурзин Сергей Петрович, тел. : 846 2674661, e-mail: aseu@ssau.ru
 141.  Малогабаритный растровый электронный микроскоп Phenom (FEI)
Позволяет получать изображение в оптическом режиме (увеличение 20х) и электронно-оптическом режиме (увеличение 250-20000х). Разрешение микроскопа составляет 20 нм. Исследуемые образцы не должна превышать 25 мм в диаметре и 30 мм по высоте. Время загрузки образца для выхода в электронно-оптический режим составляет 30 секунд. В микроскопе используется источник электронов на кристалле CeB6 с ускоряющим напряжением 5 кВ. Полученные изображения могут быть сохранены в форматах JPEG, TIFF и BMP, разрешение изображения: 456² , 684² , 1024² , 2048² пиксел.
Корляков Андрей Владимирович, (812) 234-27-57, akorl@yandex.ru
 142.  Электронный сканирующий микроскоп JCM-5700 (Jeol) с энергодисперсионной приставкой
Предназначен для визуализации микро- и нано-рельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат, так и в части проведения элементного анализа с помощью без азотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U).
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 143.  Сканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System (FEI)
Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений Х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм2.
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 144.  Настольный сканирующий микроскоп TM-3000 (Hitachi)
Предназначен для исследования практически любых образцов без предварительной пробоподготовки. Удобный графический пользовательский интерфейс и невероятная простота в обслуживании действительно делают этот прибор надежным помощником в обучении и в решении аналитических задач в лабораторных и полевых условиях. Микроскоп может оснащаться приставкой рентгеновского микроанализа, позволяющей получать информацию о химическом составе исследуемого объекта.
 145.  Автоэмиссионный растровый микроскоп Ultra-55 (Carl Zeiss)
Исследование морфологии и размеров частиц, микроскопия поверхностей изломов, исследование структуры, оценка величин структурных параметров металлических и керамических образцов.
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 146.  Сканирующий зондовый микроскоп Нано-Скан (ТИСНУМ)
Сканирование поверхности металлических образцов с помощью сканирующей зондовой и туннельной микроскопии
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 147.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom (FEI)
Комплекс для изучения поверхности и химического состава веществ при разрешающей способности не хуже 20 нм
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 148.  Нанотехнологический микроскоп УМКА-02 (Наноиндустрия)
Исследование поверхности материалов в контактном динамическом режиме с возможностями идентировния/ склерометрии, измерения модуля Юнга
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 149.  Микроскоп металлографический МЕТАМ ЛВ-31 (ЛОМО)
Предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, а также по методу дифференциально-интерференционного контраста. Комплект оптики микроскопа обеспечивает получение стандартных увеличение при визуальном наблюдении и фотографировании объекта на листовую и рулонную фотопленку.
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 150.  Настольный растровый электронный микроскоп JCM-6000 NeoScope (Nikon)
Предназначен для выполнения элементного анализа. В стандартной комплектации микроскоп оснащен детекторами вторичных и отраженных электронов и способен работать в режимах высокого и низкого вакуума.
 151.  Сканирующий фотоседиментограф СФ-2 (Промснабкомплект)
Предназначен для гранулометрического анализа порошков в диапазоне крупности частиц от 2 до 100 мкм. Фотоседиментационный анализ гранулометрического состава порошков основан на фотометрическом определении степени рассеяния света, при пропускании его через суспензию. Сканирование кюветы с суспензией происходит восемью датчиками, расположенными на различной высоте, что позволяет повысить точность измерения и сократить время анализа. В качестве излучателя используется светодиод, работающий в инфракрасном диапазоне длин волн. Это обеспечивает помехоустойчивость в видимом спектре и высокую точность измерения. Техническая характеристика Диапазон измерений (мкм) от 2 до 100 Среднее время анализа (мин) 3-20 Воспроизводимость анализа не хуже (%) 2 Число датчиков (шт) 8 Напряжение питания прибора (В) 220 10% Время прогрева прибора (мин) 10 Габариты (мм) 400x150x500 Вес (кг) 10 Подключение прибора к компьютеру осуществляется через последовательный интерфейс RS-232C.
Анциферов Владимир Никитович, тел. : 342 2391119, e-mail: director@pm. pstu. ac.ru
 152.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100-F (JEOL)
Предназначен для получения изображения исследуемого объекта используется отдельный дифрагированный или прошедший пучок, и контраст изображения обусловлен изменениями интенсивности пучка вследствие локальных искажений кристаллической решетки (деформационных полей), разориентации отдельных блоков, различия в элементном составе. Пространственное разрешение в дифракционном режиме ограничено размером апертуры, отсекающей неиспользуемые пучки, и составляет 0. 3 : 0. 5 нм. Посредством перемещения плоскости регистрации в фокальную плоскость объективной линзы в дополнение к изображению исследуемого объекта регистрируется картина электронной дифракции с заданного участка.
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 153.  Растровый электронный аналитический микроскоп JSM 7001F (JEOL)
Предназначен для работы с наноразмерными структурами и необходимостью элементного анализа малых областей образца. Самая маленькая апертура дает ток зонда, достаточный для ЭДС анализа и получения картин дифракции отраженных электронов, также и при работе на высоких увеличениях.
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 154.  Растровый электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL)
Предназначен для растровой электронной микроскопии высокого разрешения. Микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур.
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 155.  Растровый электронный микроскоп JSM T-300 (Jeol) с приставкой для качественного микроанализа LINK-SISTEM-760
Предназначен для проведения металловедческих и прямых фрактографических исследований с поверхности излома, качественного микроанализа включений и распределения элементов по полю
Волынова Тамара Федоровна, тел. (495) 777-93-20, E-mail: Volinova@chermet. net
 156.  Микроскоп сканирующий электронный ТМ1000 (Hitachi)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для определения химического состава образца. Химический состав определяется путем измерения энергии рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии электронного пучка с поверхностью образца. Программное обеспечение спектрометра позволяет идентифицировать пики и предоставить качественную информацию о составе образца, а учет процессов поглощения дает возможность получения количественной информации
Матвиенко А. А. , тел. (913) 891-49-03
 157.  Растровый электронный микроскоп Tescan VEGA II LMU (Oxford Instruments Analytical)
Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым термокатодом и предметной камерой LM (максимальная высота образца 81 мм), предназначенный как для исследований в высоком вакууме, так и для низковакуумных операций (комплектация UniVac). Отличительными особенностями данного микроскопа являются: прекрасные оптические свойства, возможность захвата изображения и вывод немерцающего цифрового изображения высокого разрешения, современный дружественный интерфейс программного обеспечения для управления микроскопом, работающего в среде WindowsTM, а также большой выбор форматов для сохранения изображений, система архивирования данных, обработки и удобного просмотра изображений, проведение геометрических измерений на полученной картинке, автоматическая система настройки параметров микроскопа и множество других автоматизированных процедур.
 158.  Электронный сканирующий микроскоп JSM-6460 (Jeol)
Позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе биологические и полимерные материалы, стекла, нефтематеринские породы и т. д. Каждый из приборов серии может оснащаться различными аналитическими приставками для определения химического состава (спектрометры с энергетической и волновой дисперсией), катодолюминесценции, кристаллической структуры и др.
 159.  Микроскоп электронный сканирующий SU-8000 (Hitachi)
Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм
Беляев В. Н. , belyaev@ioc. ac.ru, 7 (903) 6146556
 160.  Растровый электронный микроскоп JCM-5700 (JEOL)
Предназначен для исследований с применением растровой микроскопии, рентгенодисперсионного анализа
Блесман Александр Иосифович, тел. : 3812 217703, e-mail: blesm@mail.ru
 161.  Микроскоп сканирующий электронный ТМ1000 (Hitachi)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Компактный, настольный микроскоп, чрезвычайно простой в эксплуатации, не требующий трудоемкой подготовки образца и сложной настройки условий наблюдения. Микроскоп укомплектован детектором TM1000 EDS, предназначенным для определения химического состава образца.
Зубков Владимир Георгиевич, тел. : (343) 362-35-21, e-mail: zubkov@ihim. uran.ru
 162.  Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
Электронно-литографическая приставка высокого класса для растрового электронно-лучевого микроскопа, оборудованного термоавтоэмиссионным катодом, либо для ионно-лучевого микроскопа, или рабочей станции FIB-SEM.
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 163.  Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV (JEOL) с системой микроанализа INCA Energy 350
Предназначен для проведения исследований поверхности различных материалов с высоким разрешением в двух режимах (HV, LV); исследование изломов и повреждений поверхности с целью выявления особенностей поверхности разрушения; определение качественного и количественного состава образцов в диапазоне элементов от B до U.
Титова Ирина Ивановна, тел. : 3012 412611, e-mail: progress-esstu@mail.ru
 164.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL)
Предназначен для исследования минерального сырья методом растровой электронной микроскопии
Бобин Вячеслав Александрович, тел. : 495 3601339, e-mail: bobin_va@mail.ru
 165.  Микроскоп электронный сканирующий NEOSCOPE II JCM-6000 (JEOL)
Предназначен для исследования поверхности и элементного состава образцов, увеличение 10-60000 крат
 166.  Микроскоп для лабораторных исследований Axio Observer со штативом Z1 (Carl Zeiss)
Предназначен для повседневной и исследовательской работы в лабораториях при исследовании клеточных культур в чашках Петри, микротитрационных планшетах или флаконах. Микроскоп может эффективно применяться в лабораториях ЭКО для операций ИКСИ, ИМСИ с использованием микроманипуляторов и лазера.
Петухов Валерий Иванович, тел. : 924 4309048, e-mail: petukhovv@mail.ru
 167.  Растровый электронный микроскоп EVO MA10 (Carl Zeiss) 43020820
Предназначен для исследования микроструктуры образцов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 168.  Микроскоп электронный сканирующий (растровый) Nvision 40 (Carl Zeiss)
Предназначен для микроскопии высокого разрешения
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 169.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-7600F (Jeol)
Предназначен для исследования микроструктуры материалов
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 170.  Сканирующий ИК-микроскоп Hyperion 1000 (Bruker)
Получение ИК спектра с возможностью визуализации образца
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 171.  Инвертированный промышленный микроскоп XDS-3MET (Optika Microscopes)
Предназначен для проведения исследований методом светлого поля в отраженном свете и в поляризованном свете. Металлографический (металлургический) микроскоп используется для исследования не пропускающих свет поверхностей или препаратов (минералов, керамики, игл, катетеров, микросхем и т. д. ) при высоком увеличении. Металлографический микроскоп используется для исследования и контроля качества печатных плат, LCD мониторов, а также структуры металлических изделий.
Дерканосова Анна Александровна, тел. : 473 2553716, e-mail: aa-derk@yandex.ru
 172.  Компактный настольный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi)
Стереоскопические структурные исследования с большой глубиной резкости
Петров Сергей Анатольевич, тел. : (905) 820-23-63, e-mail: sciensec@ikz.ru
 173.  Аналитический сканирующий электронный микроскоп JSM-5610LV (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром INCA 450
Обеспечивает получение изображение во вторичных и в отражённых электронах с увеличениями 50х– 40 000х. Аналитический блок представляет собой энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) и способен обнаруживать элементы, начиная с бериллия. Количественный анализ осуществляется для всех элементов, начиная с Na.
Коваленко Дмитрий Вячеславович, e-mail: dmitry@igem.ru
 174.  Аналитический высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром IETEM INCA-250
Позволяет получить разрешение по точкам в 0. 194 нм и картины микродифракции электронов, оборудован гониометром, который даёт возможность вращать изучаемый кристалл вокруг вертикальной оси на ± 30. Возможен количественный анализ тонких частиц в условиях нормировки суммы к 100 % с локальностью до 3 нм.
Коваленко Дмитрий Вячеславович, e-mail: dmitry@igem.ru
 175.  Микроскоп сканирующий прямого типа и плоского поля с набором комплектующих
Исследования слабопоглощающих объектов в видимой области спектра с высоким пространственным разрешением
Родионов Владимир Владимирович, 4012 595595 доб. 9013, vlrodionov@kantiana.ru
 176.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (Jeol)
Аналитический электронный микроскоп для исследования тонкой структуры проб материалов
Александров Игорь Васильевич, тел. : 347 2737977, e-mail: iva@mail. rb.ru
 177.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL)
Исследование поверхностей образцов и изделий под большим увеличением с целью определения дефектов и структурных элементов
Александров Игорь Васильевич, тел. : (347) 273-79-77, e-mail: iva@mail. rb.ru
 178.  Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии сверхвысокого разрешения
Крутиков Владимир Николаевич, тел. : (495) 437-56-33, e-mail: vniiofi@vniiofi.ru
 179.  Аппаратно-программный комплекс для трехмерной реконструкции объектов FEI Company
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии высокого разрешения
Межидов Вахид Хумаидович, тел. : 8712 295840, e-mail: NIZKP@mail.ru
 180.  Микроскоп ИК μ MAX
Предназначен для получения ИК-спектра микрообразцов в режимах пропускания, отражения или НПВО
Ретивов Василий Михайлович , тел. : (495) 963-70-89, e-mail: vasilii_retivov@mail.ru
 181.  Сканирующий электронный микроскоп Versa 3D DualBeam (FEI)
Качественный и количественный микрорентгеноспектральный анализ (EDS) в точке, распределение элементов по линии и на площади. Двулучевая система c интегрированными электронным и ионным пучками (FIB/ SEM) позволяет: -получать высококачественные изображения по композиционному и топографическому контрасту; -изготавливать поперечные сечения для исследования подповерхностных слоев; -травить и напылять по шаблону;
Орлинсон Борис Семенович, тел. : 8442 248070, e-mail: orlinson@vstu.ru
 182.  Эмиссионный спектрометр Искролайн 100 (Промэлектроника)
Позволяет решать большинство аналитических задач: анализ чугунов, низко и среднелегированных сталей (включая такие элементы, как углерод, сера и фосфор), сплавов на основе алюминия, свинцовых сплавов, бронз, латуней, и других цветных металлов.
Смелягин Анатолий Игоревич, тел. : 861 2518705, e-mail: asmelyagin@yandex.ru
 183.  Микроскоп электронный сканирующий TM 330 (Hitachi)
Предназначен для изучения поверхности материалов
Голиков Николай Иннокентьевич, тел. : (4112) 35-88-69, e-mail: golikov@iptpn. ysn.ru
 184.  Двухлучевой растровый электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI)
Предназначен для создания микросечений, позволяющая изучить подповерхностную структуру образца непосредственно на месте, в камере микроскопа. Также обладает возможностью проводить электронную литографию.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 185.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 7100 F (Jeol)
Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами (разрешение 1, 2 нм). Совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Оснащен приставками элементного анализа с энерго- и волнодисперсионными детекторами, дифракции обратно рассеянных электронов.
Ретивов Василий Михайлович , тел. : (495) 963-70-89, e-mail: vasilii_retivov@mail.ru
 186.  Малогабаритный сканирующий электронный микроскоп SU1510 (Hitachi)
Позволяет определять размеры структурных элементов в проводящих и непроводящих образцах различной природы, для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до 10 нанометров.
Ретивов Василий Михайлович , тел. : (495) 963-70-89, e-mail: vasilii_retivov@mail.ru
 187.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH с системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford Instruments INCA Energy 250/ X-max 20
Изучение морфологии минеральных зерен и определение химического состава
Чайковский Илья Иванович тел. : (342) 216-39-00
 188.  Просвечивающий электронный микроскоп HT7700 (Hitachi)
Получение изображения ультратонкого (тоньше 100 нм) образца в широком диапазоне увеличений; структурные и морфологические исследования образцов; исследование элементного состава образцов, построение карт распределения
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 189.  Двулучевая система высокого разрешения Quanta 3D FEG (FEI)
Исследование поверхности твердых тел с высоким разрешением и большой глубиной фокуса
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 190.  Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSem 450
Предназначен для получения как сверхвысокого разрешения, так высокой чувствительности EDS анализа. Электронная пушка – полевая эмиссия с холодным катодом, ускоряющее напряжение – 5-30 кВ. Микроскоп оборудован EDS спектрометром, позволяет проводить рентгено- флуоресцентный анализ и картирование образца. Разрешение во вторичных электронах:
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 191.  Настольный сканирующий микроскоп ТМ-3000 (Hitachi) с системой микроанализа Quantax70
Позволяет исследовать непроводящие, жирные и гидратированные объекты без специальной подготовки. Два уровня ускоряющего напряжения для изучения композитных поверхностей и топографии; режим стока заряда за счет ионизации остаточного газа; максимальное разрешение ~30 нм. Позволяет детектировать химические элементы и их распределение на поверхности обазца, обнаруживает легкие элементы вплоть до бора, не требует жидкого азота. Для формирования образцов, в комплекте есть оборудование для нанесения углеродного покрытия, тонких слоев металла.
Корольков Виктор Павлович, тел. : (383) 333-30-91, e-mail: victork@iae. nsk. su
 192.  Сканирующий электронный микроскоп JEOL 6000
Предназначен для микроскопии поверхности
Тарбоков Владислав Александрович, тел. : 3822 606258, e-mail: sanc@tpu.ru
 193.  Настольный растровый электронный микроскоп-микроанализатор TM 3000 (Hitachi)
Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 194.  Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FEI)
Получение изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат. Качественный и количественный анализ состава образцов. Удаление слоя материала образца, обнаружение структуры под поверхностным слоем, создание сечений, получение серии срезов образца с высоким разрешением.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 195.  Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 plus с системой фильтрации по энергиям электронов (EFTEM) (Carl Zeiss)
Микроморфологические исследования в различных областях биологии - цитологии, эмбриологии, ботаники, вирусологии и т. д. Применяется для исследования ультраструктуры, элементного анализа биопрепаратов, а также небиологических объектов, получения трехмерных реконструкций.
Коваленко Александр Елисеевич, тел. : (812) 372-54-48, e-mail: alkov@binran.ru
 196.  Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Ultra Plus (Carl Zeiss) на базе Ultra 55 с приставкой рентгеновского микроанализа INCA Energy 350 XT (Oxford Instruments)
Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава
Сычев Александр Евгеньевич, тел. : (496) 524 6384, e-mail: sytschev@ism. ac.ru, web-site: www. ism. ac.ru
 197.  Комплекс аппаратный ПЭМ атомарного разрешения для исследования нано-объектов HT7700 (Hitachi)
Предназначен для исследования объектов различной природы с атомарным разрешением
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@kpfu.ru
 198.  Микроскоп просвечивающий электронный СМ-12 (Philips)
Предназначен для исследований методом электронной сканирующей микроскопии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 199.  Система рентгеновского энергодисперсионного и волно-дисперсионного микроанализа Oxford INCA Energy 350 (Oxford Instruments)
Предназначена для исследования вещества методом рентгеновского энергодисперсионного и волно-дисперсионного микроанализа
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 200.  Система с электронным и сфокусированными пучками Quanta 200 3D (FEI Company)
Предназначен для исследований методом сканирующей электронной микроскопии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 201.  Просвечивающий электронный микроскоп СМ-30
Предназначен для исследований методом электронной микроскопии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 202.  Сканирующий электронный микроскоп SEM 515 (Philips) в комплекте с системой управления и построения изображения Genesis XM260SEM515
Предназначен для исследований методом сканирующей электронной микроскопии
Алексеенко Кира Викторовна, тел. : 3822 783714, e-mail: ckp@mail. tsu.ru
 203.  Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 Superprobe (JEOL) с приставкой энерго-дисперсионного анализа INCA Energy SEM 300 Microanalysis System
Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава
Сычев Александр Евгеньевич, тел. : (496) 524 6384, e-mail: sytschev@ism. ac.ru, web-site: www. ism. ac.ru
 204.  Микроскоп сканирующий электронный TM-1000 (Hitachi)
Предназначен для исследования морфологии и химического состава поверхности твёрдых образцов. Разрешение не менее 50 нм. Максимальный диаметр образца: не менее 50 мм. Максимальная высота образца: 20 мм. Ускоряющее напряжение: 15 кВ.
тел. (495) 638-4478, (926) 247-6538, email: info@misis-engineering.ru
 205.  Микроскоп сканирующий электронный с микроанализатором S800 (Hitachi)
Предназначен для рентгеноспектрального анализа элементов от В до Cf; Предел обнаружения 0, 2-0, 5 масс. %; Разрешение 20 А; Максимальное увеличение 300 000 раз
тел. (495) 638-4478, (926) 247-6538, email: info@misis-engineering.ru
 206.  Микроскоп сканирующий электронный с системой микроанализа JSM-7600F (JEOL)
Новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп JEOL, в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики JEOL. Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ). Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур.
тел. (495) 638-4478, (926) 247-6538, email: info@misis-engineering.ru
 207.  Микроскоп сканирующий ионный Strata 201 SIMSmapIIIxP (FEI)
Предназначен для получения изображения во вторичных ионах и электронах в диапазоне увеличений Х 250-350000. Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Ионная пушка - галлиевая жидкометаллическая. Изменение размеров ионного пучка в пределах 5-500 нм с автоматической запрограммированной сменой апертур (не менее 10 ступеней). Диапазон изменения тока ионного пучка: 1-10нА, плотность тока до 50А/ см2 , нестабильность пучка менее 5%/ час.
тел. (495) 638-4478, (926) 247-6538, email: info@misis-engineering.ru
 208.  Просвечивающий электронный микроскоп Titan™ Themis (FEI)
Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему и чувствительную технологию ChemiSTEM™ , с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин
 209.  Ионный микроскоп Vion Plasma FIB (FEI)
Обладает возможностью избирательного травления заданных областей образца и химического осаждения материала. Используемый в Vion Plasma FIB источник плазмы обеспечивает 20 – 60 раз более высокие токи пучка, чем традиционные ионные микроскопы с использованием ионов галлия, сохраняя при этом все возможности использования низкого тока пучка. Кроме того, в камере могут быть введены различные газы, оказывающие влияние на взаимодействие пучка с поверхностью образца и вызывающие осаждение материала (изолятора или проводника).
 210.  Ионный микроскоп V400ACE FIB (FEI)
Объединяет в себе последние разработки в проектировании ионной колонны, подачи газа и точечного позиционирования для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного производства интегральных схем. Система позволяет производителям полупроводниковых схем развести проводящие дорожки и протестировать работу измененных схем в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин традиционными методами. Ионная колонна Tomahawk обеспечивает непревзойденные возможности при непрерывной работе в диапазоне ускоряющего напряжения от 30 кВ до 0, 5 кВ. Высокая плотность тока при травлении при ускоряющем напряжении 30 кВ обеспечивает быстрое удаление материала и увеличение пропускной способности, в то время как работа при низком напряжении используется для селективного травления меди.
 211.  Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F (Jeol)
Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур благодаря электронной пушке с холодным катодом, сверхвысокому вакууму и усовершенствованным цифровым технологиям. Приставка для энергодисперсионной спектрометрии JED-2300F позволяет осуществлять качественный и количественный анализ состава твердотельных структур с использованием метода энергодисперсионной спектрометрии.
Телефон: (926) 354-71-08, E-mail: venelt@list.ru
 212.  Настольный модуль электронного сканирования Phenom (FEI Company)
Позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Phenom™ обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 213.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000ТА (Протон-МИЭТ)
Режимы СТМ и АСМ, разрешение до 5 Å . Поле кадра 6/ 6/ 1 или 40/ 40/ 2 мкм. Разработка 1995 г. , с участием Института аналитического приборостроения РАН. Первый зондовый микроскоп, вошедший в Госреестр измерительных средств России. Прошёл допуск в Оксфорде как учебный прибор, получил признание как наиболее доступный для понимания принципов работы зондовый микроскоп в мире.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов, Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, E-mail: logi@miee.ru
 214.  Колонна электронного микроскопа SEM-20-50
Предназначена для работы со слабо проводящими и чувствительными к статике образцами при энергии зонда 300-1000 эВ с разрешением до 200Å . Подсоединяется к вакуумным установкам до 10-7 Торр, в перспективе до 10-11Торр. При 20 кВ имеет разрешение 100 Å и предельное разрешение 50 Å на образце золото на графите. Рабочий отрезок 20… 50 мм, совмещается с туннельными микроскопами UnderSEM377 и UHV-LT-STM-5.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 215.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000
Реализует режимы СТМ (разрешение 3 А) и АСМ (высокоразрешающий мягкий контактный режим, до 0. 1 Å по вертикали). Кадры до 15/ 15/ 2 или 40/ 40/ 3 мкм, двигатели для выбора точки сканирования на поле 6/ 6 мм с просмотром в оптическом микроскопе МБС-10, смена СТМ/ АСМ режимов без вынимания образца, встроенная виброподвеска (-60дб), возможности для дополнительных методик, габариты 155/ 155/ 105 мм, вес 5 кг.
Начальник лаборатории: Борис Альбертович Логинов Телефон: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93, факс: (499) 720-85-31, (495) 364-60-93 E-mail: logi@miee.ru
 216.  Промышленный микроскоп МИМ-341 для исследования вейферов
Предназначен для исследования оптических свойств, плоскостности, а также микро и нано рельефа вейферов с рекордно высоким для оптической микроскопии разрешением 0, 1 нм по вертикали и 10-100 нм в плоскости объекта.
 217.  Растровый электронный микроскоп BS-301 (Tesla) с энергодисперсионным анализатором NL 2001A
Предназначен для исследования микроструктуры вещества.
 218.  Растровый электронный микроскоп-анализатор JSM-35-CF (Jeol)
Предназначен для микроскопического анализа методом растровой микроскопии
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 219.  Просвечивающий электронный микроскоп LIBRA 120 (Carl Zeiss)
Система освещения образца по Кёлеру, в сочетании со встроенным в колонну ОМЕГА-Фильтром, гарантируют пользователям получение великолепных результатов на любых образцах, в том числе на толстых срезах и образцах без фиксации и контрастирования. Технология LIBRA 120 обеспечивает работу микроскопа в любом из применяемых в просвечивающей микроскопии режимах работы. Большой выбор дополнительной оснастки — детекторы, сканирующие приставки, крио- и термодержатели, томографический блок, дополнительные спектрометры, цифровые сканирующие и телевизионные камеры, фотоприставки — все это позволяет пользователям создать собственный уникальный исследовательский прибор на базе LIBRA 120. В вакуумной системе серии LIBRA используется т. н. вакуумный буфер — устройство, которое не только оберегает Ваш микроскоп, но и позволяет отключать потенциальные источники вибропомех на время проведения исследований на высоких увеличениях.
Насыров Ильгиз Кутдусович, (843) 2388422, 9172991901, nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 220.  Сканирующий электронный микроскоп AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss)
Обеспечивает изображение с превосходным химическим контрастом. Конструкция GEMINI позволяет производить анализ образцов с разной степенью намагниченности и различной природы. Возможность одновременного отображения композиционного контраста с потрясающим качеством изображения. Для получения лучших результатов, в системе AURIGA используется и новая ионная колонна с революционным пространственным разрешением в 2, 5 нм! Уникальные способности новой системы дополняет усовершенствованная технология газовой химии для работы в ионном и электронном пучках, применяемой для травления исследуемых образцов или их иной модификации, например, путем послойного осаждения на поверхность образцов необходимых химических элементов или соединений.
Насыров Ильгиз Кутдусович, (843) 238-84-22, (917) 299-19-01, nasyrov. rectorat@kstu-kai.ru
 221.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения S-3400N
Комплекс для изучения состояния поверхности кристаллических и аморфных веществ. Позволяет исследовать топографию и состав любых твердотельных образцов, в том числе порошкообразных и биологических.
Пойлов Владимир Зотович, тел. : (342) 239-16-08, e-mail: poilov@cpl. pstu. ac.ru
 222.  Сканирующий электронный микроскоп TESCAN VEGA 3 SBU c рентгеновским энергодисперсионным анализатором AZTECENERGY/ X-ACT
Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа электропроводящих и непроводящих материалов – металлов, керамики, неорганических порошков, волокон и др. Длина (ширина) образца до 120 мм, высота до 36 мм. Ускоряющее напряжение от 0, 2 до 30 кВ.
Рубцова Светлана Альбертовна, тел. : (8212) 24-02-00, e-mail: rubtsova-sa@chemi. komisc.ru
 223.  Растровый электронно-ионный микроскоп Helios Nanolab 600i (FEI)
Представляет собой комбинацию фокусированного ионного пучка (ФИП) и сканирующегоэлектронного микроскопа. Предназначен для восстановления 3D-структуры образца посредством послоевого травления образца с помощью ФИП, подготовки образцов для ПЭМ, проведения микроанализа элементов сечения дефекта
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 224.  Просвечивающий крио- электронный микроскоп Titan Krios 60-300 (FEI) с image- корректором сферических аберраций
Предназначен для криопросвечивающей электронной микроскопии, автоматизированного анализа единичных частиц, 2D электронной кристаллографии и двухосевой томографии. Позволяет получать информацию о биологических клетках вплоть до масштаба отдельных молекулярных комплексов
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 225.  Просвечивающий электронный микроскоп Titan 80-300 (FEI) с probe- корректором сферических аберраций
Прибор предназначен для изучения внутренней микро- и нано- структуры исследуемых материалов, их локального химического состава, типа и параметров кристаллической решетки. Латеральное разрешение 0. 79 Ангстрем. Диапазон энергий электронов 80-300 кВ. Энергетическое разрешение EELS 0. 7 эВ, пространственное разрешение 0. 1 нм.
Акилин Олег Владимирович, e-mail: Аkilin_OV@nrcki.ru, тел. : (499) 196-71-00, (915) 423-90-13
 226.  Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 (Carl Zeiss) с энергодисперсионным спектрометром QUANTAX 200 (Bruker)
Комплексная система для дифракции обратно-рассеянных электронов и ЭДС-микроанализа.
Баянова Тамара Борисовна, тел. : (8155) 57-92-18, e-mail: tamara@geoksc. apatity.ru
 227.  Высокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп SU 8280 (Hitachi) с приставкой для EDX анализа
Предназначен для анализа морфологических и химических особенностей поверхности твердых материалов
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 228.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения нанометрических исследований металлов, полупроводников, и диэлектриков.
 229.  Сканирующий электронно-ионный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss)
Позволяет осуществлять ионно-лучевые литографические операции, исследовать микрорельеф поверхности твердых тел, проводить количественный и качественный элементный микроанализ их состава, определять фазовый состав приповерхностных слоев, проводить послойный анализ материалов.
 230.  Сканирующий зондовый микроскоп Multimode 8 (Bruker)
Широкоизвестный своим высоким разрешением, атомно-силовой микроскоп последнего поколения MultiMode® 8 использует эксклюзивную технологию Bruker PeakForce Tapping™ , которая выводит его на новый уровень получаемых научных результатов и обеспечивает непревзойденную простоту управления. Эксклюзивный режим ScanAsyst® позволяет формировать изображение легче, быстрее и более стабильно путем прямого контроля силы взаимодействия зонда и образца и автоматической оптимизации параметров формирования изображения. А режим ScanAsyst-HR обеспечивает в 6 раз более быстрое сканирование при еще большей продуктивности. Количественное картирование свойств материала стало возможным благодаря режиму PeakForce QNM® , в который анализируется взаимодействие зонда и образца для выявления наномеханических свойств, таких как модуль Юнга, адгезия, деформация и др.
Семенов Александр Петрович, тел. : (3012) 43-31-84, e-mail: semenov@ipms. bscnet.ru
 231.  Микроскоп сканирующий электронный EVO 50XVP (Carl Zeiss) c системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа
Конфокальная не лазерная сканирующая микроскопия с программным управлением для решения специальных задач материаловедения с пиксельным разрешением 1280х1024 и латеральным разрешением 320 нм
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 232.  Электронный сканирующий микроскоп TESCAN VEGA-II XMU (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования структуры и состояния поверхности с высоким разрешением.
Жегалло Елена Александровна , тел. : (495) 339-35-11, e-mail: ezheg@paleo.ru
 233.  Сканирующий электронный микроскоп LEO-420 (Carl Zeiss) в комплексе с энергодисперсионным спектрометром INCA Energy
Предназначен для структурных исследований. С помощью LEO-420 были получены важные результаты в различных областях материаловедения, таких как компактирование наноструктурных и внутреннеокисленных порошковых материалов, создание высокопрочных материалов с субмикрокристаллической структурой, разработка композиционных материалов на основе металлических матриц, дискретно-армированных твердыми наночастицами, сварка взрывом.
Карпов Евгений Викторович, тел. : (383) 333-20-51, E-mail: evkarpov@mail.ru
 234.  Сканирующий электронный микроскоп EVO 40EP (Carl Zeiss), укомплектованный системой микроанализа Oxford INCA 350
Получение изображений методом СЭМ проводящих и непроводящих материалов с пространственным разрешением в нанодиапазоне; анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры; количественный и качественный состав анализируемого вещества. Разрешение: вольфрамовый катод - 3, 0 нм; гексаборид лантана - 2, 0 нм; в режиме сверхнизкого вакуума - 4, 5 нм. Ускоряющее напряжение: 0, 2530 кВ. Рабочие токи: 0, 5 пА - 5 мкА. Аналитическое расстояние может быть установлено пользователем в пределах от 8, 5 до 20 мм.
Толстой В. П. , тел. (812) 428-41-04, к. 2224
 235.  Растровый электронный микроскоп LEO EVO-50 (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования поверхностей проводящих и непроводящих материалов и их повреждений, локального химического микроанализа материалов.
Email: lotkov@ispms. tsc.ru, Тел. : (3822) 49-26-96
 236.  Растровый электронный микроскоп LEO 430i (Carl Zeiss)
Исследование микроструктуры и состава поверхности твердых тел для решения задач в области металлургии и материаловедения.
К. Г. Воркачев, тел. (499) 135 94-63
 237.  Растровый электронный микроскоп LEO 1420 (Carl Zeiss)
Анализ поверхности твердых образцов (и порошков) на микронном и субмикронном уровне. Определение элементного состава образцов (рентгеновский микроанализ).
Н. А. Аладьев, тел. (499) 135-94-10
 238.  Растровый электронный микроскоп CX-200 TA (COXEM)
Обладает высоким разрешением и удобен в управлении, поэтому на нем без затруднений можно получить изображение высокого увеличения. Операционная наносистема CX-200 обеспечивает управление автоматизированным столиком одним кликом мыши. Оснащен полностью автоматизированным столиком с пятью осями (X, Y, Z, T, R), что позволяет перемещать образец по желанию оператора.
 239.  Растровый электронный микроскоп SEM-515 (Philips)
Предназначен для топографического и качественного фазового анализа поверхностей металлических и полупроводниковых материалов
Тодуа Павел Андреевич, Телефон: (495) 935-97-77; факс: (495) 935-96-90, E-mail: fgupnicpv@mail.ru.
 240.  Настольный универсальный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 pro (Phenom-World)
Наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom. Благодаря улучшенным техническим характеристикам детектора обратно рассеянных электронов, новому источнику электронов CeB6 (гексаборид церия) и новой обзорной цветной камере для навигации, Phenom G2 pro стал самым мощным микроскопом своего класса. Диапазон увеличений микроскопа Phenom G2 pro составляет от 80 до 45, 000 крат. Управление посредством сенсорного экрана и мыши обеспечивает удобную, быструю работу и более точную навигацию по исследуемому образцу. Время получения изображение с высоким разрешением всего 30 секунд. Не требует высокой квалификации пользователя.
 241.  Просвечивающий электронный микроскоп ЭМВ-100 БР
Позволяет проводить исследования микроструктуры и фазового состава различных объектов на просвет. Разрешающая способность прибора при работе в режиме высокого разрешения составляет ЭМВ-100 БР по точкам-0, 5 нм. Диапазон электронно-оптического увеличения в режиме высокого разрешения от 100х до 600000х.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 242.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-840 (JEOL)
Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики. Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 243.  Система для производства фотошаблонов JBX-3050MV (JEOL)
Предназначена для производства микросхем с высокими степенями интеграции. Обладает высокими однородностью и плотностью пучка (до 40А/ см2), возможностью изменять форму пучка, проводить векторное сканирование. Данная система вобрала все лучшие качества предыдущих моделей, включая лидера продаж десятилетия – JBX-3040MV. Она отличается высокой надежностью и производительностью, и, благодаря этому, за столь короткий период прекрасно себя зарекомендовала на ведущих предприятиях мира.
 244.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 6490 LV (JEOL), оборудованный системой микроанализа
Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний. На колонну микроскопа можно одновременно монтировать от одного до трёх дополнительных спектрометров. Энерго-дисперсионный спектрометр (EDS), волновой спектрометр (WDS), детектор картин дифракции отражённых электронов (EBSD). С помощью этих аналитических приставок вы сможете получать информацию не только о морфологии поверхности, но и о составе образца на субмикронном уровне, получать картины распределения элементов по выбранной площади образца, вдоль линии, а также кристаллографическую информацию от микрозёрен. Важно, что спектрометры работают в единой программе.
Химический факультет МГУ имени М. В. Ломоносова, кафедра неорганической химии, Москва, Ленинские горы, д. 1 корп. 3, ответственный: Казаков С. М. , тел. (495)-939-2074, e-mail: root@inorg. chem. msu.ru
 245.  Растровый электронный микроскоп Quanta 600 (FEI)
Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим x100, 000; с большим числом элементов разложения (пикселов). Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости.
 246.  Электронный сканирующий микроскоп JSM 7700F (JEOL) в комплекте с приставкой для энергодисперсионного анализа JED 2300 и напылительной установкой
Сканирующий электронный микроскоп используется в различных областях, таких как медицинские, биологические , металлов, полупроводников и керамики, его область применения постоянно расширяется. В сочетании с другими устройствами его способности увеличиваются.
тел. / факс: (4232) 313-799, e-mail: chemi@online.ru
 247.  Растровый электронный микроскоп JSM-6495 (JEOL)
Предназначен для исследования топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция). Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)
 248.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6610LV (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-350
Исследование морфологии и структуры поверхности твердых веществ и материалов, а также локальный микроанализ. Прибор - многопользовательская система с двумя детекторами. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 249.  Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Позволяет исследовать морфологию поверхности образца с высоким разрешением (до 1 нм в электронном пучке и до 7 нм в ионном). Прекрасный инструмент для приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии, резки и напыления материалов с помощью различных шаблонов с высоким разрешением. Обладает несколькими детекторами позволяющими получать прекрасный контраст на Ваших образцах.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 250.  Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Позволяет установить атомную и молекулярную структуру материалов с разрешением до 0, 1 нм.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 251.  Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SupreX детектором
Cовременный просвечивающий электронный микроскоп с электронной пушкой XFEG, имеющий высокое разрешение до 0, 12 нм в светлопольном режиме и до 0, 18 нм в STEM-режиме, с новейшим сверхбыстрым и эффективным (в режиме реального времени) EDX-анализатором (Super-X SDD), с возможностью построением карт распределения элементов в образце с разрешением менее 1 нм.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 252.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 (JEOL) с энергодисперсионным анализатором Inca-250
Данный электронный микроскоп обладает высоким разрешением - 0. 134 нм. Ускоряющее напряжение 200 кВ Электронная пушка из гексаборида лантана обеспечивает стабильный электронный пучок. Имеется НААДФ детектор. JEM-2100 управляется персональным компьютером со специализированным ПО типа GATAN. Имеются приставки ЭДС на базе Inca-350 и сканирующая приставка STEM.
Дроздов Владимир Анисимович, тел. : (3812) 67-22-16, e-mail: drozdov@ihcp.ru
 253.  Просвечивающий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEOL JEM-ARM200F
Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне. Разрешение в растровом просвечивающем режиме составляет (STEM-HAADF) 0, 08 нм, что является наивысшим значением в мире среди серийных моделей электронных микроскопов. Электронный зонд после коррекции всех аберраций отличается тем, что он имеет на порядок большую плотность тока по сравнению с обычными просвечивающими электронными микроскопами. При тонкой фокусировке такого зонда микроскоп JEM-ARM200F позволяет проводить анализ на атомном уровне при значительном сокращении времени измерения и повышения производительности исследований.
 254.  Термополевой просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-3200FS
Единственный в мире 300 кВ просвечивающий электронный микроскоп, имеющий встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр. Благодаря Омега-фильтру этот прибор позволяет не только получать изображения с высоким разрешением, но и становится великолепным аналитическим инструментом, позволяющим делать элементный анализ на атомарном уровне. Новая электронная оптика исключает паразитный поворот изображения, что обеспечивает не только удобство работы в режимах ПЭМ и дифракции, но и в режиме получения энергетических спектров. Помимо Омега-фильтра, прибор имеет ряд других уникальных особенностей, например, это пьезо-гониометр, обеспечивающий перемещения образца с ангстремной точностью.
 255.  Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JCM-6000 Neoscope II
Настольный растровый электронный микроскоп с вольфрамовым источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов, он обладает намного большей глубиной фокуса и несравнимо лучшим разрешением. Как следствие этого, JCM-6000 может работать в диапазоне увеличений от x10 до х60000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры, возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-6000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве.
 256.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-IT300
Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 300 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пяти осевой моторизованный столик может выдерживать вес образца до 2 килограмм включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления. Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия. В микроскопе реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих биологических образцов без предварительной пробоподготовки.
 257.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7100F
Микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА). Благодаря уникальной конструкции электронно-оптической колонны достигается высокая стабильность пучка во времени, что очень важно при использовании методов энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции.
 258.  Автоэмиссионный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500F
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1, 4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков. Низкая чувствительность к вибрациям пола и акустическим шумам существенно снижают требования по подготовке помещения для установки прибора. Полностью обновленный интерфейс позволит даже начинающим операторам автоэмиссионных растровых микроскопов чувствовать себя уверенно рядом с данным прибором и получать хорошие результаты.
 259.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7600F
Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1, 2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки In-lens , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах. Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным. Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах. На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL. Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров
 260.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп высокого разрешения JSM-7800F (JEOL)
Позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их. Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/ шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.
 261.  Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi)
Получение изображения в обратно-отражённых электронах от 100х до 30 000х; морфологические исследования микрообразцов; полуколичественный анализ атомного состава
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 262.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6510 LV (JEOL)
Компактный многоцелевой РЭМ с предельной простотой управления и высоким качеством оптики. Данный микроскоп создан для удовлетворения запросов как самых взыскательных исследователей, так и инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Все возможности инструмента доступны даже начинающим пользователям. Интуитивно понятный интерфейс. Все операции по управлению микроскопом могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
 263.  Электронный сканирующий микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss) со спектрометрами
Позволяет определять структуру и фазовый состав приповерхностных слоев наноструктурированных материалов, осуществлять их послойный анализ и модификацию, проводить 3D реконструкцию, а также проводить механические испытания в колонне микроскопа при различных температурах.
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 264.  Электронный микроскоп LYRA3 GMU (Tescan) с FIB
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратно - рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного спектрометра (EDS). Послойное удаление материала для проведения анализа дефектов в зависимости от глубины в материале. Модификация поверхности образцов сфокусированным пучком ионов галлия.
Тимофеев Алексей Афанасьевич, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9105, e-mail: AATimofeev@mephi.ru
 265.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 SBH (Tescan)
Сканирующая электронная микроскопия
Гордеев Алексей Алексеевич, тел. (495) 788-56-99, доб. 8785, e-mail: gordeev@plasma. mephi.ru
 266.  Настольный электронный микроскоп SemTrac mini (Microtrac Inc. )
Исследование топографии и структуры поверхности методом РЭМ, получение изображения во вторичных и обратно-рассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава.
Каргин Николай Иванович, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru
 267.  Растровый электронный микроскоп Jeol JSM-6610lv (Jeol)
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных электронов.
Баранов Виталий Георгиевич, тел. 8 (495) 788-56-99, доб. 9044; Тенишев Андрей Вадимович, тел. 8 (495) 788-56-99 доб. 9804, e-mail: AVTenishev@mephi.ru
 268.  Сканирующий электронный микроскоп Sigma (Carl Zeiss)
Электронный микроскоп Sigma предназначен для исследования морфологии и химического состава материалов природного и искусственного происхождения с высокой разрешающей способностью
Корпус НИС, НИИПТ, НИО-2, ауд. Н-101 Мерсон Дмитрий Львович тел. (8482) 53-91-69 E-mail: D. Merson@tltsu.ru
 269.  Микроскоп сканирующий лазерный конфокальный 3D LEXT4000 (Olympus)
Проведение микроскопический исследований структурных характеристик объектов
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 270.  Растровый электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом JEOL JSM-7800F PRIME
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с супергибридной объективной линзой, в котором реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики. Пространственное разрешение - 0, 7 нм при 15 кВ; 0, 7 нм при 1 кВ; 3нм при 15 кВ, на рабочем отрезке 10 мм и токе зонда 5 нА (режим анализа). Электронная пушка - термополевая, типа Шоттки. Ускоряющее напряжение - от 0, 01кВ до 30 кВ. Диапазон токов пучка - до 500 нA. Диапазон увеличений - от х25 до х1000000. Столик образцов - большой, эвцентрического типа, диапазон перемещений: Х: 70мм, Y: 50мм, Z: от 2 до 25 мм. Наклон от -5 до 70 градусов. Вращение 360 градусов.
 271.  Просвечивающий электронный микроскоп Titan™ Themis (FEI)
Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему и чувствительную технологию ChemiSTEM™ , с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин.
 272.  Просвечивающий электронный микроскоп TALOS (FEI)
Обеспечивает быстрый и точный количественный анализ материалов в нескольких измерениях. В нем объединены выдающаяся визуализация и высокое разрешение в режиме STEM с лучшим детектированием сигнала EDX, химическим анализом 3-мерных объектов и функцией картирования.
 273.  Просвечивающий электронный микроскоп TECNAI (FEI)
Предназначен для получения изображения до уникальных, сложных экспериментов, требующих наличия превосходных аналитических возможностей. Tecnai поддерживает широкий диапазон методов, включая режим сканирующей просвечивающей микроскопии, спектроскопический анализ и 3D-томографию.
 274.  Микроскоп LEXT OLS4000 (Olympus)
1. Измерения разности высот между двумя произвольными точками на профиле поверхности. 2. Измерения объёма (или площади) геометрии выше или ниже уровня, установленного пользователем. 3. Измерения расстояния между двумя произвольными точками на поверхности. 4. Измерение шероховатости вдоль линии и на плоскости. 5. Автоматически разделять частицы с помощью функции разделения. 6. Измерять толщину прозрачной плёнки. 7. Автоматически определять края объектов на изображении, исключая ошибки оператора.
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 275.  Микроскоп сканирующий STEMI 2000C (Carl Zeiss)
Исследование и цифровая съёмка поверхности деталей
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 276.  Микроскоп сканирующий Amray-1830I Econ
Исследование поверхности материалов и деталей при увеличениях до 200000 раз, анализ состава веществ с помощью рентгеноспектрального микроанализа
Баженов Владислав Владимирович, тел. : (343) 702-80-01, e-mail: Bazhenov. V. V@nrdc.ru
 277.  Просвечивающий электронный микроскоп CM-30 SuperTwin (FEI) с системой сканирования и энергодисперсионного спектрометра EDAX
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системой сканирования и энергодисперсионным спектрометром EDAX для элементного анализа.
 278.  Сканирующий микроскоп SEM 3800B (KYKY Technology Development)
Сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B снабжен 3 линзами и может приближать до 250, 000 X. сканирующий электронный микроскоп с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200 В до 30 кВ электронный микроскоп сканирует исследуемый образец электронным лучом. Измеряет интенсивность квантов, испускаемых образцом.
 279.  Установка прецизионной контактной фотолитографии SUSS MJB4 IR (i-, g-, h-, line UV и DUV (λ =200-250 нм. ))
Предназначена для прецизионной контактной фотолитографии
 280.  Микроскоп МИИ-4
Предназначен для измерения толщины нано-пленок
Петров Виктор Владимирович, тел. : 8634 371635, e-mail: vvpetrov@sfedu.ru, hie@sfedu.ru
 281.  Растровый электронный микроскоп JSM 7500F (JEOL)
Исследование нано- и микроструктуры, элементного состава материалов методами растровой электронной микроскопии.
Соколов Михаил Евгеньевич, тел. : 861 2199618, e-mail: sokolovme@mail.ru
 282.  Программно-аппаратный комплекс JEOL JSM-6610LV для микроанализа и морфологического анализа поверхности (растровый электронный микроскоп)
Предназначен для микроанализа и морфологического анализа поверхности
Супонев Николай Петрович, тел. : 4822 58-14-93 (доб. 107), e-mail: Nick. Suponev@tversu.ru
 283.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Исследование морфологии неорганических материалов на наноуровне, вплоть до атомного разрешения; исследование фазового состава неорганических материалов; определения элементного и химического состава локальных участков образцов с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (EELS); пространственное распределение химических элементов (EDS, EELS).
Первухин Сергей Васильевич, тел. : 391 2912848, e-mail: spervukhin@sfu-kras.ru
 284.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490 LV (JEOL)
Предназначен для топографического качественного фазового анализа поверхностей; исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения; возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).
Первухин Сергей Васильевич, тел. : 391 2912848, e-mail: spervukhin@sfu-kras.ru
 285.  Растровый электронный микроскоп JSM-7001F (JEOL)
Морфология поверхности различных материалов неорганического происхождения, получение изображения во вторичных и отраженных электронах; полуколичественный и количественный элементный анализ поверхности (до субмикронного уровня), картирование фаз; микроструктурный анализ: текстурный анализ, построение карт ориентировки кристаллитов, дискриминация фаз и построение карт распределения кристаллических фаз, определение размера и формы зерен, определение типа границ, построение полюсных фигур
Первухин Сергей Васильевич, тел. : 391 2912848, e-mail: spervukhin@sfu-kras.ru
 286.  Двухлучевая исследовательская система SEM-FIB JIB-4501 (JEOL)
Электронно-ионный микроскоп для изучения образцов нанопорошков и наноструктур
Винокуров Владимир Арнольдович, тел. : 7916 6734181, e-mail: vinok_ac@mail.ru
 287.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100
JEM-2100 построен на основе легендарного ПЭМ JEM-2010, который долгое время считался стандартом де факто в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал наилучшие показатели надежности, качества изображений и аналитических возможностей среди всех 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения. JEM-2100 имеет улучшенную систему управления и более совершенную защиту от вибраций. На прибор можно устанавливать различные приставки: ЭДС и сканирующую приставки, различные детекторы (темного поля, вторичных и обратно-рассеянных электронов, и т. д. ), держатели с охлаждением или нагревом, и т. п. Использование в приборе катода из гексаборида лантана (LaB6) существенно снижает стоимость владения данным прибором. Ускоряющее напряжениеот 80кВ до 200 кВ Разрешение по точкам0. 19 нм Разрешение по линиям0. 14 нм Электронная пушкаLaB6 УвеличениеX50 – x1, 500, 000
Винокуров Владимир Арнольдович, тел. : 7916 6734181, e-mail: vinok_ac@mail.ru
 288.  Электронный микроскоп Zeiss Supra 55 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области эмиссионной электронной микроскопии
Шелупанов Александр Александрович, тел. : 3822 510530, e-mail: office@tusur.ru
 289.  Растровый электронный микроскоп-литограф МС20. 2
Предназначен для изучения поверхности вещества, возможность использования электронной литографии
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 290.  Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000
Предназначен для проведения лабораторных занятий студентами ВУЗ-ов, для выполнения студентами и аспирантами ВУЗ-ов исследовательской части работ при выполнении курсовых и дипломных проектов, а также для применения в ходе выполнения НИР и НИОКР научным и преподавательским составом ВУЗ-ов. Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000 имеет два режима работы: он работает как сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и как атомно-силовой микроскоп (АСМ). Оба принципа открыты недавно (Нобелевская премия по физике 1986 года), но уже нашли широчайшее применение во всех отраслях науки и техники и стали фактически стандартным научным и технологическим оборудованием для нанотехнологий. Достоинствами этих типов микроскопов являются возможность работы без вакуума (в отличии от электронных микроскопов), высочайшее разрешение (вплоть до атомарного), надёжность, доступность для понимания, малые габариты и стоимость.
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 291.  Растровый электронный микроскоп S3400n (Hitachi)
Предназначен для микроструктурных исследований, количественного элементного анализа металлических, керамических, полупроводниковых, полимерных материалов
Башков Олег Викторович, тел. : 4217 241148, e-mail: ckp@knastu.ru
 292.  Цифровой микроскоп EQ-MM500T-USB (MTI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Панченко Евгений Михайлович. , тел. : 863 2433676, e-mail: eugen@ip. rsu.ru
 293.  Учебная нанолаборатория NanoEducator-8 Basic
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области нанотехнологий с использованием сканирующего микроскопа высокого разрешения
Романов Евгений Михайлович, тел. : 8362 686061, e-mail: rector@marstu. net
 294.  Аналитический растровый электронный микроскоп JSM-6390LA (Jeol)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения
Олишевский Даниил Петрович, тел. : 863 2220903, e-mail: ckp@rctt.ru
 295.  Электронный просвечивающий микроскоп Tecnai G2 Spirit (FEI) с системой пробоподготовки
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии сверхвысокого разрешения
Федоренко Григорий Мефодьевич, тел. : 863 2433644, e-mail: gfedorenko@mail.ru
 296.  Растровый электронный микроскоп Tescan VEGA II LMU с микроскоп с системами энергодисперсионного и волнодисперсионного микроанализа INCA
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Левченко Сергей Васильевич, тел. : 863 2225701, e-mail: levchenko@sfedu.ru
 297.  Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JSM-7001F (JEOL)
Предназначен для растровой электронной микроскопии
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 298.  Растровый электронный микроскоп Qunta 200 (FEI) с системами комбинированного энергодисперсионного и волнового микроанализа, дифракции обратно рассеянных электронов, катодолюминисценции
Растровая электронная микроскопия. Рентгеновский микроанализ. Катодолюминисценция. Анализ картин дифракции обратно-отраженных электронов. Картирование поглощенного тока.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 299.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Предназначен для общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения
Тодуа Павел Андреевич, тел. : 495 4088188, e-mail: info@ckpmipt.ru
 300.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom proX (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Козлов Дмитрий Владимирович, e-mail: KozlovDV@ulsu.ru
 301.  Трансмиссионный электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Трансмиссионный электронный микроскоп Libra-120 оборудован цифровой камерой захвата изображения, криоприставкой, держателем для томографических исследований с целью создания 3-D изображения ультраструктур, приставкой для проведения элементно-дисперсионного анализа тканевых образцов, Омега-фильтром, позволяющим существенно усиливать контраст и исследовать неконтрастированные образцы. Микроскоп, предназначен для проведения биомедицинских исследований с одновременным проведением локального химического анализа, с регулируемым ускоряющим напряжением до 120 кВ. Позволяет работать с фиксированными биологическими образцами низкого контраста в просвечивающем режиме и в режиме томографии с получением серии снимков образцов с дальнейшей возможностью их автоматической реконструкции в трехмерное изображение с отображением внутренней структуры произвольно выбранных участков. Обладает возможностью наблюдать изображение на флуоресцентном экране и мониторе цифровой системы захвата изображений в широком диапазоне увеличений без изменения фокуса и астигматизма, и возможностью независимого управления яркостью пучка и размером освещаемой площади. В комплектацию к микроскопу входит ультрамикротом UMC-6 (Leica, Германия) с набором алмазных ножей, предназначенный для приготовления ультратонких (50-70 нм) срезов.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 302.  Электронный просвечивающий микроскоп высокого разрешения JEM-2200FS-CS (JEOL)
Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп просвечивающего типа фирмы Jeol (JEM-2200FS-CS) предназначен для исследования атомной структуры вещества с одновременным проведением локального химического анализа с возможностью визуализации картин распределения химических элементов по площади исследуемых объектов. Данный микроскоп обеспечивает возможность изучения широкого класса материалов, таких как ультрадисперсные и нанофазные объекты химии и катализа; неорганические материалы, включая высокотемпературные сверхпроводники и различные формы углерода (фулерены, бакитрубки, алмазы и алмазоподобные вещества); новые материалы полупроводниковой твердотельной электроники, включая системы пониженной размерности; природные материалы различного генезиса; объекты биологии и биомедицины. Микроскоп обеспечивает работу в режимах высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (ВРЭМ), сканирующей просвечивающей микроскопии (СПМ), темного и светлого поля, включая HAADF-режим, получение дифракционных картин, включая дифракцию в сходящихся пучках, проведение спектрального анализа и картирования с помощью EDS и EELS. Разрешающая способность: по точкам – 0, 19 нм; по решетке – 0, 1 нм; в режиме картирования – 0, 2 нм; в режиме HAADF – 0, 14 нм.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 303.  Отражательный электронный микроскоп Tabletop Microscope ТМ-1000 (Hitachi)
Настольный отражательный электронный микроскоп Tabletop Microscope TM-1000 (Hitachi, Япония) - прекрасная альтернатива оптическому микроскопу, когда требуется более высокое разрешение. Может быть использован для многих приложений, включая изучение биологических объектов, пищевую промышленность, фармацевтическую продукцию, исследование полупроводниковых объектов и др. материалов.
Аржанников Андрей Васильевич, тел. : 383 3634019, e-mail: nsm@nsm. nsu.ru
 304.  Микроскоп электронный BC-500 (Tesla-Brno)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 305.  Система микроанализа EVEX Sirius SD 10133 LE (Carl Zeiss)
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 306.  Электронный растровый микроскоп EVO LS 10 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 307.  Микроскоп электронный сканирующий с элементным анализом EVEX Mini SEM SX-3000 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Дресвянников Александр Федорович, тел. : 8843 2314316, e-mail: nich140@mail.ru
 308.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA 3 LMU
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Карацупа Сергей Викторович, тел. : 4722 553615, e-mail: cupik@yandex.ru
 309.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LV (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 310.  Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 311.  Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии сверхвысокого разрешения
Попов Василий Николаевич, тел. : 473 2207533, e-mail: popov@vsu.ru
 312.  Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 313.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 314.  Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Иванов Олег Николаевич, тел. : 4722 585438, e-mail: Ivanov. Oleg@bsu. edu.ru
 315.  Электронный микроскоп SigmaVP (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 316.  Электронный микроскоп с системой электронной литографии Nova NanoLab 600
Предназначен для исследования внутреннего строения объектов на микро- и наноуровнях, создания трехмерных изображений образцов. Совместное использование фокусированных электронного и ионного пучков позволяет совмещать операции модификации подложек с выполнением анализа и контроля параметров технологического процесса. В состав Nova 600 входят: электроннолучевая колонна, оснащенная катодом с полевой эмиссией, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 1, 1 нм при 15 кВ; ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 7 нм; 4-х канальная газовая инжекционная система; система энергодисперсного рентгеновского микроанализа EDAX GENESIS 6000i; система электронно-лучевой литографии Raith DELPHY 6 MHZ. Система оснащена 5-ти осевым программно-управляемым моторизованным предметным столиком (150х150х10 мм), позиционирующим образец с высокой точностью
Поляков Вадим Витальевич, тел. : 8634 371767, e-mail: vpolyakov@sfedu.ru
 317.  Специализированный исследовательский комплекс Phenom на базе сканирующего электронного микроскопа с расширенными функциональными возможностями
Электронный микроскоп с комбинацией световой и электронно-оптической технологий и системой пробоподготовки образцов. Разрешение - 30 нм Идентификация морфологии частиц малых размеров: бактерии, клетки, пыльца растений, металлы, объекты судебной медицины и др. Интерактивная система, мгновенная загрузка образцов с габаритными размерами до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину.
Поляков Вадим Витальевич, тел. : 8634 371767, e-mail: vpolyakov@sfedu.ru
 318.  Настольный растровый электронный микроскоп Evex mini-SEM
Исследование структур и материалов методами РЭМ и рентгеновского микроанализа.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 319.  Двухлучевая система с интегрированным сканирующим лазером - Электронный микроскоп Zeiss Auriga
Исследование структур и материалов с нанометровым разрешением методами РЭМ; наномодификация структур и материалов методами ФИП, в том числе пробоподготовка для ПЭМ; микромодификация структур и материалов лазерным лучом.
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 320.  Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi)
Предназначен для структурных исследований вещества с применением настольного электронного сканирующего микроскопа
Кулешов Николай Васильевич, тел. : 495 3627096, e-mail: KuleshovNV@mpei.ru, kuleshovnv@rambler.ru
 321.  Просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-2100HC
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 200 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов для: - Электронно-микроскопической томографии; - Криоэлектронной микроскопии (Cryo-TEM); - Изучения структуры крупных белков, белковых комплексов (Single particle analysis); - Изучения тонкой структуры биологических объектов
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 322.  Электронный микроскоп JSM-25S (JEOL)
Предназначен для исследования микрорельефа биологических объектов
Метелёв Сергей Иванович, тел. : (4854) 72-45-16, e-mail: semet@ibiw. yaroslavl.ru
 323.  Электронный микроскоп LEO-1420 (Сarl Zeiss)
Предназначен для исследования микрорельефа биологических объектов
Метелёв Сергей Иванович, тел. : (4854) 72-45-16, e-mail: semet@ibiw. yaroslavl.ru
 324.  Электронный микроскоп JEM-1011 (JEOL)
Для исследования ультраструктуры биологических объектов
Метелёв Сергей Иванович, тел. : (4854) 72-45-16, e-mail: semet@ibiw. yaroslavl.ru
 325.  Электронный микроскоп JSM-6510VL (JEOL)
Для исследования микрорельефа биологических объектов
Метелёв Сергей Иванович, тел. : (4854) 72-45-16, e-mail: semet@ibiw. yaroslavl.ru
 326.  Электронный микроскоп JEM-100C (JEOL)
Для исследования ультраструктуры биологических объектов
Метелёв Сергей Иванович, тел. : (4854) 72-45-16, e-mail: semet@ibiw. yaroslavl.ru
 327.  Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком VERSA 3D HighVac (FEI)
VERSA 3D HighVac – прибор, комбинирующий в себе возможности сканирующего электронного микроскопа и фокусированного ионного источника, предназначен для проведения исследований структуры и элементного состава поверхности образцов, а также их приповерхностных слоев. С помощью системы газо-химии на поверхность образца можно наносить проводящие покрытия и формировать микроструктуры. Специальное программное обеспечение позволяет проводить реконструкцию и визуализацию 3D структуры материала.
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 328.  Система многопараметрического анализа ImageXpress MicroXL (Molecular)
Предназначена для биомедицинских исследований методами оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Акатов Владимир Семенович, тел. : (4967) 73-94-52, e-mail: v-akatoff@rambler.ru
 329.  Сканирующий электронный микроскоп PHILIPS SEM505 SEM 505
Исследование поверхностей твердофазных материалов и оценка элементного состава
Кисин Александр Вадимович, тел. : (495) 673-59-70, e-mail: kisin@eos. su
 330.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп предназначен для исследования микро- и наноструктуры поверхности различных образцов. Оснащение приставками для ЭДС, ВДС и ДОРЭ позволяет проводить анализ элементов от бора до урана, изучать структуру и текстуру кристаллов
Исхакова Людмила Дмитриевна, тел. : (499) 503-83-09, e-mail: ldisk@fo. gpi.ru
 331.  Просвечивающий электронный микроскоп Morgagni 268-D (FEI)
Изучение ультратонкой организации зоологических объектов
Ананьева Наталья Борисовна, тел. : (812) 323-31-40, e-mail: natalia_ananjeva@yahoo.com
 332.  Микроскоп электронный сканирующий с энергодисперсионной приставкой и EBSD детектором Vega 3 LMH (TESCAN)
Получение электронно-микроскопических изображений и определение элементного сотава и кристаллической структуры исследуемого вщества
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 333.  Нанотехнологический комплекс НаноФаб-100 (НТ-МДТ)
НТК предназначен для разработок и серийного производства различных наноструктур, наноэлементов и нанообъектов на их основе, а также для исследования наноструктурированных материалов, измерения состава и визуализации наноэлементов при разработке и создании многофункциональных защитных покрытий с помощью пучково-плазменной технологии ионного легирования.
Удовиченко Сергей Юрьевич, тел. : 3452 542008-135, e-mail: udotgu@mail.ru
 334.  Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп LIBRA® 200MC (Carl Zeiss)
Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения объединяет в себе встроенный в колонну энергетический ОМЕГА-фильтр, высокоэффективный автоэмиссионный эмиттер и систему освещения образца по Кёлеру. Использование ОМЕГА-фильтра позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества при исследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 335.  Микроскоп инфракрасный HYPERION 3000 в комплекте
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Косяков Дмитрий Сергеевич, тел. : 8182 216100, e-mail: kosyakov@mail.ru
 336.  Cверхвысоковакуумный отражательный электронный микроскоп СВВ-ОЭМ
In-situ исследования атомных процессов на поверхности кристаллов в сверхвысоковакууумных условиях.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 337.  Электронно-лучевой нанолитограф Raith 150 - TWO
Сканирующая электронная микроскопия, литография электронным лучем
Мальцев Петр Павлович, тел. : (499) 123-44-64, e-mail: iuhfseras2010@yandex.ru
 338.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100F (JEOL)
Исследования методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения
Конников Самуил Гиршевич, тел. : (812) 292-79-68, e-mail: konnikov@mail. ioffe.ru
 339.  Трансмиссионный электронный микроскоп JEM 1400 (JEOL)
Оборудование для микроскопических исследований
Бузуева Ирина Ивановна, тел. : (383) 334-89-61, e-mail: ibuzueva@physiol.ru
 340.  Электронный микроскоп ЭВМ100АК
Предназначен для биомедицинских исследований с использованием методов электронной микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Стадников Александр Абрамович, тел. : (3532) 77-22-75, e-mail: orgma-innova@mail.ru
 341.  Высокочастотный широкополосный импульсный акустический микроскоп WFPAM-25
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 342.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2010 (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Прохоров Вячеслав Максимович, тел. : (499) 272-23-14, e-mail: pvm@tisnum.ru
 343.  Микроскоп МПБ-2
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
 344.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMН (TESCAN)
Электронная микроскопия
Гринь Евгений Алексеевич, тел. : (495) 234-74-04, e-mail: vti@vti.ru
 345.  Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп LEO SUPRA 25 (Carl Zeiss)
Предназначен для общенаучных экспериментов в области автоэмиссионной микроскопии. Разрешение 1. 5 нм на 20 кВ, 2 нм на 1 кВ.
Домашнев Игорь Анатольевич, тел. : (496) 522-13-75, e-mail: dia@icp. ac.ru
 346.  Трансмиссионный электронный микроскоп LEO-906 (Carl Zeiss)
Трансмиссионный электронный микроскоп Libra-120 оборудован цифровой камерой захвата изображения, криоприставкой, держателем для томографических исследований с целью создания 3-D изображения ультраструктур, приставкой для проведения элементно-дисперсионного анализа тканевых образцов, Омега-фильтром, позволяющим существенно усиливать контраст и исследовать неконтрастированные образцы. Микроскоп, предназначен для проведения биомедицинских исследований с одновременным проведением локального химического анализа, с регулируемым ускоряющим напряжением до 120 кВ. Позволяет работать с фиксированными биологическими образцами низкого контраста в просвечивающем режиме и в режиме томографии с получением серии снимков образцов с дальнейшей возможностью их автоматической реконструкции в трехмерное изображение с отображением внутренней структуры произвольно выбранных участков. Обладает возможностью наблюдать изображение на флуоресцентном экране и мониторе цифровой системы захвата изображений в широком диапазоне увеличений без изменения фокуса и астигматизма, и возможностью независимого управления яркостью пучка и размером освещаемой площади. В комплектацию к микроскопу входит ультрамикротом UMC-6 (Leica, Германия) с набором алмазных ножей, предназначенный для приготовления ультратонких (50-70 нм) срезов.
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 347.  Сканирующий электронный миркоскоп Quanta 200 (FEI)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Александр Иосифович Непомнящих, тел. : (395) 251-14-66, e-mail: dir@igc. irk.ru
 348.  Цифровой микроскоп Motic DMBA
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Ильясов Сергей Гаврилович, тел. : (3854) 30-59-37, e-mail: ilysow@ipcet.ru
 349.  Сканирующий электронный микроскоп Phenom (FEI)
Предназначен для исследований с применением электронной сканирующей микроскопии высокого разрешения
Хосаев Хазби Сахамович, тел. : 8672 407166, e-mail: uni207@mail.ru
 350.  Микроскоп электронный сканирующий JSM 6390LV (Jeol)
Электронная сканирующая микроскопия
Вотяков Сергей Леонидович, тел. : (343) 371-19-97, e-mail: director@igg. uran.ru; Щапова Юлия Владимировна, e-mail: shchapova@igg. uran.ru
 351.  Электронный микроскоп LEO-912 AB (Carl Zeiss)
Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Эттингер Александр Павлович, тел. : (495) 434-14-01, e-mail: oett@rsmu.ru
 352.  Электронный микроскоп HU-12 и HS-9 (Hitachi)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Эттингер Александр Павлович, тел. : (495) 434-14-01, e-mail: oett@rsmu.ru
 353.  Сканирующий электронный микроскоп Evo 40 (Carl)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Адрианов Андрей Владимироваич, тел. : (423) 231-09-05, e-mail: inmarbio@mail. primorye.ru
 354.  Трансмиссионный электронный микроскоп Libra 200 FE HT (Carl)
Оборудование для микроскопических исследований
Адрианов Андрей Владимироваич, тел. : (423) 231-09-05, e-mail: inmarbio@mail. primorye.ru
 355.  Трансмиссионый электронный микроскоп Libra120 (Carl)
Оборудование для микроскопических исследований
Адрианов Андрей Владимироваич, тел. : (423) 231-09-05, e-mail: inmarbio@mail. primorye.ru
 356.  Настольный электронный микроскоп Hitachi TM-1000
Предназначен для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Ковалева Оксана Анатольевна, тел. : (4862) 47-51-71, e-mail: iniic@mail.ru
 357.  Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI) с системой Pegasus для элементного и текстурного анализа
Предназначен для исследований микроструктуры, текстуры, фазового и элементного состава, фрактографии любых неорганических и органических объектов, включая живые, с высоким разрешением. Оборудован системой PEGASUS (системой сканирования для формирования изображений в обратно отраженных и вторичных электронах, а также в характеристическом рентгеновском излучении, энергодисперсионным спектрометром EDAX для элементного анализа, системой EBSD для структурно-текстурного анализа), тремя вакуумными режимами, в том числе в газопаровой среде для живых объектов, непроводящих образцов и изучения коррозии.
Ринкевич Анатолий Брониславович, тел. : (343) 374-43-31, e-mail: rinkevich@imp. uran.ru
 358.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200CX (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Ринкевич Анатолий Брониславович, тел. : (343) 374-43-31, e-mail: rinkevich@imp. uran.ru
 359.  Просвечивающий электронный микроскоп СМ30 Philips CM30 (FEI)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Ринкевич Анатолий Брониславович, тел. : (343) 374-43-31, e-mail: rinkevich@imp. uran.ru
 360.  Просвечивающий электронный микроскоп G2 Tecnai G2 (FEI)
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системами сканирования, GATAN картирования изображений, спектроскопии потерь энергии электронов EELS и энергодисперсионным спектрометром EDAX для элементного анализа. Оснащен комплектом приставок для нагрева, охлаждения, деформации in situ.
Ринкевич Анатолий Брониславович, тел. : (343) 374-43-31, e-mail: rinkevich@imp. uran.ru
 361.  Система элементного анализа X-ray nanoanalysis (EDS/ EDX) для сканирующего электронного микроскопа Evex MINI-SEM
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Ковров Владимир Николаевич , тел. : (342) 237-83-17, e-mail: kovrov@icmm.ru
 362.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 6390 (JEOL)
Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Созинов Сергей Анатольевич, тел. : (3842) 28-14-76, e-mail: sozinov71@mail.ru
 363.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 PRO (Phenom-World) 43016576
Исследование структуры материалов
Орлов Михаил Романович, тел. : (499) 263-88-81, e-mail: admin@viam.ru
 364.  Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения S-5500 (Hitachi)
Получение изображения во вторичных электронах от 100х до 2 000 000х; морфологические исследования микрообразцов
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 365.  Настольный электронный микроскоп SEM ТМ-1000 (Hitachi)
Получение изображения в обратно-отражённых электронах от 20х до 10 000х; морфологические исследования микрообразцов
Рубайло Анатолий Иосифович, тел. : (391) 290-55-40, e-mail: rai@icct.ru
 366.  Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (HITACHI)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Кульчин Юрий Николаевич, тел. : (423) 231-04-39, e-mail: director@iacp. dvo.ru
 367.  Сканирующий электронный микроскоп с EDS и WDX детекторами HITACHI S-3400N
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Кульчин Юрий Николаевич, тел. : (423) 231-04-39, e-mail: director@iacp. dvo.ru
 368.  Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 369.  Технологический комплекс групповой сборки кристаллов и соединения пластин Substrate bonder SB6 (Suss)
Сборка кристаллов и соединения пластин
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 370.  Сверхвысоковакуумный многокамерный нанотехнологический комплекс НаноФаб 100 (НТ-МДТ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 371.  Система дифракции обратно рассеянных электронов EDAX TSL (EBSD)
Для исследования кристаллографических ориентаций многих материалов, которая может использоваться для исследования текстуры или преимущественных ориентаций моно- или поликристаллического материала.
Межидов Вахид Хумаидович, тел. : 8712 295840, e-mail: NIZKP@mail.ru
 372.  Комплект микроскопов IX71 для Ph, IX71 для DIC, IX51 для Ph, SZ51 (Olympus)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Камкин Андрей Глебович, e-mail: oett@rsmu.ru
 373.  Рентгеновский волнодисперсионный микроанализатор к сканирующему электронному микроскопу Tescan Vega II XMU INCA WAVE 700 (OXFORD)
Рентгеновские микроанализаторы INCA позволяют получать информацию о фазовом, качественном и точном количественном химическом составе образца на микроуровне. Программное обеспечение интегрировано на базе единой программной платформы ИНКА.
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 374.  Рентгеновский энергодисперсионный микроанализатор к сканирующему электронному микроскопу Tescan Vega II XMU INCA ENERGY 450 (OXFORD)
Рентгеновские микроанализаторы INCA позволяют получать информацию о фазовом, качественном и точном количественном химическом составе образца на микроуровне. Программное обеспечение интегрировано на базе единой программной платформы ИНКА.
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 375.  Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega II XMU (Tescan)
Позволяет исследовать структуру и состояние поверхности с высоким разрешением.
Смирнов Сергей Витальевич , тел. : (343) 374-40-76, e-mail: svs@imach. uran.ru
 376.  Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 VP (Carl Zeiss)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
142432 г. Черноголовка, М. О. , ул. Академика Осипьяна д. 8, ИСМАНТел. : 7(496) 524 6384, Е-mail: isman@ism. ac.ru, Web-site: www. ism. ac.ruСычев Александр Евгеньевич, Тел. : 7(496) 524 6384, Е-mail: sytschev@ism. ac.ru Web-site: www. ism. ac.ru
 377.  Микроскоп сканирующий электронный JSM-6490LV (Jeol) c системой INCA Energy 350 (Oxford Instruments) для рентгеновского энерго-дисперсионного микроанализа и волнодисперсионным спектрометром Inca Wave 700 (Oxford Instruments)
Аналитическая сканирующая электронная микроскопия с режимами высокого (разрешение 3, 0 нм) и низкого вакуума для исследования морфологии, строения и элементного состава (от бериллия до калифорния с чувствительностью до 0, 01 % массы) твердых и водонасыщенных образцов
Блохин Максим Геннадьевич, тел. : (423) 237-59-71, e-mail: blokhin@fegi.ru
 378.  Электронный сканирующий микроскоп с энергодисперсионным спектрометром Inca X-Act Evo 40 (Carl Zeiss)
Предназначен для получения изображений объектов в прямых электронах и электронах обратного рассеяния. Максимальное паспортное разрешение микроскопа составляет 3 нм. На практике разрешение несколько больше вследствие влияния вибраций и магнитных полей.
Титова Светлана Геннадьевна, тел. : (343) 232-90-75, e-mail: ckp-ural-m@mail.ru
 379.  Просвечивающий электронный микроскоп BS 700 (TESLA)
Предназначен для исследования ультраструктуры биологических объектов, а также кристаллографического анализа макромолекул.
Акатов Владимир Семенович, тел. : (4967) 73-94-52, e-mail: v-akatoff@rambler.ru
 380.  Комплекс измерительный электронно-оптический с модулями контроля электрофизических характеристик наноматериалов и наноструктур JSM 6610LV (Jeol)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Гуров Виктор Сергеевич, тел. : 4912 460303, e-mail: rector@rsreu.ru, gurov. v. s@rsreu.ru, rcpm-rgrtu@yandex.ru, rcpm@rsreu.ru
 381.  Сканирующий электронный микроскоп S-3400M тип 2 (Hitachi)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 382.  Станция для рентгеновской микроскопии и томографии
Для научных целей
Кулипанов Геннадий Николаевич, тел. : (383) 329-44-98, e-mail: G. N. Kulipanov@inp. nsk. su
 383.  Электронный микроскоп JEM -2100 JEOL JEM -2100 (Tokyo)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Андреев Юрий Анатольевич, тел. : (3822) 49-19-00, e-mail: andreev@lhfe. hcei. tsc.ru
 384.  Микроскоп Электронный сканирующий с приставками ZEISS LEO EVO50 xvp (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества.
Андреев Юрий Анатольевич, тел. : (3822) 49-19-00, e-mail: andreev@lhfe. hcei. tsc.ru
 385.  Нанотехнологический комплекс Нанофаб 100 (НТ-МДТ)
Установка позволяет обрабатывать и исследовать образцы диаметром до 100 мм в условиях сверхвысокого вакуума в режимах зондовой микроскопии и фокусированного ионного луча
Миронов Юрий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 386.  Электронный сканирующий микроскоп VEGA TESCAN с ЭДС X-Max 80 (Oxford)
Электронная микроскопия и микроанализ химического состава
Бердников Николай Викторович, тел. : 914-773-2625, e-mail: nick@itig. as. khb.ru
 387.  Электронный сканирующий микроскоп LEO EVO 40HV (Carl Zeiss)
Изучение микрорельефа различных материалов
Бердников Николай Викторович, тел. : (4212) 22-77-32, e-mail: nick@itig. as. khb.ru
 388.  Микроскоп электронный сканирующий с системой рентгеновского микроанализа SEM-515 (Philips)
Исследование веществ методом сканирующей электронной микроскопии и определение состава вещества
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, тел. : (3412) 43-01-63, e-mail: gilmutdinov_f@mail.ru
 389.  Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов Neon-40 (Carl Zeiss)
Позволяет получать изображения структуры материала с учетом его химического состава. Комбинация двух высокоразрешающих колонн в едином приборе дает пользователям не имеющий прямых аналогов инструмент для наноманипулирования на высоких и сверхвысоких увеличениях. Все процессы, производимые ионным лучом или микро/ наноманипулятором, наблюдаются в режиме онлайн.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 390.  Сканирующий электронный микроскоп Supra 50VP (Carl Zeiss)
Позволяет выполнять многоплановые исследования по созданию и диагностике наноструктур с применением методов сканирующей электронной микроскопии и электронной литографии. Микроскоп оснащен комплектом аналитических модулей (детекторов и программное обеспечение), с помощью которых можно получать разнообразную качественную и количественную информацию об исследуемых объектах: получение изображений объектов без предварительной подготовки (в том числе и непроводящих — возможность использования режимов низкого вакуума (VP) и их комбинаций с работой на низких ускоряющих) во вторичных и отраженных электронах с пространственным разрешением до 1, 5 нм; морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц; микроанализ элементного состава объектов, включая измерение толщины и состава тонких пленок, с использованием энергодисперсионного рентгеновского спектрометра; сверхстабильный ток пучка — 0, 2% в час / до 20 нА, обеспечивает высочайшее качество результатов рентгеновского и дифракционного анализов; анализ спиновой поляризации вторичных электронов и получение изображений поверхности материалов с магнитным контрастом; диагностика полупроводниковых структур с применением методов катодолюминесцентных измерений и т. п.
Шашкин Владимир Иванович , тел. : (831) 417-94-55, e-mail: sha@ipm. sci-nnov.ru
 391.  Растровый электронный микроскоп S-4800 FE-SEM (HITACHI)
Предназначен для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 392.  Электронно-ионный микроскоп JIB-4500 c микроманипулятором IB-32010FPUS (JEOL)
Предназначен для управляемого локального травления сфокусированным ионным пучком проводящих и непроводящих объектов с заданным рисунком. В совокупности с микроманипулятором IB-32010FPUS идеально подходит для оперативной подготовки образцов из выбранной области для исследования в ПЭМ. Прибор объединяет в себе растровый электронный микроскоп и растровый ионный микроскоп и оснащен системой локального нанесения С и W из газовой фазы.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 393.  Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0, 1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 394.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Анализ микро- и наноструктуры твердотельных объектов, измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, и межплоскостных расстояний в режиме дифракции. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.
Тодуа Павел Андреевич, тел. : (495) 935-97-77, e-mail: nicpv@mail.ru
 395.  Микроскоп ТЕХИНВАЛ (Carl)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Грязнов Николай Анатольевич, тел. : (812) 294-47-36, e-mail: gna@rtc.ru
 396.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Проведение исследований микроструктуры различных материалов и биологических объектов, энерго-дисперсионного (элементного) анализа материалов.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 397.  Микроскоп электронный сканирующий LEO EVO 50 xvp (Carl Zeiss)
Исследование морфологии поверхностей металлических, керамических, полимерных, порошковых материалов, биологических обектов; проведение энергодисперсионного и волнового анализа (EDS) и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.
Мейснер Людмила Леонидовна, тел. : (3822) 28-69-89, e-mail: llm@ispms. tsc.ru
 398.  Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 399.  Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0. 5 до 40 кэв. ). На основе растрового электронного микроскопа CAMSCAN-S4 создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0. 1 — 20. 0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм.
Козлитин Алексей Иванович, тел. : (499) 736-19-16, e-mail: admin@niifp.ru
 400.  Микроскоп для исследований морфологии изломов Discovery (ZEISS)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 401.  Низковольтный трансмиссионный микроскоп LVEM-5 (Delong)
Оборудование для микроскопических исследований
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 402.  Сканирующий электронный микроскоп Camscan 4DV+HKL Basic EBSD System + INCA Energy 350 (CABRIDGE)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 403.  Растровый электронный микроскоп Philips 535
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 404.  Просвечивающий электронный микроскоп EM 400T (PHILIPS)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 405.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200CX (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 406.  Сканирующий электронный микроскоп Vega 5136-LM (Tescan)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 407.  Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 30F (FEI)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 408.  Электронно-ионный сканирующий микроскопс системой Pegasus Quanta 200 3D FEG (FEI)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Петров Сергей Николаевич, тел. : (812) 274-12-16, e-mail: mail@crism.ru
 409.  Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL)
Наблюдения структуры поверхности образца с разрешением 2нм; локальный анализ элементного состава (1мкм2 ) методом энергодисперсионной спектрометрии (EDX); катодолюминесцентный анализ (CLD)
Пудалов Владимир Моисеевич, тел. : (499) 135-42-78, e-mail: pudalov@sci. lebedev.ru
 410.  Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения с рентгеноспектральной приставкой JSM-7500F (JEOL)
Предназначен для анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме Gentle Beam (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE BE с управляемым соотношением отражённых и вторичных электронов.
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 411.  Просвечивающий электронный микроскоп-электронограф JEM-100CX (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Ю. Я. Томашпольский, тел. : (495) 917-17-27, e-mail: tomash@cc. nifhi. ac.ru
 412.  Сканирующий электронный микроскоп LEO-420 (Carl Zeiss)
Предназначен для структурных исследований. С помощью LEO-420 были получены важные результаты в различных областях материаловедения, таких как компактирование наноструктурных и внутреннеокисленных порошковых материалов, создание высокопрочных материалов с субмикрокристаллической структурой, разработка композиционных материалов на основе металлических матриц, дискретно-армированных твердыми наночастицами, сварка взрывом.
Маслов Анатолий Александрович, тел. : (383) 330-38-80, e-mail: maslov@itam. nsc.ru
 413.  Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2100
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Маслов Анатолий Александрович, тел. : (383) 330-38-80, e-mail: maslov@itam. nsc.ru
 414.  Растровый электронный микроскоп с энергодисперсионным безазотным спектрометром EVO-50WDS-XVP-BU INCA Energy 350 x-MAX (Karl)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Маслов Анатолий Александрович, тел. : (383) 330-38-80, e-mail: maslov@itam. nsc.ru
 415.  Автоэмиссионный электронный микроскоп сверхвысокого разрешения S-5500 (Hitachi)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Арчаков А. И. , тел. : (499) 246-69-80, e-mail: inst@ibmc. msk.ru
 416.  Сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM-1000
Исследование поверхностных микроструктур зоологических объектов
Ананьева Наталья Борисовна, тел. : (812) 323-31-40, e-mail: natalia_ananjeva@yahoo.com
 417.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6380LA (JEOL)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 418.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011 (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 419.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа INCA Energy Oxford Supra 50 VP LEO
Предназначен для биомедицинских исследований, включая комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 420.  Электронный просвечивающий микроскоп JEM-2000 FXII (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 421.  Сканирующий электронный микроанализатор LEO EVO 50XVP (Carl Zeiss)
Исследование морфологии и микроструктуры наноматериалов. Разрешение в высоком вакууме 3 нм, при низком вакууме 4. 5 нм. Ускоряющее напряжение 200В - 30кВ, шаг - 10В. Увеличение в диапазоне 5 - 1 000 000х
Кашкаров Павел Константинович, тел. : (495) 939-21-93, e-mail: kashkaro@phys. msu.ru
 422.  Растровый сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества.
Реутский Вадим Николаевич, тел. : (383) 330-65-31, e-mail: reutsky@igm. nsc.ru
 423.  Растровый электронный микроскоп с микроанализатором JSM6510LV (JEOL)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Реутский Вадим Николаевич, тел. : (383) 330-65-31, e-mail: reutsky@igm. nsc.ru
 424.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100 (Jeol)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Куркин Евгений Николаевич, тел. : (496) 522-80-53, e-mail: kurkin@icp. ac.ru
 425.  Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (паспортное разрешение до 1, 6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента.
Говоров Виталий Александрович, тел. : 495 3627735, e-mail: vitaly-govorov@yandex.ruТерентьев Егор Валериевич Тел. : 8 (985) 990-20-45, E-mail: TerentyevYV@mpei.ru
 426.  Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Широков Александр Александрович, тел. : (8452) 97-04-44, e-mail: alexanders@ibppm. sgu.ru
 427.  Cканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп TESCAN MIRA 3 LMU
Позволяет получить изображения изображение поверхности исследуемого объекта с высоким разрешением, особенно при низких ускоряющих напряжениях.
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 428.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-5900LV, оснащенный энерго- и волнодисперсионными спектрометрами INCA Energy 200 и INCA Wave 500 JSM-5900LV, INCA Energy 200, INCA Wave 500 (JEOL)
Позволяет: получать изображение поверхности исследуемого объекта с разрешением 3. 0 нм в высоковакуумном и 4, 5 нм в низковакуумном режимах, исследовать распределение концентрации элементов от B до U на поверхности и вдоль выбранного направления сканирования, проводить количественный анализ в выбранных точках с локальностью до 1 мкм, точностью до 1— 2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г. исследовать структуру, морфологию, распределение и форму частиц для микроанализа в точке с локальностью до 1 мкм, точностью до 1— 2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г и по линии сканирования
Курумчин Эдхем Хурьятбекович, тел. : (343) 362-33-01, e-mail: E. Kurumchin@ihte. uran.ru
 429.  Растровый электронный микроскоп с системой энергодисперсионного микроанализа LEO-1430VP Энергодисперсионный анализатор INCA Energy 350 (Carl Zeiss)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Семенов Александр Петрович, тел. : (3012) 43-31-84, e-mail: semenov@ipms. bscnet.ru
 430.  Электронный микроскоп SEM TM-1000 (Hitachi) с системой микроанализа
Предназначен для просмотра изображений образца, облучаемого сфокусированным электронным лучом. Изображение получают благодаря регистрации электронов, рассеянных поверхностью образца в обратном направлении. Просмотр образца может проводиться при столь высокой степени увеличения, которая не доступна при работе с обычными оптическими микроскопами. Благодаря большей глубине резкости, удается получать стереоскопическое изображение. Не требуется трудоемкой подготовки образца и осложненной настройки условий наблюдения. Можно исследовать образцы с диаметром до 70 мм и с толщиной до 20 мм. Кроме того, управление микроскопом обеспечивается портативной вычислительной машиной. Удается пользоваться заложенными в нее выгодными функциями (автоматическая фокусировка, автоматическая настройка яркости и др. ). Микроскоп ТМ-1000 полезен специалистам, работающим в областях материаловедения, биологии, контроля качества, специалистов ВУЗов и т. д.
Семенов Александр Петрович, тел. : (3012) 43-31-84, e-mail: semenov@ipms. bscnet.ru
 431.  Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов NVision 40 (Carl Zeiss)
Предназначена для микроскопического исследования поверхности и пробоподготовки
Кецко Валерий Алекванрович, тел. : (495) 955-48-71, e-mail: ketsko@igic. ras.ru
 432.  Установка фокусированных ионных пучков CROSS BEAM 1540XB (Carl Zeiss)
Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 433.  Микроскоп электронный сканирующий LEO-1430 (Carl Zeiss) с приставкой ЕDX
Позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Применение источника полевой эмиссий для формирования диагностического пучка, позволяет сканирующей электронной микроскопии визуализировать неоднородности рельефа в пределах одного монослоя, проводить анализ химического состава поверхности с помощью встроенного блока энерго-дисперсионного анализа, определять электрическую активность дефектов по методике наведенного тока и т. д.
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 434.  Микроскоп электронный растровый с литографической приставкой Raith-150
Электронный литограф – представляет собой модернизированный сканирующий электронный микроскоп фирмы Zeiss с электронной пушкой Supra. Предназначен для нанолитографии с размерами от 20 нм, создании промежуточных шаблонов для оптической литографии и сканирования поверхности образцов с большим увеличением в автоматическом режиме
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 435.  Высокоразрешающий электронный микроскоп JEM-4000EX (JEOL)
Исследование объемной структуры материалов
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 436.  Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп с корректором аберраций объектива и приставками EDX и EELS TITAN 80-300 (FEI)
Структурно-химический анализ на атомном уровне
Латышев Александр Васильевич, тел. : (383) 330-90-55, e-mail: latyshev@isp. nsc.ru
 437.  Растровый электронный микроскоп LEO EVO 40HV (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества.
Булгаков Виктор Павлович, тел. : (423) 237-52-79, e-mail: bulgakov@ibss. dvo.ru
 438.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA II LSU с системой энергодисперсионного микроанализа INCA ENERGY 350 (Tescan)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Удальцов Сергей Николаевич, тел. : (4967) 31-81-59, e-mail: udaltsov@issp. serpukhov. su
 439.  Электронный микроскоп LIBRA120 (Zeiss)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Байбородин Сергей Иванович, тел. : (383) 363-49-72, e-mail: bai@bionet. nsc.ru
 440.  Сканирующий электронный микроскоп с системой волнового и энергодисперсионного микроанализа JSM 6400 (Jeol)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 441.  Микроскоп электронный БС-500 (TESLA)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Бурцев Игорь Николаевич, тел. : (8212) 24-53-53, e-mail: burtsev@geo. komisc.ru
 442.  Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM 2100
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Иванов Максим Геннадьевич, тел. : (343) 267-87-96, e-mail: max@iep. uran.ru
 443.  Растровый электронный микроскоп LEO 982 (Carl Zeiss)
Предназначен для электронной микроскопии как эффективного инструмента контроля состояния поверхностей различных материалов, структуры вещества.
Иванов Максим Геннадьевич, тел. : (343) 267-87-96, e-mail: max@iep. uran.ru
 444.  Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 UB (Tescan)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Удачин Валерий Николаевич, тел. : (3513) 57-35-62, e-mail: udachin@mineralogy.ru
 445.  Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Исследование физических, химических, оптических и морфологических особенностей широкого спектра аморфных и кристаллических материалов с помощью тонко сфокусированного электронного пучка.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 446.  Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Получение электронно-микроскопического изображения аморфных и кристаллических материалов. Подготовка образцов с помощью сфокусированного ионного пучка.
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 447.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Исследование твердых тел с высоким (вплоть до атомного) пространственным разрешением. Разрешение по точкам 0, 20 нм, информационный предел < 0, 15 нм, разрешение в режиме STEM-0, 17 нм. Поворот образца на / -40° .
Григорьев Юрий Васильевич, тел. : (499) 135-61-20, e-mail: ygrigoriev@mail.ru
 448.  Универсальный исследовательский микроскоп Olympus BX51M
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 449.  Сканирующий электронный микроскоп SEM-515 (Phillips)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 450.  Просвечивающий электронный микроскоп 200CX (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Карпов Юрий Александрович, тел. : (495) 953-87-91, e-mail: karpov@giredmet.ru
 451.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-100CX-II (JEOL)
Методы исследования: светлое поле, темное поле,
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 452.  Электронный микроскоп ЭВМ-100 ЛМ
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Синельников Борис Михайлович, тел. : 8652 95-69-32, e-mail: info@ncstu.ru
 453.  Сканирующий электронный микроскоп Philips SEM 525-M
Сканирующий электронный микроскоп Philips SEM 525-M имеет все возможности необходимые для быстрого неразрушительного контроля больших образцов для всех ориентаций. Технические характеристики Philips SEM 525-M: 1. Увеличения от 20 до 100000 2. Диапазон напряжения от 5 до 30 kV. 3. Максимальное разрешение 9 нм
Грачев Михаил Александрович, тел. : (3952) 42-65-04, e-mail: Grachev@lin. irk.ru
 454.  Трансмиссионный электронный микроскоп LEO 906E (Carl Zeiss)
LEO 906E - трансмиссионный электронный микроскоп, созданный для рутинной эксплуатации. Технические характеристики LEO 906E: 1. Увеличения от 40 до 600000 без вращения изображения (патент LEO). 2. В дифракционной камере обеспечивается переменная длина от 180 до 1. 600 мм (патент LEO). 3. Диапазон напряжения от 40 до 120 kV. 4. Максимальное разрешение 0, 34 нм.
Грачев Михаил Александрович, тел. : (3952) 42-65-04, e-mail: Grachev@lin. irk.ru
 455.  Растровый электронный микроскоп FEI Company Quanta 200 с приставкой рентгеновского микроанализа EDAX с безазотным охлаждением GENESIS XM 2 60 - Imaging SEM with APOLLO 10
Сканирующий электронный микроскоп Quanta 200 имеет все возможности необходимые для быстрого неразрушительного просмотра поверхности больших образцов. Quanta 200 позволяет работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами способными к газовыделению при вакумировании, порошками и суспензиями. Имеет три вакуумных режима: 1. высокого вакуума (стандартный режим для сканирующих микроскопов) 2. естественной среды ESEM 3. низкого вакуума (без предварительного напыления) Приставка позволяет проводить качественный и количественный микроанализ в EDS в диапазоне элементов от Bе до U. Технические характеристики Quanta 200: 1. Увеличения от 20 до 1000000 2. Диапазон напряжения от 0, 5 до 30 kV. 3. Максимальное разрешение 3, 5 нм. 4. Разрешение пиков спектра 0, 13 keV
Грачев Михаил Александрович, тел. : (3952) 42-65-04, e-mail: Grachev@lin. irk.ru
 456.  Растровый электронный микроскоп РЭМ 200
Предназначен для исследований методом растровой электронной микроскопии. Обеспечивает увеличение 60-20 тысяч, разрешение 75 ангстрем.
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 457.  Малогабаритный растровый электронный микроскоп МРЭМ 100
Растровый электронный микроскоп
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 458.  Микрозондовая приставка INKA ENERGY-400 к сканирующему цифровому электронному микроскопу
Является универсальным инструментом для структурных исследований
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 459.  Сканирующий цифровой электронный микроскоп с программным обеспечением (Carl)
Электронная микроскопия. Постоянный контроль кристалло-химической трансформации поверхности полидисперсных материалов для технологических разработок, для диагностики и прогнозирования свойств мелкодисперсных систем
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 460.  Сканирующий электронный микроскоп S405-A (Hitachi)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Калинников Владимир Трофимович, тел. : (81555) 79-549, e-mail: office@chemy. kolasc. net.ru
 461.  Высокоинтегриро-ванный компактный просвечивающий электронный микроскоп JEM-1011 (Jeol)
Электронная микроскопия клеток, их структур, комплексов макромолекул, бактерий, вирусов и др. биологических объектов, иммунная электронная микроскопия. Позволяет изучить тонкую организацию и структурную динамику внутриклеточных органелл, а так-же общее строение клетки при изменении ее функционального состояния; изменений, вызванных влиянием различных биохимических либо физиологических воз-действий в норме и при патологии.
Петров Сергей Анатольевич, тел. : (905) 820-23-63, e-mail: sciensec@ikz.ru
 462.  Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku)
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0, 1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 463.  Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl)
Сканирующий электронный микроскоп, разрешение 1. 5 нм с фокусированным ионным пучком
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 464.  Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS/ ELPHY (RAIS)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии
Зайцев-Зотов Сергей Владимирович, тел. : (495) 629-33-94, e-mail: serzz@cplire.ru
 465.  Микроскоп электронный ЭМВ-100А
Электронный микроскоп для изу-чения морфологии и строения на-ноструктурированных материалов
Меметов Нариман Рустемович, тел. : 4752 639293, e-mail: nanotam@yandex.ru
 466.  Растровый электронный микроскоп CamScan S4
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 467.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Libra-200 FE HR (Carl Zeiss)
На сегодняшний день, веро-ятно, новейший и один из самых совершенных ПЭМ высокого разрешения в Рос-сии. Прибор предназначен для исследования структуры материалов с атомным раз-решением.
Калинушкин Виктор Петрович, тел. : (499) 503-81-26, e-mail: vkalin@kapella. gpi.ru
 468.  Электронный микроскоп трансмиссионный JEM-100B/ 2SP (JEOL)
Микроскопия препаратов
Евтушенко Людмила Ивановна, тел. : (4967) 73-09-24, e-mail: evtushenko@ibpm. pushchino.ru
 469.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-100B (JEOL)
Тонкая структура металлов, увеличение Х 100000
Корнеев Алексей Евгеньевич, тел. : (495) 675-85-16, e-mail: korneev@cniitmash.ru
 470.  Сканирующий электронный микроскоп JED-2300 с микро-рентгеноспектральной приставкой JSM-6060A (JEOL)
Тонкая структура, фрактография, элементный состав
Корнеев Алексей Евгеньевич, тел. : (495) 675-85-16, e-mail: korneev@cniitmash.ru
 471.  Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат. Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. FEI Quanta 600 FEG позволяют работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами, способными к газовыделению при вакуумировании).
Ризаханов Ражудин Насрединович, тел. : (495) 456-80-83, e-mail: nanocentre@kerc. msk.ru
 472.  Электронный микроскоп ТМ-1000 (Hitachi)
Предназначен для микроскопических исследований
Маматюк Виктор Ильич, тел. : (383) 330-69-60, e-mail: vim@nioch. nsc.ru
 473.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 6390LA (JEOL)
Современный сканирующий (растровый) электронный микроскоп с полностью автоматизированной системой электронной высококачественной оптики для изучения поверхности и анализа элементного состава широкого спектра образцов. Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Камера и столик для изучения больших образцов (до 150мм диаметром). Интуитивно понятный интерфейс. Многопользовательская система. Спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов расширяют возможности микроскопа до аналитических. С помощью аналитических приставок возможно получение информации о морфологии поверхности и составе образца на субмикронном уровне, получать распределения элементов. Ускоряющее напряжение от 0, 5 до 30 кВ. Разрешение в режиме высокого вакуума 3 нм при 30 кВ, 8нм при 3кВ, 15нм при 1кВ. Диапазон увеличений от х8 до х300 000 при > 11кВ от х5 до х300 000 при < 10кВ.
Коваленко Александр Елисеевич, тел. : (812) 372-54-48, e-mail: alkov@binran.ru
 474.  Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss Supra 25 (Carl)
Исследование морфологии поверхности пленок, нанокристаллов, наночастиц. Определение размеров и химического состава по характеристическим рентгеновским спектрам
 475.  Сканирующий электронный микроскоп EVO 50 с микроанализатором (Carl Zeiss)
Изучение палеонтологических объектов и горных пород при больших увеличениях и проведение качественных и количественных химических анализов
Жегалло Елена Александровна , тел. : (495) 339-35-11, e-mail: ezheg@paleo.ru
 476.  Сканирующий электронный микроскоп CAMSCAN-S4 (Cambridge)
Изучение палеонтологических объектов и горных пород при больших увеличениях и проведение качественных химических анализов
Жегалло Елена Александровна , тел. : (495) 339-35-11, e-mail: ezheg@paleo.ru
 477.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
 478.  Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D (FEI)
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
 479.  Микроскоп электронный растровый JSM-T20
Визуализация поверхности образцов с субмикронным разрешением
Пашкевич Сергей Николаевич, тел. : 3532 375967, e-mail: imnt@unpk. osu.ru
 480.  Сканирующий электронный микроскоп TM-1000 (HITACHI)
Анализ структуры поверхности твёрдых тел с разрешением от 50 нанометров.
Синяшин Олег Герольдович, тел. : (843) 272-82-44, e-mail: oleg@iopc.ru
 481.  Электронный микроскоп BS-301 (Tesla)
РЭМ
Шевченко Владимир Ярославович, тел. : (812) 328-07-02, e-mail: shevchenko@isc. nw.ru
 482.  Просвечивающий электронный микроскоп с доп. блоками и системой пробоподготовки Libra 200 (Carl)
Исследование и контроль структуры и фазового состава наноматериалов и изделий из них с нанометрическим и субнанометрическим разрешением
Солнцев Константин Александрович , тел. : (499) 135-20-60, e-mail: imet@imet. ac.ru
 483.  Установка оптической литографии в технологически чистом помещении ИФТТ РАН MJB-4 Base Station (SUSS)
Выполнение фотолитографии с использованием различных фоторезистов для получения геометрии резистивной маски для последующего структурирования
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 484.  Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа Supra 50VP, система микроанализа INCA Energy (Oxford)
Изображение поверхности. Определение элементного состава материала
Бредихин Сергей Иванович, тел. : (496) 522-46-87, e-mail: bredikh@isp. ac.ru
 485.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2000 FXII
Трансмиссионный микроскоп предназначен для микроструктурных исследований и определения элементного состава отдельных элементов микроструктуры
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 486.  Растровый электронный микроскоп Philips XL 30 ESEM-TMP в дистанционном исполнении
Предназначен для исследования стркутуры и элементного состава высокорадиоактивных образцов
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 487.  Растровый электронный микроскоп SUPRA 55VP
Изучение структуры поверхности образцов, в том числе наноструктурированных, при увеличениях от 15 до 900000 крат; изучение элементного состава - благодаря наличию спектрометров с энергетической и волновой дисперсиями, изучение фазового состава образцов - благодаря наличию приставки регистрации картин дифракции отражённых электронов
Евсеев Леонид Александрович, тел. : (842) 356-55-62, e-mail: dsv@niiar.ru
 488.  Микроскоп электронный SEM-100CX (Jeol)
Исследование ультратонких срезов образцов
Пименов Николай Викторович, тел. : (499) 135-31-75, e-mail: npimenov@mail.ru
 489.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM100 C (Jeol)
Исследование внутренней структуры тонкопленочных элементов и структур
 490.  Электронный микроcкоп BS-500 (Tesla)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
Сайфитдинова Алсу Фаритовна, тел. : (921) 098-70-84, e-mail: chromas. spbu@gmail.com
 491.  Растровый электронный микроскоп JSM-6390A в комплекте с рентгеновским спектрометром (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии
Климочкин Юрий Николаевич, тел. : 846 3322122, e-mail: orgchem@samgtu.ru
 492.  Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Evo 60 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 493.  Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Crossbeam 1540EX
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 494.  Просвечивающий электронный микроскоп Zeiss Libra 200FE HR
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии
Дубовицкий Сергей Викторович, тел. : 423 2433038
 495.  Нано Лаборатория для биологических и медицинских исследований Лайф
ЛАЙФ - специализированный прибор, разработанный для биомедицинских исследований и включающий комплексные методы оптической микроскопии для наблюдения за живыми системами, неорганическими, органическими и наноматериалами.
Лисицын Сергей Викторович, тел. : 8652 330684, e-mail: slisitcyn@ncfu.ru
 496.  Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-7500 FA (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области эмиссионной электронной микроскопии
Баблюк Евгений Борисович, тел. : 499 9763758, e-mail: bablyuk. evgeny@yandex.ru
 497.  Лаборатория электроной микроскопии FEI Phenom
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением. Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца.
Башков Валерий Михайлович, тел. : 499 2636531, e-mail: bmstunc@mail.ru
 498.  Электронный микроскоп низковольтный LVEM5 (DeLong Instruments)
Компактный универсальный электронный микроскоп нового поколения
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 499.  Электронно-ионный микроскоп Work Station AURIGA CrossBeam (Carl Zeiss NTS)
Сканирующий электронный микроскоп для исследования морфологии, химических и структурных свойств материалов с нанометровым пространственным разрешением
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 500.  Микроскоп биомедицинский с системой визуализации
Изготовление тонких парафиновых срезов. Может работать как с парафином, так и с твердыми материалами в биологии, медицине и промышленной лаборатории.
 501.  Микроскоп настольный сканирующий Phenom G2
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Андреев Александр Геннадиевич, тел. : 499 9733075, e-mail: science@stankin.ru
 502.  Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией JEM-2100F-08 (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии сверхвысокого разрешения
Горшков Олег Николаевич, тел. : 831 4623130, e-mail: gorshkov@phys. unn.ru
 503.  Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Jeol JEM-2100
JEM-2100F – это универсальный 200кВ просвечивающий электронный микроскоп c термополевой пушкой Шоттки. Большое разнообразие полюсных наконечников и приставок позволяет сконфигурировать его для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью. Также термополевая пушка, благодаря высокой когерентности электронного пучка, позволяет получать высококонтрастные микрофотографии ультравысокого разрешения. По этой же причине, с помощью специальной бипризмы, на JEM-2100F можно работать в режиме электронной голографии. Изучению образцов на наноуровне способствует наличие высокоточного и высокостабильного 5-осевого гониометрического столика образцов с пьезоподвижкой, которая позволяет очень плавно и точно перемещать образец на единицы нанометров при исследованиях с большими увеличениями (500000 крат и более), а также компенсировать его дрейф. В комплект программного обеспечения входит программа, позволяющая по заданному алгоритму автоматически получать изображения вещества под разными углами и затем строить 3D изображение структуры. В программу управления ПЭМ JEM-2100F легко интегрируются аналитические приставки: энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), спектрометр характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ), энергетический фильтр, различные ПЗС-камеры как бокового, так и нижнего крепления, а также многие другие приставки, позволяющие проводить уникальные исследования. Основные технические характеристики: – увеличение до × 1 500 000; – пространственное разрешение по линиям до 0, 14 нм; – разрешение по точкам до 0, 23 нм; – ускоряющее напряжение от 80 до 200 Кв; – размер пучка: 20-200нм (TEM режим), 1-15нм (STEM режим); – наклон образца: / - 30° ; – регистрация изображения: CCD камера высокого разрешения; – программный комплекс для обработки и анализа микроскопических картин высокого разрешения (HRTEM), расшифровки и моделирования электронограмм; – кристаллические базы дифракционных данных для неорганических кристаллов и порошков.
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 504.  Микроскоп электронный сканирующий Jeol JSM-7001F с приставкой EDX анализа Oxford INCA X-max 80, волнодисперсионного анализа WDS Oxford INCA WAVE, системами анализа фазового состава, структуры и текстуры кристаллических материалов методом дифракции обратно рассеянных электронов (детекторы EBSD и HKL)
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM-7001F является низковакуумным высокоразрешающим электронным микроскопом с катодом Шоттки. Конструкция микроскопа позволяет получать высокое разрешение даже при низких ускоряющих напряжениях. Отличительной особенность данного прибора является возможность исследования магнитных образцов различного размера благодаря специальной геометрии объективной линзы. Прибор позволяет изучить морфологию и элементный состав поверхности любого образца, способного выдержать вакуум 10– 6– 10– 5 Па. Система картирования позволяет определить не только элементный состав, но и выявить наличие химических соединений. Элементный состав может быть определён как в среднем для всего изучаемого поля, так и для отдельных участков исследуемой поверхности. Основные технические характеристики: Пространственное разрешение: 1, 2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ. Диапазон увеличений от х10 до х1 000 000. Ускоряющее напряжение от 0, 5кВ до 30 кВ. Ток пучка до 200 нА, при 15 кВ. Максимальный размер образца: диаметр до 100 мм. Максимальный вакуум до 10– 6 Па.
Управление научной и инновационной деятельности Южно-Уральского государственного университета Россия, 454080 Челябинск, проспект Ленина, 76. 8(351)267-94-67
 505.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7500FA
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Хасанов Олег Леонидович, тел. : 3822 427242, e-mail: khasanov@tpu.ru
 506.  Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронной просвечивающей микроскопии
Хасанов Олег Леонидович, тел. : 3822 427242, e-mail: khasanov@tpu.ru
 507.  Растровый электронный микроскоп Quanta 200i 3D DualBeam с системой фокусированного ионного пучка (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии высокого разрешения
Межидов Вахид Хумаидович, тел. : 8712 295840, e-mail: NIZKP@mail.ru
 508.  Система энергодисперсионного микроанализа Genesis System (EDAX)
Энергодисперсионный микроанализ широко применяется для определения элементного состава образцов практически во всех областях науки и промышленности: в горнодобывающей промышленности, машиностроении, металлургии, энергетике, полупроводниковой промышленности, ювелирном деле, полиграфии, криминалистике, геологии, физике, химии, биологии, экологии, археологии.
Межидов Вахид Хумаидович, тел. : 8712 295840, e-mail: NIZKP@mail.ru
 509.  Растровый электронный микроскоп JSM-6390 c приставкой ДОРЭ (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии
Цыганкова Людмила Евгеньевна, тел. : 4752 723655, e-mail: vits21@mail.ru
 510.  Растровый электронный микроскоп SUPRA 25 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 511.  Нанотехнологическая приставка XENOS XeDraw 2 к растровому электронному микроскопу SUPRA 25
Предназначена для проведения общенаучных экспериментов в области нано-микроскопии
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 512.  Сканирующий электронный микроскоп НТ-МДТ с термоэмиссионным катодом и системой электронной литографии
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей эмиссионной микроскопии
Сойфер Виктор Александрович, тел. : 846 3325620, e-mail: soifer@ssau.ru
 513.  Сканирующий электронный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss) с EDS детектором
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
Головин Юрий Иванович, тел. : 4752 532680, e-mail: golovin@tsu. tmb.ru
 514.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии высокого разрешения
Беспалов Владимир Александрович, тел. : 499 7351670, e-mail: bespalov@unicm.ru
 515.  Микроскоп растровый электронный Quanta 200 3D (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Аракелян Сергей Мартиросович, тел. : 4922 479847, e-mail: arak@vlsu.ru
 516.  Растровый электронный микроскоп EVO-40 (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии
Грабов Владимир Минович, e-mail: ckpo@herzen. spb.ru
 517.  Растровый электронный микроскоп РЭМ-101м (СЭМЗ)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Эпштейн Светлана Абрамовна, тел. : 499 2302449, e-mail: apshtein@yandex.ru
 518.  Растровый электронный микроскоп с холодноэмиссионной полевой электронной пушкой и приставкой для энергодисперсионного микроанализа JED-2300F (Jeol)
Электронно-микроскопические исследования твердых тел
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 519.  Просвечивающий электронный микроскоп с системой приготовления образцов Gatan
Электронно-микроскопические исследования твердых тел.
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 520.  Растровый электронный микроскоп с приставкой для катодолюминесценции
Электронно-микроскопические исследования твердых тел
Пархоменко Юрий Николаевич, тел. : 495 6384546, e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 521.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии высокого разрешения
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 522.  Просвечивающий электронный микроскоп
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии
Боргардт Николай Иванович, e-mail: borgardt@miee.ru
 523.  Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронно-ионной микроскопии
Боргардт Николай Иванович, e-mail: borgardt@miee.ru
 524.  Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Боргардт Николай Иванович, e-mail: borgardt@miee.ru
 525.  Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Боргардт Николай Иванович, e-mail: borgardt@miee.ru
 526.  Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний
Проведение исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий
Безуглова Екатерина Александровна, тел. : 495 7390314, e-mail: BezuglovaEA@mgsu.ru
 527.  Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company)
Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai™ G² F20 с отличными характеристиками формирования изображений в режимах ПЭМ, СПЭМ и наноанализа, сверхвысоким вакуумом, высокой пространственной когерентностью, полной линейкой пробоподготовки, информационным пределом < 0, 12 нм и увеличением 25x– 1, 000 kx (ПЭМ) 150x– 230 Mx (СПЭМ)
Афанасьев Александр Диомидович, тел. : 3952 405000, e-mail: aad@istu. edu
 528.  Многолучевая система, оснащенная электронной и ионной пушкой JIB-4501 в комплекте с безазотной системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)
Изучение физико-химических свойств вещества при помощи электронной сканирующей микроскопии с разрешением до 5 нм, ионного травления с низким уровнем повреждения вещества, системы энергодисперсионного анализа элементного состава вещества в области исследования, системы дифракционного анализа параметров кристаллической решетки вещества
Афанасьев Александр Диомидович, тел. : 3952 405000, e-mail: aad@istu. edu
 529.  Электронный растровый микроскоп-микроанализатор ExPress VP (FEI inc. )
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии
Ашурбеков Назир Ашурбекович, тел. : 8722 675817, e-mail: nashurb@mail.ru
 530.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии
Барышников Михаил Павлович, тел. : 3519 066428, e-mail: arcosmag@mail.ru
 531.  Система микроанализа INCA Energy 450 для растрового электронного микроскопа JEOL JSM-6490LV (Oxford Instruments Ltd. )
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроанализа
Барышников Михаил Павлович, тел. : 3519 066428, e-mail: arcosmag@mail.ru
 532.  Микроскоп просвечивающий электронный JEM-2100 (Jeol)
Предназначен для проведения микроскопии сверхвысокого разрешения
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 533.  Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (Jeol)
Предназначен для проведения сканирующей микроскопии с высоким разрешением. Метод растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа с использованием растрового электронного микроскопа-микроанализатора JSM позволяет: проводить неразрушающий многоэлементный анализ в области от 3 мкм от натрия до урана
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 534.  Микроскоп JSM-7001F (Jeol) растровый с термоэмиссионной пушкой Шотки
Предназначен для проведения микроскопического анализа с высоким разрешением
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 535.  Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой
Предназначен для проведения сканирующей микроскопии высокого разрешения
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 536.  Система спектрометрии характеристических потерь 863 GIF Tridiem (Gatan)
Для обнаружения малых примесей легких элементов и выявления их влияния на свойства металлов и сплавов; в физике полупроводников и электронике - для исследования электронных свойств различных полупроводниковых и металлических материалов.
Пашкевич Мария Анатольевна, тел. : 812 3288207, e-mail: mpash@spmi.ru
 537.  Микроскоп растровый электронный Quanta 200 (FEI Company)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой микроскопии
Кравченко Олег Александрович, тел. : 8635 255974, e-mail: savost@hotmail.ru
 538.  Микроскоп электронный сканирующий LEO 430 SEM (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 539.  Микроскоп электронный Supra 40 с комплексом диагностики микро- и наноструктур (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 540.  Электронный микроскоп Tecnai G2 F20 U-Twin (TECHNOINFO LTD)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 541.  Двухлучевой электронный микроскоп QUANTA 3D 200i (FEI)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Орликовский Александр Александрович, тел. : 499 1253826, e-mail: orlikovsky@ftian.ru
 542.  Просвечивающий электронный микроскоп Carl Zeiss Libra 200FE
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 543.  Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss CrossBeam 1540XB
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 544.  Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss EVO 60
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 545.  Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Ultra 55
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Сергиенко Валентин Иванович, тел. : 423 2222528, e-mail: dvo@hq. febras.ru
 546.  Настольный растровый электронный микроскоп HitachiTM3000
Микроскопические исследования материалов. Разрешение: 30 нм. Максимальный размер образца: 70 мм в диаметре, 50 мм в высоту. Ускоряющее напряжение 5кВ, 15кВ. Увеличение: х15-30000.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 547.  Микроскоп Axio Imager. А2
Исследовательский класс. Качественная оптика объективов и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, люминесценция. Визуализация изображения при помощи специализированной фотокамеры AxioCam MRc5 (Carl Zeiss Microscopy). Программное обеспечение Zena 2012 Pro. Изучение гистологического строения объектов биологического происхождения. Получение цифровых изображений высокого качества и разрешения.
Лисицын Сергей Викторович, тел. раб. : 7 (8652) 33-06-84, сот. : 7 (962)-449-50-38 Email: slisitcyn@ncfu.ru, ckp@ncfu.ru
 548.  Растровый электронный микроскоп BS-300 (Tesla)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой сканирующей микроскопии высокого разрешения
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 549.  Просвечивающий электронный микроскоп ПРЭМ-200 (Электрон)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 550.  Просвечивающий электронный микроскоп ЭМ-125 К (Электрон)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения
Небольсин Валерий Александрович, тел. : 473 2560465, e-mail: vcmsao13@mail.ru
 551.  Растровый электронный микроскоп Jeol JSM-6490LV
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Абрамович Римма Александровна, тел. : 495 7873803, e-mail: abr-rimma@yandex.ru
 552.  Флуоресцентный микроскоп MQA 15000 Nikon Eclipse FNI
Предназначен для общенаучных экспериментов в области флуорисцентной микроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 553.  Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп с блоком нанолитографии Raith 150 TWO (Raith, Германия)
Установка электронно-лучевой нанолитографии на основе автоэмиссионного растрового электронного микроскопа Raith 150 TWO предназначена как для электронной растровой микроскопии высокого разрешения (не хуже 2 - 5 нм), так и для проведения нанолитографии с размерами получаемых элементов не хуже 15 - 20 нм.
Каргин Николай Иванович, тел. : 8 (495) 788-56-99, доб. 8146, e-mail: NIKargin@mephi.ru; Васильевский Иван Сергеевич, Телефон (495) 788-56-99, доб. 8170, e-mail: ISVasilyevskij@mephi.ru
 554.  Растровый электронный микроскоп DSM-960 (Opton) с рентгеновским энерго-дисперсионным анализатором Amptek (США) и сканирующим туннельным микроскопом Un-derSEM
Предназначен для анализа морфологии поверхности образцов, тонких пленок. Исследование дефектов интегральных микросхем. Проведение экспресс-анализа элементного состава образцов. Во всех областях промышленности и науки, где требуются исследования внутренней структуры образцов и анализ элементного состава.
Троян Виктор Иванович, тел. : 8(495)788-56-99 доб. 9911, e-mail: VITroyan@mephi.ru; Лебединский Юрий Юрьевич, тел. : 8(495)788-56-99 доб. 9915, e-mail: YYLebedinskij@mephi.ru
 555.  Учебный сканирующий зондовый микроскоп с дополнительным оборудованием Nanoeducator -5 штук в комплекте
Предназначен для реализации общенаучных экспериментов в области сканирующей зондовой микроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 556.  Специализированный исследовательский комплекс на базе сканирующего электронного микроскопа
Предназначен для реализации общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 557.  Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп с катодом Шоттки Hitachi SU-70
Растровый электронный микроскоп. Модель SU-70 – это новая концепция сканирующих электронных микроскопов, в которой для достижения ультра высокого разрешения используется электронная пушка с катодом Шоттки и проверенная временем технология semi-in-lens. Данный микроскоп характеризуется не только ультравысоким разрешением (1 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ, 1, 6 нм при ускоряющем напряжении 1 кВ), но и возможностью исследования изображений со сниженным зарядом, изображений с контрастной структурой, изображений при ультранизком ускоряющем напряжении, используя достоинства Super ExB фильтра.
Еренков Олег Юрьевич, тел. : 4212 375231, e-mail: erenkov@list.ru
 558.  Растровый электронный микроскоп JSM 6510LV-EDS с рентгеновским энергодисперсионным спектрометром и литографической приставкой NanoMaker Full (JEOL Ltd. )
Предназначен для изучения топологии поверхности металлов, полупроводниковых, керамических и органических структур и их элементного и фазового состава. Литографическая приставка NanoMaker Full (Россия, Interface. Ltd, 2012) к этому микроскопу позволяет изготавливать маски для плазмохимического травления интегральных микросхем с разрешением не хуже 20 нм.
Удовиченко Сергей Юрьевич, тел. : 3452 542008, e-mail: udotgu@mail.ru
 559.  Микроскоп электронный ЭМВ -100Бр
Предназначен для общенаучных экспериментов в области микроскопии высокого разрешения
Кожина Татьяна Дмитриевна, тел. : 4855 280478, e-mail: prorectnir@rgata.ru
 560.  Комплект оборудования на базе сканирующего хондового микроскопа NANOEDUCATOR
Предназначен для оснащения научно-учебной лаборатории по нанотехнологиям
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 561.  Микроскоп Микромед Мет с видеоокуляром ToupCam 9, 0MP (увеличение 40х-400х, револьверная устр-во на 5 объективов, визуальная насадка бинокулярная)
Видеоокуляр ToupCam 9. 0 MP предназначен для совместной работы с микроскопами серии Микромед 3, Микромед МЕТ, Микромед ПОЛАР 1 и ПОЛАР 2, Микромед И. Видеоокуляр ToupCam имеет увеличенное поле зрения. Программное обеспечение позволяет отображать наблюдаемый объект на экране монитора, масштабировать его, сохранять для дальнейшей обработки как отдельные кадры в виде файлов изображений, так и их последовательности в виде видеофайлов.
 562.  Низковакуумный растровый электронный микроскоп JSM-6480LV (JEOL)
Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах. Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
тел. / факс (495) 638-45-46; (495)236-05-12 e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 563.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL)
Аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).
тел. / факс (495) 638-45-46; (495)236-05-12 e-mail: olga. trpva@rambler.ru
 564.  Модуль электронный микроскопии с термоэмиссионной пушкой Шотки и энергодисперсионным спектрометром JSM-7800F (Jeol)
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме GentleBeam
Николаев Анатолий Николаевич, тел. : 4112 496612, e-mail: aic-svfu@mail.ru
 565.  Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss Supra 25
Предназначен для общенаучных экспериментов в области автоэмиссионной микроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 566.  Аналитический комплекс для растровой электронной микроскопии LMU. IE 450 XT
Предназначен для общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 email: inno@sfedu.ru тел. : (863) 218-40-90 fax: (863) 218-40-90 web: www. sfedu.ru
 567.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy
Анализ поверхности микро- и наноструктур
Лейцин Владимир Нояхович, тел. : 4012 595548, e-mail: vleitsin@innopark. kantiana.ru
 568.  Микроскоп электронный ЭМ-200
Исследование тонкой структуры материалов
Салтыков Сергей Николаевич, тел. : 4742 328155, e-mail: saltsn@mail.ru
 569.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Aspex EXlorer
Предназначен для исследования металлических и диэлектрических образцов методом детектирования обратно рассеянных электронов и вторичных электронов, а также характеристического рентгеновского излучения.
Гороховский Александр Владиленович, тел. : 8452 998700, e-mail: ftf@sstu.ru
 570.  Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N
Изучение морфологии и химического состава веществ и материалов
Тарбоков Владислав Александрович, тел. : 3822 606258, e-mail: sanc@tpu.ru
 571.  Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 (Hitachi)
Изучение морфологии поверхности материалов
Тарбоков Владислав Александрович, тел. : 3822 606258, e-mail: sanc@tpu.ru
 572.  Растровый электронный микроскоп JSM 6510LA (JEOL)
Исследование морфологии поверхности, определение элементного состава вещества
Тюменцев Василий Александрович, тел. : 351 7997117, e-mail: tyum@csu.ru
 573.  Универсальный аналитический комплекс растровой электронной микроскопии Merlin (Carl Zeiss)
Позволяет получать морфологию поверхности с разрешающей способностью 0, 8 нм. Комплекс совмещен с энерго-дисперсионным спектрометром для анализа элементного состава исследуемых образцов. Дополнительный HKL-детектор измеряет структурные параметры кристаллов.
Нургалиев Данис Карлович, тел. : 843 2927288, e-mail: Danis. Nourgaliev@kpfu.ru
 574.  Аналитический растровый электронный микроскоп субнанометрового разрешения Zeiss Merlin
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 575.  Универсальный электронный микроскоп серии Zeiss Supra 40 VP
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронной сканирующей микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 576.  Микроскоп универсальный электронный ZeiSS LIBRA 200 FE
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 577.  Сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 578.  Микроскоп электронный просвечивающий сверхвысокого разрешения Titan3 (Cubed) G2 60-300 (FEI Company)
Исследования материалов методом ПЭМ
Макаров Владимир Сергеевич, тел. : 343 3754408, e-mail: v. s. makarov@urfu.ru
 579.  Электронный микроскоп Tesla BS-500
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 580.  Просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-1400
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 с установленной STEM-приставкой обладает высокими рабочими характеристиками и высококонтрастной электронной оптикой, имеющий максимальное ускоряющее напряжение 120 кВ. Применяется в исследованиях биологических образцов для: - Изучения тонкой структуры биологических объектов; - Электронно-микроскопической томографии; - Криоэлектронной микроскопии (Cryo-TEM).
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 581.  Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA 3 LMU
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей электронной микроскопии
Микушев Сергей Владимирович, тел. : (812) 363-60-36, e-mail: s. mikushev@spbu.ru
 582.  Сканирующий электронный микроскоп с ЭДС спектрометром HITACHI SE9010 совместно с модулями пробоподготовки, напыления металлов и охлаждения/ нагрева образцов
Исследование поверхности вещества
Семенцов Алексей Борисович, тел. : (8142) 71-32-37, e-mail: coastdweller@mail.ru
 583.  Термо-эмиссионный микроскоп JEOL JSM 6510LV
JSM-6510LV – одна из самых распространенных серий растровых электронных микроскопов. Эти приборы надежны, производительны и недороги. Они позволяют проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума. Камера образцов JSM-6510LV обладает солидным количеством портов и позволяет дооснастить РЭМ множеством разнообразных приставок (спектрометрами с дисперсией по энергиям и по длинам волн, системой дифракции отраженных электронов, системой катодолюминесценции, рамановским спектрометром) для решения широкого класса исследовательских задач.
 584.  Термоэмиссионный микроскоп JEOL JIB-4000
JIB-4000 – это однолучевая система со сфокусированным ионным пучком, которая может быть использована в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов либо в качестве системы ионного травления для приготовления образцов РЭМ и ПЭМ. Она оснащена ионной колонной специальной конструкции и отличается высокой производительностью и надежностью. Графический интерфейс пользователя прост и понятен, и управление системой не представляет трудностей даже для начинающих операторов.
 585.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM-ARM1300
Ключевым преимуществом мегавольтных ПЭМ над более низковольтными моделями является высокая проникающая способность высокоэнергетического электронного пучка, что позволяет работать с толстыми образцами. Дело в том, что сто-, двухсот- и трехсоткиловольтные модели просвечивающих электронных микроскопов требуют очень сильного утонения образца (до 100-200 нм), и некоторые материалы меняют свои свойства при подобной обработке (они попросту теряют свойства массивных материалов). А не утонять образец для исследований на низковольтных моделях тоже нельзя – энергия пучка электронов будет недостаточна для прохождения через него. Решить данную проблему позволяют JEM-ARM1000 и JEM-ARM1300. В них можно исследовать образцы толщиной до одного микрометра, которые полностью сохраняют свои свойства.
 586.  Электронно-оптический микроскоп FEI PHENOM
Позволяет получать изображение в оптическом режиме (увеличение 20х) и электронно-оптическом режиме (увеличение 250-20000х). Разрешение микроскопа составляет 20 нм. Исследуемые образцы не должна превышать 25 мм в диаметре и 30 мм по высоте. Время загрузки образца для выхода в электронно-оптический режим составляет 30 секунд. В микроскопе используется источник электронов на кристалле CeB6 с ускоряющим напряжением 5 кВ. Полученные изображения могут быть сохранены в форматах JPEG, TIFF и BMP, разрешение изображения: 456² , 684² , 1024² , 2048² пиксел.
 587.  Просвечивающий электронный микроскоп TECHNAI G2 20 TWIN (FEI)
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне. (паспортное разрешение до 1, 6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от бора до урана), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента.
 588.  Голографический микроскоп отраженного света Lyncee Tec SA
Является оптимальным решением для исследования хорошо или средней степени отражающих материалов. Использование технологии голографической микроскопии открывает множество возможностей, недоступных с помощью других методик, а возможность работать с поверхностями с коэффициентом отражения менее 1% делает их применимыми для широкого спектра материалов. Благодаря высокой частоте сбора данных и простоте использования, цифровые голлографические микроскопы Lyncee Tec SA находят свое применение как в рутинном контроле на серийном производстве или отделе ОТК, так и в сложных исследовательских задачах.
 589.  Микроскоп для анализа керна Zeiss Axio Imager
Предназначен для анализа керна микроскопическим методом
Сосновский Леонид Иннокентьевич, 664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 590.  Цифровой голографический микроскоп проходящего света серии Lyncee Tec DHM T1000
Предназначен для инспекции поверхности в проходящем свете. Принцип работы, основанный на голографической микроскопии, полная бecконтактность метода и полнофункциональность оптического профилометра делают этот прибор идеальным вариантом для количественных динамических и статических измерений прозрачных и полупрозрачных объектов.
 591.  Микроскоп для лабораторных исследований Axio Lab. A1
Предназначен для общелабораторных экспериментов в области микроскопии
Лобацкая Раиса Моисеевна, 664074, г. Иркутск, ул. Лермонтова, 83, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 592.  Электронный микроскоп, Dino-Lite AM7013MZTS
Предназначен для проведения экспериментов в области электронной микроскопии
Харинский Артур Викторович, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 593.  Микроскоп SIAMS Минерал С7 (Olympus Corporation)
Предназначен для общенаучных экспериментов в области электронной микроскопии
Федотов Константин Вадимович, ivansys@istu. edu; ynd@istu. edu
 594.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100 с системой энергодисперсионного микроанализа (JEOL)
Проведение электронно-микроскопических исследований по изучению тонкой структуры материалов, включая дислокационную, зеренную, субзеренную; фазового состава, химического состава отдельных фаз и их кристаллографической ориентации друг относительно друга; изучение морфологических особенностей выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня.
 595.  Растровый электронный микроскоп ZEISS CrossBeam AURIGA с системой комбинированного энергодисперсионного и волнового микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов (Carl Zeiss)
Линейные размеры фаз, частиц, включений, параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения, химический состав (в весовых и атомных %) конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов
 596.  Растровый электронный микроскоп JSM 6490 с приставками для энергодисперсионного и волнового микроанализа Oxford Inca (JEOL)
Линейные размеры фаз, частиц, включений, параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения, химический состав (в весовых и атомных %) конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов
 597.  Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области низковакуумной микроскопии
 598.  Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии CrossBeam 1540XB (Carl Zeiss)
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии
Васильев Владимир Николавевич, тел. : 812 2330089, e-mail: mater@mail. ifmo.ru
 599.  Микроскоп оптико-электронный Phenom (FEI)
Проведение РЭМ-исследований в режиме обратно-отраженных электронов, а также с возможностью совмещения с СЗМ.
Голубок Александр Олегович, тел. (812) 498-10-65, email: aogolubok@mail.ru
 600.  Микроскоп сканирующий зондовый Ntegra-THERMA (НТ-МДТ)
Измерения в широком температурном диапазоне
Шур Владимир Яковлевич, тел. : 343 2617436, e-mail: vladimir. shur@urfu.ru
 601.  Сканирующий электронный микроскоп LEO EVO 50 XVP (Carl Zeiss) с энерго- дисперсионным анализатором INCA - energy
Предназначен для определения локального и среднего качественного и количественного состава неорганических образцов, а также для получения и обработки изображений при увеличении до 300000 раз широкого класса объектов: фармацевтических, текстильных, медицинских, биологических и др. Разрешение при высоком вакууме (< 10-3 Па) 3. 5 nm. Нет ограничений при работе с непроводящими и биологическими образцами.
 602.  Сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000
Микроскопия, свойства поверхности. Увеличение х15-х30 000; Разрешение 30 нм; Размер образца H< 50 мм; D< 70 мм Ускоряющее напряжение 5 кВ; 15 кВ.
Сайгаш Анастасия Сергеевна, 70177 доб. 3134 сот. 8-923-425-49-29 nasts@tpu.ru
 603.  Сканирующий электронный микроскоп Phenom PRO
Phenom Pro – наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom, позволяет получать изображения с увеличением в диапазоне до 100 000x и разрешением до 17нм. Phenom Pro может быть укомплектован программным пакетом автоматизированных решений Pro Suite, позволяющих выделить максимум информации из изображения.
тел. менеджера: (383) 330 82 95
 604.  Сканирующий микроскоп СММ-2000 бинокулярный стереомикроском МБС-10 (Завод Протон-МИЭТ)
Исследование систем нанокластеров металлов на поверхности подложки, анализ формы кластеров, распределения по размерам и расстояниям до ближайших соседей, исследование структуры тонких пленок.
Елманов Геннадий Николаевич. Телефон (495) 323-92-71, e-mail: GNElmanov@mephi.ru
 605.  Настольный электронный микроскоп Hitachi TM-1000 (Hitachi)
В ходе анализа образцы облучаются пучком электронов с энергией 15 кэВ. При этом с поверхности вылетают вторичные электроны, отраженные электроны, а также тормозное и характеристическое рентгеновское излучение. Сравнение интенсивностей вторичных или отраженных электронов (данный прибор работает только в отраженных электронах) в различных точках поверхности позволяет определить рельеф поверхности. По характеристическому излучению можно судить о составе поверхности. Область применения. Анализ морфологии поверхности образцов после взаимодействия плазмы с поверхностью, физика твердого тела, тонких пленок. Проведение экспресс-анализа элементного состава образцов.
Гордеев Алексей Алексеевич. Телефон: (495) 788-56-99, доб. 8785, e-mail: gordeev@plasma. mephi.ru.
 606.  Просвечивающий электронный микроскоп Carl Zeiss Libra-120 (Carl Zeiss)
Встроенный в колонну спектрометр энергетических потерь электронов (EELS-спектрометр), позволяет проводить спектральный анализ для определения химического состава вещества приисследованиях полупроводников, материаловедческом анализе и исследованиях в других областях, а также обеспечивает интегральную фильтрацию изображения. Область применения: В областях промышленности и науки, где необходимы исследования внутренней структуры образцов и анализ элементного состава.
Стальцов Максим Сергеевич. Телефон 8(495) 788-56-99 доб. 8145, e-mail: m. staltsov@gmail.com.
 607.  Растровый электронный микроскоп Carl Zeiss EVO 50 (Carl Zeiss)
Исследование топографии и структуры поверхности, получение изображения во вторичных и обратнорассеянных электронах. Рентгеноспектральный микроанализ элементного состава с использованием энергодисперсионного и волнодисперсионного спектрометров (EDS, WDS). Детектор дифракции обратно-рассеянных электронов – анализ фазового состава и текстуры (EBSD).
Джумаев Павел Сергеевич. Телефон 8(495) 788-56-99 доб. 8143, e-mail: PSDzhumaev@mephi.ru
 608.  Просвечивающий электронный микроскоп TECHNAI G2 20 TWIN
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне
 609.  Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией Quanta 650 FEG и система рентгеновского микроанализа EDAX
- исследование поверхности объектов методами растровой электронной микроскопии в вакууме с разрешением до 1, 1 нм, получение снимков поверхности в различном увеличении в режимах вторичных и отражённых электронов; - исследование биологических объектов в специальном режиме ESEM (давление водяных паров в камере до 130 Па), получение снимков поверхности в различном увеличении в режиме вторичных электронов; - рентгеноспектральный анализ элементного состава поверхности образца.
8-930-858-00-35 umsn@yandex.ru
 610.  Сканирующий электронный микроскоп Phenom PRO
Позволяет получать изображения с увеличением в диапазоне до 100 000x и разрешением до 17нм. Phenom Pro может быть укомплектован программным пакетом автоматизированных решений Pro Suite, позволяющих выделить максимум информации из изображения.
 611.  Малогабаритный сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU1510
Предназначен для исследования морфологии нано- и микроструктурированных веществ и материалов, определения размеров и формы кристаллитов
ЦКП Исследовательский научно-аналитический центр ФГУП ИРЕА 107076, г. Москва, Богородский вал, д. 3. office-irea@mail.ru, тел. 7 (495) 963-70-70
 612.  Универсальный измерительный микроскоп УИМ-21
Предназначен для исследования микроскопических материалов на предмет определения их размеров
Фурса Татьяна Викторовна, fursa@tpu.ru
 613.  Электронный, микроскоп JEМ-7А (МФ-2)
Лабораторное (ДЛЯ выполнения НИР и ОТР)
 614.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom
Лабораторное (исследования структуры металлических и неметаллических, материалов)
 615.  Микроскоп с цифровой камерой DFC490, Ш-30090, 12. 10. 2011
Лабораторное (научные исследования и разработки)
 616.  Микроскоп в комплекте Olimpus BX51TRF-5
Лабораторное (исследование характеристик ПКМ)
 617.  Микроскоп Nikon Eclipse МА 200, инв. №: 5557
Лабораторное (ДЛЯ выполнения НИР и ОТР)
 618.  Микроскоп LEXT-OLS
Для исследования структуры материалов (Исследование физико-механических характеристик и структуры материалов)
 619.  Микроскоп JЕМ-200 СХ электронный, инв. №: 2180
Лабораторное (ДЛЯ выполнения НИР и ОТР)
 620.  Сканирующий мультимикроскоп СММ-2000
Получение трехмерных изображений с разрешение до 0, 1 ангстрема
(4242) 45-41-00
 621.  Микроскопы рудные поляризационные ПОЛАМ Р-312
Используется для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете(обыкновенном и поляризованном), а также прозрачных объектов в проходящем свете при небольших увеличениях
(4242) 45-41-00
 622.  Микроскоп поляризационный отраженного и проходящего света Scope A1 с сопутствующими программами и объективами
Axio Scope. A1 FL - флуоресцентный микроскоп для лабораторных исследований биологических объектов в проходящем свете и с использованием люминесценции; для гистологических, цитологических и гематологических исследований; для исследований бактерий и вирусов; в цитогенетике (G-бэндинг, Q-бэндинг, FISH-анализ); в промышленных лабораториях для исследования прозрачных и полупрозрачных объектов.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 623.  Микроскоп Leica DM ILM LED с цифровой камерой Leica DFC295
Компактный инвертированный микроскоп Основные технические характеристики: • работа в отраженном свете • встроенное галогенное освещение 35Вт (опционально – 100 Вт) • встроенная апертурная диафрагма • окуляры 10х/ 18 (20) • револьвер на 4 объектива (М25) • объективы N PLAN или PL Fluotar • увеличение от 25х до 1000х • большие рабочие расстояния • большой универсальный предметный столик 247 х 230 мм • образцы размером до 150 х 150 мм • возможность установки поляризации, флуоресценции • возможность комплектации цифровой камерой DFC295 – это цветная цифровая камера, предназначенная для использования в лабораторных условиях. Все камеры DFC работают через стандартный программный интерфейс TWAIN, что позволяет использовать их как вместе с многообразием программных продуктов Leica, так и со сторонними программными продуктами.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 624.  Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7600F
Исследование поверхности, состава, строения. Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1, 2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки In-lens , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах. Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным. Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах. На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL. Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров.
8-499-720-69-07
 625.  Атомно-силовой микроскоп Certus Standard (Нано скан технология)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы. Предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитически задач.
8-499-720-69-07
 626.  Микроскоп Stemi 2000 (Carl Zeiss)
Проведение оптических измерений
8-499-720-69-07
 627.  Микроскоп Carl Zeiss Axio Lab. A1
Широкий диапазон применения - от учебных классов , контрольных лабораторий до применения в научно-исследовательской деятельности. Данная модель микроскопа имеет сертификат TUV по эргономике.
8-499-720-69-66
 628.  Микроскоп сканирующий LWM-250UV (Leica)
Оптические измерения элементов микросхем
8-499-720-69-66
 629.  Термический столик MK3 COOLSTAGE (Deben) для проведения экспериментов при пониженных и повышенных температурах для растрового электронного микроскопа
Исследования при пониженных и повышенных температурах образцов на растровом электронном микроскопе.
8-499-720-69-07
 630.  Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа XeDraw 2 (Xenos)
Управление пучком и прецизионная засветка фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа.
8-499-720-69-07
 631.  Мульти-микроскоп сканирующий СММ-20001
Выполнение микроскопических исследований в режимах сканирующей туннельной микроскопии (STM) и атомно-силовой микроскопии (AFM).
 632.  Микроскоп ZEISS AxioImager A2 c цветной цифровой камерой высокого разрешения AxioCam MRc5
Для наблюдения препаратов в учебных и научных работах. Исследование растительных и животных тканей, фито- и зоопланктона, микробиоты воды и донных осадков. Получения цифровых изображений высокого качества и разрешения.
г. Якутск, ул. Кулаковского, 46, каб. 303 8(4112) 49-66-12 aic. svfu@mail.ru, ckp@s-vfu.ru http: / / aic-svfu.ru/ ckp/
 633.  Сканирующий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного анализа S3400N
Получение изображений поверхности образцов с высокими разрешением и степенью увеличения путем сканирования электронным пучком. Определение спектрального состава материалов (Диапазон детектирования Be – Pu)
Центр коллективного пользования Новые материалы и технологии г. Комсомольск-на-Амуре, пр. Ленина, д. 27, корпус 2, ауд. 208-2, 106-2, 115а-2, 123-2. E-mail: ckp@knastu.ru Тел. : 7(4217)24-11-48
 634.  Растровый электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JSM-7800F
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме GentleBeam (торможение электронов перед образцов и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ).
 635.  Аналитический электронный микроскоп JEM-2100 (Jeol)
Исследование морфологии и ультраструктуры микро- и нанообъектов. Анализ химического состава выделенных структур в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии. Получение дифракционной картины в режиме дифракции электронов. Статистический анализ морфометрических параметров
тел. (8332) 64-15-91
 636.  Операционный микроскоп OPMI 1 FC с принадлежностями
Предназначен для проведения микроскопических исследований
 637.  Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4. 6 для управления камерой
Предназначен для проведения микроскопических исследований
 638.  Лабораторный микроскоп Axio Lab. A1 с цветным цифровым фотоаппаратом Canon PowerShot G11 и программным обеспечением
Предназначен для проведения микроскопических исследований
 639.  Лабораторный инвентированный микроскоп Axiovert 40 Ct с цифровой фотокамерой высокого разрешения и программным обоспечением
Предназначен для проведения микроскопических исследований
 640.  Микроскоп Olympus BX-S1 с цифровой камерой
Предназначен для флуоресцентной или DIC – микроскопии.
 641.  Цифровой микроскоп Coolscope II
Предназначен для микроскопического исследования веществ
Воробьев Андрей Иванович, т. 420-727
 642.  Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб
Предназначен для микроскопического исследования веществ
Филимонов Семён Юрьевич, (3822) 701-777 вн. 2334
 643.  Модульный микроскоп Olympus модели СХ41
Предназначен для исследований структуры микровеществ
Чеканцева Лилия Васильевна, chlb@tpu.ru
 644.  Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения
Аналитическая система на основе сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения Nova NanoSEM 450 FEI Company (страна производитель Чешская Республика) с системами энергодисперсионного анализа, волнодисперсионного анализа и анализа картин дифракции обратно-отраженных электронов EDAX Trident (страна производитель США), комплект вспомогательного оборудования
 645.  Микроскоп проходящего света МП-201
Предназначен для микроскопических исследований с использованием проходящего света
Столбова Нэля Федоровна, т. 563-464
 646.  Микроскоп Микротон-107
Предназначен для исследования неорганических веществ
Коробочкин Валерий Васильевич, т. 563-982
 647.  Микроскоп бинокулярный МС-100 (окуляр 2шт)
Предназначен для микроскопического исследования биологических веществ
Асташкина Анна Павловна, apa2004@mail.ru
 648.  Микроскоп Meiji Techno MC50
Предназначен для микроскопического измерения
Волостнов Александр Валерьевич, т. 42-40-08
 649.  Микроскоп ПОЛАМ Р-312 с ЦФК высокого разрешения
Предназначен для микроскопических исследований
Черкашина Галина Анатольевна, т. 563-464
 650.  Растровый электронный микроскоп (EVO HD 15 MA)
Предназначен для анализа веществ, от минеральных агрегатов до цеолитов, получение изображения
кафедра материаловедение и автосервис, Тел. 8 (861)274-40-48, innovazionni@kubstu.ru, nastya_Yakovleva89@mail.ru
 651.  Комплект для визуального анализа на базе микроскопа Микромед 2 вар. 3-20
Наблюдение и морфологические исследования препаратов в проходящем свете по методу светлого поля, а также по методу темного поля и фазового контраста.
 652.  Микроскоп МИКМЕД-1 вар. 1
Предназначен для наблюдения и морфологических исследований препаратов в проходящем свете по методу светлого поля
кафедра Безопасность жизнедеятельности, Тел. 8 (861)274-40-48, innovazionni@kubstu.ru, nastya_Yakovleva89@mail.ru
 653.  Микроскоп LEICA CMEс цветной цифровой фотокамерой для микроскопии Leica EC3
Выполнение практически широкого ряда микробиологических исследований
кафедра биоорганической химии и технической микробиологии, Тел. 8 (861)274-40-48, innovazionni@kubstu.ru, nastya_Yakovleva89@mail.ru
 654.  Микроскоп Micros MC-300 TFC флюоресцентный
Позволяет наблюдать флюолесценцию микроорганизмов, клеток, тканей или отдельных структур, входящих в их состав.
Соловьёв Владимир Сергеевич E-mail: vnd3@yandex.ru Тел. : 8 (3452) 25-51-20
 655.  Микроскоп МБИ-6
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 656.  Микроскоп горизонтальный
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 657.  Цифровой поляризационный микроскоп AM413ZT
Портативный ручной цифровой микроскоп / камера для работы с поверхностями с повышенными отражающими свойствами, выпуклыми и металлическими поверхностями. увеличение10-70х, 220х с плавным регулированием, разрешение 1280х1024 точек.
160000, Россия, г. Вологда, ул. Ленина, д. 15(8172) 72-46-45kanz@mh. vstu. edu.ru
 658.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 6490LV
Электронная микроскопия
Российская Федерация, 660041, г. Красноярск, пр. Свободный, 79 Сибирский федеральный университет Научно-исследовательская часть Первухин Сергей Васильевич (391) 2912-848
 659.  Сканирующий электронный микроскоп JSM 7001F
Электронная микроскопия
Российская Федерация, 660041, г. Красноярск, пр. Свободный, 79Сибирский федеральный университетНаучно-исследовательская частьПервухин Сергей Васильевич(391) 2912-848
 660.  Просвечивающий электронный микроскоп TEM 2100
Электронная микроскопия
Российская Федерация, 660041, г. Красноярск, пр. Свободный, 79 Сибирский федеральный университет Научно-исследовательская часть Первухин Сергей Васильевич (391) 2912-848
 661.  Микроскоп Эпиквант
Проведение качественного и количественного металлографического анализа
Афанасьев В. К. (3843) 748631
 662.  Микроскоп люминисцентный
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 663.  Сменный сканер SC 100
Наблюдение объектов при микроскопировании
Карасева Надежда Александровна, 7(4742)328155
 664.  Микроскоп измерительный МПБ-3 м
Исследование структуры материалов методом оптической микроскопии
1
 665.  Микроскоп настольный растровый электронный Hitachi TM-1000
Универсальная биологическая сканирующая электронная микроскопия. Биомедицинские, биологические, биотехнологические области применения.
Беспятых Андрей Васильевич тел. 8 (843) 2315288, 420008, Россия, РТ, г. Казань, ул. Кремлевская, д. 18.
 666.  Микроскоп измерительный, высокоточный МИ-12000
Прибор, предназначенный для получения увеличенных изображений, а также измерения объектов или деталей структуры, невидимых или плохо видимых невооружённым глазом.
 667.  Микроскоп цифровой G 50s
Морфологические исследования препаратов
 668.  Микроскоп РЭМ 100У (21)
Предназначен для всестороннего исследования поверхности различных твердых тел. Основные системы и узлы микроскопа РЭМ-100У заимствованы с микроскопа РЭММА-200, высокого разрешения с комплектом приставок для всестороннего исследования поверхности различных твердых тел
Калмыков А. Н. E-mail: kan@smtu.ru
 669.  Микроскоп ST – VS 340 EC #1#
Предназначен для исследования микроструктуры металлов и сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом освещении
25-84-80
 670.  Микроскоп Люмам
Предназначается для исследования объектов в свете люминесценции, возбуждаемой сине-фиолетовым участком спектра, а также ультрафиолетовыми лучами
Проректор по научной работе и инновационно-коммуникационным технологиям БГТУ ВОЕНМЕХ им. Д. Ф. Устинова С. А. МатвеевТел. : (812) 316-04-38Тел. : (812) 316-43-16
 671.  Тринокулярный микроскоп OPTIKA B/ 500 Tpl
Тредназначен для исследований малоконтрастных клеточных культур тканей, осадков жидкостей.
 672.  Цифровой микроскоп 320L
Устройство для увеличения диапазона чувствительности глаза при исследованиии объектов, имеющих малые размеры
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 673.  Просвечивающий электронный микроскоп Libra 120 (Carl Zeiss)
Определение фазового состава пленок, порошков. Определение структурных характеристик пленок: поликристалл, монокристалл, эпитаксия, размер зерен, плотность дефектов.
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ru Сайт: www. vsu.ru
 674.  Микроскоп БМИ-1Ц
Предназначен для измерения: - в проходящем и отраженном свете наружных линейных размеров и диаметров валов до 150мм в продольном направлении и до 50 мм в поперечном направлении - углов изделий до 360° по угломерной головке и столу - резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, а также шаблонов любой формы и конфигурации, габариты которых позволяют установить их на измеритель ном столе микроскопа.
E-mail: olukina@ugtu. net, тел. : (8216) 700-640
 675.  Микроскоп ПОЛАМ P-312
Предназначенн для наблюдения и фотографирования объектов в отражённом обыкновенном и поляризованном свете, а также в проходящем свете при небольших увеличениях
308012, Белгород, ул Костюкова д 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupik@yandex.ru
 676.  Растровый электронный микроскоп Quanta 200 (FEI) с термоэмиссионным катодом и системой микроанализа
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
ПАВЕЛЬЕВ Владимир Сергеевич; 5 корп. - 245а комн. ; (846) 267-48-43; nano@ssau.ru
 677.  Универсальный СЗМ комплекс ИНТЕГРА Томо (НТ-МДТ)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
НОЦ НТ-94; Научный руководитель ПАВЕЛЬЕВ Владимир Сергеевич; 5 корп. - 245а комн. ; 8 (846) 267-48-43; nano@ssau.ru
 678.  Микроскоп МИМ-8 инв, 60317 б/ у
Микроскоп металлографический горизонтальный МИМ-8М предназначен для визуального наблюдения и фотографирования микроструктуры металлов и других прозрачных объектов в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле и в поляризованном свете. Визуальное наблюдение на микроскопе производится с помощью монокулярной и бинокулярной насадок. Применяется в металлографических лабораториях научно-исследовательских институтов, промышленных предприятий и высших учебных заведений.
308012, Белгород. ул. Костюкова д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupik@yandex.ru
 679.  Система растровойэлектронной микроскопии с приставками рентгеновского энергодисперсионного и волнодисперсионного микроанализа
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 680.  Фотомикроскоп
Предназначен для исследований прозрачных и непрозрачных объектов в проходящем свете - обыкновенном и поляризованном, а также исследований по методу фокального экранирования
E-mail: olukina@ugtu. net, тел. : (8216) 700-640
 681.  Микроскоп электронный сканирующий с электронным и ионным пучком
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 682.  Сканирующий (растровый) электронный микроскоп в комплекте с системой управления и построения изображения Genesis XM260SEM
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 683.  Микроскоп операционный OMS-800 с принадлежностями
Микрохирургия
 684.  Микроскоп электронный просвечивающий в комплекте с цифровой камерой
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 685.  Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments)
Оборудование предназначено для реализации методики исследований кристаллической структуры проводящих материалов методом дифракции электронов на электронном микроскопе EVO 40.
Адрес: 191186, Санкт-Петербург, набережная реки Мойки, д. 48, Телефон: 7 (812) 571-55-40, доб. 20-63
 686.  Просвечивающий низковольтный электронный микроскоп Lvem5M
Предназначен для наблюдения биологических объектов (клеточная структура в тонких срезах, микроорганизмы, вирионы вне и внутри клеточной среды, компоненты лекарственных препаратов, макромолекулярные комплексы, a также образцов различного типа и химической природы (наночастицы, нанотрубки, волокна, срезы полимеров, биоткани) в режиме просвечивающей электронной микроскопии.
Смородин Борис Леонидович, тел. : (342) 239-65-06, e-mail: smorodin@psu.ru
 687.  Междисциплинарный учебно-научный комплекс зондовой микроскопии Nanoeducator II
Учебно-научный комплекс позволяет приобрести навыки исследования нанообъектов и наноструктур, а так же познакомиться с методами создания наноструктур: нанолитография и наноманипуляция
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 688.  Электронный сканирующий микроскоп TM-1000 tabletop SEM Hitachi
Определение структурных характеристик пористых каталитических слоев, электродов и мембранно-электродных блоков
д. т. н. , проф. , Кулешов Николай Васильевич 8(495)362-7694 kuleshovnv@mpei.ru kuleshovnv@rambler.ru
 689.  Микроскоп электронный просвечивающий с системой цифрового захвата и обработки изображения
Аналитически-испытательное оборудование
Алексеенко Алексей Викторович, e-mail: engineering@mail. tsu.ru, тел. 8 (3822) 53-48-45
 690.  Микроскоп Эпиквант
Для металлографического исследования и анализа структуры металлов и сплавов
Козырев Н. А. (3843) 784315
 691.  Электронный микроскоп
Исследования методом электронной микроскопии
Немич Виктор Николаевич, директор НИУ СибГТУ; тел. 8(391) 266-03-90; E-mail: nvn@sibgtu.ru
 692.  Микроскоп тринокуляр цифровой
Для увеличения и исследования микрообъектов
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 693.  Микроскоп операционный OPMI Lumera
Микрохирургия глаза
 694.  Электронный портативный микроскоп (Pen Scope) CVTDM-MC01
Исследование микроперемещений
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 695.  Микроскоп ФЛЮОР, СХ41 (OLIMPUS) - ТРИНО
Для микроскопических исследований
Немич Виктор Николаевич, директор НИУ СибГТУ; тел. 8(391) 266-03-90; E-mail: nvn@sibgtu.ru
 696.  Микроскоп СХ41(OLIMPUS)
Микроскопические исследования штаммов грибов и др. биоматериала
Немич Виктор Николаевич, директор НИУ СибГТУ; тел. 8(391) 266-03-90; E-mail: nvn@sibgtu.ru
 697.  Микроскоп
Микроскопические исследования материалов
Немич Виктор Николаевич, директор НИУ СибГТУ; тел. 8(391) 266-03-90; E-mail: nvn@sibgtu.ru
 698.  Микроскоп Leica DM 2500
Исследование образцов в оптическом микроскопе
8(495)276-33-83
 699.  Микроскоп OLIMPICO MORA-Interface для стоматологии Carl Zeiss
Микроскопия
 700.  Лабораторный микроскоп Microoptix
Лабораторный микроскоп позволяет проводить металлографические исследования и исследовать процессы кристаллизации. Инновационная составляющая: Поворотный револьвер на 4 объектива, позволяющий проводить исследования процессов кристаллизации на разных масштабных уровнях
Гончаров Алексей Леонидович, 8 (495)3627118, E-mail: goncharoval@mpei.ru
 701.  Установка по определению расстояния между плоскостями кристаллической решетки поликристаллических порошковых образцов (Сканирование методом)
По определению расстояния между плоскостями кристаллической решетки
Юго-Западный государственный университетЦентральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 702.  Микроскоп Gelestron LCD Digital Microscope
Исследование различных объектов
Юго-Западный государственный университет Центральный федеральный округ 305040, Россия, г. Курск, ул. 50 лет Октября, 94 e-mail: bvv001@mail.ru тел. (4712) 50-48-00 fax: (4712) 50-48-00 web: www. swsu.ru
 703.  Микроскоп Микромед Р-1
Наблюдения и морфологические исследования в проходящем свете по методу светлого поля
(4242) 45-03-21
 704.  Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа
Аналитический прибор, способный демонстрировать высокое разрешение в широком диапазоне ускоряющих напряжений и давлений остаточного вакуума в камере {режим VP-SEM). Микроскоп оснащен термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Рабочая камера имеет 10 портов (фланцев) для подключения дополнительного оборудования.
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 705.  Микроскоп медицинский прямой СХ41RF для лабораторных исследований с принадлежностями
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 706.  Микроскоп НУ-2Б, 135632
Исследование микроструктуры материалов в отраженном свете
8(4742)307932 зав. кафедрой Шкатов В. В.
 707.  Микроскоп Эпиквант, 135603, 135604
Исследование микроструктуры материалов в отраженном свете
8(4742)307932 зав. кафедрой Шкатов В. В.
 708.  Поляризационный микроскоп IPP 901 (Metkon)
Предназначен для наблюдения за процессом доводки шлифа в проходящем свете, увеличение 40x-1000x.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 709.  Микроскоп МИМ-10, 101040001279
Исследование микроструктуры материалов в отраженном свете
8(4742)307932 зав. кафедрой Шкатов В. В.
 710.  Микроскоп электронный ЭМ-200, 135363
Исследование тонкой структуры материалов
8(4742)307932 зав. кафедрой Шкатов В. В.
 711.  Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5. 0 Mega Pixels Color Digital Camera Head
Предназначена для микроструктурных наблюдений.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 712.  Камера для микроскопа Nikon DS-Ri1 12. 7 M пиксел 2/ 3 дюйма
Предназначена для наблюдений при криометрических и термометрических исследованиях.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 713.  Блок обработки и визуализации для микроскопа Nikon (Linksys 32 , Nis Elements D)
Предназначен для контроля температуры и управления микроскопом, регистрации изображений, документирования, обработки и анализа данных.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 714.  Поляризационный микроскоп Nikon eclipse LV 100 Pol
Предназначен для наблюдения за экспериментом в поляризованном свете. Используется в исследовательских работах во многих областях, таких как: кристаллография, медицина, петрография, криминалистика, биология, химия и минералогия.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 715.  Универсальный микроскоп Nikon eclipse LV 100D-U
Предназначен для проведения криометрических и термометрических экспериментов. Такие образцы как: пленки, пластики, волокна, эмульсии, полупроводники, магнитные головки, ЖК-дисплеи металлографические шлифы легко могут быть исследованы с помощью данного микроскопа. Максимальный размер образца: 150*100 мм.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 716.  Микроскоп Olympus CX41
Olympus CX41 относится к классу рабочих микроскопов и предназначен для использования для рутинной работы в лабораториях: гистологических, цитологических, гематологических и т. д. Микроскоп Olympus CX41 является базовой моделью для комплектации систем анализа изображений для морфометрии, хромосомного анализа и анализа подвижности сперматозоидов.
Ванаг Владимир Карлович - Директор химико-биологического института БФУ им. И. Канта Адрес электронной почты: vkvanag@gmail.com, vvanag@kantiana.ru Рабочий телефон: 5000, 53-37-07
 717.  Микроскоп МЕТАМ ЛВ42 (ЛОМО)
Для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом и темном поле и по методу дифференциально-интерференционного контраста
 718.  Комплекс туннельных микроскопов
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 719.  Микроскоп Olympus CX41
Рабочий микроскоп для лаборатории. Непревзойденная оптика и функциональность для своего класса.
Ванаг Владимир Карлович - Директор химико-биологического института БФУ им. И. КантаАдрес электронной почты: vkvanag@gmail.com, vvanag@kantiana.ruРабочий телефон: 5000, 53-37-07
 720.  Микроскоп ОГМЭ-П2
Для наблюдения объемных предметов, для ювелирных, радиотехнических и других работ, требующих наблюдения миниатюрных деталей с комфортом для наблюдателя на протяжении длительного времени
 721.  Микроскоп Микромед
Проведение измерений
Лукьянов Александр Дмитриевич 8-863-2-381-751 8-908-506-95-08 lex1998@rambler.ru
 722.  Микроскоп МИК
Микроскоп измерительный МИК-1 предназначен для наблюдения и измерения линейных размеров предметов и может быть использован: - в зерновых лабораториях ( при определении зараженности зерна) - при определении твердости материалов; - юными натуралистами; - филателистами; - в школьных кабинетах; - радиолюбителями (при изготовлении печатных плат); - в полиграфии; - при проведении экспертиз (сантехнических, криминальных и т. п. ); - при контроле износа конструктивных элементов (например: канатов подъемно-транспортных средств); - в текстильной промышленности. Исследования проводятся в проходящем и в отраженном свете.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 723.  Микроскоп МБС-10
Изучение микроструктуры материалов
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru Контактное лицо: Пылаев Александр Яковлевич, тел. 79888984462, E-mail: a. pilaev@mail.ru
 724.  Микроскоп измерительный МПБ-2
Определения размеров частиц и микроструктуры материала
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru Контактное лицо: Пылаев Александр Яковлевич, тел. 79888984462, E-mail: a. pilaev@mail.ru
 725.  Оборудование для микроскопических исследований (для анализа и обработки изображений).
Применяется для сравнения данных оптических наблюдений объектов с результатами исследований сканирующей зондовой микроскопии.
Научно-образовательная лаборатория Основы нанотехнологий и сканирующей зондовой микроскопии (430007, Саранск, Студенческая, 11 а).
 726.  Туннельный микроскоп Умка
Измерение рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 727.  Цифровой микроскоп EQ-MM500T – USB
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 728.  Атомно-силовой микроскоп Smena
Атомно-силовой микроскоп SMENA предназначен для исследования материалов электронной техники, предоставляет пользователю широчайшие возможности для исследований тонких пленок, нанопорошков, гетерогенных наноструктур, изучения топологии поверхности, электрических и магнитных свойств, механических характеристик in situ на образцах практически любого размера и геометрии.
(812) 494-7032 Шишлаков Владислав Федорович
 729.  Видеоокуляр DCM - 300
Видеоокуляр DMC - 300 соединяет микроскоп с персональным компьютером и предоставляет возможность наблюдать за изображением на экране компьютерного монитора, возможность сохранять и редактировать изображения, получаемые под микроскопом.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 730.  Микроскоп Микмед-6 медицинский, световой с микровизором mVizo-103
Микроскопия и визуализация объектов
ФГБОУ ВПО ЧГУ им. И. Н. Ульянова 428015, г. Чебоксары, Московский пр. , 15 (8352) 45-24-03 nich_chuvsu@mail.ru, nich_chuvsu@rambler.ru
 731.  Автоматический анализатор микроскопии мочи iQ200 с принадлежностями
Анализ микроскопии мочи
 732.  Камера цифровая для микроскопа Levenhuk C1400 NG 14 Mpix
Передача и сохранение изображения с оптического микроскопа на компьютер
308012, г. Белгород, ул. Костюкова, 46 факс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupic@yandex.ru
 733.  Растровый электронный микроскоп Tescan VEGA II LMU с микроскоп с системами энергодисперсионного и волнодисперсионного микроанализа INCA VEGA II LMU / INCA ENERGY 450/ XT, INCA WAVE 700
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42 тел. (863) 218-40-90 e-mail: inno@sfedu.ru
 734.  Микроскоп видео Микромед 3-20 тринокуляр
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 735.  Специализированный исследовательский комплекс на базе сканирующего электронного микроскопа с расширенными функциональными возможностями Phenom
Электронный микроскоп с комбинацией световой и электронно-оптической технологий и системой пробоподготовки образцов. Разрешение - 30 нм Идентификация морфологии частиц малых размеров: бактерии, клетки, пыльца растений, металлы, объекты судебной медицины и др. Интерактивная система, мгновенная загрузка образцов с габаритными размерами до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину
347928 г. Таганрог, ГСП-17А, пер. Некрасовский, 44, ИТА ЮФУ, ЦКП Нанотехнологии тел. (8634) 311-584 e-mail: ckpnano@sfedu.ru
 736.  Микроскоп Неофот 32
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 737.  Электронный микроскоп с системой электронной литографии Nova NanoLab 600
Предназначен для исследования внутреннего строения объектов на микро- и наноуровнях, создания трехмерных изображений образцов. Совместное использование фокусированных электронного и ионного пучков позволяет совмещать операции модификации подложек с выполнением анализа и контроля параметров технологического процесса. В состав Nova 600 входят: электроннолучевая колонна, оснащенная катодом с полевой эмиссией, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 1, 1 нм при 15 кВ; ионная колонна Magnum с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 30 кВ, разрешение 7 нм; 4-х канальная газовая инжекционная система; система энергодисперсного рентгеновского микроанализа EDAX GENESIS 6000i; система электронно-лучевой литографии Raith DELPHY 6 MHZ. Система оснащена 5-ти осевым программно-управляемым моторизованным предметным столиком (150х150х10 мм), позиционирующим образец с высокой точностью
347928 г. Таганрог, ГСП-17А, пер. Некрасовский, 44, ИТА ЮФУ, ЦКП Нанотехнологии тел. (8634) 311-584 e-mail: ckpnano@sfedu.ru
 738.  Сканирующая зондовая нанолаборатория СЗНЛ NTegra ЗАО НТ-МДТ
Комплексные исследования различных объектов с высоким пространственным разрешением.
Центр коллективного пользования научным оборудованием Качество и безопасность пищевых продуктов
 739.  Микроскоп ЛОМО АУ-12
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 740.  Микроскоп Вр-51
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 741.  Стенд для микросхем: Комплект оборудования для микроскопических исследований
Позволяет производить сборку микрочипов с точностью до 0, 5мкм методами ультразвуковой микросварки, клеевых соединений, в том числе токопроводящих
 742.  Измерительный микроскоп
Предназначен для проведения микро- исследований
uni207@mail.ru, uni@skgmi-gtu.ru, (8672) 407166
 743.  Микроскоп растровый электронный JSM-6380. JEOL LTD
Предназначен для визуального исследования микро- и нано- объектов, а также для производства электронной литографии наноструктур
 744.  Электронный микроскоп БС-340
Визуализация объектов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 745.  Аналитический комплекс на базе сканирующего (растрового) электронного микроскопа TESCAN Vega II SBU
Позволяет исследовать микроструктуры вещества Состоит из - сканирующий (растровый) электронный микроскоп с вольфрамовым катодом с термоэлектронной эмиссией TESCAN Vega II SBU; - система для определения элементного (химического) состава на основе полупроводникового энергодисперсионного детектора Inca Energy 250 с безазотным детектором X-act;
Мирошникова Ирина Николаевна, тел. 84953627168, е-майл – MiroshnikovaIN@mpei.ru
 746.  Микроскоп МИИ-7
Измерение толщины образцов пленок
347922, г. Таганрог, ул. Чехова, 2 тел. (863) 437-16-24 e-mail: hie@tgn. sfedu.ru Контактное лицо: Клиндухов Валерий Григорьевич
 747.  Микроскоп Микмед-1вар. 3
Производить морфологические исследования и наблюдение объектов по методу светлого поля в проходящем свете.
Лежнина Лидия Васильевна, тел. : (3822) 44-48-21, e-mail: nis@tspu. edu.ru
 748.  Микроскоп измерительный BMG-160
Для измерения толщины покрытий
347922, г. Таганрог, ул. Чехова, 2 тел. (863) 437-16-24 e-mail: hie@tgn. sfedu.ru Контактное лицо: Клиндухов Валерий Григорьевич
 749.  Микроскоп
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 750.  Микроскоп
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 751.  Микроскоп МИКМЕД-1 вариант 2
Проведение научных исследований в области разработки рецептур и технологии продуктов питания, в том числе специализированного и функционального назначения.
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта/ Народной воли, 62/ 45 ФГБОУ ВПО Уральский государственный экономический университет Кафедра технологии питания (434)221-26-72
 752.  Микроскоп измерительный МПБ-3М
Измерение ширины раскрытия трещин в бетоне
(846) 333-56-62
 753.  Зондовая нано лаборатория
Научные исследования
 754.  Поляризационный микроскоп с диагностическим и эпископическим освещением Olympus BX51-P
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 755.  Световой просвечивающий бинокулярный микроскоп Axiostar plus
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 756.  Микроскоп Микромед МЕТ
Изучение материалов при большом увеличении
(846) 333-56-62
 757.  Микроскоп минимед -501
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 758.  Сканирующий растровый электронный микроскоп к комплексму фазового и структурного анализа TESCAN VEGA 3 KMU c системой для определения элементного состава INCA ENERGY 350
Визуализация микрообъектов, определение элементного состава
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 759.  Микроскоп Мик Меg -1ва : 1
Учебная и научная деятельность
(8412) 92-81-99
 760.  Микроскоп Микмед-2 вар. 11
Предназначен для иммунологических исследований с применением флюоресцирующих и ферментных меток широкого профиля, а также гистологических и цитологических исследований в клинической лабораторной диагностике, вирусологии, бактериологии.
Лежнина Лидия Васильевна, тел. : (3822) 44-48-21, e-mail: nis@tspu. edu.ru
 761.  Микроскоп измерительный МРЭМ-200
Предназначен для изучение структуры изломов поверхности материалов
uni207@mail.ru, uni@skgmi-gtu.ru, (8672) 407166
 762.  Поляризационный микроскоп Meiji Techno МТ9930 с системой анализа изображения
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 763.  Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 764.  Микроскоп Nikon SMZ1500
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 765.  Микроскоп Биомед-6 LED 08.
Микробиологические исследования
 766.  Микроскоп Биомед-2 08. 2012г
Микробиологические исследования
 767.  Прямой микроскоп исследовательского класса Eclipse LV150, Nikon
Микроскоп поддерживает исследования в проходящем свете (светлое поле, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), темное поле) и отраженном свете (светлое, темное поле, поляризация, ДИК, эпифлуоресценция )).
Россия, 614000, г. Пермь, ул. Букирева, 15 корпус 1, ауд. 826 Заведующий лабораторией: Анатолий Отрощенко телефон: 239-65-46 239-62-38 239-65-24 email: microfluidics@psu.ru
 768.  Микроскоп бинокулярный
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 769.  Микроскоп БМ-51-2
Предназначен для рассматривании поверхностей мелких предметов, царапин, разрыва нитей
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта, 62. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уральский государственный экономический университет Кафедра Управления качеством, ауд. 421а (343)221-27-82 ukpt@usue.ru
 770.  Микроскоп МБС-10
Предназначен для рассматривании поверхностей мелких предметов, царапин, разрыва нитей
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта, 62. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уральский государственный экономический университет Кафедра Управления качеством, ауд. 421а (343)221-27-82 ukpt@usue.ru
 771.  Микроскоп
Предназначен для рассматривании поверхностей мелких предметов, царапин, разрыва нитей
620144, г. Екатеринбург, ул. 8 Марта, 62. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уральский государственный экономический университет Кафедра Управления качеством, ауд. 421а (343)221-27-82 ukpt@usue.ru
 772.  Микроскоп проходящего и отраженного света ПОЛАМ РП-1
Для поляризационных исследований
(3854)41-64-38, vlasov@bigpi. biysk.ru
 773.  Микроскоп Биоляр-Б
Лабораторное оборудование, предназначенное для получения увеличенных изображений, измерения объектов или деталей структуры
7 (499) 750-01-11 доб. 6883
 774.  Микроскоп Motic DMBA-200
Предназначен для экспресс-диагностики морфо-функционального состояния форменных элементов крови и состояния плазмы крови в светлом и тёмном поле при различных увеличениях микроскопа. Так же используется для: 1. отслеживания любых процессов в крови и развития их в динамике; 2. определения скорости и эффективности воздействия лекарственных препаратов и для оценки и коррекции правильности лечения; 3. для оценки любых других методов лечения или каких-либо воздействий на организм человека и их динамики
Факультет естествознания и дизайна среды Алексеев Владислав Вениаминович Тел. 8(8352)58-52-28
 775.  Комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU в составе: система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных картин обратно-отраженных электронов; - система активного подавления переменного электромагнитного поля SC22
Система активного подавления переменного электромагнитного поля SC22, входящая в комплекс оборудования для дооснащения сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа TESCAN MIRA 3 LMU, позволяет значительно улучшать качество получаемых на электронном микроскопе изображений поверхности. Система анализа структуры и фазового состава HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F для регистрации дифракционных картин обратно-отраженных электронов позволяет проводить структурный анализ поверхности с получением карт ориентации кристаллов, направления текстуры, типа и параметров кристаллической решетки при исследовании и контроле исходного состояния материала и после проведенного поверхностного модифицирования
Зилова Ольга Сергеевна, Тел. : (495) 362-78-03, ZilovaOS@mpei.ru
 776.  Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп
Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп MIRA LMU позволяет получать изображения поверхности с большой глубиной фокуса в широком диапазоне увеличений (от 5х до 1 000 000х), в режиме высокого или переменного вакуума, в режиме топографического контраста или в режиме контраста по атомному номеру. Микроскоп оснащен рентгеновским энергодисперсионным детектором INCA X MAX 50, позволяющим проводить качественный и количественный элементный анализ образцов с локальностью порядка 1 мкм, идентифицировать элементы от Be, а также получать рентгеновские карты распределения элементов на заданном участке. Микроскоп предназначен для анализа структуры материала на микро- и наноуровне (с разрешением до 1 нм) и оценки качества поверхности различных материалов, в том числе с модифицированной поверхностью, с различного рода покрытиями (в том числе нанокомпозитными), а также материалов после эрозионных, коррозионных и других видов испытаний.
Зилова Ольга Сергеевна, Тел. : (495) 362-78-03, ZilovaOS@mpei.ru
 777.  Растровый микроскоп
Визуализация объектов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 778.  Микроскоп медицинский ВХ51 ЕКА в комплекте
Визуализация объектов
Василенко О. А. 8 (499) 978-83-00
 779.  Исследовательский поляризационный микроскоп Lecia DM2700P для работы в проходящем и отраженном свете, в комплекте с цифровой камерой Lecia DFC495, подготовленный для проведения термобарометрических исследований
Поляризационный микроскоп для проведения полного комплекса кристаллооптических характеристик в проходящем и отраженном свете: осность, оптический знак, угол оптических осей, дисперсия оптических осей и полного комплекса кристаллооптических минераграфических характеристик. Позволяет производить высокоточную диагностику минералов в горных породах, количественный анализ структурно-текстурных особенностей, визуализацию и микрофотографирование с разрешением 8 мегапикселей в различных режимах для последующей обработки изображений. Укомплектован для проведения термобарометрических исследований газовых, газово-жидких и многофазных исследований минералов с визуализацией, микрофотографированием и видеосъемкой.
8 (812) 328-82-40
 780.  Поляризационный микроскоп для работы в проходящем свете с интегрированной цифровой камерой Lecia DM750P
Поляризационный микроскоп для проведения полного комплекса кристаллооптических характеристик в проходящем свете: осность, оптический знак, угол оптических осей, дисперсия оптических осей. Позволяет проводить диагностику минералов в горных породах, оценку минерального состава и структурно-текстурных особенностей с последующей визуализацией структуры и микрофотографированием на съемные носители
8 (812) 328-82-40
 781.  Поляризационный микроскоп для работы в проходящем свете с препаратоводителем Lecia DM750P
Поляризационный микроскоп для проведения полного комплекса кристаллооптических характеристик в проходящем свете: осность, оптический знак, угол оптических осей, дисперсия оптических осей. Позволяет проводить диагностику минералов в горных породах, количественный анализ минерального состава и структурно-текстурных особенностей горных пород методом линейного сканирования
8 (812) 328-82-40
 782.  Поляризационный микроскоп для работы в проходящем свете Lecia DM750P
Поляризационный микроскоп для проведения полного комплекса кристаллооптических характеристик в проходящем свете: осность, оптический знак, угол оптических осей, дисперсия оптических осей. Позволяет проводить диагностику минералов в горных породах, оценку минерального состава и структурно-текстурных особенностей горных пород.
8 (812) 328-82-40
 783.  Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom
Для исследований материалов методом сканирующей электронной микроскопии
зав. кафедрой Фомин Николай Егорович тел (834) 2-29-07-57
 784.  Научно-учебный комплекс на базе электронного микроскопа
Для исследования материалов методом электронной микроскопии
зав. кафедрой Нищев Константин Николаевич тел. (834) 2-24-24-44
 785.  Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension ICON
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 786.  Микроскоп цифровой XSP-45 LCD
Определение структуры и состава материалов
 787.  Микроскоп Микромед С-1
Определение структуры и состава материалов
 788.  Микроскоп Микмед 1 вар1-20
Определение структуры и состава материалов
 789.  Микроскоп Биомед-6 LED 08.
Определение структуры и состава материалов
 790.  Микроскоп Микромед-1 вар. 2-20
Определение структуры и состава материалов
 791.  Микроскоп МИК-1 и МПБ-3М
Определение структуры и состава материалов
 792.  Настольный сканирующий электронный микроскоп SemTrac mini
Растровый электронный микроскоп предназначен для проведения микроанализа материалов, исследования дисперсности порошков, формы частиц.
Тихонов Антон Иванович, (495) 362-72-47, TikhonovAI@mpei.ru
 793.  Микроскоп электронный S-3400
Для геофизических исследований
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 794.  Микроскоп Micros МС-300
Предназначен для анализа различных объектов при наблюдении в проходящем свете по методу светлого поля, а в дополнительной комплектации по методу темного поля и фазового контраста (для медицины и биологии).
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 795.  Микроскоп Биолам
Определение структуры и состава материалов
 796.  Настольный сканирующий микроскоп Hitachi TM-3000
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 797.  Микроскоп
Определение структуры и состава материалов
 798.  Микроскоп Мини
Определение структуры и состава материалов
 799.  Поляризационный микроскоп проходящего и отраженного света Axioscop 40 Pol A
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 800.  Автоэмиссионный растровый микроскоп Zeiss Supra 25
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
344006, г. Ростов-на-Дону, ул. Б. Садовая, 105/ 42, тел. : (863) 218-40-90, E-mail: inno@sfedu.ru
 801.  Цифровая камера-окуляр к микроскопу Levenhuk C800
Современная качественная камера, созданная специально для работы с различными микроскопами. Она подойдет для биологических, инструментальных и стереомикроскопов любых производителей. 8-мегапиксельная камера позволяет получать четкие и насыщенные изображения высочайшего качества с большим разрешением. Она способна транслировать изображения с микроскопа на монитор в режиме реального времени, делать снимки и записывать видео. В комплект поставки входит специальная программа для использования камеры. Она позволяет отредактировать созданное изображение, например, изменить масштаб, осуществить кадрирование, подкорректировать цвет и пр. После завершения манипуляций с изображением можно сохранить его в любом необходимом формате: *. jpg, *. bmp, *. png, *. tif, *. gif, *. psd, *. ico и др.
Проректор по научной работе и инновационно-коммуникационным технологиям БГТУ ВОЕНМЕХ им. Д. Ф. Устинова С. А. Матвеев Тел. : (812) 316-04-38 Тел. : (812) 316-43-16
 802.  Микроскоп медицинский Микмед-6
Микроскоп Микмед-6 предназначен для клинической лабораторной диагностики и морфологии при исследованиях объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля, а с дополнительным оборудованием по методам фазового контраста, темного поля, простой поляризации.
(846)334-54-04
 803.  Микроскоп МИР-4
Микроскоп предназначен для наблюдения выходного зрачка объектива при центрировке положения изображения световой диафрагмы конденсора относительно фазового кольца объектива.
(846)334-54-04
 804.  Электронный микроскоп УЭМВ-100Б
Позволяет визуально изучать частицы во много раз меньшие, чем наблюдаемые в световом микроскопе.
(846)334-54-04
 805.  Микроскоп Микмед-2 вариант 2 (БИМАМ Р-13)
Высококлассный лабораторный микроскоп с ахроматической оптикой
(846)334-54-04
 806.  Аналитический растровый электронный микроскоп JSM-6390LA
Проведение макроскопического анализа и рентгеноструктурного анализа в широком диапазоне углов отражения в автоматическом режиме.
344090, г. Ростов-на-Дону, ул. Мильчакова, 10 тел. (863) 222-09-03 e-mail: ckp@rctt.ru
 807.  Исследовательский моторизованный микроскоп высокого разрешения Imager M2m
Получение увеличенных изображений исследуемых образцов, а также измерения объектов или деталей структуры, невидимых или плохо видимых невооружённым глазом
ЦКП НО Арктика, 163002, г. Архангельск, ул. Северодвинская, д. 14, тел. (8182) 21-61-00 (доб. 17-22), web: http: / / www. narfu.ru/ science/ ccu/
 808.  Поляризационный микроскоп ПОЛАМ -311
Поляризационный микроскоп ПОЛАМ -311 рудный предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Областьи применения: минералогия, углепетрография, металлография, химия, криминалистика, другие области науки и техники. Методы исследований: светлое поле при нормально-падающем и косом освещении, проходящий свет, поляризованный свет, кличественная оценка вращательных свойств минералов, микрофотографирование. Достоинства лабораторных микроскопов ПОЛАМ : высокое качество исследования объектов в поляризационном свете за счет использования оптики без натяжений
 809.  Поляризационный микроскоп ПОЛАМ -312
Поляризационный микроскоп ПОЛАМ -312 и ПОЛАМP211M рудный предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Областьи применения: минералогия, углепетрография, металлография, химия, криминалистика, другие области науки и техники. Методы исследований: светлое поле при нормально-падающем и косом освещении, проходящий свет, поляризованный свет, кличественная оценка вращательных свойств минералов, микрофотографирование. Достоинства лабораторных микроскопов ПОЛАМ : высокое качество исследования объектов в поляризационном свете за счет использования оптики без натяжений
 810.  Микроскоп бинокулярный с системой освещения MICROS MC-20
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 811.  Микроскоп Levenhuk 320
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 812.  Микроскоп Аксиоскоп 40
Мощный микроскоп усовершенствованного дизайна пирамида и модульной конструкции продолжает хорошо зарекомендовавшие себя принципы конструирования микроскопов и объединяет, таким образом, современные требования к форме, эргономике, функциональности и техническому качеству.
 813.  Микроскоп ПОЛАМ Р-211М
Мощный микроскоп усовершенствованного дизайна пирамида и модульной конструкции продолжает хорошо зарекомендовавшие себя принципы конструирования микроскопов и объединяет, таким образом, современные требования к форме, эргономике, функциональности и техническому качеству.
 814.  Поляризационный микроскоп с видиоприставкой для обработки информации через USB на компьютере
Микроскоп позволяет проводить научные исследования в области геологии, минералогии, петрографии, кристаллографии
Плетенчук Н. С. (3843)74-86-35
 815.  Микроскоп ПОЛАМ 3-312
Поляризационный микроскоп ПОЛАМ -312 и ПОЛАМP211M рудный предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Областьи применения: минералогия, углепетрография, металлография, химия, криминалистика, другие области науки и техники. Методы исследований: светлое поле при нормально-падающем и косом освещении, проходящий свет, поляризованный свет, кличественная оценка вращательных свойств минералов, микрофотографирование. Достоинства лабораторных микроскопов ПОЛАМ : высокое качество исследования объектов в поляризационном свете за счет использования оптики без натяжений
 816.  Цифровой микроскоп LCD-BM-100
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 817.  Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (Jeol)
Обеспечивает проведение тонких исследований поверхности образцов, фрактографический анализ изломов и деформационного рельефа, определение размеров частиц и пор. Оснащен приставкой для исследований кристаллографических характеристик образцов (ЕBSD). Электронная оптическая система обеспечивает коррекцию и хроматической и сферической абберации. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным. РЭМ JSM-6490LV позволяет изучать непроводящие образцы без всякого препарирования, а затем анализировать их с помощью энергодисперсионного спектрометра.
450000, г. Уфа, ул. К. Маркса, 12, ЦКП научно-образовательный центр Наноструктурные материалы и высокие технологии, тел. (347) 273-06-76.
 818.  Микроскоп просвечивающий электронный JEOL JEM-2100 со сканирующей приставкой JEOL JSM-6390
Для исследование морфологии неорганических материалов на наноуровне, вплоть до атомного разрешения; исследование фазового состава неорганических материалов; определения элементного и химического состава локальных участков образцов с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (EELS).
450000. г. Уфа, ул. К. Маркса, 12. УГАТУ, Институт физики перспективных материалов, тел. (347) 273-34-22
 819.  Микроскоп Olympus ВХ51 проходящего света
Для биологических исследований
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 820.  Высокоразрешающий растровый электронный микроскоп Quanta Instect (FEI)
Высокоразрешающий растровый электронный микроскоп с возможностью работы в низковакуумном режиме с системой энергодисперсионного анализа
Управление по взаимодействию с промышленностью (УВП) СПбГЭТУ. тел: (812)234-29-17 email: uvp@etu.ru, uvp. etu@gmail.com
 821.  Микроскоп цифровой XSZ-148
Предназначен для исследования препаратов по методу фазовогоконтраста
 822.  Микроскоп исследовательский моторизованный (ZEISS AxioImager M1 или эквивалент) с точным фокусировочным механизмом (точность не более 25 нм) и 8 пр
Микроскоп для биологических исследований
Смородин Борис Леонидович, начальник научной части ПГНИУ телефон: (342) 2-396-506 e-mail: smorodin@psu.ru
 823.  Микроскоп атомно-силовой SmenQ
Предназначен для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
Протопопов А. А. 300012, г. Тула, пр. Ленина, 92. (4872) 33-17-85
 824.  Mantis Elite безокулярный стереоувеличитель
Оптический контроль на всех стадиях сборки радиоэлектронных узлов. Входит в состав Испытательного комплекса для исследования и конструирования высокотехнологичных микроэлектронных узлов поверхностного монтажа высокой плотности
Филатов Виктор Александрович (495) 362 70 05 FilatovVA@mpei.ru
 825.  Микроскоп промышленный Nikon Ephiphot 200
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 826.  Микроскоп МИКМЕД-6
Микроскоп предназначен для клинической лабораторной диагностики и морфологии при исследовании объектов в проходящем свете с освещением по методу светлого поля, а при дополнительной комплектации по методу темного поля, фазового контраста и упрощенной поляризации. На микроскопе можно изучать окрашенные и неокрашенные препараты в виде мазков и гистологических срезов, а также биологических жидкостей в камерах типа Горяева
Факультет естествознания и дизайна среды Алексеев Владислав Вениаминович Тел. 8(8352)58-52-28
 827.  Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (разрешение на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента. Комплекс оснащен комплектом оборудования для подготовки образцов из металла, керамики и полимеров, в который входят: – устройство для вышлифовки ямок, обеспечивающее плоское шлифование, вышлифовку ямок, полировку, утончение образцов до толщины менее 10 мкм; – ионная мельница, предназначенная для прецизионной полировки образца до электрон-прозрачных толщин (не более 400 нм); – устройство УЗ нарезки заготовок образцов толщиной от 10 мкм до 1 см из металлов, керамики или полимеров для последующего утончения шлифовкой и ионной мельницей; – устройство для перфорирования – изготовления заготовок заданной формы из металла, керамики и полимеров для дальнейшего утончения; – устройство для шлифовки образцов, обеспечивающее ручную механическую полировку заготовок до толщин 0, 5 мм с последующим утончением устройством вышлифовки ямок и ионной мельницей; – напылительная установка, предназначенная для напыления углерода на образцы, используемые для просвечивающей электронной микроскопии.
Гордеев Владимир Николаевич, Тел. (495) 362 77 35, GordeevVN@mpei.ru
 828.  Микроскоп Бринелля МПБ-3
Предназначен для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля
Кафедра железобетонных, каменных и деревянных конструкций, зав. лабораторией Лобов Дмитрий, тел. (831) 430-54-86
 829.  Микроскоп Биолам П-1
Микроскоп Биолам П-1 применяются в различных областях медицины, клеточной и молекулярной биологии, фармакологии, токсикологии, вирусологии, гидробиологии, сельском хозяйстве, экологии. Это недорогие инвертированные биологические микроскопы с надежной механикой и качественной оптикой отечественного производства, зарекомендовавшей себя долголетним выпуском. Микроскоп Биолам П-1 имеют следующие технические характеристики - Видимое увеличение микроскопа: 30х – 360х. - Насадка: бинокулярная. - Револьвер: 4-гнездный. - Объективы: 2, 5х0, 08; 6, 3х0, 20; 10х0, 22; 20х0, 40*. - Окуляры: 10/ 18; 15/ 12 (со сменной шкалой и сеткой). - Источник света: галогенная лампа 12В, 50Вт. - Габариты, мм: 430х360х620. - Масса, кг: 15.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 830.  Микроскоп поляризационный МП-201
Предназначен для наблюдения микроструктуры металлов, сплавов, пластмасс, органических соединений и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле. Области применения: металлография, порошковая металлургия, геология, биология, зоология, палеонтология, химия.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 831.  Микроскоп ПОЛАМ Р-312
Используется для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете (обыкновенном и поляризованном), а также прозрачных объектов в проходящем свете при небольших увеличениях. Области применения: - Минераграфия - Углепетрография - Металлография - Химия - Криминалистика и др. Методы исследования: - Светлое поле при нормально-падающем и косом освещении - Проходящий свет - Поляризованный свет - Количественная оценка вращательных свойств минералов - Микрофотографирование.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 832.  Микроскоп ПОЛАМ Р-211М
Предназначен для исследований прозрачных объектов в проходящем свете - обыкновенном и поляризованном, а также исследований по методу фокального экранирования. Области применения: петрография, минералогия, кристаллография, углепетрография, биология, медицина, химия, криминалистика.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 833.  Микроскоп МБС-10
Предназначен для исследования объемных предметов, тонких пленочных и прозрачных объектов, для проведения препарировальных работ. Наблюдение может проводиться при искусственном и естественном освещении в отраженном и проходящем свете. Применяется в биологии, ботанике, медицине, минералогии, археологии, машиностроении, приборостроении и других областях науки и техники. Изменение межзрачкового расстояния у стереомикроскопа МБС-10 от 56 до 72 мм, округленные значения увеличений: 7, 4, 2, 1 и 0, 6 крат, объектив f=90 мм, осветитель (лампа РН8-20-1), рабочее расстояние не менее 95 мм.
г. Петропавловск-Камчатский, ул. Пограничная, 4. Тел. (4152) 43-37-43
 834.  Микроскопный телевизионно-компьютерный комплекс реставратора
Ремонтно-реставрационные работы на объектах культурного наследия (памятниках истории и культуры) и компьютерная обработка изображения
Абрамова Ирина Геннадьевна Irina. Abramova@novsu.ru Заведующий кабинетом, Кафедра технологии машиностроения (ШТАТ, ОСН) т. (8162)626429
 835.  Прибор измерительный Nano Educator
Сканирующие зондовые микроскопы (сканирование различных поверхностей)
Кировская область, г. Киров, ул. Красноармейская, д. 26, каб. 204, тел. (8332) 37-08-92, e-mail: onir@vshu. kirov.ru
 836.  Микроскоп лабораторный Микмед 6
Просмотр микропрепаратов с видео и фото-фиксацией
Кировская область, г. Киров, ул. Красноармейская, д. 26, каб. 204, тел. (8332) 37-08-92, e-mail: onir@vshu. kirov.ru
 837.  Микроскоп тринокулярный Микромед 3 Professional
Микрофотографии пыльцы и спор растений
Кировская область, г. Киров, ул. Красноармейская, д. 26, каб. 204, тел. (8332) 37-08-92, e-mail: onir@vshu. kirov.ru
 838.  Микроскоп тринокулярный Микромед 3 Professional
Биологические исследования
Кировская область, г. Киров, ул. Красноармейская, д. 26, каб. 204, тел. (8332) 37-08-92, e-mail: onir@vshu. kirov.ru
 839.  Поляризационный микроскоп Leica DM 4500 P
Исследований петрографических шлифов в поляризованном свете
Заведующий лабораторией петрофизики кафедры ГНГ Ефимов Артем Александрович. Моб. тел. : 89504792193; рабочий тел. : 2198124; e-mail: lpfi@pstu.ru
 840.  Микроскоп Микмед-1
Микробиологическое исследование биологических препаратов
Прейс И. В, (4872) 33-24-44 300012, г. Тула, пр. Ленина, 92.
 841.  Комплекс визуализации микрообъектов в реальном времени (цифровой микроскоп Keyence VHX-1000)
Количественной металлографии, анализа микроструктур черных и цветных металлов и сплавов; фрактографии поверхностей материалов, покрытий, полученных различными способами, с возможностью определения размера зерна, включений и дефектов; анализа высокодисперсных частиц кристаллов и порошков; анализа коррозионных повреждений поверхности металлических материалов.
 842.  Микроскоп МИКМЕД-1
Микроскоп предназначен для наблюдения и морфологических исследований препаратов в проходящем свете.
Кафедра водоснабжения и водоотведения. Зав. кафедрой Васильев Алексей Львович (8 - 831) 430 54 87; e-mail: k_viv@nngasu.ru
 843.  Просвечивающий электронный микроскоп ЭМВ-100Б
Проведение исследований фазового состава, структуры и субструктуры тонкопленочных материалов, нанопорошков, утоненных массивных материалов, биоматериалов
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ruСайт: www. vsu.ru
 844.  Растровый электронный микроскоп JSM-6510 LV (JEOL)
Исследование морфологии поверхности
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ruСайт: www. vsu.ru
 845.  Растровый электронный микроскоп JSM-6380LV (JEOL)
Исследование морфологии поверхности
Воронежский государственный университет 394006, Россия, г. Воронеж, Университетская площадь, 1 Факс: 7 (473) 220-87-55 E-mail: office@main. vsu.ruСайт: www. vsu.ru
 846.  Микроскоп Аксиоверт 40 МАТ Carl Zeiss,
Металлографические исследования структуры материала
Рахимянов Харис Магсуманович, kharis51@mail.ru
 847.  Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Merlin (Carl Zeiss)
Предназначен для исследования формы и элементарного состава наноструктур. Пространственное разрешение 0. 8 нм на отражение и 0. 6 нм на пропускание.
(812)4571780, 4571781
 848.  Измерительный микроскоп Nikon MM-400/ LMT
Измерение линейных и угловых размеров деталей в прямоугольных и полярных координатах
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 849.  Комплекс нанотехнологического оборудования УМКА (Туннельный микроскоп)
Научно-исследовательские работы. Изучение коррозионных свойств материалов. испытаний по неразрушающему и разрушающему контролю металлов и не металлов.
107996, г. Москва, ул. Стромынка, д. 20 8 (499) 268-00-01 konsultant@mgupi.ru
 850.  Система микроанализа Genesis APEX 2 EDS Apollo XSD
Для энергодисперсионного микроанализа на сканирующих и просвечивающих электронных микроскопах
 851.  Микроскоп Рэмма 202
Наблюдение микроскопического состава кластеров вещества.
150023, г. Ярославль, Московский проспект, д. 88. Кафедра Физика. Телефон: (4852) 44-06-79.
 852.  Микроскоп автоэмиссионный просвечивающий электронный Tecnai G2 F20 S-TWIN (FEI Company) сверхвысокого разрешения
Исследование структуры материалов (с разрешением по точкам не хуже 0, 24 нм)
 853.  Моторизованный исследовательский микроскоп с блоком фотодокументированный и системой анализа изображений микроскоп Axio Observer Z1
Обеспечивает высокое качество изображения с высоким разрешением, соответствующее основным законам дифракционного построения изображения в микроскопе; моторизованное управление; новые ЕС и LCI объективы.
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 854.  Микроскоп МИМ-7
Проведение исследования микроструктуры металлов и сплавов в различных режимах; количественная металлография
Косилов Александр Тимофеевич, тел. : (473)246-66-47, e-mail: kosilovat@mail.ru
 855.  Микроскоп МВС-9
Проведение исследования микроструктуры металлов и сплавов в различных режимах; количественная металлография
Косилов Александр Тимофеевич, тел. : (473)246-66-47, e-mail: kosilovat@mail.ru
 856.  Микроскоп МИМ-8
Проведение исследования микроструктуры металлов и сплавов в различных режимах; количественная металлография
Косилов Александр Тимофеевич, тел. : (473)246-66-47, e-mail: kosilovat@mail.ru
 857.  Микроскоп моторизованный с системой анализа изображений Axio Imager M2. (Carl Zeiss)
Микроскоп позволяет анализировать биотехнологические объекты на микроуровне, изучать количество клеток микроорганизмов в различных процессах, а также изучать локализацию отдельных компонентов в растительной клеточной стенке.
http: / / www. narfu.ru/ itph/
 858.  Комплект приставок для проведения тонких исследований
Предназначено для тонкого анализа структуры материалов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 859.  Устройство ионного травления для подготовки образцов для исследование на электронных микроскопах- система финишной доводки образцов PIPS
Предназначено для ионного травления и подготовки образцов и исследований на электронных микроскопах - система финишной доводки образцов PIPS.
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 860.  Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP
Для проведения глубоких и точных исследований материалов на трансмиссионном электронном микроскопе EV 050 XVP.
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 861.  Напылительная установка для подготовки образцов для исследования на электронных микроскопах
Нанесение токопроводящих покрытий на непроводящие образцы с целью их дальнейшего исследования при помощи электронных микроскопов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 862.  Цифровой микроскоп Motic DM-1802-A
Предназначен для исследования очень небольших объектов - клеток растений, простейших и микроорганизмов и применяются в основном в биологических и медицинских исследованиях
ФГБОУ ВПО АмГПГУ 681000, Хабаровский край, г. Комсомольск-на-Амуре, ул. Кирова, д. 17, корп. 2 www. amgpgu.ru
 863.  Микроскоп люминисцентный лабораторный BIOMED2L
Для исследований различного типа (дерматология, урология и т. д. ), а также для диагностики заболеваний, кроме того, может использоваться в биологических и экологических исследованиях
 864.  Микроскоп МИМ-10
Для проведения металлографических исследований
 865.  Микроскоп Аксиоверт 40 МАТ
Микроскоп металлографический; исследование поверхности изделий, оценка структуры и дефектности материалов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 866.  Микроскоп AXIO Observer A1m
Микроскоп металлографический; исследование поверхности изделий, оценка структуры и дефектности материалов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 867.  Электронный микроскоп Tecnai G2 20TWIN
Прибор электронно-оптический для исследования микроструктуры вещества; изучение внутренней структуры металлических и неметаллических материалов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 868.  Растровый электронный микроскоп EVO50 XVP
Прибор электронно-оптический для исследования микроструктуры вещества; исследование поверхности металлических материалов
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 869.  Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20
Для проведения глубоких и точных исследований материалов на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 870.  Анализатор энергодисперсионный Standard Aztec x-zct, Oxford IE250, система IEAUTOMATE для автоматического управления пучком и столиком микроскопа из системы микроанализа, устройство для внешнего управления разверткой
система анализа фазового состава, структуры и текстуры кристаллических материалов методом дифракции отраженных электронов
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 871.  Просвечивающий электронный микроскоп JEM 100c (Jeol)
Исследования слоев тонкопленочных структур; Исследования нанокластеров и квантовых точек; Электронная дифракция для локального фазового анализа.
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 872.  Зондовая НаноЛаборатория Интегра Прима
Для комплексных исследований поверхностей образцов с высоким пространственным разрешением с максимально возможной чувствительностью методов сканирующей зондовой микроскопии
Лунегов Игорь Владимирович, заведующий кафедрой радиоэлектроники и защиты информации телефон: (342) 2-396-231 e-mail: lunegov@psu.ru
 873.  Микроскоп медицинский прямой ВХ43, Olympus М319/ 12-OG
Для лабораторных исследований с принадлежностями
Брюханов Валерий Венимианинович, e-mail: VBryukhanov@kantiana.ru
 874.  Микроскоп Vistec INM100 UV (Leica)
Контроль пластин и фотошаблонов в видимом и УФ диапазонах излучения; микроскоп оснащен цветной цифровой камерой; оснащен объективами с увеличением 5х, 10х, 50х и 100х, а также УФ объективом с увеличением 150х; оснащение программным обеспечением для измерения линейных размеров элементов, обработки и сохранения изображений.
Мельников Роман Сергеевич Тел: 8-3822-510-316
 875.  Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150
Разрешение на менее 20 нм; термоэмиссионный автоэмиссионный катод типа Schottky; свободный от кроссоверов пучок с высокой плотностью тока; цифровая электронная оптика с энергией пучка 100 eV - 30 keV.
Мельников Роман Сергеевич Тел: 8-3822-510-316
 876.  Сканирующий зондовый комплекс AIST SmartSPM
Сканирующий зондовый комплекс с опцией наноиндентрования и сопряжения с рамановским спектрометром
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 877.  Поляризационный микроскоп ПОЛАМ - Р - 312
Исследование образцов материалов методом оптической микроскопии.
308012, Белгород, ул. Костюкова. д. 46. Центр высоких технологийфакс (4722) 554161тел. (4722) 553615cupik@yandex.ru
 878.  Микроскоп Биолам И ЛОМО
Исследование образцов методом оптической микроскопии в отраженном и проходящем свете
308012, г. Белгород ул. Костюкоа д. 46 . Центр высоких технологий. факс. (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@eandex.ru
 879.  Универсальный микроскоп NEOPHOT 32
Исследование образцов материалов в отраженном свете методом оптической микроскопии
308012, г. Белгород ул. Костюкоа д. 46 . Центр высоких технологий. факс. (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@eandex.ru
 880.  Микроскоп МПБ-100
Используется для измерений и рассмотрения на производстве и в лаборатории. Особенно подходит для изучения препаратов на месте в машиностроении.
308012, Белгород. ул. Костюкова д. 46. Центр высоких технологий факс (4722) 554161 тел. (4722) 553615 cupik@yandex.ru
 881.  Учебный оптико-электронный микроскоп Phenom (FEI)
Обучение специалистов всех категорий: студентов, аспирантов и др. технике электронно-микроскопического исследования.
Исполнительный директор ЦКП-НТ, Голубок А. О. , (812) 498-10-65
 882.  Конфокальный микроскоп на базе Nikon Eclipse 90i
Микроскоп позволяет проводить количественный анализ структурно-функционального состояния микрообъектов на основе информации об их молекулярном составе, визуализации процессов взаимодействия биологических макромолекул, измерения скорости изменения концентраций веществ при быстропротекающих процессах в локальных областях микрообъектов и пр.
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 883.  Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп SPM Probe VT AFM XA 650 (Omicron Nano Technology)
Исследование в условиях сверх-высокого вакуума топографии и локальной плотности электронных состояний полупроводниковых наноматериалов и наноструктур, применяемых в наноэлектронике и нанофотонике. Исследование одноэлектронных и размерных эффектов в наносистемах с пониженной размерностью
Исполнительный директор ЦКП-НТ, Голубок А. О. , (812) 498-10-65
 884.  Электронный микроскоп (комплекс электронно-ионной литографии) серии Сross-Beam модель Neon 40EsB (Carl Zeiss)
Электронная и ионная литография, электронномикроскопическое исследование структур при больших увеличениях. Исследование структур нанопрепарирования, инспекция полупроводниковых приборов, анализ слоистых структур, исследования керамик и полимеров, ионное травление
Исполнительный директор ЦКП-НТ, Голубок А. О. (812) 498-10-65
 885.  Растровый электронный микроскоп Jeol JSM-6490LV
Модель JSM-6490LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, которым комплектуется данный прибор, позволяет изучать объекты диаметром до 8 дюймов. Прибор предназначен для контроля качества и сертификация продукции произведенной с применением нанотехнологий
Испытательный центр Центр контроля качества лекарственных средств ЦКП (НОЦ) РУДН Тел. : 7 (495) 787-38-03 доб. 21-16 e-mail: bessarabova-anna@mail.ru
 886.  Комплект учебных сканирующих микроскопов (3 шт. )
Проведение анализа методом атомно-силовой микроскопии
21-71-03 , 65-22-92
 887.  Микроскоп Nikon ECLIPSE Ti-S
Микроскопия
 888.  Микроскоп ETALON TCM100
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 889.  Источник бесперебойного питания в комплекте(для просвечивающего микроскопа)
Для обеспечивания бесперебойного энергоснабжения объекта особой важности (просвечивающего микроскопа).
Батаев Владимир Андреевич, тел. 346-06-12 e-mail: vabataev@yandex.ru
 890.  Сканирующий электронный микроскоп с системой микроанализа Apollo40.
Растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом и системой EDS микроанализа для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации
Научно-исследовательский институт строительных материалов и технологий (НИИ СМиТ) тел. : 8 (495) 656-14-66 e-mail: nsm. mgsu@mail.ru
 891.  Микроскоп электронный 100АК
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с системой микроанализа
 892.  Цифровая камера для микроскопа, калибровочное стекло со шкалой
Анализа деформаций в трехмерном пространстве.
Ходяшев Николай Борисович 7 (342) 2– 391– 511 vvv@purec. pstu. ac.ru
 893.  Микроскоп инструментальный цифровой, 1-85
Для увеличения объёкта
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 894.  Цифровая камера для микроскопа DCM35 (350k pixels, USB2. 0), 2-07
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 895.  Микроскоп проекторный, 1-83
Оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом.
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 896.  Микроскоп Levenhuk D870T тринокуляр ( стекла G100 (100шт), G50 (50шт)), 4-13
Для получения увеличенных изображений объектов
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 897.  Микроскоп ОРИМ-1, 1-86
Оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом.
Нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 898.  Микроскоп МБС-10, 1-03
Для наблюдения объемных предметов, для ювелирных, радиотехнических и других работ
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 899.  Микроскоп ручной цифровой АМ 413 FVT2 USB PRO, 3-09
Для получения увеличенных изображений объектов
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 900.  Микроскоп ручной цифровой АМ 413 2T USB PRO, 3-09
Для получения увеличенных изображений объектов
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 901.  Микроскоп, 1-85
Рассматривание мельчайших деталей, невидимых невооруженным глазом.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 902.  Микроскоп ОПАМ, 1-83
Рассматривание мельчайших деталей, невидимых невооруженным глазом.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 903.  Микроскоп МЛ-2 61178, 1-61
Способность выдавать чёткое раздельное изображение двух близко расположенных точек объекта.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 904.  Микроскоп МИМ-8, 1-57
Способность выдавать чёткое раздельное изображение двух близко расположенных точек объекта.
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 905.  Микроскоп Биолам, 1-90
Для получения увеличенных изображений объектов, невидимых невооружённым глазом
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 906.  Сканирующий микроскоп Cell-lQ v. 2
Предназначен для наблюдения за живыми клетками в культуре
Селедцов Виктор Иванович, e-mail: seledtsov@rambler.ru
 907.  Микроскоп измерительный STM6 OLYMPUS в комплекте
Микроскопические измерения
 908.  Микроскоп Микромед МС-2-ZOOM, вар. 1TD-1
Cтереоскопический микроскоп Микромед МС-2- ZOOM вар. 1TD-1 предназначен для наблюдения как объемных, так и тонких пленочных и прозрачных объектов, а также выполнения разнообразных тонких работ: препарирования – в биологии, изучения образцов горных пород – в минералогии, выполнения различных технологических операций – в полупроводниковой промышленности, а также в других областях науки и техники.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 909.  Микроскоп МИКРОМЕД 2 вар. 3-20
Микроскоп МИКРОМЕД 2 вар. 3-20 предназначен для наблюдения и морфологических исследований препаратов в проходящем свете по методу светлого поля, а также по методу темного поля и фазового контраста в комплекте с соответствующими устройствами, поставляемыми по дополнительному заказу. Микроскоп может быть использован в различных областях медицины, в биологии, ботанике, химии и других областях науки. Используется при диагностических исследованиях в клиниках и больницах, а также для учебных целей в высших учебных заведениях. На микроскопе можно изучать окрашенные и неокрашенные объекты в виде мазков и срезов. На микроскопе можно выводить изображение в режиме реального времени на экран ПК с помощью видеоокуляра, а так же можно фотографировать изображение объектов с помощью комплекта визуализации на базе ф/ к.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 910.  Микроскоп МБС-10
МБС-10 работает как в проходящем, так и в отражённом свете, и на нём можно рассматривать как тонкие образцы, так и объёмные предметы, то есть микроскоп МБС-10 является стереоскопическим. Он предназначен для исследования объемных предметов, тонких пленочных и прозрачных объектов, для проведения препарировальных работ.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 911.  Микроскоп МБС - 10
МБС-10 работает как в проходящем, так и в отражённом свете, и на нём можно рассматривать как тонкие образцы, так и объёмные предметы, то есть микроскоп МБС-10 является стереоскопическим. Он предназначен для исследования объемных предметов, тонких пленочных и прозрачных объектов, для проведения препарировальных работ.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 912.  Настольный сканирующий электронный микроскоп
Исследование непроводящих образцов без предварительного напыления проводящего слоя
Анциферов Владимир Никитович, академик РАН, д. т. н. , профессор, тел. (342) 239-11-19, факс (342) 319-11-22
 913.  Установка нанесения токопроводящих слоев (C, Au) заданной толщины на образцы для сканирующей электронной микроскопии SPI
Нанесения токопроводящих слоев (C, Au)
Анциферов Владимир Никитович, академик РАН, д. т. н. , профессор, тел. (342) 239-11-19, факс (342) 319-11-22
 914.  Сверх высоковакуумный атомно-силовой микроскоп JEOL JSPM-4610A
Анализ поверхностей наноструктур и исследование их свойств
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 915.  Микроскоп конфокальный сканирующий Axio CSM 700 (Carl Zeiss)
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 916.  Просвечивающий низковольтный электронный микроскоп LVEM 5 с разгонным напряжением 5 к V
Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
 917.  Растровый электронный микроскоп JCM-5700 (Jeol)
Предназначен для визуализации микро- и нанорельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат, так и в части проведения элементного анализа с помощью безазотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U)
тел. 21-71-03, 65-22-92
 918.  Микроскоп Микромед МС - 2 - ZOOM, вар. 2 TD -1
Микроскоп МИКРОМЕД МС-2-Z00M вар. 2TD-1 предназначен для наблюдения как объемных объектов, так и тонких пленочных объектов, а также выполнения разнообразных тонких работ, когда требуется производить какие-либо операции с объектом в ходе наблюдения: препарирования – в биологии, изучения образцов горных пород – в минералогии, выполнения различных технологических операций – в полупроводниковой промышленности, а также в других областях науки и техники. Микроскоп МИКРОМЕД МС-2-Z00M вар. 2TD-1 идеален для выполнения радиомонтажных работ, требующих большого рабочего расстояния. Универсальный штатив TD-1 обеспечивает возможность перемещения оптической головки в горизонтальном направлении до 320 мм и в вертикальном направлении до 300 мм. Таким образом на микроскопе можно исследовать объекты большого размера.
400066 г. Волгоград, пр. им. В. И. Ленина, д. 27 (8442)-60-28-13 prorectornr@vspu.ru
 919.  Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument)
Анализ поверхности микро- и наноструктур
Гойхман Александр Юрьевич, тел. (401) 259-55-95, AGoikhman@innopark. kantiana.ru
 920.  Аналитический металлографический комплекс на основе сканирующего электронного микроскопа Zeiss SIGMA
Универсальный автоэмиссионный растровый электронный микроскоп Zeiss SIGMA, оснащенный волновым дисперсионным спектрометром Inca Wave 700, системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Aztec HKL Advanced Channel 5 и системой для проведения механических испытаний при нагревании, предназначен для решения широкого спектра задач в области материаловедения
Российский государственный университет нефти и газа им. И. М. Губкина 119991, г. Москва, Ленинский просп. , д. 65, корп. 1 (499) 135-87-64, (499) 233-93-30 chens_nauka@mail.ru
 921.  Микроскоп просвечивающий электронный JEM-2100 (JEOL)
Предназначен для исследования наноструктур
 922.  Микроскоп ИМУЛ
Предназначен для измерения мелких предметов и расстояний между штрихами, точками и другими неровностями поверхности
675027, Амурская обл. , г. Благовещенск, Игнатьевское шоссе, 21
 923.  Пушка ионная для подготовки образцов для ионной микроскопии Fischione 1010
Подготовка образцов для ионной микроскопии
 924.  Микроскоп Полам Р211М
Предназначен для исследований прозрачных объектов в проходящем свете - обыкновенном и поляризованном, а также исследований по методу фокального экранирования. Области применения: петрография, минералогия, кристаллография, углепетрография, биология, медицина, химия, криминалистика.
 925.  Микроскоп Полам Р-312
Предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Область применения: минералогия, углепетрография, металлография, химия, криминалистика, другие области науки и техники.
 926.  Электронный микроскоп Quanta 600
Исследование молекулярной структуры вещества
 927.  Микроскоп электронный JSM-T20 комплектующие
Для обеспечения работы микроскопа электронного JSM-T20
 928.  Базовый комплект сканирующего мультимикроскопа
Сканирование поверхностей в туннельной и атомно-силовой моде с нанометровым разрешением
 929.  Большой микроскоп БМИ, 1-62
Предназначен для измерения линейных и угловых размеров изделий
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 930.  Микроскоп инверсивный в комплекте
Используется для идентификации и анализа всех видов металлов, включая сталь и сплавы.
 931.  Микроскоп электронный ЭМ9
Прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 10⁶ раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов…
нач. управления научно-инновационной деятельности Тихомиров Леонид Алексеевич, (4942) 31-69-91, niskstu@yandex.ru
 932.